「ion mass」に関連した英語例文の一覧と使い方(13ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide an ion-adhesion mass spectroscope equipment in which a background by light is made small, measurement of low-concentration detected gas is enabled, and a measurement limit is made smaller.例文帳に追加

光によるバックグラウンドを小さくし、低濃度の被検出ガスを測定を可能にし、測定限界をより小さくしたイオン付着質量分析装置を提供する。 - 特許庁

To install a micromachining function of an FIB (focused-ion beam) system and a non-destructive and excellent image forming function of an SEM (scanning electron microscope) into a single apparatus suitable for mass production of high-precision nanodevices.例文帳に追加

ＦＩＢシステムのマイクロマシニング機能と、ＳＥＭの非破壊かつ優れた像形成機能とを、高精度なナノデバイスの大量生産に適した１台の装置に組み込む。 - 特許庁

The negative electrode active material for the lithium ion battery includes Si single-phase powder particles as solid solutions of 0.01-0.40 mass% B.例文帳に追加

リチウムイオン電池の負極活物質は、Ｂを質量％で０．０１％以上０．４０％以下で固溶させたＳｉの単相粉末粒子であることを特徴とする。 - 特許庁

To provide an element analysis method which enables the measurement of a concentration distribution of elements contained in metal samples in the depth direction with a high degree of accuracy by means of a secondary ion mass spectrometry.例文帳に追加

二次イオン質量分析法により金属試料に含まれる元素の深さ方向の濃度分布を高精度に測定可能な元素分析方法を提供する。 - 特許庁

The nitriding treatment to an austenitic stainless steel containing 0.8 to 3.0 mass% Ti is carried out by ion nitriding treatment at a temperature exceeding 773K.例文帳に追加

Ｔｉの含有量が０.８〜３．０重量％であるオーステナイト系ステンレス鋼に対する窒化処理が、７７３Ｋを超える温度でイオン窒化処理によって実施される。 - 特許庁

To provide an arc type ion plating device for forming a uniform hard film having satisfactory adhesion and high quality on the surface of a substrate being the object to be treated in mass production.例文帳に追加

処理物である基板の表面に、密着性の良好な、高品質で均一な硬質膜を量産的に形成するためのアーク式イオンプレーティング装置を提供。 - 特許庁

To provide a calibrating reference sample having peaks of prescribed concentrations at a depth of 2-5 nm which enables the calibration of a secondary ion mass spectrometer in a transition region.例文帳に追加

遷移領域における二次イオン質量分析装置の較正を可能とする、２〜５ｎｍの深さに所定濃度の濃度ピークを有する較正用標準試料を提供する。 - 特許庁

To provide a mass spectrometry system of an ion implanting device and its correcting method capable of accurately correcting without generating man-caused mistakes in a short time.例文帳に追加

人為的ミスを生じることなく校正を短時間に正確に行うことができるイオン注入装置用の質量分析システムとその校正方法を提供する。 - 特許庁

In one embodiment, the ion dosages can be controlled using an in-situ measurement of plasma from mass distribution sensor combined with the in-situ measurement from a high frequency probe.例文帳に追加

一実施形態において、イオンドーズは、高周波プローブからの現場測定値と結合して質量分布センサからのプラズマの現場測定値を使用して制御することができる。 - 特許庁

In one example of the optical article, argon peak is present at the surface area in a spectrum obtained by analyzing the first layer from the surface toward the deep side with secondary ion mass spectrometry.例文帳に追加

この光学物品の一例は、第１の層を表面から深さ方向に二次イオン質量分析した際のスペクトルにおいてアルゴンのピークが表層域にあるものである。 - 特許庁

The ion implantation apparatus includes a mass spectrometry magnet 114, a power source 174 applying an electric field to a passage 139, and a magnetic apparatus 170 applying a multi-cusp magnetic field to the passage 139.例文帳に追加

本発明のイオン注入装置は、質量分析磁石114、通路139に電界を与えるパワー源174、及び通路139にマルチ−カスプド磁界を与える磁気装置170を含む。 - 特許庁

An ion beam is scanned by a beam scanning system 128 arranged in a downstream of the mass spectrograph 126 and is parallelized by a parallelizer 130 arranged in a downstream of the beam scanning system 128.例文帳に追加

質量分析器126の下流配置されたビーム走査システム128によってイオンビームが走査され、このビーム走査システム128の下流に配置されたパラライザー130によって平行化される。 - 特許庁

To provide a liquid chromatograph mass spectrograph for obtaining a pseudo molecular ion by automatically changing the modification of measurement conditions.例文帳に追加

従来手動で行っていた測定条件の変更を自動で変化させることにより、擬分子イオンを得る事の出来る液体クロマトグラフ質量分析計の提供をその課題とする。 - 特許庁

Furthermore, when product ions are discharged through the ion discharge hole 6 for TOF mass spectrometry, since the ions will not pass through the conductive mesh, smearing of the mesh will not occur.例文帳に追加

また、ＴＯＦ質量分析のためにイオン排出孔６を通してプロダクトイオンを排出する際にイオンは導電性メッシュを通らないのでメッシュの汚染も生じない。 - 特許庁

When element analysis is executed by a mass spectrometer having comparatively low resolution, the measurement result of the quantity of an optional element ion, required by a user, can be effected easily.例文帳に追加

比較的低分解能の質量分析装置によって元素分析を行う際、ユーザが目的とする任意の元素イオン量の測定結果を容易に得ることができる。 - 特許庁

An ion induction film is for quantitation of ions present at a concentration of 0.1 mass% or more and comprises a carrier and an ionic liquid.例文帳に追加

本発明のイオン感応膜は、０．１質量％以上の濃度で存在するイオンを定量するためのものであって、担体とイオン液体とからなることを特徴とする。 - 特許庁

To provide a gas chromatograph mass spectrometer for reducing the contamination of an ion source by using a standard sample without a frequent ON / OFF control by an operator.例文帳に追加

オペレータが頻繁に制御バルブをＯＮ／ＯＦＦ制御しなくても、標準試料によるイオン源の汚染を低減することのできるガスクロマトグラフ質量分析装置を提供する。 - 特許庁

The characteristic is specified by an X-ray photoelectron spectroscopy or a secondary ion time-of-flight mass spectrometry and the particle can be dispersed in a dispersing medium.例文帳に追加

特性はＸ線光電子分光法もしくは飛行時間型二次イオン質量分析法により規定され、該粒子は分散媒体中で分散することができる。 - 特許庁

To improve mass resolution by reducing a variation in flight time caused by the dispersion of kinetic energy held by respective ions accumulated inside an ion trap before discharge.例文帳に追加

イオントラップ内に蓄積されたイオンが排出前にそれぞれ持つ運動エネルギーのばらつきによる飛行時間の変動を軽減し、質量分解能を改善する。 - 特許庁

To provide an ion attachment mass spectrometric device suitable for qualitative analysis capable of measuring the component of a gas to be measured highly accurately by precluding generation of interfering ions or ghost ions.例文帳に追加

干渉イオンやゴーストイオンを防止して被測定ガスの成分を高精度に測定できる定性分析に適したイオン付着質量分析装置を提供する。 - 特許庁

To provide an ion source for a mass spectrometer which can maintain a predetermined sensitivity without being equipped with a power supply or the like for grid heating and which is long in life and low in cost.例文帳に追加

グリッド加熱用の電源等を備えることなく、所定の感度を維持し得る高寿命かつ低コストの質量分析計用のイオン源を提供する。 - 特許庁

To provide a plasma potential measuring method and device for measuring plasma potential along with an analysis of ion species applying a mass spectrometer without depending on a probe measuring instrument at a low cost considering that both mass spectrometry and plasma potential measurement can be performed.例文帳に追加

プラズマ電位を、プローブ計測器に頼ることなく、質量分析器を応用して、イオン種の分析と併せて計測でき、質量分析とプラズマ電位計測の双方を行える割りには安価に済むプラズマ電位計測方法及び装置を提供する。 - 特許庁

This nonaqueous electrolyte for the lithium ion secondary battery includes lithium salt, a nonaqueous solvent, 5-50 mass% of a compound (A) expressed by the following general formula (I) and 0.0001-10 mass% of a compound (B) having one polymerizing functional group in a molecule.例文帳に追加

リチウム塩と、非水溶媒と、下記一般式（Ｉ）で表される化合物（Ａ）５〜５０質量％と、重合性官能基を分子内に１個有する化合物（Ｂ）０．０００１〜１０質量％と、を含有するリチウムイオン二次電池用非水電解液。 - 特許庁

To provide an ion attachment mass spectrometry and a mass spectroscope for simultaneously identifying/quantitatively determining a substance to be measured containing a variety of charge substances such as plasma, and a method of measuring negative ions for facilitating the measuring of the negative ions.例文帳に追加

例えばプラズマのような各種の電荷物質を含む測定対象を簡便な方法で同時に同定・定量するイオン付着質量分析の方法および装置、さらに負イオンの計測を容易にした負イオン計測方法を提供する。 - 特許庁

The ionization mass spectrometry apparatus has a plurality of ion sources 3-1 to 3-4 mutually connected in series, and a control/analysis part 6 controls to which of the ion sources 3-1 to 3-4 a voltage is supplied from a high voltage source 7 by a discharge needle 8.例文帳に追加

複数のイオン源３−１〜３−４が互いに直列に接続され、イオン源３−１〜３−４のうちのいずれに高電圧源７から放電針８により電圧が供給されるかが制御・解析部６により制御される。 - 特許庁

To provide a high resolution magnetic analyzer for an ion implantation device capable of bending ribbon ion beams with a high aspect ratio with an angle between about 45 degrees or larger and about 110 degrees or lower, capable of setting a focus through an analyzing slit for mass analysis.例文帳に追加

約４５度以上、約１１０度以下の角度で高アスペクト比のリボンイオンビームを曲げることができ、質量分析のために分析スリットを通してその焦点を合わせることのできる、イオン注入装置用の高分解能磁気アナライザを提供する。 - 特許庁

Since this 126Da added molecular ion peak specifically appears with respect to the sugar chain, only the peak originating from the sugar chain can easily be extracted from the mass spectrum of the sample having the sugar chain and impurities mixed with the same by searching the 126Da added molecular ion peak.例文帳に追加

この１２６Ｄａ付加分子イオンピークは糖鎖特異的に出現するため、このピークを探索することにより、糖鎖と夾雑物が混在する試料のマススペクトルから糖鎖由来のピークのみを容易に抽出することができる。 - 特許庁

The low frequency auxiliary field has an additional property of jumping the high mass ion out of the ion trap as a function of the magnitude of the auxiliary voltage, and can be used to scan the magnitude of the auxiliary voltage or remove undesirable sample ions.例文帳に追加

低周波補助場は、高い質量のイオンを補助電圧の大きさの関数でイオントラップから飛び出させるという付加的特性を有し、補助電圧の大きさの走査や不所望の高い質量のサンプルイオンの除去に使用し得る。 - 特許庁

In the of secondary ion for mass analysis method insulating material, a Pt-Pd alloy thin film that is a conductive continuous film is formed on the surface of a sample that is the insulating material, the sample with the Pt-Pd alloy thin film is irradiated with a primary ion beam and an electron beam, and the secondary ions generated from the sample are extracted and are subjected to mass analysis.例文帳に追加

本発明の絶縁物の二次イオン質量分析方法は、絶縁物である試料の表面に導電性の連続膜であるＰｔ−Ｐｄ合金薄膜を成膜し、このＰｔ−Ｐｄ合金薄膜付き試料に一次イオンビーム及び電子ビームを照射し、この試料から発生する二次イオンを引き出し、質量分析する。 - 特許庁

This method comprises a process to compare relative isotope intensity of the measured isotope peaks (A+1, A+2, ... A+n) with calculated relative isotope intensity of the isotope ion proposed in the experimental formula, and a process to compare relative mass defect of the measured isotope peaks with calculated relative mass defect of the isotope ion proposed in the experimental formula.例文帳に追加

当該方法は、測定同位体ピーク（Ａ＋１、Ａ＋２、・・・Ａ＋ｎ）の相対同位体強度を、実験式案の同位体イオンの算出相対同位体強度と比較すること、並びに測定同位体ピークの相対質量欠損を、実験式案の同位体イオンの算出相対質量欠損と比較することを包含する。 - 特許庁

In the analysis method of the very small quantity of impurity in a gas using a mass spectroscope for separating the very small quantity of impurity in a sample gas by a separation column 2 of a gas chromatograph, ionizing the very small quantity of impurity at an ion source section 19, and separating mass, pressure in the ion source section 19 from the separation column 2 is kept higher than an atmospheric pressure for analysis.例文帳に追加

ガスクロマトグラフの分離カラム２で試料ガス中の微量不純物を分離し、当該微量不純物をイオン源部１９でイオン化し、質量分離する質量分析装置を用いるガス中の微量不純物の分析方法において、 前記分離カラム２から前記イオン源部１９の圧力を、大気圧よりも高く維持しながら、分析を行う。 - 特許庁

The mass spectroscopy device has an insertion electrode of a shape split into two or more in axial direction arranged in the ion trap, and an electrostatic harmony potential is formed by DC voltage impressed on the insertion electrode, and ions in the ion trap are vibrated in axial direction by resonance excitation by an auxiliary AC voltage impressed between the split insertion electrodes, thereby, ions in a specific range of mass charge ratio are dissociated mass-selectively.例文帳に追加

本発明の質量分析装置は、イオントラップの中に軸方向に２つ以上に分割された形状の挿入電極を配置し、挿入電極に印加する直流電圧で静電調和ポテンシャルを形成し、分割された挿入電極の間に印加する補助交流電圧によりイオントラップの中のイオンを共鳴励起により軸方向に振動させ、特定の質量電荷比範囲のイオンを質量選択的に解離する。 - 特許庁

A mass fragment spectrum of the titanium oxide at a ratio m/e=28 of the mass number m and the charge number e of ion measured by thermal desorption gas analysis has substantially no peak at 600°C or higher and the peak with the minimum half width is in a range of 400 to 600°C.例文帳に追加

この酸化チタンの昇温脱離ガス分析による質量数ｍとイオンの電荷数ｅの比ｍ／ｅが２８のマスフラグメントスペクトル図は、６００℃以上に実質的ピークを有さず、かつ半値幅が最も小さいピークが４００〜６００℃の範囲にある。 - 特許庁

To provide a mass spectroscope which can analyze with high resolution and precision by eliminating disturbances in multi-pole field, by giving an ion incident energy without applying electrode bias on a multiple pole itself of a multi-pole mass spectroscope.例文帳に追加

多重極質量分析計の多重極自身へバイアス電圧を印加することなく、イオンへ入射エネルギーを与えるようにして、多重極場の乱れをなくして分解能、精度の高い分析を行うことができるようにした質量分析装置を提供する。 - 特許庁

The negative ion generating paperboard has constitution that any one paper layer of a multilayer paperboard composed of a surface layer 3, a middle layer 5 and a back layer 7 comprises ≥5 mass % of rayon containing 0.1-10 mass% of tourmaline having 0.1-10 μm average particle diameter.例文帳に追加

表層３、中層５、裏層７からなる多層抄き板紙の少なくともいずれか１の紙層が、平均粒径０．１〜１０μｍの電気石を０．１〜１０質量％含有するレーヨン９を５質量％以上含有するマイナスイオン発生板紙。 - 特許庁

The hydrogen isotope of mass number 2, physical behavior of which resembles closely with that of hydrogen isotope of mass number 1, of very little abundance in the atmosphere as an elemental substances or a compound is introduced into a solid sample or an analytical object through ion injection.例文帳に追加

質量数１の水素同位体と物理的な挙動が酷似し、単体または化合物として大気中での存在量が極めて少ない質量数２の水素同位体をイオン注入によって分析対象とする固体試料中に導入する。 - 特許庁

To provide an ionizer and an ionization method for mass spectrometry, wherein an accurate separation of ions to be analyzed and ions to be trapped in an ion mass spectrometry is made possible, using a simple structure and at a relatively low resolution, and where analytical sensitivity is improved.例文帳に追加

イオンの質量分析で分析したいイオンと捕捉したいイオンを簡易な構成でかつ比較的に低い分解能で正確に分離することを可能し、分析感度を向上した質量分析のためのイオン化装置およびイオン化方法を提供する。 - 特許庁

The detergent composition comprises the perfume (A), the metal ion-carrying zeolite (B), and (C) at most 15 mass% of a surfactant containing a sulfur atom in the molecule and/or at most 0.1 mass% of a fluorescent agent.例文帳に追加

本発明はまた、上記香料（Ａ）、金属イオン担持ゼオライト（Ｂ）、及び（Ｃ）１５質量％以下の分子内にイオウ原子を有する界面活性剤及び／又は０．１質量％以下の蛍光剤を含有することを特徴とする洗剤組成物を提供する。 - 特許庁

To provide a highly sensitive flight-time mass analyzer capable of properly converging ions, keeping the vacuum of an ion detection pat and improving the resolution of mass analysis by devising the ionization of a sample and an acceleration part of ions.例文帳に追加

試料のイオン化及びイオン加速部を工夫することにより、イオン収束を適切に行うとともに、イオン検出部の真空度を保ち、さらに質量分析の分解能を改善することができる高感度飛行時間型質量分析装置を提供する。 - 特許庁

To obtain an atmospheric pressure ionization mass spectrometer the ion source of which is not contaminated by the outside air by making a gas, such as the nitrogen gas, etc., to be supplied automatically into the ion source with a simple means without requesting the operator to make any special operation.例文帳に追加

簡単な手段により測定者に測定終了時に特別の操作を要求せずに窒素などのガスが自動的にイオン源内に供給されるようにし、イオン源内が外気により汚染されない大気圧イオン化質量分析装置を提供すること。 - 特許庁

The quadrupole mass spectrometer comprises: an ion source 4 having a filament 42 and a grid 41; a quadrupole part 3 with four columnar electrodes laid out at given intervals along a circumferential direction; and an ion detection part 2 for collecting predetermined ions having passed through the quadrupole part.例文帳に追加

本発明は、フィラメント４２及びグリッド４１を備えたイオン源４と、４本の円柱状の電極を周方向に所定間隔で配置してなる四重極部３と、四重極部を通過した所定のイオンを捕集するイオン検出部２とを有する。 - 特許庁

A partition 15 having an ion passage hole 29 is installed inside the flight chamber 20 of a time-of-flight mass spectrometric analytical means 19, and the inside of the flight chamber 20 is partitioned into a first space 26 communicating with an ionization chamber 2 and a second space 27 containing an ion detector 22.例文帳に追加

飛行時間型質量分析手段１９の飛行室２０内にイオン通過孔２９を有する仕切り壁２５を設けて、飛行室２０内を、イオン化室２と連通する第１空間２６とイオン検出器２２を含む第２空間２７とに仕切る。 - 特許庁

The cathode material for the lithium ion secondary battery contains a carbon black complex by 5-30 mass%, and the remainder is olivine type iron phosphate lithium, and content of a volatile oxygen-containing functional group is 1.0 mass% or smaller where the carbon black complex is constituted by coupling fibrous carbon and carbon black, and contains an ash content defined by JIS K 1469 by 1.0 mass%.例文帳に追加

繊維状炭素とカーボンブラックが連結されてなりかつＪＩＳ Ｋ １４６９で規定される灰分が１．０質量％以下であるカーボンブラック複合体を５〜３０質量％含有し、残部はオリビン型リン酸鉄リチウムからなり、揮発性酸素含有官能基の含有量が１．０質量％以下であるリチウムイオン二次電池用正極材。 - 特許庁

This mass spectroscope for conducting MS^n analysis wherein a sample eluted from the separation means for separating the sample a component by a component is ionized, and wherein an optional mass number of an ion is cloven to be mass-spectroscopically analyzed is provided with a database for storing correlation information between the isomer existence ratio and a specified ionic strength ratio in every of isomers.例文帳に追加

試料を成分ごとに分離する分離手段から溶出される試料をイオン化し、任意の質量数のイオンを開裂させ、質量分析するＭＳ^n 分析を行う質量分析装置において、異性体存在比とマススペクトル内の特定イオン強度比との相関情報が異性体ごとに格納されたデータベースを備えたことである。 - 特許庁

(xxxvii) Among mass spectrometers, capable of measuring ions with a mass of 230 or more expressed in atomic weight units, and capable of differentiating ions with an atomic weight difference less than 2, those falling under any of the following (a) through (f) (excluding those falling under (g)) or ion sources usable with the mass spectrometers 例文帳に追加

三十七　質量分析計であって、原子質量単位で表した質量が二三〇以上のイオンを測定することができ、かつ、原子質量の差が二未満のイオンを区別することができるもののうち、次のイからヘまでのいずれかに該当するもの（トに該当するものを除く。）又は当該質量分析計に用いることができるイオン源 - 日本法令外国語訳データベースシステム