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ion spotの意味・使い方・読み方 | Weblio英和辞書
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ion spotとは 意味・読み方・使い方

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意味・対訳 イオンスポット


JST科学技術用語日英対訳辞書での「ion spot」の意味

ion spot

イオンスポット

「ion spot」の部分一致の例文検索結果

該当件数 : 25



例文

ON-THE-SPOT MEASURING METHOD AND APPARATUS OF ION CONCENTRATION IN SOLUTION例文帳に追加

溶液中のイオン濃度のその場測定方法および装置 - 特許庁

To provide an ion implanter capable of accurately measuring an incident angle of ion or ion beams constituting spot-like ion beams incident on a base plate.例文帳に追加

基板に入射するスポット状のイオンビームを構成するイオンまたはイオンビームの入射角度を精密に測定することのできるイオン注入装置を提供する。 - 特許庁

To provide an ion microscope having an ion beam with a spot size of 10 nm or less at a surface of a sample using a gas field ion source, and excellent in versatility and long term reliability.例文帳に追加

気体電界イオン源を用いて試料表面でスポットサイズ10nm以下のイオンビームを有する汎用性、長器信頼性に優れたイオン顕微鏡を実現する。 - 特許庁

To provide an ion microscope excellent in versatility and long-term reliability having an ion beam with a spot size of 10 nm or less at a surface of a sample using a gas field ion source.例文帳に追加

気体電界イオン源を用いて試料表面でスポットサイズ10nm以下のイオンビームを有する汎用性、長器信頼性に優れたイオン顕微鏡を提供する。 - 特許庁

A required dose amount of ions is provided and a spot ion beam 112 is formed from an ion source 108 and undergoes a mass spectrometry by a mass spectrograph 126.例文帳に追加

イオンの所望ドーズ量が与えられ、スポットイオンビーム112がイオン源108から形成され、質量分析器126によって質量分析される。 - 特許庁

In the second mode, the ion beam passes without scanning the beam scanning system 128 and the parallelizer 130 and the workpiece 122 is scanned through the spot ion beam 112 in two dimensions.例文帳に追加

第2モードでは、イオンビームは、ビーム走査システム128とパラライザー130を走査しないで通過し、かつ加工物122は、スポットイオンビーム112を通って二次元で走査される。 - 特許庁

例文

To provide a regulation method for a liquid sample for fluorescent X-ray analysis allowing the fluorescent X-ray analysis by a spot method, even in arsenic or the like of a heavy metal of a positive ion vaporized easily when dried, and a fluoride ion of a negative ion.例文帳に追加

乾燥時に揮散しやすい+イオンの重金属のヒ素などや−イオンのフッ素であっても、点滴法により蛍光X線分析できる蛍光X線分析用液体試料の調整方法を提供する。 - 特許庁

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日英・英日専門用語辞書での「ion spot」の意味

ion spot

イオン焼け,イオンスポット

「ion spot」の部分一致の例文検索結果

該当件数 : 25



例文

To provide a focused ion beam device converging an ion beam to a beam-spot position with no magnetic field without isotope separation on a sample even when a magnetic field exists on an optical axis of an ion beam and the magnetic field changes.例文帳に追加

イオン・ビーム光軸上に磁場が存在し、更に磁場が変動する場合でもイオン・ビームが試料上で同位体分離を生じることが無く、磁場が無い場合のビーム・スポット位置へ集束する集束イオン・ビーム装置を提供する。 - 特許庁

To provide an on-the-spot measuring method and an on-the-spot measuring apparatus of ion concentration in solution that can measure the spot in a true meaning when measuring the absorbance of solution using the principles of frustrated internal reflection method, and can accurately measure absorbance even if the ion concentration in the solution is higher or insoluble particles and bubbles are present in the solution.例文帳に追加

減衰全内反射法の原理を用いて溶液の吸光度を測定するに際して、真の意味でのその場測定を行うことができ、しかも装置の小型化を図ることができ、溶液中のイオン濃度が高い場合や、溶液中に不溶解粒子や気泡が存在しても正確な吸光度測定を行うことができる溶液中のイオン濃度のその場測定方法および装置を提供する。 - 特許庁

To provide an electronic display device capable of forming an aperture largely in comparison with a spot size, by applying a well-known principle 'focused ion flow' in an electrophotographic printing.例文帳に追加

電子写真プリントで周知の「集束イオン流」の原理を応用し、スポットサイズと比べてアパーチュアを大きく形成できる、電子ディスプレイ装置を提供する。 - 特許庁

Highly accurate analysis for atomic elements in every spot of the sample is achieved through this apparatus, because of keeping of relative positioning of the leading electrode stable with the ion detector.例文帳に追加

この装置においては、引出電極のイオン検出器との相対位置が変化しないので、試料上のすべての点について高精度な原子分析を行うことができる。 - 特許庁

When a thin film is formed on a substrate 7 having a size larger than that of a beam spot of a cluster ion beam L by cluster ion assist deposition, a film material is deposited on a surface 7A of the substrate 7 while the substrate 7 is rotated to form the thin film.例文帳に追加

クラスターイオンアシスト蒸着によって、クラスターイオンビームLのビームスポットよりも大きいサイズの基板7に薄膜を形成する際に、基板7を回転させながら基板7の表面7Aに膜材料を蒸着して薄膜を形成する。 - 特許庁

ELECTROLYTE AND APPARATUS FOR MEASURING ION PERMEATION RESISTANCE FOR ACTUAL STRUCTURE GOOD IN SPOT WORKABILITY, AND MEASURING METHOD USING IT例文帳に追加

現場作業性の良好な実構造物用イオン透過抵抗測定用電解液、現場作業性の良好な実構造物用イオン透過抵抗測定装置、および、それを用いた測定方法 - 特許庁

To remove protrusions present on the surface of a work and to perform shape formation even in the case of a gas cluster ion beam whose spot size is set to be equal to or below the pitch of the protrusions on the surface of the work.例文帳に追加

被加工物の表面に存在する突起のピッチ以下のスポット径に設定したガスクラスターイオンビームであっても、被加工物表面の突起を除去して形状創成を行えるようにする。 - 特許庁

例文

Thus, an electric field is formed in an outer area of the liquid crystal display device to hold the ion impurities in the outer area of the liquid crystal display device, whereby a spot on the edge can be prevented.例文帳に追加

これにより、液晶表示装置の外郭領域に電界を形成し、イオン不純物を液晶表示装置の外郭領域にホールディングさせることによって、枠のスポットを防止できる。 - 特許庁

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