「inspection object」に関連した英語例文の一覧と使い方(28ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide an X-ray inspection device capable of regulating a position in the width direction of a conveyance part so that an inspection object can be conveyed accurately to an X-ray irradiation domain between an X-ray irradiation part and an X-ray detection part.例文帳に追加

正確に被検査物をＸ線照射部とＸ線検出部との間のＸ線照射領域に搬送できるように、搬送部の幅方向の位置規制を行うことができるＸ線検査装置を得る。 - 特許庁

To provide a label inspection device of a container having a little influence of reflected light, or the like, from a label of the container adjacent to an inspection object container, capable of suppressing decline in contrast between a breakage and a label part near the breakage.例文帳に追加

検査対象の容器に隣接した容器のラベルからの反射光等の影響が少なく、破れと破れの周辺のラベル部分とのコントラストの低下を抑えることができる容器のラベル検査装置を提供する。 - 特許庁

A heuristic inspection means 22 has a decision criterion for inspecting whether or not an inspection object command/data includes characteristic appearing in the illicit command/data and an evaluation value for indicating a probability for expressing command/data illicit in this characteristic.例文帳に追加

ヒューリスティック検査手段２２は、検査対象コマンド・データが不正なコマンド・データに現れる特徴を含むかを検査する判断基準と、この特徴が不正なコマンド・データを表す確率を示す評価値とを有する。 - 特許庁

In teaching, a resolution required for measurement for inspection and information for specifying a range on an imaging element corresponding to a domain are registered, relative to each inspection object domain allocated on a substrate.例文帳に追加

また、ティーチングの際に、基板に割り付けられた検査対象領域毎に、検査のための計測に要求される分解能と、その領域に対応する撮像素子上の範囲を特定するための情報とを登録する。 - 特許庁

The inspection device using the electromagnetic wave 2 has an electromagnetic wave generation/irradiation means 9 for generating the electromagnetic wave and irradiates it onto the inspection object 11, and an electromagnetic wave detection means 10 having a plurality of detection parts.例文帳に追加

電磁波２を用いる検査装置は、電磁波を発生して検査対象物１１に照射する電磁波発生・照射手段９と、複数の検出部を備える電磁波検出手段１０と、を有する。 - 特許庁

The defect inspection method acquires the image having the height information in the selected measuring condition based on positional information of the defect candidate of acquiring the image having the height information, and inspects the defect of the inspection object, based on the image.例文帳に追加

高さ情報を有する画像を取得する欠陥候補の位置情報から選択した測定条件で高さ情報を有する画像を取得し、その画像に基づいて前記検査対象物の欠陥を検査する。 - 特許庁

This method for the inspection plan of an inspection object in magnetic resonance equipment performed on a composition profile image composed from at least two individual images has following steps.例文帳に追加

本発明は検査計画が少なくとも２つの個別画像から合成された合成概観画像にて行なわれる磁気共鳴装置における検査対象の検査計画のための方法に関し、次のステップを有する。 - 特許庁

The electric conduction pattern inspection device 10 comprises a sensor electrode 18 connected with an electrostatic coupling to one end of an inspection object pattern 14; an electricity supply electrode 16 connected with the electrostatic coupled to the other ends of all conductive patterns 14.例文帳に追加

導電パターン検査装置１０は、検査対象パターン１４の一端に静電結合されたセンサ電極１８と、全導電パターン１４の他端と静電結合された給電電極１６を有する。 - 特許庁

As a result, the characteristics of the image to be inspected are reflected on the reference image to be used for comparison inspection so that the accurate inspection of the pattern can be realized, regardless of the materials of the pattern or the kind of a process for the object to be inspected.例文帳に追加

その結果、比較検査に用いる参照画像は被検査画像の特徴を反映しているため、検査対象物についてパターンの材料、プロセスの種類に関わらず、パターンの正確な検査が行える。 - 特許庁

To provide an inspection method and an inspection device for inspecting quickly a defect such as a cavity, a flaw and a stain, even when a machining oil or a cleaning liquid is deposited on an inner face of an inspected cylindrical object such as an engine cylinder.例文帳に追加

エンジンシリンダなどの被検査円筒物体の内面に加工油や洗浄液が付着していたりしても、高速で、鋳巣、傷、汚れ等の欠陥を検査できるようにした欠陥検査装置及びその方法。 - 特許庁

To provide a probe, and an inspection device using it which enhance the degree of freedom of the arrangement of test terminals in an inspecting object, and also facilitate handling of inspection of a plurality of kinds of boards whose terminal positions for testing are different.例文帳に追加

検査対象物におけるテスト端子配置の自由度が増し、また、テストを行う端子位置の異なる複数種類の基板検査への対応も容易になるプローブ及びこれを用いた検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide an ultrasonic inspection device capable of measuring stable and highly-accurate defect reflecting echo, by removing an influence of a temperature change of an inspection object and measuring water by performing temperature compensation of a sound pressure round-trip transmission rate.例文帳に追加

音圧往復通過率の温度補償を行い被検査物と測定水の温度変化の影響を排し、安定したかつ精度の高い欠陥反射エコーの測定を実現できる超音波検査装置を提供する。 - 特許庁

A word inspection part 12 and a part-of-speech/extension syntax inspection part 13 inspect semantic units in an object sentence of voice synthesis by referring to a dictionary memory 11 stored with information for extending words into a phrase.例文帳に追加

単語検査部１２及び品詞／拡張シンタックス検査部１３は、単語をフレーズへ拡張するための情報を有する辞書メモリ１１を参照し、音声合成される文の中の意味的単位を検査する。 - 特許庁

The turning motion in the upper direction of each arm is restricted in its adjustment range; and since a large departure of the running parts 16, 18 from the inspection object can be restricted, dropping of the inspection device 10 is prevented.例文帳に追加

それぞれのアームの上方向に旋回する動きは、その調整範囲内で制限され、走行部１６、１８が検査対象物から大きく離脱することを制限できるため、検査装置１０の落下を防止できる。 - 特許庁

Image data of an object is outputted (S114), an inspection range for detecting a red eye region is determined (S117), and then a red eye region is detected in the inspection range using the image data (S118).例文帳に追加

被写体の画像データを出力し（Ｓ１１４）、赤目領域の検出を行うための検査範囲を決定し（Ｓ１１７）、前記画像データを用いて前記検査範囲内の赤目領域を検出する（Ｓ１１８）。 - 特許庁

The inspection object commodity whose actual delivery commodity number cumulated with every commodity is less than the expected delivery commodity number of the commodity stored in the commodity inspection table is extracted as a defective commodity, and is displayed on the display part.例文帳に追加

そして、商品毎に累積される実納品数が検品テーブルに記憶されている該当商品の納品予定数に満たない検品対象商品を欠品商品として抽出し表示部に表示させる。 - 特許庁

It is inspected whether the hole position is formed in the allowable range from the standard position or not by checking whether the tip of the pin can be inserted into the hole or not by trying to insert the pin into the hole of the inspection object positioned on the inspection position.例文帳に追加

そして検査位置に位置決めされた検査物の、穴にピンを挿入してそのピンの先端が穴に入るかどうかにより、穴の位置が基準の位置から許容範囲内に形成されているかを検査する。 - 特許庁

To provide an automatic optical inspection system and method for inspecting automatically an appearance of a film- or tape-shaped inspection object with flexible printed circuit board units formed continuously, using an optical system.例文帳に追加

本発明は、フレキシブル印刷回路基板ユニットが連続して形成されたフィルムまたはテープ形態の検査対象物外観を光学的な方式を利用して自動検査する自動光学検査システム及び方法に関する。 - 特許庁

To provide a hot-melt coated state inspecting apparatus capable of inspecting a state of a workpiece coated with a hot-melt adhesive, while conveying the inspection object at a higher speed than before, without lowering inspection accuracy.例文帳に追加

検査精度を低下させることなく従来よりも高速で検査対象物を搬送しつつその検査対象物のホットメルト接着剤の塗布状態を検査することが可能なホットメルト状態検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a miniaturizable polyhedron inspection feeder and a polyhedron inspection device capable of detecting a face of a chiplike object to be inspected automatically, highly precisely, and effectively.例文帳に追加

チップ状の検査対象物の面を自動的、且つ、高精度に効率良く検出することができるとともに、装置構造を小型化することも可能な多面体検査用フィーダー及び多面体検査装置を提供すること - 特許庁

To provide an inspection method and a device for measuring a mechanical state, when operating a solenoid valve, without removing an inspection object solenoid valve from a control fluid circuit in a plant, except when extracting initial data of the first time.例文帳に追加

初回の初期データを抽出するとき以外は、被検査電磁弁を、プラントにおける制御流体回路から外すことなく、電磁弁作動時の機械的状況を測定する検査方法および装置を提供する。 - 特許庁

To provide a surface inspection device for executing accurate inspection by eliminating the influence of worked parts existing on the surface of an inspecting object on judgment of the existence of defects, and for speeding up processing.例文帳に追加

被検査物の表面に存在する加工部が欠陥の有無の判別に与える影響を排除して正確な検査を実施でき、かつ処理の高速化を図ることが可能な表面検査装置を提供する。 - 特許庁

Thereby, even if the specification of the object equipment to be maintained is not investigated in advance, the suitable maintenance/inspection work can be easily performed according to the inspection item transmitted to the information transmitter 16a at the field.例文帳に追加

これにより、事前に保守対象機器の仕様を調べておかなくとも、現場にて情報発信機１６ａに送られてくる点検項目に従って適切な保守点検作業を簡単に行うことができる。 - 特許庁

The inspection device 30 is equipped with a visible light irradiation means 31 installed sideways of an inspection object, an infrared light irradiation means 32 installed at an upward position, a camera 33 for visible light, and the camera 34 for infrared light.例文帳に追加

検査装置３０は、検査対象の側方に設けられた可視光照射手段３１と、上方位置に設けられた赤外光照射手段３２と、可視光用カメラ３３と、赤外光用カメラ３４とを備える。 - 特許庁

The liquid crystal inspection system comprises a lighting optical systems 1, 2, 3 for having an object 4 irradiated with a substantially collimated light, a light-receiving means 5 for receiving the transmitted light from the object 4, and an image processing means 6 for detecting optical defects in the object 4, through contrast enhancing of the image of the object 4.例文帳に追加

被検物４に略平行光を照射する照明光学系１、２、３と、前記被検物４からの透過光を受光する受光手段５と、前記被検物４の画像のコントラストを強調して前記被検物４中の光学的欠陥を検出可能にする画像処理手段６とを有する液晶検査装置。 - 特許庁

To provide an inspection method and an inspection device capable of stably detecting a small defect such as a stain and a foreign matter generated in the contour vicinity even when the contour direction cannot be determined since the contour in an inspection object image is not a simple straight line shape and is a complicated shape such as a waveform in an inside surface inspection of a package.例文帳に追加

パッケージの内面検査、等において、検査対象画像における輪郭が単純な直線状ではなく波形状等の複雑形状であって輪郭の方向が定まらないような場合であっても、輪郭近傍に発生する小さな、汚れ、異物、等の欠陥を安定して検出することができる検査方法および検査装置を提供する。 - 特許庁

This surface-state determining device of the inspection object is equipped with a storage means for storing a data map acquired by learning a prescribed surface state on a portion relative to each of a plurality of portions determined beforehand on the object, and an imaging means for imaging the object.例文帳に追加

検査対象物の表面状態判定装置は、対象物の予め定めた複数の部位のそれぞれについて、該部位における所定の表面状態を学習したデータマップを記憶する記憶手段と、対象物を撮像する撮像手段と、を備える。 - 特許庁

To provide a foreign matter inspection device that can cope with shape variation of a test object without needing detection of positional deviation of the test object, and can cope with minute shape variation due to the positional deviation of the test object on a transporting device such as a conveyer.例文帳に追加

検査対象の形状バラツキに対応でき、検査対象の位置ズレ量を検出する必要がなく、また、コンベア等の搬送装置上での検査対象の位置のバラツキによる微細な形状変化にも対応できる異物検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide an electromagnetic induction type inspection device and method therefor capable of inspecting and detecting all of the inspecting object regardless of dielectric body and electromagnetic body highly precisely and capable of measuring the object regardless of the size of the object, and capable of easily performing miniaturization.例文帳に追加

誘電体、磁性体を問わずあらゆる検査対象物を高感度、高精度で検査、検出することができ、また被検査物の大きさに関係なく測定でき、小型化を容易にできる電磁誘導型検査装置および検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method and an apparatus for an automatic opto-electronic detection and inspection of an object that capture digital images of a two-dimensional field of view in which the object to be detected and inspected may be located and that analyze the images and make and report decisions on the status of the object.例文帳に追加

検出または検査されるべき物体が位置する可能性のある二次元視野のデジタル画像を取得し、画像の分析と物体の状態の決定と記録を行う、物体の自動光電子検出および検査のための方法および装置を提供する。 - 特許庁

To make accurately judgeable the soundness of an inspection object regardless of the presence of an uneven lighting when the surface of the object which is to be inspected is lit for recognizing the presence of a shade so that the roughness on the surface of the object can be identified.例文帳に追加

検査対象物の表面を照明し、影の発生の有無を認識することで検査対象物表面の凹凸を認識して良否判定を行うに際し、「照明むら」の発生の有無に拘らず正確な良否判定が行えるようにする。 - 特許庁

An automatic diagnosis inspection method is described as a monitoring process, a modifying process, an overwriting process, a providing process, and/or for providing a read-only access to input data given to an inspection object application and output data provided by the inspection object application, and comparing desired relations between the input data and output data.例文帳に追加

自動診断検査方法は、監視する工程、変更する工程、上書きする工程、提供する工程及び／又は検査対象アプリケーションに与えられる入力データと検査対象アプリケーションにより供給される出力データに対して読み出し専用のアクセスを提供し、入力データと出力データ間の所望の関係を比較する工程として、記述される。 - 特許庁

To provide an inspection method allowing the measurement of a position of a defect of an inspection object in the thickness direction of inspection object in a method of inspecting an optical display unit by emitting light from one direction of the optical display unit provided with an optical film, imaging a transmission optical image of the light in another direction, and detecting a bright spot from an image obtained by the imaging.例文帳に追加

その目的は、光学フィルムが設けられた光学表示ユニットの一方面から光を照射し、その他方面で当該光の透過光像を撮像し、当該撮像した画像から輝点を検出する、光学表示ユニットの検査方法において、検査対象物の欠点の、検査対象物の厚み方向の位置を測定可能とした検査方法を提供することにある。 - 特許庁

The pattern inspection apparatus computes a statistics value showing a degree of a gap in matching an image of an inspection object pattern and CAD data corresponding to the inspection object pattern, determines the necessity of correction processing based on the statistics value, performs correction processing onto a polygon figure in the CAD data when it is determined that correction processing is required, and compares the polygon figure been corrected with the pattern image.例文帳に追加

検査対象パターンの画像と検査対象パターンに対応するＣＡＤデータとのマッチングにおけるズレの程度を表す統計量を算出し、該統計量に基づいて補正処理の要否を判定し、補正処理が必要と判定された場合に、ＣＡＤデータ中のポリゴン図形に補正処理を行い、補正されたポリゴン図形とパターン画像とを比較する。 - 特許庁

A TFT array inspection device comprises a gate drive circuit driver part which supplies driving signals to gate drive circuits arranged on a substrate as an inspection object and a detecting part which scans a TFT array region arranged on the substrate as the inspection object and detects the drive states of the gate drive circuits and the TFT array region based on a scanning image of the TFT array region obtained from the scan.例文帳に追加

検査対象である基板が備えるゲート駆動回路に駆動信号を供給するゲート駆動回路用ドライバ部と、検査対象である基板が備えるＴＦＴアレイ領域を走査し、走査で得られるＴＦＴアレイ領域の走査画像に基づいて、ゲート駆動回路およびＴＦＴアレイ領域の駆動状態を検出する検出部とを備える。 - 特許庁

To provide an inspection tool capable of easily measuring the connection resistance with a minimum conductor resistance value of the wiring portion of an object to be connected.例文帳に追加

被接続物の配線部分の導体抵抗値を極力少なくした状態での接続抵抗の測定を容易に可能とする検査治具を提供すること。 - 特許庁

Additionally, on the inspection object acceptor 1, a cover 3 is attached, and, in the cover 3, an inlet 4 for injecting the liquid is formed.例文帳に追加

また、検査対象受体１には、カバー部材３が貼り付けられ、当該カバー部材３には、液体を注入する注入口４が形成されている。 - 特許庁

An ultrasonic nondestructive inspection apparatus 1 receives the power supply of A, B batteries 24a, 24b to inspect a state in an object to be inspected.例文帳に追加

超音波非破壊検査装置１は、Ａ，Ｂバッテリ２４ａ，２４ｂの電力供給を受けて被検体内部の状態を検査する非破壊検査装置である。 - 特許庁

To provide a simple defect inspection device, capable of inspecting defects based on diffracted light and scattered light from a substrate (object to be inspected) at high throughput.例文帳に追加

基板（被検物体）からの回折光と散乱光とに基づく欠陥検査を高スループットで行える簡素な欠陥検査装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a magnetic shield box for a metal detector which can efficiently reduce invasion of magnetic noise from an opening for transporting an inspection target object thereinto or therefrom.例文帳に追加

検査対象物の搬出入口からの磁気ノイズの侵入を効率的に低減できる金属検出器用磁気シールドボックスを提供する。 - 特許庁

To provide a method for inspecting a defect in a semiconductor single crystal, which has an enhanced sensitivity in defect evaluation of an inspection object by ultrasonic scattering method.例文帳に追加

超音波散乱法における被検査物の欠陥評価の感度を向上させた半導体単結晶中の欠陥検査方法を提供する。 - 特許庁

The inspection device 1 precisely inspects the defect of the inspected object having tightly arranged patterns (including rotated patterns).例文帳に追加

本検査装置１は、密接配置された絵柄（回転移動した絵柄を含む）を有する検査対象の欠陥を、高精度で検査することが可能である。 - 特許庁

To provide an inspection device for micro object capable of efficiently performing the classification between non-defective and defective with a simple structure.例文帳に追加

簡単な構造で、高速で効率良く良品と不良品の分別を行うことができる微小物体検査装置を提供することを目的としている。 - 特許庁

To provide a device for inspecting a resin sealing material capable of simplifying a constitution of a lighting device, and facilitating alignment between the lighting device and an inspection object.例文帳に追加

照明装置の構成を簡単にしかつ照明装置と検査対象との位置合わせを容易にした樹脂封止材の検査装置を提供する。 - 特許庁

A reflected ray I1' generated by an inspection object H gets incident thereby on one photoreception face of a PSD 4 through a convergence lens 6.例文帳に追加

これにより、検出対象Ｈによって生じた反射光Ｉ１′が集光用レンズ６を通ってＰＳＤ４の１個の受光面に入射する。 - 特許庁