「irradiation detection」に関連した英語例文の一覧と使い方(9ページ目) - Weblio英語例文検索

The polarization (alpha)(an angle (alpha) from s-polarization) of light irradiated to a sample, an object under defect detection, is calculated by substituting the condition of the circuit pattern of the sample, and the azimuth angle, and incident angle of irradiation light into a prescribed formula.例文帳に追加

欠陥検出を行なう被対象物である試料に照射する光の偏光（アルファ）（ｓ偏光からの角度（アルファ））を、試料の回路パターンの条件、照射光の方位角及び入射角を所定の計算式に代入して算出する。 - 特許庁

To provide an inspection technology capable of carrying out high-sensitivity detection of microscopic contamination or detects at high speed by eliminating negative charge by electron beam irradiation in a sample made of an insulator, in an inspection device by a reflection electron image.例文帳に追加

反射電子結像による検査装置において、絶縁物からなる試料においても電子線照射による負帯電を解消し、極微小の異物や欠陥の高感度検出を高速に行うことが可能となる検査技術を提供する。 - 特許庁

Polarization (alpha) (an angle (alpha) from s polarization) of light to be emitted on a sample which is an object for performing defect detection is calculated by substituting a condition of a circuit pattern of the sample, an azimuth angle and an incident angle of irradiation light in a predetermined formula.例文帳に追加

欠陥検出を行なう被対象物である試料に照射する光の偏光（アルファ）（ｓ偏光からの角度（アルファ））を、試料の回路パターンの条件、照射光の方位角及び入射角を所定の計算式に代入して算出する。 - 特許庁

The polarization (α)(an angle (α) from s-polarized light) of light irradiated to a sample of an object of defect detection is computed by substituting conditions of circuit patterns of the sample and an azimuth angle and an angle of incidence of irradiation light into a prescribed formula.例文帳に追加

欠陥検出を行なう被対象物である試料に照射する光の偏光（アルファ）（ｓ偏光からの角度（アルファ））を、試料の回路パターンの条件、照射光の方位角及び入射角を所定の計算式に代入して算出する。 - 特許庁

To provide an optical scanner by which the starting position of the scanning with respect to respective scanning light beams are accurately recognized even when the optoelectronic currents generated in a radiation detection device by irradiation of scanning light beams are weak and the scanning light beams are plural.例文帳に追加

走査光照射により発生する放射検出器の光電流が微量で、且つ、走査光が複数本になろうとも各々の走査光に対する走査開始位置を正確に把握することが可能な光走査装置を提供する。 - 特許庁

A plurality of serially-connected detection inverters (100) distributively disposed in a region formed with a logic circuit (6), and having input of an initial stage set at a certain logic value are employed as detection elements; one or more of the inverters are irradiated with light; each output thereof is inverted; thereby the final output of the plurality of serially-connected detection inverters is determined; and thereby local light irradiation can be detected.例文帳に追加

ロジック回路（６）が形成された領域に分散され初段の入力が一定論理値にされて直列的に接続された複数個の検出インバータ（１００）を検出素子として採用し、単数又は複数のインバータに光が照射されて各々に出力が反転することによって直列的に接続された複数個の検出インバータの最終出力が判定され、これにより局所的な光照射を検出することができる。 - 特許庁

To provide an X-ray analyzer capable of adjusting the irradiation direction and detection direction of X rays with respect to a position to be measured with high precision in a case that the composition substance of a measuring target is measured and enhanced in weight reduction to be made excellent in portability.例文帳に追加

測定対象の組成物質の測定を行う場合に、被測定位置に対するエックス線の照射方向と検出方向を高精度に調整することができ、しかも軽量化を向上させて可搬性に優れたエックス線分析装置を提供する。 - 特許庁

Position information (position of irradiation point Q10 on photodetector 85) of little light for detection reflected by a light distributing surface ξ2x and orientation information (position of condensing point Q20 on photodetector 87) are stored in a storage device 91 as reference information.例文帳に追加

光分配面ξ２ｘで反射したわずかな検出用光の位置情報（受光素子８５上の照射点Ｑ１０の位置）と向き情報（受光素子８７上の集光点Ｑ２０の位置）とを基準情報として記憶装置９１に記憶する。 - 特許庁

Characteristic X rays are condensed and guided by means of a poly-capillary X-ray lens 13 having an entrance end face close to a specimen S housed in an irradiation chamber 1 and an exit end face fronting the energy dispersion type detector 10 in a detection chamber 2.例文帳に追加

照射チャンバ１内に収容された試料Ｓに近接して入射端面を、検出チャンバ２内のエネルギー分散型検出器１０に向けて出射端面を有するポリキャピラリＸ線レンズ１３を介して固有Ｘ線を集光及び案内する。 - 特許庁

This X-ray detector is provided with a magnetic field generation means for counterbalancing a stray magnetic field to a sample base from a magnetic generation means provided for blocking incidence of electrons generated together with X-rays by sample irradiation into a detection element inside the X-ray detector.例文帳に追加

試料照射によりＸ線とともに発生する電子がＸ線検出器内の検出素子に入射するのを阻止するために設けられた磁界発生手段からの試料台への漏洩磁場を相殺するための磁界発生手段を設ける。 - 特許庁

This sensor is equipped with: a scattering body 2 in contact with alcohol aqueous solution, for scattering light transmitted through the alcohol aqueous solution; a light irradiation means 3 for irradiating light to the scattering body 2; and a light intensity detection means 4 for detecting the intensity of light transmitted through the scattering body 2.例文帳に追加

アルコール水溶液に接し、アルコール水溶液を透過する光を散乱させる散乱体２と、散乱体２に光を照射する光照射手段３と、散乱体２を透過した光の強度を検出する光強度検出手段４を備えている。 - 特許庁

To eliminate the reflection light of excitation light being mixed into re-radiation light to be measured in a spectrum-measuring device that is used both as an irradiation light path and a detection light path being used for measuring weak re-radiation light such as fluorescence and Raman scattered light.例文帳に追加

蛍光及びラマン散乱光のような微弱な再放射光の測定に用いられる照射光路と検出光路を兼用したスペクトル測定装置において、測定対象となる再放射光に混入する励起光の反射光を除去する。 - 特許庁

An irradiation part of an optical detection unit provided to a head unit to a surface mounting device comprises a light source 40 and an optical system member 41 which makes a diffusion light emitted from the light source 40 into a parallel light beam of a specified width which heads for a light receiving part.例文帳に追加

表面実装機のヘッドユニットに装備される光学的検知ユニットの照射部に、光源４０と、この光源４０から照射される拡散光を受光部に向かう所定幅の平行光線にする光学系部材４１とが設けられている。 - 特許庁

This method for detecting mercury ion includes: acquisition of a solution containing the test sample, a first single-stranded nucleic acid and a second single-stranded nucleic acid; and detection of excimer emission generated by irradiation, by irradiating the acquired solution with excitation light.例文帳に追加

被験試料、第一の一本鎖核酸、及び第二の一本鎖核酸を含む溶液を得ること；及び、得られた溶液に励起光を照射し、該照射により発生するエキシマー発光を検出することを含む、水銀イオンを検出する方法により解決される。 - 特許庁

To provide an ion beam distribution detection apparatus for electrically measuring the amount of irradiation of an ion beam irradiated to any location to be processed with the ion beam and detecting the divergence of the ion beam on the basis of measurement results and to provide an ion beam orientation processing apparatus.例文帳に追加

任意のイオンビーム処理位置に照射されるイオンビームの照射量を電気的に測定し、この測定結果をもとに、このイオンビームのダイバージェンスを検出するイオンビーム分布検出装置およびこれを用いたイオンビーム配向処理装置を提供すること。 - 特許庁

To easily calculate centrifugal force when turning a vehicle from detection information on left and right wheel speed and to prevent the change in a vehicle attitude generated according to roll from being erroneously recognized as a pitch change, in an irradiation direction control device for a headlight for a vehicle.例文帳に追加

車両用前照灯の照射方向制御装置において、左右の車輪速の検出情報から車両旋回時の遠心力を簡単に算出するとともに、ロールに伴って発生する車両姿勢の変化がピッチ変化と誤認されないようにする。 - 特許庁

The types of the foreign matters can be specified based on the difference of the frequency of the laser beam irradiated by the laser beam irradiation optical system and the frequency of scattered light detected by the scattered light detection optical system by using a frequency deviation detector 64.例文帳に追加

振動数ズレ検出器６４を用いて、レーザ光照射光学系によって照射されるレーザ光の振動数と、散乱光検出光学系によって検出される散乱光の振動数の差に基づいて、異物の種類を特定することができる。 - 特許庁

An irradiation surface of the sample 5 and the detecting coil 9a are able to get closer to each other by a fine-turning support mechanism DC, to increase the strength of a magnetic signal generated in the sample 5, and to enable more accurate detection.例文帳に追加

このとき、微調節式支持機構ＤＣによって試料５の電子ビーム照射面と薄膜状磁気検出コイル９ａをより密接させることが可能となり、試料５内部に発生した磁気信号の強度が増し、より精度の良い検出ができる。 - 特許庁

The another vehicle detection apparatus for detecting another vehicle using a reflected wave of an irradiation wave irradiated by an own vehicle comprises an another vehicle decision means (Step S3 to Step S5) for deciding the presence or absence of another vehicle from an intensity pattern of the reflected wave.例文帳に追加

自車両から照射した照射波の反射波を用いて他車両の検出を行う他車両検出装置において、反射波が持つ強度のパターンから他車両の有無を判定する他車両判定手段を備えた（ステップＳ３〜ステップＳ５）。 - 特許庁

A detecting means (photodetection unit 73) to detect the intensity of laser light is placed, at a position where a hologram photosensitive body 50 as an object of exposure is disposed, and the irradiation state of the laser light is inspected based on the detection result by the detecting means.例文帳に追加

露光対象物であるホログラム感光体５０が配置される位置にレーザ光の光強度を検出する検出手段（光検出部７３）を配置し、当該検出手段による検出結果に基づいて、前記レーザ光の照射状態を検査する。 - 特許庁

To provide a vibration detector, a hologram device, a vibration detection method of the vibration detector, and a recording method of the hologram device capable of controlling irradiation of a hologram recording medium with a laser beam from a laser device according to a vibration level.例文帳に追加

ホログラム記録媒体に対するレーザー装置からのレーザービームの照射を振動のレベルに応じて制御することが可能な振動検出装置、ホログラム装置、振動検出装置の振動検出方法、ホログラム装置の記録方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

A matrix computing part 66 calculates a vector indicating the electron microscope image of the sample by performing matrix computation based on the electron beam irradiation matrix and a vector representing time-series detection signals detected by the secondary electron detector.例文帳に追加

行列演算部６６は、上記電子線照射行列と、上記２次電子検出器において検出された時系列の検出信号を表したベクトルとに基づいて行列演算を行うことによって、試料の電子顕微鏡画像を示すベクトルを算出する。 - 特許庁

The light irradiation part 2 and the transmitted light detection part 8 can change over a measurement wavelength to one or more kinds of measurement wavelengths, and by changing over the measurement wavelength in a time-shared manner, the daughter specimen serum 30 is successively measured, on the basis of a plurality of measurement wavelengths different from each other.例文帳に追加

光照射部２および透過光検知部８は、測定波長を複数種類に切り替え可能であり、測定波長を時分割で切り替えることにより、子検体血清３０に対し、互いに異なる複数の測定波長での測定を順次行う。 - 特許庁

Shift detectors 204a and 204b for detecting the shift of an X-ray beam irradiation position are provided between an X-ray source 201 and a collimator 203, and a part of the channel of the X-ray detector 205 is utilized as a shift detection channel 205a.例文帳に追加

Ｘ線源２０１とコリメータ２０３との間にＸ線ビームの照射位置のずれ（シフト）を検出するためのシフト検出器２０４ａ，２０４ｂを備えるとともに、Ｘ線検出器２０５の一部のチャネルをシフト検出チャネル２０５ａとして利用する。 - 特許庁

The X-ray inspection device is used equipped with an irradiation part 1 for irradiating an inspection target 4 with X rays 6 and the detection part 2 for detecting X rays transmitted through the inspection target 4 and a feed part 3 for feeding the inspection target 4 so as to pass it through the space between them.例文帳に追加

被検査物４にＸ線を照射する照射部１と、被検査物４を透過したＸ線を検出する検出部２と、これらの間を通過するように被検査物４を搬送する搬送部３とを備えたＸ線検査装置を用いる。 - 特許庁

To provide an SEM type inspection device improved in image quality and defect detection sensitivity by reducing pixel displacement when a two-dimensional image is formed by displacement of an electron beam irradiation position by deflection circuit noise generated in a constituent element of a beam deflection control circuit.例文帳に追加

ビーム偏向制御回路の構成素子で発生する偏向回路雑音による電子ビーム照射位置のずれによる二次元画像化したときの画素ずれを低減して画質及び欠陥検出感度を向上させたＳＥＭ式検査装置を提供することにある。 - 特許庁

This electron beam aligner has a wafer stage 152 on which a wafer is placed, an electron gun for generating electron beams, an electron detection unit 210 for detecting electrons, a mask member 220 which is disposed in a path of electron beam irradiation and has a passage unit 222 of electron beams, and a deflection unit 146 for deflecting electron beams and irradiating the mask member 220 or the electron detection unit 210 with electrons.例文帳に追加

電子ビーム露光装置は、ウェハを載置するウェハステージ１５２と、電子ビームを発生する電子銃と、電子を検出する電子検出部２１０と、電子ビームが照射される経路に設けられ、電子ビームを通過する通過部２２２を有するマスク部材２２０と、電子ビームを偏向し、マスク部材２２０又は電子検出部２１０に電子を照射させる偏向部１４６とを備える。 - 特許庁

The laser irradiation device includes: a laser emission device which emits laser pulses; a detection device which obtains data associated with a time waveform of the laser pulses emitted by the laser emission device; and a control device which controls a pulse width of the laser pulses emitted by the laser emission device based on the data associated with the time waveform of the laser pulses obtained by the detection device.例文帳に追加

レーザパルスを出射するレーザ出射装置と、レーザ出射装置を出射したレーザパルスの時間波形に関するデータを取得する検出装置と、検出装置によって取得されたレーザパルスの時間波形に関するデータに基づいて、レーザ出射装置を出射するレーザパルスのパルス幅を制御する制御装置とを有するレーザ照射装置を提供する。 - 特許庁

An interference measuring means 11 performs interference measurement of a frequency change of return light L3 from an irradiation head 8 for reception, and measures a light quantity of the return light L3, and outputs an ultrasonic detection signal and a return light quantity detection signal to an ultrasonic image display control means 14 and a return light quantity distribution image display control means 15 through a signal recording part 12.例文帳に追加

干渉計測手段１１は、受信用照射ヘッド８からの戻り光Ｌ3の周波数の変化を干渉計測すると共に戻り光Ｌ3の光量も計測し、その超音波検出信号及び戻り光量検出信号を信号収録部１２を介して超音波画像表示制御手段１４及び戻り光量分布画像表示制御手段１５に出力する。 - 特許庁

A detection element 2 provided in an oxygen sensor 1 has a constitution wherein the outer surface of the element body part 10 is roughed by forming a plurality of groove parts 13 on the outer surface of the element body part 10 by laser irradiation, to thereby impart irregular surface shape to the element body part 10.例文帳に追加

酸素センサ１に備えられる検出素子２は、素子本体部１０の外表面にレーザ照射による複数の溝部１３が形成されて、素子本体部１０の表面形状が凹凸状になることで、素子本体部１０の外表面が粗化されて構成されている。 - 特許庁

The probe for optical detection or irradiation has at least a cantilever, of which the fixed end part is supported at a support body, a hollow probe formed at the free end part of the cantilever, the micro opening formed at the tip of the hollow probe, and the hollow waveguide formed inside the cantilever.例文帳に追加

光検出または照射用のプローブであって、固定端部を支持体に支持された片持ち梁と、該片持ち梁の自由端部に形成された中空の探針と、該探針の先端に形成された微小開口と、該片持ち梁の内部に形成された中空の導波路と、を少なくとも有する。 - 特許庁

Even when the irradiation position of the light to be detected to the scale plate 11 is deviated from a reference, the encoder 1 can accurately detect an absolute angle by calculating a deviation amount between the relative angle at the detection of an angle and the reference relative angle as correction amount α°.例文帳に追加

そこで、エンコーダ１では、角度検出時の相対角度と基準相対角度とのずれ量を補正量α°として算出することにより、スケール板１１に対する被検出光の照射位置が基準からずれた場合でも、絶対角度を精度良く検出することができる。 - 特許庁

A collimator 13 having an opening 15 transmitting radiation for irradiating a detector 12 and having a function as a shield plate protecting radiation irradiation expect the detector 12 is placed on the same substrate 11 forming an energy-electric converter (radiation detection element).例文帳に追加

検出部１２へ照射するための放射線を透過させる開口部１５を有し、かつ、前記検出部１２以外への放射線照射を防ぐため遮蔽板としての機能を有するコリメータ１３を、エネルギー−電気変換部（放射線検出素子）を形成する同一基板１１上に設置する。 - 特許庁

However, because the light from the projecting part 13 is absorbed by a liquid body 4 having an OH base, when the light irradiation position is moved to the area storing a liquid body 4 from the joint 6 of the bags 1, the light amount detected at the light receiving part 14 becomes below the predetermined level of detection.例文帳に追加

ところが、投光部１３からの光は、ＯＨ基を有する液体４に吸収されるから、光の照射位置が、連続小袋体１のうち継ぎ目６から液体４を収容した部分に移動したときには、受光部１４の受光量が所定の検出レベル以下となる。 - 特許庁

In the flaw detection on the substrate, a phosphor is added to a barrier rib resin dispersing liquid as a dopant, so that the phosphor cohered on the barrier rib surface is excited and made to be light-emitting by UV-ray irradiation to reveal the flaw part on the substrate surface including this barrier rib flaw part.例文帳に追加

基板上の欠陥検出を、隔壁樹脂分散液にドーパントとして蛍光体を添加することで、この隔壁欠陥部を含む基板表面にＵＶ光照射により、隔壁表面に凝集した蛍光体を励起、発光させ、欠陥部を顕在化させる。 - 特許庁

A sample tablet 13 is irradiated with near infrared rays 12, which include a light component with a predetermined wavelength for specifying the internal component 13i of the sample tablet 13, from the near-infrared ray irradiation unit 11 and the transmitted light 16 from the sample tablet 13 is detected by the transmitted light detection unit 17.例文帳に追加

近赤外光照射部１１から試料錠剤１３の内部成分１３ｉを特定する所定波長の光成分を含む近赤外光１２を試料錠剤１３に照射し、透過光検出部１７で試料錠剤１３からの透過光１６を検出する。 - 特許庁

A body device 1 effects control for irradiating the laser beams according to detection signals indicative of the appropriateness of the irradiation point of each laser beam and the position of the skin surface and also effects control for supplying weak currents to the skin surface after the permanent depilation treatment.例文帳に追加

本体装置１において、レーザビーム光の照射点と皮膚表面との位置の適切を示す検出信号に基づいて、レーザビーム光を照射する制御、及び、永久脱毛処理後の皮膚表面に対する微弱電流を供給するための制御を実行する。 - 特許庁

To provide an electron beam lithography system which can minimize fogging at the periphery of an alignment mark caused by beam irradiation upon detection of the positioning mark or the pollution of the mark caused by resist removal during alignment of the electron beam lithography system.例文帳に追加

本発明は電子線描画装置におけるアライメントで、位置合わせマーク検出時のビーム照射により引き起こされる位置合わせマーク周辺部でのかぶりや位置合わせマーク部でのレジスト剥離により汚染を極力抑える事が可能な電子線描画装置を提供する事にある。 - 特許庁

To provide a headgear for fixing a light irradiation / detection probe, the headgear which is used for an biological optical imaging apparatus and accurately and easily determines the measurement part of a testee body and fixes the probe without using another structure imaging device.例文帳に追加

生体光計測装置で用いる光照射／検出プローブの固定ヘッドギアに関して、他の構造画像撮影装置を用いることなく、正確且つ容易に被検体の計測部位を決定し、光照射／検出プローブを固定する生体光計測用ヘッドギアを提供する。 - 特許庁

The distance d between an irradiation position with a laser beam 20 for generating an ultrasonic wave, and a detection position with an optical ultrasonic detector 30 is actually measured based on a propagation time of a surface wave 26, and the thickness of the material is calculated using a value therein and a propagation time of a longitudinal wave or a transverse wave.例文帳に追加

超音波発生用レーザー２０の照射位置と光学的超音波検出装置３０による検出位置の距離ｄを、表面波２６の伝搬時間に基づいて実測し、この値と縦波あるいは横波の伝搬時間を用いて材料１０の厚さＤを算出する。 - 特許庁

Then, when an ultraviolet irradiation treatment is applied, a detection signal generated from the ultraviolet ray receiving part 25 is used to detect the actual illuminance of the ultraviolet ray, and the detected actual illuminance is used to determine the height position of the substrate stage 20 so that the actual illuminance may be set to a set treatment illuminance.例文帳に追加

そして、紫外線照射処理を施すときに、紫外線受光部２５の生成する検出信号に基づいて実照度を検出し、検出した実照度に基づいて、その実照度を設定処理照度にするための基板ステージ２０の高さ位置を決定するようにした。 - 特許庁

To provide an inspection apparatus that captures cracks generated on a transparent plate, such as a glass plate, by images for detection, and detects defects in the transparent plate for detecting cracks regardless of the relationship between the direction of cracks and the irradiation direction of a lighting means.例文帳に追加

ガラス板のような透明板に発生したクラック（割れ）を画像で捉えて検出する検査装置であって、クラックの方向と照明手段の照射方向との関係にかかわらずクラックの検出が可能な透明板の欠陥を検出する検査装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

A fundus oculi observation system 1 comprises a calculator 213 configured to obtain intensity distribution of interference light from a result of the detection of the interference light LC, and a determining part 214 configured to determine an irradiation position of the signal light LS to the eye E from the obtained intensity distribution.例文帳に追加

眼底観察装置１は、干渉光ＬＣの検出結果を基に干渉光の強度分布を求める干渉強度分布演算部２１３と、この強度分布に基づいて被検眼Ｅに対する信号光ＬＳの照射位置を決定する照射位置決定部２１４とを有する。 - 特許庁

A stage 2 supporting an object 1 to be measured, a light irradiation means 20 for irradiating the object 1 to be measured supported on the stage 2 with light and a light detection means 30 containing an object lens 10 and detecting the reflected light from the object 1 to be measured to calculate the quantity of light thereof are provided.例文帳に追加

被測定物１を支持するステージ２と、このステージ２に支持された被測定物１に対して光を照射する光照射手段２０と、対物レンズ１０を含み被測定物１からの反射光を検知してその光量を求める光検出手段３０とを備える。 - 特許庁

The judging method of the specific substance is constituted so as to judge a material containing the specific substance in a judge target (106) which has a laminar form of a plurality of materials and equipped with an irradiation process (step S201), a detection process (step S202) and a judging process (step S204).例文帳に追加

本発明の特定物質の含有判定方法は、複数素材が層状に形成された判定対象物（１０６）において、特定物質を含有する素材を判定する方法であり、照射工程（ステップＳ２０１）と、検出工程（ステップＳ２０２）と、判定工程（ステップＳ２０４）とを備える。 - 特許庁