「ion mass」に関連した英語例文の一覧と使い方(2ページ目) - Weblio英語例文検索

ION TRAP/TIME-OF-FLIGHT MASS SPECTROSCOPE AND MEASUREMENT METHOD FOR PRECISE MASS OF ION例文帳に追加

イオントラップ／飛行時間質量分析計およびイオンの精密質量測定方法 - 特許庁

To perform ion mass separation for a large-diameter ion beam.例文帳に追加

大口径のイオンビームのイオン質量分離が行えるようにする。 - 特許庁

ION SOURCE FOR QUADRUPOLE MASS SPECTROMETER例文帳に追加

四極子形質量分析計用イオン源 - 特許庁

SECONDARY ION MASS SPECTROMETER, ITS SAMPLE HOLDER AND SECONDARY ION MASS SPECTROMETRY例文帳に追加

２次イオン質量分析装置、該装置の試料ホルダ及び２次イオン質量分析方法 - 特許庁

ION TRAP MASS SPECTROMETRY AND APPARATUS THEREFOR例文帳に追加

イオントラップ質量分析方法および装置 - 特許庁

ION SOURCE FOR GAS CHROMATOGRAPH MASS SPECTROMETER例文帳に追加

ガスクロマトグラフ質量分析装置用イオン源 - 特許庁

MASS SEPARATION FILTER FOR ION BEAM, MASS SEPARATION METHOD THEREFOR, AND ION SOURCE USING THE SAME例文帳に追加

イオンビームの質量分離フィルタとその質量分離方法及びこれを使用するイオン源 - 特許庁

ION TRAP/TIME-OF-FLIGHT MASS SPECTROMETER例文帳に追加

イオントラップ／飛行時間型質量分析計 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR ION TRAP MASS SPECTROMETRY例文帳に追加

イオントラップ質量分析方法及び装置 - 特許庁

ION DEFLECTION DEVICE, AND MASS SPECTROMETER例文帳に追加

イオン偏向装置及び質量分析装置 - 特許庁

ION TRAP TIME-OF-FLIGHT MASS ANALYZER例文帳に追加

イオントラップ飛行時間型質量分析装置 - 特許庁

ELECTRO SPRAY ION SOURCE FOR MASS SPECTROSCOPY例文帳に追加

質量分光法のためのエレクトロスプレーイオン源 - 特許庁

GAS CHROMATOGRAPH-ION TRAP TYPE MASS SPECTROGRAPH例文帳に追加

ガスクロマトグラフ・イオントラップ型質量分析装置 - 特許庁

TIME-OF-FLIGHT SECONDARY ION MASS SPECTROMETER例文帳に追加

飛行時間型２次イオン質量分析装置 - 特許庁

SECONDARY ION MASS ANALYSIS METHOD FOR INSULATING MATERIAL例文帳に追加

絶縁物の二次イオン質量分析方法 - 特許庁

ION-TRAP MASS SPECTROMETER AND METHOD例文帳に追加

イオントラップ型質量分析装置及び方法 - 特許庁

Acidic springs are hot springs that contain a mass of hydrogen ion. 例文帳に追加

多量の水素イオンを含有する温泉。 - Wikipedia日英京都関連文書対訳コーパス

ION-TRAP MASS SPECTROMETER AND METHOD OF MASS ANALYSIS THEREFOR例文帳に追加

イオントラップ形質量分析装置およびその質量分析方法 - 特許庁

PLASMA ION SOURCE MASS SPECTROSCOPE AND ION SOURCE POSITION ADJUSTING METHOD例文帳に追加

プラズマイオン源質量分析装置及びイオン源位置調整方法 - 特許庁

ION BEAM GENERATING DEVICE, ION DOPING DEVICE, ION BEAM GENERATING METHOD, AND MASS SEPARATION METHOD例文帳に追加

イオンビーム発生装置、イオンドーピング装置、イオンビーム発生方法および質量分離方法 - 特許庁

To provide a mass spectrometer of which cost of an ion optical system transferring ion to a back stage while converging the ion is reduced.例文帳に追加

イオンを収束させつつ後段に輸送するイオン光学系のコストを引き下げる。 - 特許庁

PLASMA ION MASS SPECTROMETRY DEVICE AND METHOD THEREOF例文帳に追加

プラズマイオン質量分析装置及びその方法 - 特許庁

SAMPLE FOR SECONDARY ION MASS ANALYSIS, METHOD OF MANUFACTURING THE SAME, AND SECONDARY ION MASS ANALYZING METHOD例文帳に追加

二次イオン質量分析用試料及びその作製方法、並びに二次イオン質量分析方法。 - 特許庁

ION SOURCE AND MASS SPECTROMETER USING IT例文帳に追加

イオン源およびそれを用いた質量分析計 - 特許庁

MASS SPECTROMETER UTILIZING ION ADHESION AND MASS SPECTROMETRY例文帳に追加

イオン付着を利用する質量分析装置および質量分析方法 - 特許庁

ION TRAP/TIME OF FLIGHT MASS SPECTROMETER AND MASS SPECTROMETRY例文帳に追加

イオントラップ／飛行時間型質量分析装置および質量分析方法 - 特許庁

ION SOURCE FOR MASS SPECTROMETER AND MASS SPECTROMETER HAVING THE SAME例文帳に追加

質量分析計用のイオン源及びこれを備えた質量分析計 - 特許庁

ION IDENTIFICATION METHOD IN MASS SPECTROMETER, AND THE MASS SPECTROMETER例文帳に追加

質量分析計におけるイオン同定方法および質量分析計 - 特許庁

MASS SPECTROMETER, ION IMPLANTATION APPARATUS, AND ION BEAM SEALING METHOD例文帳に追加

質量分析装置、イオン注入装置、およびイオンビームの封じ込め方法 - 特許庁

ION GUIDE AND MASS SPECTROMETER USING THIS例文帳に追加

イオンガイドおよびこれを用いた質量分析装置 - 特許庁

ION OPTICAL SYSTEM FOR TOF MASS SPECTROMETER例文帳に追加

ＴＯＦ質量分析計用のイオン光学システム - 特許庁

ION SOURCE AND MASS SPECTROMETER USING THE SAME例文帳に追加

イオン源及びこれを用いる質量分析装置 - 特許庁

QUADRUPOLE TYPE PLASMA ION SOURCE MASS SPECTROSCOPE例文帳に追加

四重極型プラズマイオン源質量分析装置 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR ION ADHESION MASS SPECTROMETRY例文帳に追加

イオン付着質量分析の方法および装置 - 特許庁

ION OPTICAL SYSTEM OF TIME-OF-FLIGHT MASS SPECTROMETER例文帳に追加

飛行時間型質量分析計のイオン光学系 - 特許庁

ION GUIDE, AND MASS SPECTROSCOPE EQUIPPED WITH THE SAME例文帳に追加

イオンガイド及びそれを備えた質量分析装置 - 特許庁

IRRADIATION DIRECTION-VARIABLE ION IRRADIATION DEVICE, AND SECONDARY ION MASS SPECTROMETER例文帳に追加

照射方向可変イオン照射装置および二次イオン質量分析装置 - 特許庁

METHOD FOR HOLDING SOLID SAMPLE FOR SECONDARY ION MASS ANALYSIS例文帳に追加

二次イオン質量分析の固形試料保持方法 - 特許庁

ELECTROMAGNET FOR MASS SEPARATION, AND ION INJECTION DEVICE例文帳に追加

質量分離用電磁石及びイオン注入装置 - 特許庁

SMALL-SIZED TIME OF FLIGHT TYPE SECONDARY ION MASS SPECTROMETER例文帳に追加

小型飛行時間型二次イオン質量分析装置 - 特許庁

ION SOURCE AND MASS SPECTROMETER USING IT例文帳に追加

イオン源及びそのイオン源を用いた質量分析計 - 特許庁

SECONDARY ION MASS ANALYZER AND ITS USE METHOD例文帳に追加

二次イオン質量分析装置及びその使用方法 - 特許庁

PRECISION MASS MEASURING METHOD BY ION TRAP/TIME-OF-FLIGHT MASS SPECTROMETER例文帳に追加

イオントラップ／飛行時間型質量分析計による精密質量測定方法 - 特許庁

MASS AXIS CALIBRATION METHOD IN TIME-OF-FLIGHT SECONDARY ION MASS ANALYSIS METHOD例文帳に追加

飛行時間型二次イオン質量分析法における質量軸校正方法 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR TRANSFERRING IONS FROM ION SOURCE TO ION TRAP MASS SPECTROMETER例文帳に追加

イオンをイオン源からイオン・トラップ質量分析器へ移送する装置及び方法 - 特許庁