「inspection object」に関連した英語例文の一覧と使い方(26ページ目) - Weblio英語例文検索

This inspection device 100 is provided with a light source 14 for emitting a light, having a specified peak wavelength, toward the glossy face of the inspection object 10, and an optical sensor 15 for detecting the index, expressing the lightness of light reflected on the glossy face 10a, and determines the quality of the inspection object 10, based on the index expressing the lightness.例文帳に追加

検査装置１００は、特定のピーク波長を有する光を、検査対象物１０の光沢面１０ａに向け照射する光源１４と、光沢面１０ａにより反射された光の明度を表す指標を検知する光センサ１５と、を備え、この明度を表す指標に基づいて検査対象物１０の良否が判定される装置である。 - 特許庁

This inspection method has a process S3 for extracting reference pattern information of an inspection object, a process S4 for forming a two-dimensional Fourier transform filter for canceling the reference pattern information based on the reference pattern information, and a process S5 for inspecting a defect pattern other than a reference pattern of the inspection object by using the two-dimensional Fourier transform filter.例文帳に追加

また、検査方法において、検査対象物の基準パターン情報を抽出する工程（Ｓ３）と、基準パターン情報に基づき、この基準パターン情報をキャンセリングする二次元フーリエ変換フィルタを形成する工程（Ｓ４）と、二次元フーリエ変換フィルタを使用し、検査対象物の基準パターン以外の欠陥パターンを検査する工程（Ｓ５）とを備える。 - 特許庁

To eliminate the need for the positioning of an object to be inspected and a chart for inspection for every inspection in the case of inspecting the object on the basis of irradiation light by the chart for inspection in an optical path, to reduce the number of man-hours, and to prevent the occurrence of human errors and personal errors.例文帳に追加

光路上の検査用チャートによる照射光に基づいて被検査対象を検査する場合に、検査毎に被検査対象と検査用チャートとの位置合わせを行う必要がなく、工数が削減され、人為的な誤りや個人差による問題点をも解決できる光学検査方法及び光学検査装置を提供する。 - 特許庁

To specify surely a foreign matter by selecting surely a specific component to be absent in an object which is an inspection object; to discriminate surely whether a foreign matter is contaminated in the object or not; and to thereby improve discrimination accuracy.例文帳に追加

被検対象の物体にはない特定成分を確実に選択できるようにして異物を確実に特定できるようにし、物体中に異物が混入しているか否かを確実に判別できるようにして判別精度の向上を図る。 - 特許庁

The airtight inspection apparatus 1 for inspecting airtightness in internal spaces 101, 102 of the object 100 is provided with an air spring 44 for pressing a masking section 3 for blocking openings 101a, 101b, 102a, 102b in the object to the object.例文帳に追加

対象物１００の内部空間１０１・１０２の気密性を検査する気密検査装置１に、対象物の開口部１０１ａ・１０１ｂ・１０２ａ・１０２ｂを閉塞するマスキング部３を該対象物に押し当てる空気バネ４４を具備した。 - 特許庁

To provide an infrared inspection device which can appropriately detect micro anomaly at the end of a test object, when infrared rays are given to the test object and the transmitting light is observed so as to detect abnormal portion of the test object.例文帳に追加

赤外線を照射して、その透過光を観測することによって被検体の異常部分を検出する場合において、特に被検体の端部において適切に微少な異常部分を検出できる赤外検査装置を提供する。 - 特許庁

In inspection, an image of a domain is cut out from the reference image relative to each registered domain R, and a furthermore extended range than a range corresponding to the domain in an inspection object image is set as a processing object image based on the domain specification information.例文帳に追加

検査の際には、登録された領域Ｒ毎に、基準画像からその領域の画像を切り出すとともに、領域特定情報に基づき検査対象画像の当該領域に対応する範囲より拡張された範囲を処理対象領域として設定する。 - 特許庁

A general purpose PC terminal 80 which reads a virtual endoscope viewer program 152 for the patient stored in a medium M reads the inspection preparation information and a tomographic image data file group (a plurality of sheets of tomographic image data of the inspection object part of an endoscopy object patient) stored in the medium M.例文帳に追加

メディアＭに記憶された患者用仮想内視鏡ビューワプログラム１５２を読み込んだ汎用ＰＣ端末８０は、メディアＭに記憶された検査準備情報と断層画像データファイル群（内視鏡検査対象患者の検査対象部位の複数枚分の断層画像データ）とを読み出す。 - 特許庁

In the flaw detection device, the flaw detection sensor and the contact detection sensor are held by the holding device having an air floating mechanism for jetting out gas to the inspection object surface so that the flaw detection sensor and the contact detection sensor are held at a prescribed distance from the inspection object.例文帳に追加

前記探傷装置は、前記探傷センサと前記接触検知センサは、前記被検対象物表面に対し気体を噴出し、前記探傷センサと前記接触検知センサが前記被検対象物から所定距離に保持すべくエアフローティング機構を有する保持装置に保持される。 - 特許庁

Before inspecting an inspection object 1, the light quantity of a test pattern 1a is measured with an accumulation type line sensor 7, whether the measurement results are within a predetermined reference value range is judged, calibration is conducted according to the judgment, and then the inspection object 1 is inspected.例文帳に追加

検査対象１を検査する前には、テストパターン１ａの光量を蓄積型ラインセンサ７で測定し、測定結果が予め定められている基準値範囲内に入っているかを判断し、それに応じてキャリブレーショウンを行い、その後に検査対象１を検査する。 - 特許庁

Specifically, positioning error information (information in the two-dimensional direction parallel to an inspection object surface) from a printing position of cream solder and height related information (information in the height direction vertical to the inspection object surface) of the cream solder, namely, the height, a volume value and a three-dimensional shape of the cream solder, are output.例文帳に追加

具体的には、クリームハンダの印刷位置からの位置ズレ情報（検査対象面に平行な二次元方向の情報）と、クリームハンダの高さ関連情報（検査対象面に垂直な高さ方向の情報）とが、すなわちクリームハンダの高さ、体積値、及び、三次元形状とが出力される。 - 特許庁

To provide a surface and internal defect inspection device, capable of enhancing inspection precision by reducing the influence of the sensitivity difference and phase noise, caused by the incident position of the reflected light from the surface of an object to be inspected (or transmission light passed through the inside of the object to be inspected).例文帳に追加

被検査物の表面からの反射光（又は、被検査物の内部を透過した透過光）の入射位置による感度差や位相ノイズの影響を小さくすることにより検査精度を向上することができる表面および内部欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

The image in the deformation inspection object area is binarized, and the position of the original image can be adjusted for every scanning based on a generated LAN code to make the rectangular search to the inspection object area, which can save an arithmetic processing such as an area search to provide the pixel integration in the prescribed direction at a high speed.例文帳に追加

変形の検査対象領域の画像を、２値化し、生成されたランコードを基に、元画像を１スキャンごとに位置調整することができ、矩形探索を検査対象領域とすることができ、領域探索などの演算処理を省いて高速に、一定方向への画素積算を行う。 - 特許庁

To emit rays of different wavelengths toward an egg of an inspection object, and to measure a degree of brownness of an egg shell color, based on a ratio of intensities of reflected rays in the respective rays reflected from the egg of the inspection object.例文帳に追加

検査対象の鶏卵に対して互いに異なる波長の光を照射し、前記検査対象の鶏卵から反射された前記それぞれの光における反射光強度の比率に基づいて卵殻色の褐色度合いを測定する装置およびその方法を提供する。 - 特許庁

The method of evaluating gray hair to an inspection object has: a specific process for specifying the measured part of the inspection object; and an alignment process for obtaining a group of arrayed hair by aligning a group of hair existing a specified part to be measured through a hair fixing member.例文帳に追加

検査対象に対する白髪の評価方法であって：前記検査対象の測定部位を特定する特定工程；及び毛髪固定部材を介して、前記の特定された測定部位に存在する毛髪群を整列して配列毛髪群を得る整列工程；を有することを特徴としている。 - 特許庁

A probe section in contact with a contact terminal of an inspection object is formed in the upper part, and a spring section for providing elastic force is integrally extended in the lower part of the probe section, thereby making current flow from the inspection object to the lower part of the spring section.例文帳に追加

上部には、検査対象物の接触端子に接触する探針部が形成され、前記探針部の下部には弾性力を提供するスプリング部が一体に延設されることにより、検査対象物から前記スプリング部の下部に電流が通ずるように構成される。 - 特許庁

To provide a defect discrimination method capable of discriminating between a detected flaw signal and a noise signal generated from a complicated shape of an inspection object spot, when performing eddy current flaw detection of the inspection object spot on a complicated shape part having a shape changing three-dimensionally.例文帳に追加

３次元的に形状が変化する複雑形状部の検査対象箇所を渦電流探傷する場合において、検出される傷信号と検査対象箇所の複雑な形状によって生じる雑音信号を識別可能にする欠陥識別方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method for determining a correlation value of an object to be inspected, which determines the correlation value unlimitedly close to the measured value of the object to be inspected, namely the optimum threshold in the binarization on the side of image processing, and to provide a defect inspection method using the same and a defect inspection apparatus therefor.例文帳に追加

被検査対象の実測値に限りなく近い相関値、即ち、画像処理側での２値化における最適な閾値を決定する被検査対象相関値決定方法、及びこの方法を用いた欠陥検査方法とその欠陥検査装置を提供するものである。 - 特許庁

A flaw measuring means 16 corrects the ultrasonic beam path length by adding the ultrasonic beam path length by the surface shape of the inspection object 11, and compares it with an ultrasonic beam path length in the case where the inspection object portion between the two ultrasonic probes 12a, 12b has no flaw, to thereby measure the flaw size.例文帳に追加

きず測定手段１６は、被検査体１１の面形状による超音波ビーム路程を加味して超音波ビーム路程を補正し、２個の超音波探触子１２ａ、１２ｂ間の被検査体部位にきずがない場合の超音波ビーム路程とを比較し、きずの大きさを測定する。 - 特許庁

This device is equipped with a terahertz wave generation device 12 for generating the terahertz wave 2, a terahertz wave irradiation device 14 for irradiating the inspection object 1 with the terahertz wave, and a scattering intensity detection device 20 for cutting a straight-advancing component 3 of the terahertz wave transmitted through the inspection object and detecting the intensity of a scattered component 4.例文帳に追加

テラヘルツ波２を発生するテラヘルツ波発生装置１２と、テラヘルツ波を被検査物１に照射するテラヘルツ波照射装置１４と、被検査物を透過したテラヘルツ波の直進成分３をカットし散乱成分４の強度を検出する散乱強度検出装置２０とを備える。 - 特許庁

When an edible meat which is an inspection object 4 is irradiated with ultraviolet light of excitation light from an LED 2, a part of the excitation light regularly reflected by the surface of the inspection object 4 enters a lens 10, but the excitation light is shielded by an optical cut filter 8 and does not reach a CCD element 6.例文帳に追加

ＬＥＤ２から励起光の紫外光を検査対象４の食肉に照射すると、検査対象４の表面で正反射された励起光の一部はレンズ１０に入射するが、光学カットフィルタ８によって励起光は遮断され、ＣＣＤ素子６には到達しない。 - 特許庁

The first and second reverse filters 4e, 4f are applied, under this condition, to the acoustic signal obtained from the sound generated in the inspection object during usual work, to remove influences of the sound generated from the inspection object in the normal time and the predicted other sound.例文帳に追加

この状態で、通常作業中の検査対象物から発生する音から得た音響信号に第１逆フィルタ４ｅおよび第２逆フィルタ４ｆを作用させ、正常時の検査対象物から発生する音およびあらかじめ予想される他の音の影響を除くことができる。 - 特許庁

To secure electrical connection between an electrode of a printed wiring board and a fixed-side terminal of a connection terminal group even if the printed wiring board or an inspection object housing member is bent, and to surely fix the inspection object housing member to the printed wiring board.例文帳に追加

仮にプリント配線基板または被検査物収容部材が撓む場合であってもプリント配線基板の電極と接続端子群の固定側端子との電気的接続を確実なものとし、しかも、被検査物収容部材をプリント配線基板に対して確実に固定することができること。 - 特許庁

This sales supporting system receives the information about purchase application for an object to be sold inputted via a communication terminal from the communication terminal via a communications network and receives a demand for inspection demanding the inspection of the contents of purchase application for the object to be sold from the communication terminal via the communications network.例文帳に追加

通信端末で入力された販売対象の購入申込情報を、通信ネットワークを介して通信端末から受信し、販売対象の購入申込内容の審査を要求する審査要求を、通信ネットワークを介して通信端末から受信する。 - 特許庁

A Koehler illumination light is formed, by arranging a condenser lens 7, so that a light source image position of a light source unit 1 is positioned in the vicinity of a front focus of the condenser lens 7 to illuminate an inspection object surface S of an inspection object 8, arranged in the vicinity of a rear side focal surface of the condenser lens 7.例文帳に追加

光源ユニット１の光源像位置がコンデンサーレンズ７の前方焦点近傍に位置するようにコンデンサーレンズ７を配置することによりケーラー照明光を形成し、コンデンサーレンズ７の後側焦点面近傍に配置された被検物体８の被検面Ｓを照明している。 - 特許庁

An infrared signal is input and analyzed in the infrared image signal processing part 22 to find a temperature distribution of the inspection object 20, and the presence of the defect in the inspection object 20 and a size thereof are detected based on the temperature distribution.例文帳に追加

さらにこの赤外線映像信号処理部２２において赤外線の信号を入力して解析することにより検査対象物２０の温度分布を求め、この温度分布に基づいて検査対象物２０の欠陥の有無並びに大きさを検出するように構成される。 - 特許庁

To provide a low-priced device and method which can promptly detect a detection object in different accuracy levels of demanded height detection and in the different ranges of demanded detection height provided in the same inspection object.例文帳に追加

同じ検査対象物に設けられた要求高さ検出精度や要求検出高さ範囲が異なる検出対象を迅速に検出可能な装置や方法を低価格で提供する。 - 特許庁

The method for performing electronic segmentation or washing is provided to improve the virtual inspection of the object furthermore to compensate influence of partial volume caused in the object by this method.例文帳に追加

オブジェクトの仮想的な検査を更に向上させるために、電子的なセグメンテーション又は洗浄を行う方法があり、これによって、オブジェクトに発生する部分的なボリュームの影響を補正する。 - 特許庁

A surface inspecting apparatus 10 is equipped with a floodlight projection means 11 for irradiating the surface of an object 50 to be inspected with inspection light L and a light receiving means 12 for receiving lights L1, L2 through the object 50.例文帳に追加

表面検査装置１０は、被検査体５０の表面に検査光Ｌを照射する投光手段１１と、被検査体５０を介した光Ｌ１，Ｌ２を受光する受光手段１２とを備えている。 - 特許庁

To provide an X-ray imaging processing apparatus capable of obtaining high speed properties capable of corresponding to in-line inspection by rapidly setting an imaging condition optimum at each time when an object is changed so as to make the same optimum to the object.例文帳に追加

対象物が変わる毎にその対象物に最適な撮像条件に迅速に切り換えて、インライン検査に対応できる高速性を得ることのできるＸ線撮像処理装置を提供する。 - 特許庁

To provide a contour shape inspection method of a component and its device capable of acquiring an accurate silhouette image of a test object component even if another component is arranged on the position near the test object component.例文帳に追加

検査対象部品の近傍位置に別の部品が配置されていても検査対象部品の正確なシルエット画像が得られる部品の輪郭形状検査方法及びその装置を供すること。 - 特許庁

To provide a glove with a metal detection function allowing inspection for an existence of a metal object without being noticed by others and capable of signaling when a metal object is detected without others realizing about it.例文帳に追加

人に知られずに金属物の有無を検査することが可能であると共に、金属物を探知した場合には相手に気づかれずに知らしめることが可能な金属探知機能付き手袋を提供する。 - 特許庁

To provide a defect inspection device capable of certainly detecting a defect such as foreign matter or the like having mixed in an object to be detected without being affected by the shape of the object to be detected or the position of the defect.例文帳に追加

検出対象の形状や、欠点の位置に影響されず、検出対象に混入している異物等の欠点を確実に検出することができる欠点検出装置を提供する。 - 特許庁

The measured data is inputted into a management server 2 of an abnormality predicting system 1 in time series using a sensor 5 for performing measurement in response to an object of inspection from a monitoring object 3, then a reference value and parameters are inputted.例文帳に追加

異常予測システム１の管理サーバ２に、監視対象３から検査目的に応じた計測を行うセンサ５を用いて計測データを時系列に入力し、基準値及びパラメータを入力する。 - 特許庁

To properly measure or inspect a sheet-like measured object with high accuracy at all times by supporting the object in a proper posture to prevent a deformation such as warp, in the case of non-contact measurement or inspection.例文帳に追加

非接触式で測定又は検査を行うために、薄板状被測定物を適正な姿勢で支持して反り等の変形を防止し、常に適正にかつ高精度に測定又は検査を可能にする。 - 特許庁

To provide an inspection system capable of designating a fault spot of a conveyance object simply to a corrector, and a fault recording system capable of managing a fault history and a correction history of the conveyance object.例文帳に追加

搬送対象物の不具合箇所を修整者に簡単に指示することを可能とする検査システム、搬送対象物の不具合・修整履歴を管理可能な不具合記録システムを提供すること。 - 特許庁

To use efficiently a plurality of analyzers by distributing properly a specimen which is an initial inspection measuring object and a specimen which is a reinspection measuring object, in a specimen processing device having the plurality of analyzers.例文帳に追加

複数の分析装置を有する検体処理装置において、初検測定対象の検体及び再検測定対象の検体を適切に分配し、複数の分析装置を効率よく使用する。 - 特許庁

The inspection light 4 out of focus in a front or rear focus is formed into an image on the surface of the object and a change in the quantity of the regular reflected light from the surface of the object of the inspection light 4 out of focus is detected to detect the flaw present on the surface of the object and the shape of the detected image is evaluated by image processing.例文帳に追加

物体表面に対して前ピントまたは後ピントでピントずれした検査光４を結像させ、そのピントずれした検査光４の物体表面からの正反射光の光量変化を検出することにより物体表面に存在する欠陥を検出し、検出された欠陥の形状を画像処理によって評価する。 - 特許庁

An analysis distinction means 73 by which the frequency of a signal from the oscillating receiving means 72 is analyzed, waveform data in the frequency distribution being specific to the inspection object 75 is acquired, and the inspection object is discriminated by the frequency difference between the waveform data and the reference waveform data having been acquired by analyzing the frequency of a reference object is also provided.例文帳に追加

また、振動受信手段７２からの信号を周波数解析し、検査対象物７５に固有の周波数分布中の波形データを取得し、これと基準物について周波数解析し取得しておいた基準波形データとの間の周波数差により検査対象物判別を行う解析判別手段７３を設ける。 - 特許庁

To provide an inspection device, which can quickly inspect a multitude of superposed patterns formed on an object to be inspected, and which can improve the throughput.例文帳に追加

検査対象物上に形成された多数の重ね合わせパターンを迅速に検査でき、スループットを向上できる検査装置を提供する。 - 特許庁

To appropriately correct a displacement or a distortion, or displacement and distortion between an optical image and a reference image by using characteristics of a pattern of an inspection object.例文帳に追加

検査対象物のパターンの特徴を利用して、光学画像と参照画像間のずれ、歪み、又はずれと歪みを適切に補正すること。 - 特許庁

To suppress the performance of a medical device from being degraded during the inspection of a patient in a log management system for managing the audit log of an audit object.例文帳に追加

監査対象の監査ログを管理するログ管理システムにおいて、患者の検査時における医用装置のパフォーマンスの低下を抑制すること。 - 特許庁

The X-ray 28 transmitted through the inspection object 10 is received by a scintillator 30, and generated light is converted into a corresponding electric signal 34 by a photodetector 32.例文帳に追加

検査対象物10を透過したＸ線28をシンチレータ30で受け、発生した光を光検出器32で対応する電気信号34に変換する。 - 特許庁

To provide a laser beam machining device with which an object to be machined which has been regarded as a defective product by an inspection is re-processed, thus the yield is improved.例文帳に追加

検査で不良と判断された加工対象物を再加工し、歩留まり向上を図ることが可能なレーザ加工装置を提供する。 - 特許庁

On an object of inspection such as a liquid crystal panel, the adhesion position of an adhered film medium such as an ACF is inspected by image processing.例文帳に追加

液晶パネルなどの検査対象物に対して貼り付けられたＡＣＦなどのフィルム状媒体の貼付位置を画像処理により検査する。 - 特許庁