「ion mass」に関連した英語例文の一覧と使い方(14ページ目) - Weblio英語例文検索

An ion trap 9 which is partitioned with reference to an ionization means 1 and a time-of-flight mass spectrometry means 19 is filled directly with a sample gas through a sample-gas introduction tube 3.例文帳に追加

イオン化手段１および飛行時間型質量分析手段１９に対して仕切られたイオントラップ９中にサンプルガスをサンプルガス導入管３を介して直接充填する。 - 特許庁

To provide a plasma treatment device provided with a means to detect the quantity of ion flux of plasma (plasma density) related to mass-production stability and machine difference reduction, and a device condition related to its distribution.例文帳に追加

量産安定性と機差低減に関わるプラズマのイオンフラックスの量（プラズマ密度）と、その分布に関する装置状態を検知する手段を備えたプラズマ処理装置を提供する。 - 特許庁

To provide a vacuum analyzing device capable of evacuating an ion source and a gas evacuation pipe into sufficient high vacuum in a short time without lowering the degree of vacuum of a mass spectrometer.例文帳に追加

質量分析室の真空度を低下させることなく、短時間で十分な真空度までイオン源及びガス供給管を排気することができる質量分析装置を提供する。 - 特許庁

The grouting material includes, as an active principle, a silica solution obtained by ion exchange treating colloidal silica in which a silica concentration is 15-40 mass%, and a particle size is 10-80 nm.例文帳に追加

シリカ濃度が１５〜４０質量％であって、かつ、粒径が１０〜８０ｎｍであるコロイダルシリカを、イオン交換処理して得られるシリカ溶液を有効成分とする地盤注入材である。 - 特許庁

To provide a sector secondary ion mass spectrometer capable of providing depth resolution as much as that of a Q-pole one while making the best use of the advantage of the sector having a low detection limit.例文帳に追加

セクタ型の検出限界の低い利点を生かしつつ、Ｑ−ｐｏｌｅ型並みの深さ分解能を得ることが可能なセクタ型の２次イオン質量分析装置を提供する。 - 特許庁

To provide a small sized, low cost and simple ion trap for operating under a low vacuum condition, and to provide technology of mass spectrometry using the same without reducing a measuring accuracy.例文帳に追加

低真空での動作が可能であり、小型、安価、簡便なイオントラップを提供し、それを用いて計測精度を低下させることなく質量分析を行う技術を提供する。 - 特許庁

A deflecting coil 20 in a mass separation electromagnet 17 according to the invention is composed of a plurality of coils 21, 22, 23 which are arranged in the long direction of the rectangular section of ion beam 1.例文帳に追加

本発明の質量分離電磁石１７における偏向用コイル２０は、イオンビーム１の長方形断面の長手方向に配置された複数のコイル２１，２２，２３からなる。 - 特許庁

When the substance is gathered on a conductive pattern by a foreign substance removal probe, the foreign substance or the scraped residue of the foreign substance is subjected to composition analysis by Auger electron spectroscopy or secondary ion mass spectrometry.例文帳に追加

異物除去探針で導電性のパターン上に集めた場合にはオージェ電子分光または二次イオン質量分析法で異物または異物の削り滓を組成分析する。 - 特許庁

To provide a mass spectrometry apparatus using ion-molecule reaction ionization, capable of correct qualitative and quantitative analysis in a short time regarding a sample having multicomponents without accompanying large sizing of it.例文帳に追加

大型化を伴うことなく多成分を有する試料について短時間で正確な定性／定量分析を行うことが可能なイオン分子反応イオン化質量分析装置を実現する。 - 特許庁

To provide a probabilistic cycrotron ion filter capable of selectively isolating and separating ions having specified range of mass numbers from many kinds of plasmas.例文帳に追加

あらかじめ定められた範囲内にある質量数をもつイオンを多種のプラズマの中から選択的に隔離および分離することが可能な確率的サイクロトロンイオンフィルタを提供する。 - 特許庁

In the focus ring for the plasma etching system, concentration of Fe measured in secondary ion mass spectrometry is 1×103 counts or lower, and the plasma etching system using the focus ring is also provided.例文帳に追加

二次イオン質量分析で測定したＦｅ濃度が１×１０^3ｃｏｕｎｔｓ以下であるプラズマエッチング装置用フォーカスリング及び上記のフォーカスリングを有してなるプラズマエッチング装置。 - 特許庁

Impurity ion separated by the mass spectrograph 4 is accelerated by a first accelerator 5 up to 10 kV, and partly neutralized by electron emitted from a beam neutralization part 7.例文帳に追加

質量分析器４で分離された不純物イオンは、第１加速器５において１０ｋＶに加速され、ビーム中性化部７から放出された電子により一部が中性化される。 - 特許庁

To provide a mass spectrometry device in which measuring stop time is made minimum and measuring accuracy and ion detection resolution capacity can be improved in the data processing of TDC system.例文帳に追加

ＴＤＣ方式のデータ処理において、測定休止時間を最小限にし、更に、測定精度及びイオン検出分解能を向上することができる質量分析装置を提供する。 - 特許庁

This laser ablation mass spectrometer 1 of the present invention includes a sample stage 10, a laser irradiation part 20, a pneumatic conveying system 30, an ion source 40 and an analytical part 50.例文帳に追加

本発明にかかるレーザーアブレーション質量分析装置１は、試料ステージ１０と、レーザー照射部２０と、気流搬送系３０と、イオン源４０と、分析部５０とを備えている。 - 特許庁

The ion implantation device according to the invention comprises a beam guide 200 of mass analysis magnet, a power source for providing electric field, and a magnetic device 170 providing a multicusped magnetic field and having multiple magnets 220.例文帳に追加

本発明のイオン注入装置は、質量分析磁石のビームガイド200、電界を与えるパワー源、及びマルチ−カスプド磁界を与え、複数の磁石220を有する磁気装置170を備える。 - 特許庁

An analysis result by the reflectron type mass spectrometer 13 is reported to an analysis part 21, and is referred to for identifying ions detected by the position sensing type ion detector 11.例文帳に追加

リフレクトロン型質量分析器１３による分析結果は、解析部２１に通知され、位置感知型イオン検出器１１により検出されたイオンの同定のために参照される。 - 特許庁

To provide a method for simply and easily analyzing a high resistance sample in X-ray photoelectron spectroscopic analysis and secondary ion mass spectrometry.例文帳に追加

本発明は、Ｘ線光電子分光分析方法及び2次イオン質量分析方法で従来法以上に簡便に高抵抗試料の分析を行なう方法を提供することを課題とする。 - 特許庁

In an ion source 5 for a mass spectrometer which is equipped with a filament 52 and a grid 51 and ionizes gas, the grid has a cylindrical profile and the filament is inserted in this grid.例文帳に追加

フィラメント５２及びグリッド５１を備えてガスをイオン化する質量分析計用のイオン源５においては、グリッドが筒状の輪郭を有し、このグリッド内にフィラメントが挿設されている。 - 特許庁

This mass spectrometer is composed of an ion source 1 for ionizing a sample, an intermediate chamber 3 for receiving ions generated in the ion source 1 in a following step, and a measuring chamber 8 located downstream of the chamber 3 and arranged with various kinds of constituents for an ion optical system.例文帳に追加

試料をイオン化するイオン源と、該イオン源で生成したイオンを後段側で受け入れる中間室と、該中間室の更に後段側に置かれ、種々のイオン光学系の構成物が配置された測定室とから成る質量分析装置において、前記中間室と前記測定室を仕切る隔壁部分に、種々の口径を備えた可変式スリットを設けた。 - 特許庁

In the polymerized toner in which a charging control agent having a halogen group exists on the surface of base particles including a binding resin and calixarene having a halogen group, the ratio of the counted number of halogen ion to the counted number of carbon ion measured by using time-of-flight secondary ion mass spectrometer (TOF-SIMS) is not less than 0.01 and not more than 0.5.例文帳に追加

結着樹脂と、ハロゲン基を有するカリックスアレーンを含む母体粒子の表面に、ハロゲン基を有する帯電制御剤が存在する重合トナーは、飛行時間型二次イオン質量分析法（ＴＯＦ−ＳＩＭＳ）を用いて測定される炭素イオンのカウント数に対するハロゲンイオンのカウント数の比が０．０１以上０．５以下である。 - 特許庁

The photosensitive transfer material sequentially includes: a temporary support; the photosensitive resin layer satisfying a ratio (A/B) of 0.0017-0.0145, wherein when a layer surface is measured with a secondary ion mass spectrometer, A represents a monomer secondary ion strength, and B represents a total secondary ion strength; and the cover film laid in contact with the surface of the photosensitive resin layer.例文帳に追加

仮支持体と、層表面を二次イオン質量分析計で測定したときのモノマー二次イオン強度Ａ及びトータル二次イオン強度Ｂの比（Ａ／Ｂ）が０．００１７〜０．０１４５である感光性樹脂層と、前記感光性樹脂層の表面に接して設けられたカバーフィルムと、をこの順に有する感光性転写材料である。 - 特許庁

This power supply for an ion guide used for introducing ions generated by ionization by an atmospheric pressure ion source into a high-vacuum analysis system is provided with a control means 20 for making both parameters of the amplitude and the frequency of a voltage supplied to the ion guide variable to set both the parameters to optimum values according to the mass number of the ions to be passed.例文帳に追加

大気圧イオン源でイオン化したイオンを高真空分析系に導入するイオンガイド用の電源において、イオンガイドに供給する電圧の振幅と周波数の両方のパラメータを可変にし、通過させるイオンの質量数によって両方のパラメータを最適値に設定するための制御手段（２０）を備えたものである。 - 特許庁

In a time of flight type mass spectrometer wherein an ion is flown from an ion reservoir with the multistage acceleration field and re- accelerated for detecting near the ion detector, the voltage in each acceleration field meeting secondary convergence condition corresponding to re-acceleration voltage is to be set so as to obtain resolution equivalent to that in the case of non re-acceleration.例文帳に追加

多段加速場によりイオン溜からイオンを飛行させ、イオン検出器近傍で再加速して検出する飛行時間型質量分析計であって、再加速電圧に応じて２次収束条件を満たす各加速場の電圧を設定するようにして、再加速しない場合と同等の分解能が得られるようにしたものである。 - 特許庁

To provide a data processor for mass spectrometric analysis capable of precluding an overrange in an A/D converter from being generated in all the TOF scans, even in such an ion signal as a signal level varies in accompaniment to the lapse of measuring time, capable of providing high reproducibility of the ion signal by executing measurement in a high dynamic range, and capable of obtaining efficiently a desired mass spectrum in a short time.例文帳に追加

測定時間の経過に伴って信号レベルが変化するようなイオン信号に対しても、全てのＴＯＦスキャンにおいて、Ａ／Ｄ変換器でのオーバーレンジを発生させず、かつ高いダイナミックレンジでの測定を行うことで、イオン信号の再現性が高く、かつ所望のマススペクトルを効率良く短時間で得るための質量分析用データ処理装置を提供する。 - 特許庁

The mass spectrometer is constructed so as to analyze the substance to be detected by providing a single sample guiding part 1 for guiding and evaporating the sample, a plurality of ion sources 3, 6 for generating specific ions at every substances contained in the vapor of the sample supplied from the single sample guiding part, and mass analyzing parts 5, 8 performing the mass spectrometry, arranged so as to correspond to respective ion sources.例文帳に追加

試料を導入し、蒸気化するための単一の試料導入部１と、前記単一の試料導入部から供給される前記試料の蒸気に含まれる物質ごとに特有なイオンを発生させるための複数のイオン源３、６と、前記複数のイオン源の各々に対応して設置され、前記イオンの質量分析を行なう複数の質量分析部５、８とを有し、探知すべき対象物質の分析を行なうよう構成したことを特徴とする。 - 特許庁

The potassium concentration in sodium hydrogencarbonate crystals with an average particle size of 50-500 μm is lowered to 50 mass ppm or lower, preferably to as low as possible, and the carbonate ion concentration (in terms of sodium carbonate) in the crystal particles is lowered to 1 mass% or lower.例文帳に追加

平均粒子径５０〜５００μｍの炭酸水素ナトリウムの結晶中のカリウムの濃度を、好ましくは濃度５０質量ｐｐｍｍ以下に可及的に低下せしめ、かつ好ましくは、結晶粒子中の炭酸イオン濃度を、炭酸ナトリウム換算で１質量％以下に低下せしめる。 - 特許庁

To provide a mass spectrometric technique that in MALDI mass spectrometry using inorganic particulates as matrix, a sample material is directly retained by matrix particles without interposing a material which becomes a cause of an interfering ion peak, to analyze an organic compound of low molecular weight in particular with superior precision.例文帳に追加

無機微粒子をマトリクスとするＭＡＬＤＩ質量分析法において、妨害イオンピークの原因となる物質を介在させることなく、試料物質をマトリクス粒子に直接保持させて、特に低分子量の有機化合物が精度良く分析できる質量分析技術を提供する。 - 特許庁

There are provided a peptide separation method using a multidimensional column chromatography including an amphoteric ion column as a preprocess for the mass analysis of a protein, a protein mass analysis method using the peptide obtained by the separation method, and the protein identification method and a proteomics analysis method using the identification method.例文帳に追加

タンパク質の質量分析のための前処理として、両性イオンカラムを含む多次元カラムクロマトグラフィを用いるペプチドの分離方法、該分離方法によって得られたペプチドを用いる、タンパク質の質量分析方法、タンパク質の同定方法、及び、該同定方法を用いるプロテオミクス解析法等。 - 特許庁

Lorentz force acts on ions and electrons passing through the deflection magnetic field, and, whereas the electrons dramatically small in mass as compared with ions can not pass through the ion optical system 7 by bending their orbits, the ions can reach the quadrupolar mass filter 9 without being influenced by the magnetic field.例文帳に追加

偏向磁場を通過するイオンや電子にはローレンツ力が作用するが、イオンに比べて格段に質量が小さな電子は軌道を曲げてイオン光学系７を通過し得ないのに対し、イオンは磁場の影響を殆ど受けずに四重極質量フィルタ９に到達する。 - 特許庁

A mechanism for measuring temperature of a high-voltage power supply circuit 16 output to an ion acceleration section of the flight-time type mass spectroscope is arranged, and correction of mass spectrum data measured at the same time is performed on a data processing section 18 by referring to temperature data.例文帳に追加

飛行時間型質量分析装置のイオン加速部に出力する高圧電源回路１６の温度を計測する機構を設け、同じ時間に測定した質量スペクトルデータについて、温度データを参照して、質量スペクトルデータの補正をデータ処理部１８で実施する。 - 特許庁

A small housing part is provided on the lower part of the sample container of an ion attachment mass spectrometer that houses an analyzing reference material and an analysis sample is placed on a small housing part to make the detection gas from the analysis standard substance into contact with the analysis sample, and then subjecting the analysis sample to mass analysis.例文帳に追加

イオン付着質量分析装置の試料容器の下部に小さい収容部を設けて分析標準物質を入れ、小さい収容部の上に分析試料を置き、分析標準物質からの検出ガスを分析試料に接触させてから質量分析に供する。 - 特許庁

This is an ion source for an ion adhesion mass spectroscope, which has an emitter 12 and a voltage impression part 11 which impresses a bias voltage to the emitter, the emitter is heated to let it emit metal ions with positive charge, the metal ions are made to adhere to a gas to be detected, and ionizes detected gas.例文帳に追加

放出体１２と、この放出体にバイアス電圧を印加する電圧印加部１１とを有し、放出体を加熱して正電荷の金属イオンを放出させ、金属イオンを被検出ガスに付着させて被検出ガスをイオン化するイオン付着質量分析装置のイオン源である。 - 特許庁

To prepare an ion exchanger resin dispersion capable of giving such an ion-exchange membrane that has a uniform and small thickness so as to be reduced in electrical resistance, has low hydrogen gas permeability, is reduced in dimensional change caused by heating or moistening, exhibits no anisotropy and has high tear strength so as to be excellent in handleability, and is mass- producible.例文帳に追加

厚さが均一で薄く抵抗が低く、水素ガス透過性が低く、熱や加湿による寸法変化が小さく、かつ異方性がなくて引裂き強度が高くハンドリング性に優れ、量産が可能なイオン交換膜を得るためのイオン交換体ポリマー分散液の提供。 - 特許庁

A method is provided for reducing isobaric interferences caused by transmitting ions from an ion source through an ion transmission device and a quadrupole collision cell into an analyzing mass spectrometer, in which the collision cell is operated with a pass band for rejecting intermediate ions which would otherwise tend to react to form isobaric interferences.例文帳に追加

イオン源からイオン輸送器、四重極衝突セル、分析質量分光計にイオンを輸送することによる同重干渉を、除去しなければ反応して同重干渉を形成しやすい中間イオンを除去する通過帯域をもって衝突セルを動作させて低減する方法。 - 特許庁

The method of manufacturing the solid electrolyte green sheet, includes a process mixing lithium ion conductive powder and an organic binder with a solvent with lithium ion conductive powder/an organic binder (mass ratio) to be 1.2 or more to produce slurry which is arranged on a support and making it dry.例文帳に追加

固体電解質グリーンシートの製造方法は、リチウムイオン伝導性粉末と有機バインダとを、リチウムイオン伝導性粉末／有機バインダ（質量比）が１．２以上で、溶媒と混合することでスラリーを作製し、このスラリーを支持体上に配置し、乾燥する工程を有する。 - 特許庁

To prevent generation of gas molecules and sputter particles generated by impact of other gas ions except sputtered metal ions on the inner wall of a wave guide in an ion accelerator equipped with a sputter type ion source and a mass separation mechanism to reduce the mixing of impurities on the downstream side.例文帳に追加

スパッタ型イオン源と質量分離機構を備えたイオン加速器において、スパッタさせた金属イオン以外のガスイオンがウェーブガイドの内壁に衝突することにより発生するガス分子やスパッタ粒子の発生を抑制して下流側での不純物の混人を低滅できるようにする。 - 特許庁

To suppress the generation of heat generated by diverting a charging current to a cell shunt in a cell shunt circuit which is provided to prevent overcharging of respective cells, in an lithium ion battery for mass constant-current charging to a plurality of lithium ion battery cells connected in series.例文帳に追加

複数直列接続されたリチウムイオンバッテリセルに対して一括定電流充電を行うリチウムイオンバッテリの、個々のセルの過充電保護対策として設けられたセルシャント回路部において、充電電流をセルシャントに分流することによって生じる熱の発生を押さえることを目的とする。 - 特許庁

The dental adhesive composition includes: (A) an acid group containing polymerizable monomer, suitably a phosphinico oxy group and phosphonooxy group containing polymerizable monomer; (B) a polyvalent metal ion, suitably a titanium ion; and (C) water containing at least 10% by mass of heavy water.例文帳に追加

（Ａ）酸性基含有重合性単量体、好適には、ホスフィニコオキシ基およびホスホノオキシ基含有重合性単量体（Ｂ）多価金属イオン、好適にはチタンイオンおよび（Ｃ）重水を１０質量％以上含有する水を含むことを特徴とする歯科用接着性組成物。 - 特許庁

Atmospheric pressure chemical ionization mass spectrometry is carried out in the positive ionization mode, the total amount of DC and DA is determined from the intensity of an ion common to DC and DA, the DC concentration is determined from the intensity of an ion specific to DC, and the difference between them is regarded as the DA concentration.例文帳に追加

大気圧化学イオン化質量分析法を用いて正イオン化モードで測定し、ＤＣとＤＡに共通のイオンの強度からＤＣとＤＡの総量を測定し、ＤＣに特有のイオンの強度からＤＣの濃度を測定し、これらの差をＤＡの濃度とする。 - 特許庁

The frequency of the AC voltage is smaller than the wave number generated in time in which the He ion passes the deflection electric field 60 by 1, and the wave number generated in time in which a target ion having a mass that is larger than it passes the deflection electric field 60 is determined to be plural.例文帳に追加

この交流電圧の周波数は、Ｈｅイオンが偏向電場６０を通過する時間内で生じる波数が１よりも少なく、それよりも質量の大きな目的イオンが偏向電場６０を通過する時間内で生じる波数は複数になるように定める。 - 特許庁

A surface analyzing apparatus includes a means for irradiating a sample surface with two types of ions having different sizes; an instrument for measuring mass spectra of ions emitted from the sample surface by a time-of-flight secondary ion mass spectrometer; and an information processing device for outputting the difference between two mass spectra measured by irradiation with different types of ions from the measured mass spectra.例文帳に追加

試料表面にサイズの異なる少なくとも２種類のイオンをそれぞれ照射する手段、前記試料表面から放出されるイオンの質量スペクトルを飛行時間型二次イオン質量分析器により計測する計測器、および計測された質量スペクトルから異なる種類のイオン照射で計測された２つの質量スペクトルの差を出力する情報処理装置を有することを特徴とする表面解析装置。 - 特許庁

Particles adhered to a specimen 35 are removed by specifying a secondary ion taking area 46 to take the secondary ion and applying an electron beam 47 on a wider electron beam irradiating area 49 that the area 46, a deflection electrode 38 is provided in front of a mass spectrometer 40, and a secondary ion detecting area 45 to be specified by the deflection electrode 38 is scanned in conformity with scanning of a primary ion scanning electrode 34.例文帳に追加

２次イオン３６を取込むべき２次イオン取込領域４６を規定し、その領域４６よりも広い電子線照射領域４９に電子線４７を照射して、試料３５への付着粒子を除去するとともに、偏向電極３８を質量分析計４０の手前に設け、１次イオン走査電極３４の走査に合わせて、該偏向電極３８によって規定されることになる２次イオン検出領域４５を走査する。 - 特許庁

This method is a method in which a film is extracted with an extrapure water, and then the extracted liquid is measured using an ion chromatography, an in-liquid particle counter, a combined induction plasma-mass spectrometer, and an atomic absorption photometer.例文帳に追加

フィルムを超純水で抽出し、その抽出液をイオンクロマトグラフ、液中パーティクルカウンター、結合誘導プラズマ−質量分析計、原子吸光分光光度計により測定する方法である。 - 特許庁

To provide an ion source for a mass spectrometer, wherein an inner chamber is easily attached to and detached from a base chamber, the stability of an ionizing current, an emission current, and ionization efficiency is excellent, and reproducibility is excellent.例文帳に追加

ベースチャンバーとインナーチャンバーとの着脱が容易で、しかも、イオン化電流、エミッション電流、イオン化効率等の安定性、再現性に優れた質量分析装置用イオン源を提供する。 - 特許庁

A hardness of each formed DLC film is metered based on the total mass ratio of the ion species computed by QMS20 and the integral intensity ratio computed by the Raman spectroscopic analysis apparatus 30.例文帳に追加

生成された各々のＤＬＣ膜の硬度を、ＱＭＳ２０により算出されたイオン種の総質量比と、ラマン分光分析装置３０により算出された積分強度比と、に基づいて計測した。 - 特許庁