「ion mass」に関連した英語例文の一覧と使い方(12ページ目) - Weblio英語例文検索

The mass ratio of the polymer having a cationic group to a compound having the metal ion in the solution is preferably 70:30 to 99:1.例文帳に追加

前記溶液中における前記カチオン性基を有するポリマーと前記金属イオンを有する化合物との質量比は、好ましくは７０：３０〜９９：１である。 - 特許庁

Sample ions contained in the droplets are deflected by a deflector 7, enter into a mass spectrometric part 22 from an ion sampling fine hole 17 and undergo spectrometry there.例文帳に追加

液滴中に含まれる試料イオンはデフレクタ７により偏向を受け、イオンサンプリング細孔１７から、質量分析部２２に入り、質量分析される。 - 特許庁

By detecting the ions by an ion detector 14, the time of flight of the ions is measured, and mass analysis is made, and identification of elements is conducted.例文帳に追加

イオン検出器１４にイオンを検出することにより、イオンの飛行時間を測定し、該測定に基づいて質量分析し、元素の同定を行う。 - 特許庁

Since the frequency is low, even an ion having a heavier mass as compared with an electron can move while following up the frequency and the plasma sticks to the electrode plate 9 side.例文帳に追加

周波数が低いので、電子に比べて質量が重いイオンも周波数に追従して動くことができ、プラズマが電極板９側に張り付く。 - 特許庁

The generated sample ion is accelerated by an accelerating electrode in a y-axial direction in Fig. 1, and sequentially mass analyzed by an MS disposed at its rear stage.例文帳に追加

生成した試料イオンは、加速電極によって図１中ｙ軸方向に加速され、その後段に配置されたＭＳによって順次質量分析される。 - 特許庁

Multiple ions 110 generated from an ion source 114 pass through an upper lens 106 to form a substantially parallel beam 310 which impinges on a mass filter 304.例文帳に追加

イオン源１１４により生成された複数のイオン１１０は、上部レンズ１０６により略平行なビーム３１０となり質量フィルタ３０４に入射する。 - 特許庁

In the invention, beam plasma is enhanced in the dipole field of the mass analyzer for low-energy ion beams, without introducing plasma generated outside.例文帳に追加

また、本発明は、外部で発生されたプラズマを導入せずに低エネルギーのイオンビームのために質量分析器の双極子磁界内でビームプラズマの高揚を行う。 - 特許庁

To provide a quadrupole mass spectrometer capable of collecting information for identifying impurities in a specimen even in selective ion monitoring measurement.例文帳に追加

選択イオンモニタリング測定においても試料中の夾雑物を特定するための情報を収集できる四重極質量分析計を提供する。 - 特許庁

After a mixture 2 composed of a molecular layer of an inert gas is deposited on a substrate 1, cluster ion species 5 mass-selected are deposited on the substrate 1.例文帳に追加

基板１上に不活性ガス分子層からなるマトリックス２を堆積させたのち、質量選別したクラスターイオン種５を前記基板１上に蒸着する。 - 特許庁

In this mass spectrometry, fine particles are used, which are formed by coating with a polymer a metal oxide used as an ion source for irradiating and ionizing a sample with laser light.例文帳に追加

レーザー光を試料に照射してイオン化を行うイオン源となる金属酸化物がポリマーで被覆された微粒子を用いる質量分析法。 - 特許庁

As the market for positive electrode materials for car-mounted lithium ion batteries is still in the pioneer stage, analysts say companies capable of mass production at an early stage will easily acquire competitiveness.例文帳に追加

市場創生期の同分野では、先行的に設備投資し、早期に量産体制を整えた企業が競争優位性を持ちやすいといわれる。 - 経済産業省

The electrochromic element wherein an ion conductive layer is interposed between two transparent conductive substrates 31 and 37 is characterized in that at least one conductive substrate of the conductive substrates has the electrochromic layer 35 formed thereon and 1 to 10,000 ppm basic amine compound, by mass, to the mass of the ion conductive layer is incorporated in the ion conductive layer.例文帳に追加

２枚の透明導電性基板３１，３７に、イオン伝導層が挟持されているエレクトロクロミック素子であって、前記導電性基板のうち少なくとも一方にエレクトロクロミック層３５を有しており、かつ、前記イオン伝導層中に塩基性アミン化合物をイオン伝導層の質量に対して１質量ｐｐｍ〜１００００質量ｐｐｍ含有していることを特徴とするエレクトロクロミック素子。 - 特許庁

To reduce lowering of detecting accuracy caused by sputter particles adhering again to a specimen and remaining gas in a specimen compartment adhering to the sputter particles, in a secondary ion mass spectrometer to detect only a desired element in the specimen by irradiating the specimen with a primary ion beam and analyzing a secondary ion generated by the irradiation by a mass spectrometer.例文帳に追加

試料３５に１次イオンビーム３２を照射し、それによって発生した２次イオン３６を質量分析計４０で分析して、試料３５中の所望とする元素のみを検出するようにした２次イオン質量分析装置において、スパッタ粒子の試料３５への再付着や、試料室内の残留ガスのスパッタ粒子への付着などによる検出精度の低下を低減する。 - 特許庁

To analyze a peptide ion derived from a protein different in total ion amount while already measured, as a tandem mass spectrometric target, and to quantitatively evaluate the peptide ion derived from the micro amount of protein difficult to be analyzed until now, when the protein or a peptide is analyzed by tandem mass spectrometry, or when a variable component between different kinds of samples is evaluated quantitatively.例文帳に追加

本発明の目的は、タンパク質やペプチドをタンデム質量分析により、異種試料間の変動成分の定量評価を実施する際、既に計測済みではあるが総イオン量が異なる、タンパク質由来のペプチドイオンをタンデム質量分析ターゲットとして分析し、これまで分析が困難であった微量なタンパク質由来のペプチドを定量評価することである。 - 特許庁

The mass spectrometry apparatus includes: a linear ion trap unit that has a multipolar rod electrode including a rod electrode that has pores that pass electrons or ions; a mechanism that moves ions, inside the linear ion trap unit, in the direction of the axis of the multipolar rod electrode; and a detector that detects ions that are ejected, selectively by mass, from the linear ion trap unit.例文帳に追加

電子又はイオンを通過させる細孔を有するロッド電極を含む多重極ロッド電極を有するリニアイオントラップ部と、前記リニアイオントラップ部内のイオンを前記多重極ロッド電極の軸方向に移動させる機構と、前記リニアイオントラップ部から質量選択的に排出されるイオンを検出する検出器とを有することを特徴とする質量分析装置。 - 特許庁

The mass spectroscope for analyzing secondary ions and neutral secondary particles ionized afterward to be analyzed is provided with an ion source for making primary ion beams for generating secondary particles by irradiating the sample, and an analyzing unit for mass spectrometry of the secondary particles, and is also provided with a function capable of controlling kinetic energy per atom structuring a primary ion in a range of 20 eV or less.例文帳に追加

二次イオンおよび後からイオン化された中性の二次粒子を分析するための質量分析器において、試料を照射することで二次粒子を発生させるための一次イオンビームを作り出すイオン源と、二次粒子の質量分析のための分析ユニットとを設け、一次イオンを構成する原子１個あたりの運動エネルギーを20eV以下の領域で制御できる機能を装備させる。 - 特許庁

The ion source is provided with multiple standard specimen inlet parts, one of which is used for introducing the standard specimen for compensating for the magnetic field into the ion source, and the other for introducing the standard specimen for lock mass to the ion source on measuring the high fidelity and high resolution SIM by lock mass method.例文帳に追加

イオン源に複数の標準試料導入部を備え、磁場の較正を行なう際には、任意の標準試料導入部を用いて磁場較正用標準試料をイオン源に導入し、ロックマス法を用いる高感度定量測定を行なう場合には、別の任意の標準試料導入部を用いてロックマス用標準試料をイオン源に導入するようにした。 - 特許庁

When the first added mass spectrums of the respective samples are recognized to be identical, the detection data corresponding to the respective peaks which are smaller than the peaks of the main components in the chromatogram are added regarding the respective samples for each ion of the same mass, they are arranged in the order of the mass, second added mass spectrums of the respective samples are created, and their difference is compared with each other.例文帳に追加

各試料の第１の合算マススペクトルが同一と認められるときに、各試料について該クロマトグラムの主要成分のピークより小さい各ピークに対応する前記検出データを同一質量のイオン毎に合算し、質量順に配列して各試料の第２の合算マススペクトルを作成し、その異同を相互に比較する。 - 特許庁

The copper foil for a lithium ion secondary battery has a fine particle layer comosed of Ni and Si on a surface of a copper alloy foil including 1.0-5.0 mass% Ni, 0.2-1.0 mass% Si, 0.1-2.0 mass% Zn and 0.03-0.2 mass% P.例文帳に追加

リチウムイオン二次電池用銅箔は、Ｎｉ：１．０質量％以上５．０質量％以下、Ｓｉ：０．２質量％以上１．０質量％以下、Ｚｎ：０．１質量％以上２．０質量％以下、Ｐ：０．０３質量％以上０．２質量％以下の各元素を含有する銅合金箔の表面に、ＮｉとＳｉとからなる微粒子層を有している。 - 特許庁

When the cluster molecule ion is irradiated, a polyatomic molecule gas is introduced into the gas supply part 11, the cluster molecule ion is made to be generated by an electronic exchange between the single atom ion formed in the ion source 1 and the polyatomic molecule gas introduced into the gas supply part 11, and this is separated by the second mass spectrograph 5 and is irradiated.例文帳に追加

クラスタ分子イオンを照射する場合には、ガス供給部１１に多原子分子ガスを導入し、イオン源１で生成された単原子イオンとガス供給部１１に導入された多原子分子ガスとの間での電子交換によってクラスタ分子イオンを発生させ、これを第２の質量分析器５で分離して照射する。 - 特許庁

When a specific peak is extracted from the mass spectrum, the number of circulating times necessary for achieving the desired mass resolution is calculated, it is judged whether or not ion arrival time of other foreign peak is overlapped on the ion arrival time obtained from the number of circulating times, and the number of circulating times is changed when overlapped (S5 to S7).例文帳に追加

マススペクトルから特定ピークが抽出されると、所望の質量分解能を達成するのに必要な周回数が計算され、その周回数から求まるイオン到達時間に他の夾雑ピークのイオン到達時間が重ならないかを判断し、重なる場合に周回数を変更する（Ｓ５〜Ｓ７）。 - 特許庁

Mass spectrometry in which only target ions are selected out of the ions extracted by applying an extraction voltage by an ion source 1 is carried out only one time by a mass spectrometer 2, and ions are implanted into a treating object in an end station 5 by making shaping and scanning of ion beams in a beam line 3 and applying acceleration voltage in an acceleration tube 4.例文帳に追加

イオン源１で引出電圧をかけて引き出したイオンのうち目的とするイオンのみを選別する質量分析を質量分析器２で１回のみ行ない、ビームライン３にてイオンビームの整形及び走査をし、加速管４にて加速電圧をかけてエンドステーション５にて被処理体にイオン注入する。 - 特許庁

If the sugar chain-containing sample is subjected to mass analysis in the presence of aminoquinoline, in place of or in addition to usual molecular ions such as proton added molecular ions or metal ion added molecular ions, a peak (126Da added molecular ion peak) appears at a position separated from the peaks of the usual molecular ions toward a high mass side by m/z=126.例文帳に追加

糖鎖を含む試料をアミノキノリンの存在下で質量分析すると、プロトン付加分子イオンや金属イオン付加分子イオン等の通常の分子イオンに代えて又は加えて、これらのピークから高質量側にｍ／ｚ＝１２６離れた位置にピーク（１２６Ｄａ付加分子イオンピーク）が出現する。 - 特許庁

In the semiconductor epitaxial wafer formed by epitaxially growing a semiconductor thin film on a semiconductor substrate, a ratio of sheet concentration D_C/D_S by a secondary ion mass spectrometry (SIMS) of carbon (C) and silicon (Si) present in the interface between the semiconductor substrate and the semiconductor thin film is 20 or higher.例文帳に追加

半導体基板上に半導体薄膜をエピタキシャル成長させてなる半導体エピタキシャルウェハにおいて、半導体基板と半導体薄膜の界面に存在する炭素（Ｃ）及びケイ素（Ｓｉ）の二次イオン質量分析法（ＳＩＭＳ：Secondary Ion Mass Spectrometry）によるシート濃度の比Ｄ_ｃ／Ｄ_ｓが２０以上となるようにする。 - 特許庁

The recovery method of valuable material from cathode of lithium ion secondary cell includes a processing step of processing a cathode of a lithium ion secondary cell containing aluminum serving as a collector and a valuable material with sodium hydroxide solution with sodium hydroxide concentration of 2 mass% to 40 mass%.例文帳に追加

集電体としてのアルミニウムと有価物とを含有するリチウムイオン二次電池の正極を、水酸化ナトリウムの濃度が２質量％〜４０質量％の水酸化ナトリウム水溶液で処理する処理工程を含むことを特徴とするリチウムイオン二次電池の正極からの有価物の回収方法である。 - 特許庁

On the basis of ionic strength expressed by a peak to the mass-to-charge ratio of ions in results of MS^n, mass spectrometry at the n-th stage, control contents of the next analysis of MS^n are determined for every ion to be analyzed.例文帳に追加

ｎ段階目の質量分析であるＭＳ^n結果で、イオンの質量対電荷比に対するピークで表されたイオン強度に基づき、ＭＳ^nの次の分析の制御内容を分析対象イオン毎に判定するデータ処理する。 - 特許庁

To improve efficiency of operations such as comparison of mass spectra by an analyst with visual inspection or confirmation of waveform on extracted ion chromatogram (EIC) when components are identified based on the retention time of peaks on the chromatogram or an intensity pattern of mass spectra.例文帳に追加

クロマトグラム上のピークの保持時間やマススペクトルの強度パターンに基づいた成分同定に際し、分析者の目視によるマススペクトル比較や抽出イオンクロマトグラム（ＥＩＣ）の波形確認等の作業の効率改善を図る。 - 特許庁

After all of [M-3Sia+4H]^+ ions dissociated from sialic acid are thus increased, the mass sorting and CID to the ions are executed and various product ions originating from the ions are formed to be subjected to mass analysis/ion detection.例文帳に追加

このようにして全てのシアル酸が脱離した［Ｍ−３Sia＋４Ｈ］^＋を増量した後に、該イオンに対する質量選別及びＣＩＤを実行し、該イオンに由来する各種プロダクトイオンを生成させてそれを質量分析・イオン検出する。 - 特許庁

To provide a time-of-flight mass spectrometer capable of avoiding a problem of narrowing a dynamic range of an ion detector without lowering an S/N ratio of spectrum even when ion cleaves in a time-of-flight spectrum part.例文帳に追加

イオンが飛行時間型分光部内で開裂しても、マススペクトルのＳ／Ｎ比の低下を招かず、しかも、イオン検出器のダイナミック・レンジが狭くなる問題をも回避することのできる飛行時間型質量分析装置を提供する。 - 特許庁

ION SOURCE HAVING ADJUSTABLE ION SOURCE PRESSURE FOR CONNECTING ESI-, FI-, FD-, LIFDI- AND MALDI-ELEMENTS AND HYBRID MEANS BETWEEN IONIZATION TECHNIQUES FOR MASS SPECTROMETRY AND/OR ELECTRON PARAMAGNETIC RESONANCE SPECTROSCOPY例文帳に追加

質量分析法および／または電子常磁性共鳴分光法用のイオン化技術間のＥＳＩ、ＦＩ、ＦＤ、ＬＩＦＤＩ、およびＭＡＬＤＩ素子およびハイブリッド手段を結合する調整可能なイオン源圧力を有するイオン源 - 特許庁

Paper stained with the water containing the heavy water is laid between a negative electrode of a planar capacitor with a small hole and an insulating film, a terminal voltage is applied to the capacitor, and H^+ ion and D^+ ion due to polarization is guided to an extraction magnetic field type mass spectrograph.例文帳に追加

重水含有の水に染ませた紙を、小穴のある平面コンデンサ−の負極板と絶縁膜の間に置き、コンデンサ−に端子電圧をかけ、分極によるＨ^＋，Ｄ^＋イオンを引き出し磁場型質量分析器に導く。 - 特許庁

The binder resin is a resin having solubility of <10 mass% to 25°C ion exchange water or a resin having a water absorption rate of the ion exchange water which is less than two times of its own weight, and the content of the organic solvent is 25-80 mass% based on 100 mass% of the resin composition.例文帳に追加

吸水性樹脂、バインダー樹脂、有機溶媒及び揺変化剤を含む土木・建築用樹脂組成物であって、該バインダー樹脂は、２５℃のイオン交換水への溶解性が１０質量％未満の樹脂、又は、自重に対するイオン交換水の吸水倍率が２倍未満の樹脂であり、該有機溶媒は、該樹脂組成物を１００質量％としたときの含有量が２５〜８０質量％である土木・建築用樹脂組成物。 - 特許庁

By utilizing a completely novel checking method for mass spectrometry-derived values, the charge/mass ratios are calculated, which estimates the ion intensities corresponding to the amount of fragment ions detected by mass spectrometry and the ease of detaching the unit molecules that make up specified bonding between the biomolecule sequence from another in specific bonding pairs.例文帳に追加

算出した質量電荷比と質量分析値を、質量分析におけるフラグメントイオンの検出量に従うイオン強度と生体分子配列を構成する単位分子間の特定の結合が切れやすいことを評価する全く新しい照合方法を利用することにより、本課題を解決する。 - 特許庁

In the method for analyzing the depth direction profile of the ion implantation element measured by a secondary ion mass analyzing method, the change of the sputtering yield changed by the degree of damage formed at the time of ion implantation is calculated from the attenuation depth and the depth axis of a measuring profile is corrected on the basis of the change of the sputtering yield.例文帳に追加

二次イオン質量分析法で測定されたイオン注入元素の深さ方向プロファイルを分析する方法であって、イオン注入時に形成されたダメージの度合いにより変化するスパッタ収率の変化を減衰深さから求め、そのスパッタ収率の変化に依って測定プロファイルの深さ軸を補正する。 - 特許庁

A ring shape ion collector manufactured by fine wires is disposed between a grid and an electron repulsion electrode to reduce the area of an ion collector for measuring the total pressure, and enable the total pressure measuring of wide pressure range from a super high vacuum area to a high vacuum area in the ion source of the mass spectrometer.例文帳に追加

質量分析計のイオン源において、全圧測定用のイオンコレクタの面積を小さくし、超高真空領域〜高真空領域までの広い圧力範囲の全圧測定を可能とするために、グリッドと電子反発電極との間に細線で製作されたリング状のイオンコレクタが配置される。 - 特許庁

This water holding material for soil includes ≥50 mass.% of a water absorbing material comprising galactomannan, boron-ion and a polyvalent metal ion having three or more valence excluding the boron-ion, and has 40 times of the tare weight of the absorbing capacity of an aqueous solution of a cation having valence ≤2, gel strength ≥2×10-5 N/mm2 after water absorption.例文帳に追加

ガラクトマンナン、ホウ素イオン、及びホウ素イオン以外の三価以上の多価金属イオンから成り、二価以下のカチオン水溶液吸水能が自重の４０倍以上であり、且つ吸水後のゲル強度が２×１０^-5Ｎ／ｍｍ^2以上である吸水材を５０質量％以上含有する土壌保水材。 - 特許庁

In a method for extending the dynamic range of a detector of the mass spectrometer, in a case of high intensity beams, a means for detecting an ion beam is provided after a collector slit 1, on an attenuator 4, which may be a grid or an array of small holes, through which only a fraction of the ion beam reaches an ion detector 6.例文帳に追加

質量分析装置の検出器のダイナミックレンジを拡大する手法において、高い強度のビームの場合、イオンビームを検出するための手段が、コレクタスリット１の後に、小さい穴のグリッドまたはアレイであってよい減衰器４に設けられ、数分の１のイオンビームのみがこの中を通ってイオン検出器６に到達する。 - 特許庁

Disclosed is a water-absorbing material consisting of a galactomannan, boron ion and a trivalent or more polyvalent metal ion except the boron ion, containing 50 mass % or more unmodified galactomannan based on the whole galactomannan, capable of absorbing 40 times or more aqueous solution containing the divalent or less cation based on the self-weight and having gel strength of 2×10-5 N/mm2 or more after water absorption.例文帳に追加

ガラクトマンナン、ホウ素イオン、及びホウ素イオン以外の三価以上の多価金属イオンから構成され、未修飾ガラクトマンナンが全ガラクトマンナンの５０質量％以上であり、二価以下のカチオン水溶液を自重の４０倍以上吸収し、且つ吸水後のゲル強度が２×１０^-5Ｎ／ｍｍ^2以上である吸水材。 - 特許庁

A spatial spread in the (z) direction of ions within the ion reservoir 3 can be suppressed at the minimum, a spread of kinetic energy of ions when emitted from the ion reservoir 3 as an ion pulse can be minimized, and therefore, mass resolution can be enhanced.例文帳に追加

従って、イオン溜３の内部でのイオンのｚ方向の空間的広がりを最小限に抑えることが可能であり、このことによって、イオン溜３からイオンパルスとして排出するときのイオンの持つ運動エネルギーの広がりを最小限に抑えることができ、以て質量分解能を向上させることができる。 - 特許庁

An ion source 21, a mass separation part 22, an acceleration part 23, an energy separation part 24 and an implanting chamber 25 of the ion implanting device are arranged in a casing 26 in that order with the ion source 21 at the lowest position and the implanting chamber 25 at the top position.例文帳に追加

イオン注入装置２０のイオン源２１、質量分離部２２、加速部２３、エネルギー分離部２４および注入室２５は、イオン源２１、質量分離部２２、加速部２３、エネルギー分離部２４、注入室２５の順に、イオン源２１を最下部および注入室２５を最上部として縦方向に筐体２６内に配置されている。 - 特許庁

The liquid repellent member has an underlayer film 23 containing silicon on a surface of a base material 22 and a liquid repellent layer 24 of a silane coupling agent having a fluorocarbon group mounted on the underlayer film 23 wherein an intensity ratio of the most strongly detected ion of detected fluorocarbon-based fragmented ions to a silicon ion is not less than 10, the ion being detected by a flight time type secondary ion mass spectroscope.例文帳に追加

基材２２の表面にケイ素を含有する下地膜２３と当該下地膜２３上に設けられたフルオロカーボン基を有するシランカップリング剤の撥液膜２４とを有し、飛行時間型二次イオン質量分析装置により測定した際に検出されるフルオロカーボン系フラグメントイオン中最も強く検出されるイオンのケイ素イオンに対する強度比が、１０以上である。 - 特許庁

When a dehydration ion analysis is inputted and set from an input setting adjuster 14 that it is, for example, in addition to a mass-number of the molecular ion for analysis, the frequencies corresponding to the molecular ion and the dehydration ion are respectively calculated in a notch frequency determining part 131, and a broad band signal except these plural frequencies is generated in a broad band signal data formation part 132.例文帳に追加

分析対象の分子イオンの質量数に加え、例えば脱水イオン分析であることを入力設定部１４から入力設定すると、ノッチ周波数決定部１３１では、分子イオンと脱水イオンに対応する周波数をそれぞれ算出し、広帯域信号データ生成部１３２では、その複数のノッチ周波数を除く広帯域信号を生成する。 - 特許庁

In the ion-trap mass spectrometer, when performing MS/MS measurement after MS measurement, a controller 18 refers to last MS data from an ion-trap section 16; retrieves ions with the highest signal intensity and decides on the MS/MS target ion; observes unwanted ions surrounding the MS/MS target ion; and then automatically selects the range of window so as to eliminate these unwanted ions.例文帳に追加

イオントラップ形質量分析装置において、ＭＳ測定後にＭＳ／ＭＳ測定を行う場合、制御部１８はイオンとラップ部１６からの直前のＭＳデータを参照して、最も信号強度の高いイオンを検索してＭＳ／ＭＳ対象イオンを決定し、ＭＳ／ＭＳ対象イオンの周りの不要イオンを観測し、この不要イオンを排除するようにウィンドウの範囲を自動選択する。 - 特許庁

The operation conditions reach a prescribed state in a stable region until a target ion introduced into the mass spectrometry section 2 reaches the third-stage quadruplex pole electrode 22, the target ion does not show any unstable behavior even in the electric field of AC voltage components in the main quadruplex pole electrode 22, and an ion having the number of masses close to that of the target ion is appropriately removed.例文帳に追加

この質量分析部２に導入された目的イオンが３段目の主四重極電極２２に達するまでにその動作条件は安定領域内の所定の状態となるので、主四重極電極２２における交流電圧成分の電場によっても目的イオンは不安定な挙動を示すことがなく、目的イオンに近い質量数を有するイオンが良好に除去される。 - 特許庁

To provide a plasma ion source three-dimensional quadrupole mass spectrometer capable of conducting accurate and efficient quantitative analysis without remarkably changing structure.例文帳に追加

高精度で、かつ、測定効率が高い定量分析を大幅な構造変更を伴うことなく可能なプラズマイオン源３次元４重極型質量分析装置を実現する。 - 特許庁