「inspection object」に関連した英語例文の一覧と使い方(27ページ目) - Weblio英語例文検索

First to third determination sections 54, 55 and 57 determines the quality of the inspection object A when comparing light emitting areas with respective criteria.例文帳に追加

第１〜３の判定部５４，５５，５７は、発光領域を各判定基準に照合して検査対象物Ａが良品であるか否かを判定する。 - 特許庁

To provide a method for easily and accurately performing inspection in a short period of time by visualizing the minute uneven flaw of a polarization film transparent object (sample) so that it is easy to see.例文帳に追加

偏光フィルム透明体（試料）の微小な凹凸欠陥を見やすく可視化し、容易にかつ正確に短時間で検査を行う。 - 特許庁

To enhance the SN ratio of a detection signal from damage or the like present in an object, in an ultrasonic inspection system.例文帳に追加

超音波検査システムにおいて、物体に存在する損傷等からの検出信号のＳＮ比を向上させることを可能とすることである。 - 特許庁

To provide an inspection apparatus having a mechanism capable of absorbing the effect of a projecting part when the projecting part or the like is present on an object for measurement.例文帳に追加

測定対象に凸部等が存在する場合にその凸部の影響を吸収できる機構を備えた検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method for inspection of an object to be inspected (hereinafter, a workpiece), capable of correctly and efficiently inspecting defects in the workpiece.例文帳に追加

本発明は、被検査物の欠陥を確度よく能率的に検査可能な被検査物の検査方法を提供することを目的としている。 - 特許庁

During irradiation of a semiconductor device of an inspection object with the spot light of a large diameter, a tester verifies an electric operation in a pertinent irradiation range.例文帳に追加

大径のスポット光による検査対象の半導体装置の照射中、テスタは該当する照射範囲の電気的動作の検証を行う。 - 特許庁

To provide an image processor which allows even an inexperienced user to set pre-processing (image processing) suitable for inspection of an object.例文帳に追加

経験の浅いユーザであっても対象物の検査に適した前処理（画像処理）を設定することができる画像処理装置を提供する。 - 特許庁

To provide a sound source search device capable of easily pinpointing the generation spot of an unusual sound generated abruptly from an inspection object vehicle.例文帳に追加

検査対象車両から突発的に発生される異音の発生箇所を容易に特定することができる音源探査装置を提供する。 - 特許庁

To provide an inspection apparatus that quantitatively determines a detecting object speedily, inexpensively, easily, and accurately, and increases the efficiency of cleaning of a reaction vessel.例文帳に追加

検出対象を迅速、安価、簡便且つ高精度に定量でき、反応容器の洗浄を効率化できる検査装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a 3-D shape measurement method which effectively performs a shape measurement of a measurement object, and also to provide an appearance inspection device.例文帳に追加

測定対象物の形状測定を効率的に行える立体形状測定方法及び外観検査装置を提供することにある。 - 特許庁

In an aspect, an inspection method is disclosed for detecting the presence or absence of a defect on an object comprising a recess having a physical depth.例文帳に追加

一態様では、物理的深さを有する凹部を含むオブジェクト上の欠陥の存在又は不在を検出する検査方法が開示される。 - 特許庁

A sectional image generation part 38 reconstitutes a plurality of sectional images of the inspection object based on the plurality of radiation transmission images.例文帳に追加

断面画像生成部３８は、前記複数の放射線透過画像に基づいて前記被検査体の複数の断面画像を再構成する。 - 特許庁

To radiographically inspect an inspection object that cannot be freely moved by freely setting the magnification and perspective direction of an observation part with high operability.例文帳に追加

自由に動かすことのできない被検体に対し、観察部分の拡大率と透視方向を自由に操作性よく設定して透視する。 - 特許庁

Thinning or the like D of the inspection object part 101 is inspected by comparing arrival times of received waves by the receiver 4 at each scanning position.例文帳に追加

受信子４による受信波の到達時間を各走査位置で比較することにより検査対象部１０１の減肉等Ｄを検査する。 - 特許庁

A register block 106 registered with the core number and the version number of the used IP is provided in the inspection object LSI 101.例文帳に追加

また、検査対象ＬＳＩ１０１には、利用されているＩＰのコア番号及びバージョン番号を登録したレジスタブロック１０６が備えられている。 - 特許庁

To provide an aberration discrimination device and an aberration discrimination method capable of quickly discriminating the aberration of an inspection object such as a lens or a mirror surface.例文帳に追加

レンズや鏡面等の被検物体の収差を迅速に判別することができる収差判別装置及び収差判別方法の提供。 - 特許庁

To obtain an X-ray inspection apparatus for detecting a foreign substance, even if the small foreign substance is mixed in the vicinity of an end of a to-be-inspected object.例文帳に追加

検査対象物の端部付近に小さな異物が混入している場合においても、該異物を検出可能なＸ線検査装置を得る。 - 特許庁

To provide an easily-manufacturable probe for four-terminal measurement having excellent durability, capable of performing easily measuring operation, and realizing excellent electric contact with an inspection object.例文帳に追加

製造及び測定操作が容易で、耐久性に優れ、被検査物との電気的接触が良好な四端子測定用プローブを提供する。 - 特許庁

To provide a device and method for defect inspection for simply and rapidly extracting an object defect to be observed.例文帳に追加

観察すべき検査対象欠陥を簡単、かつ、迅速に抽出することができる欠陥検査装置及び欠陥検査方法を提供すること。 - 特許庁

When there is an injury in the inspection object T in the direction vertical to the coil surface of the exciting coil E, an eddy current is disturbed at the part of the injury to change.例文帳に追加

検査体Ｔに励磁コイルＥのコイル面に垂直な方向のキズがある場合には、渦電流はキズの部分で乱れて変化する。 - 特許庁

The photographing/sound collection of an inspection object by the portable terminal with camera is performed, whereby a support of determination can be received from an examiner terminal 20.例文帳に追加

カメラ付き携帯端末で点検対象の撮影・音収集を行うことで検査員端末２０から判定の支援が受けられる。 - 特許庁

Alternatively, a binary image is made using the rendered gray scale image and the pattern recognition is performed on the binary image to detect the inspection object.例文帳に追加

あるいは作成したグレースケール画像から二値画像を作成し、二値画像に対してパターン認識を行い検査対象物を検出する。 - 特許庁

Then, the defect of the inspection object 1 is classified by using a database which is different corresponding to the domain to which the detected defect belongs.例文帳に追加

そして、検出された欠陥が属する領域に応じて、異なるデータベースを使用して検査対象物１の欠陥の分類を行なう。 - 特許庁

Therefore, the operator can examine the electrical characteristics of each wiring 12, while selecting the inspection object wiring 121 by the manual probe 50.例文帳に追加

このため、オペレータは手動プローブ５０で検査対象配線１２１を選択しながら、各配線１２の電気特性を調べることができる。 - 特許庁

The prepreg 1 surface is imaged by a camera 4 having a resolution of two thirds or more of the width dimension of the image 5 of the void 2 which is an inspection object.例文帳に追加

検査対象のボイド２の像５の幅寸法の２／３以上の分解能を有するカメラ４でプリプレグ１の表面を撮像する。 - 特許庁

To determine mutual position of an optical element or its type from measurement data of three-dimensional coordinates of the optical element which is an inspection object or its type.例文帳に追加

被検物である光学素子あるいはその型の３次元座標の測定データから、光学素子あるいはその型の相互の位置を求める。 - 特許庁

A neutron detector 6 detects neutrons generated by (γ,n) reaction by deuterium in water adhering to the inspection object 4.例文帳に追加

中性子検出器６は、被検査体４に付着した水の中の重水素による（γ，ｎ）反応によって発生した中性子を検出する。 - 特許庁

Accordingly, a temperature rise of an irradiation position of the inspection object before irradiation with the laser beams for generating ultrasonic waves is prevented.例文帳に追加

これにより、超音波発生用のレーザービームが照射される前に検査対象の照射位置の温度が上昇しているのを防止できる。 - 特許庁

To adjust an optical axis from a lighting source for observing diffraction light to a camera without using an actually manufactured inspection object substrate.例文帳に追加

実際に製造された被検査基板を用いることなく、回折光を観察するための照明光源からカメラに至る光軸を調整する。 - 特許庁

To provide an electron beam irradiation device facilitating a repair for connecting a broken long processing object and an inspection inside the electron irradiation device.例文帳に追加

切れた長尺被処理物をつなぐ修理及び電子線照射装置内の点検を容易にする電子線照射装置を提供する。 - 特許庁

A first processing unit 1 is provided with a first learnt neural network 101, to classify inspection object signals into normal signals and the other signals.例文帳に追加

第１処理部１は、学習済みの第１のニューラルネットワーク１０１を備え検査対象信号を正常と正常以外とに分類する。 - 特許庁

To provide a probe assembly that can prevent a probe from being damaged by foreign matters that remain in the vicinity of an electrode which is an inspection object.例文帳に追加

被検査体の電極周辺に残存する異物によってプローブが損傷を受けることを防止できるプローブ組立体を提供する。 - 特許庁

To preclude a scanning beam flux from being scattered in a lens frame of an inspected optical system, even in inspection of a scanning optical system, to secure an effective inspection objective area for acquiring the scanning beam flux, and to acquire and inspect only the beam flux of an inspection object.例文帳に追加

走査光学系の検査においても検査光学系のレンズフレームでの走査ビーム光束の散乱を生じさせないようにし、走査ビーム光束を取得するための有効な検査対象領域を確保し、検査対象のビーム光束のみを取得、検査できるようにする。 - 特許庁

To provide a container inspection system and a container inspection method for inspecting a container in a plurality of sections on an ordinary conveyance path in a non-destruction manner, finding a dubious object quickly and accurately, and increasing reliability for inspection markedly.例文帳に追加

通常の搬送経路上の複数箇所でコンテナを非破壊にて検査することができ、不審物等を迅速且つ的確に発見することができるとともに、検査に対する信頼性を著しく高めることができる、コンテナ検査システム及びコンテナ検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide an inspection method and an inspection device of a composite magnetic member capable of measuring the permeability of boundary part between a magnetic substance part and a non-magnetic substance part and also the non-magnetic substance part at low cost with a simple operation, without generating waste and without applying processing to the composite magnetic member which is an inspection object.例文帳に追加

廃棄物が発生せず、検査対象となる複合磁性部材に加工を施すことなく、低コストかつ簡単な操作で磁性体部と非磁性体部との境界部ならびに非磁性体部の透磁率を測定する複合磁性部材の検査方法および検査装置を提供する。 - 特許庁

The microscopic inspection apparatus for cataract operation comprises a microscopic inspection optical system and a pattern developer, wherein the microscopic inspection optical system forms an image showing the flat surface of an object and the pattern developer forms a pattern for overlapping on the image.例文帳に追加

白内障手術用顕微鏡検査装置は、顕微鏡検査光学系とパターン発生器とを含み、前記顕微鏡検査光学系は、前記顕微鏡検査光学系の物体平面の像を形成し、前記パターン発生器は、前記像に重畳されるパターンを形成する。 - 特許庁

This small inspection equipment 10 generating inspection data by measuring the blood of a subject, the content or the density of a specific substance in the body fluid of the subject, has a function of collecting the inspection data distinguishing by from the precision managing data of which measurement object is a standard sample.例文帳に追加

本発明は、被検者の血液又は体液中の特定物質の成分又は濃度を測定して検査データを発生する小型検査機器１０において、検査データと、標準試料を測定対象とした精度管理データとを区別して収集する機能を有する。 - 特許庁

To provide an inspection method for lighted images of a display panel, which realizes accurate and high-speed inspection, even when the screen as a whole is shifted from white, or the background being an object to be compared with an evaluation point is shifted from white, in a lighted image inspection of the display panel.例文帳に追加

ディスプレイパネルの点灯画像検査において、画面全体がホワイトからずれている場合や、評価点との比較対象である背景部がホワイトからずれている場合においても、高精度高速検査を実現するディスプレイパネルの点灯画像検査方法を提供する。 - 特許庁

To devise a surface flaw inspection device so as to keep the detection precision of the whole of the inspection surface of an object to be inspected constant, to detect a gentle gradient flaw, not to complicate the processing of measured light receiving data, and to miniaturize the inspection device.例文帳に追加

被検査物の検査面全体の検出精度を一定に保つことができ、勾配の緩やかな欠陥を検出することができるように、また、計測した受光データの処理が複雑でなく、検査装置を小型化できるように、表面欠陥検査装置について工夫すること。 - 特許庁

To inspect an inspection-desired defective to enhance the inspection reliability, by receiving, from an imaging device, only a light component of bringing a defective shape into relief through a feature on a surface of an inspection object, in the defective, out of the light components incident multi-angularly.例文帳に追加

多角度から入射される光の成分のうち、不良を検査対象物の表面上の特徴を通じて不良形状が浮き彫りにされる光の成分のみを撮像装置から受け入れて、所望する不良を検査して検査信頼性を高めるための光学検査システムを提供すること。 - 特許庁

An inspection tool 6 is connected to a gas cock 53 formed in an end terminal of a branched pipe line 5 in branched piping to conduct the leakage inspection, using as an inspection object the branched piping branched from a main branched pipe line 1 into a building M via the leading-in pipe 2 provided with the cut-off valve 3.例文帳に追加

本支管１から、遮断バルブ３を備えた引込管２を介して建物Ｍ内に分岐する分岐配管を検査対象として、その分岐配管における分岐管路５の末端に形成されたガス栓５３に検査器具６を接続して、漏洩検査を行う。 - 特許庁

Since the well is formed on the surface of the thin plate of 50 to 200μm thickness, the inspection objective body in the well can be observed from the rear side with an inverted microscope, therefore processing the inspection objects, such as seeding the inspection object can be performed easily and surely, without being obstructed by the objective lens of the microscope.例文帳に追加

ウエルが厚さ５０〜２００μｍの薄板表面に形成されているので、ウエル内の被検体を倒立顕微鏡でウエルプレートの裏側から観察することが可能となり、顕微鏡の対物レンズに邪魔されることなく、被検体の播種等の被検体処理を容易かつ確実に行える。 - 特許庁

A computation control part 42 specifies an A/D conversion object of the A/D converter 41 within an inspection region based on a computation timing signal, a computation period signal, an inspection width signal from an inspection width setting circuit 32 and so on, and transmits this specific signal to the A/D converter 41 for a given period of time.例文帳に追加

演算制御部４２により、演算タイミング信号、演算期間信号、検査幅設定回路３２からの検査幅信号などに基づき、Ａ／Ｄ変換部４１でのＡ／Ｄ変換対象を検査領域内のみに特定し、一定期間この特定信号をＡ／Ｄ変換部４１に送る。 - 特許庁

In an inspection repair system 10, an XY table 14 for holding a glass substrate 6 including a wiring pattern 8 of an inspection object is loaded on a substrate 12, and a probe 16 and a repair mechanism section 20 connected to an inspection unit 18 are formed at the upper part while a predetermined position relation is held.例文帳に追加

検査リペア装置１０は、基台１２の上に、検査対象物の配線パターン８を含むガラス基板６を保持するＸＹテーブル１４が搭載され、その上方に検査器１８に接続されるプローブ１６とリペア機構部２０とが所定の位置関係を保って設けられる。 - 特許庁

To provide an efficient detector and method for a high energy X-ray capable of enhancing an inspection time and precision for nondestructive inspection or the like of a thick object favorable to use the high energy X-ray.例文帳に追加

高エネルギーＸ線を使用することが望ましい、分厚い被写体の非破壊検査等の検査時間・精度を向上させることのできる高エネルギーＸ線の効率のよい検出装置及び方法を提供する。 - 特許庁