「test-connection」に関連した英語例文の一覧と使い方(10ページ目) - Weblio英語例文検索

A plurality of logical NWs are grouped according to a physical topology and a representative logical NW is selected from each group, so that a test target logical NW is selected from among the representative logical NWs and tested in connection with a logical NW selected by an operator.例文帳に追加

複数の論理NWを物理トポロジに基づきグルーピングし、グループ毎に、代表論理NWとして選択しておくことで、運用者が選択した論理NWに対して、代表論理NWの中から試験対象論理NWを選択し、試験を実施する。 - 特許庁

To provide an optical communication system capable of easily performing a loop-back test of an optical signal without the need to change the connection to an external device or an optical transmission line, an optical signal transmitting/receiving method for the optical communication system, and an optical transmitting/receiving module.例文帳に追加

外部装置や光伝送路の繋ぎ換えの必要が無く、簡易に光信号のループバックテストを行うことができる光通信システム、光通信システムの光信号送受信方法及び光送受信モジュールを提供すること。 - 特許庁

The test jig for a sensor 3 for attaching a smoke sensor 2 to a tester 1 comprises a connection unit 4 for connecting the smoke sensor 2 to the tester 1 by switching to any direction selected from two or more directions.例文帳に追加

煙感知器２を試験装置に設置するための感知器用試験治具３であって、煙感知器２を、２以上の方向から選択された任意の方向に切り替えて試験装置１に接続する接続部４を備える。 - 特許庁

To securely check a semiconductor device even when a connection electrode of the semiconductor device is disposed in a very narrow space, and easily check characteristics and the like of the semiconductor device by simplifying constructions of a test pad and the like of a checking apparatus.例文帳に追加

半導体装置の接続電極の配置がきわめて狭くなった場合でも確実に検査することができ、検査装置のテストパッド等の構成を簡易にして半導体装置の特性等を容易に検査可能とする。 - 特許庁

To provide a display device which can ensure an area for a thin-film transistor for test and an area for a contact hole which connects an SD electrode with a connection wiring even when a pitch between terminal wirings is small.例文帳に追加

端子配線間ピッチが小さい場合であっても、検査用薄膜トランジスタの面積及びＳＤ電極と接続配線とを接続するコンタクトホールのための面積を確保することが可能な表示装置を提供することである。 - 特許庁

In the case of testing the connection between the IP cores 32 and 33, test signals are supplied for the IP core 32 via the selector 40, and signals of a normal signal input terminal of the IP core 33 are transferred to the signal checker 45.例文帳に追加

ＩＰコア３２、３３間の接続試験を行う場合には、試験信号をセレクタ４０を介してＩＰコア３２に供給し、ＩＰコア３３の通常信号入力端子の信号を信号チェック器４５に転送する。 - 特許庁

Consequently, a connection test between the terminal of a semiconductor chip and the external terminal can be performed on each semiconductor chip by measuring a current flowing through the switch circuit while supplying a predetermined level to the dedicated terminal and the first terminal.例文帳に追加

このため、専用端子及び第１端子に所定のレベルを供給した状態で、スイッチ回路に流れる電流を測定することで、各半導体チップ毎に、半導体チップの端子と外部端子との接続試験を実施できる。 - 特許庁

In this way, control is carried out so that signal is not transmitted by the input/output cells, to which the LSI chips 220 and 260 are connected, and connection of the scan path and the input/output cell is switched for performing simultaneous operation of the scan test.例文帳に追加

これにより、ＬＳＩチップ２２０、２６０を接続する入出力セルが信号のやりとりを行わないように制御し、スキャンテストの同時実行を可能なようにスキャンパスと入出力セルの接続を切り替える。 - 特許庁

A device to which network equipment to be tested is connected determines a state of the network equipment from a value of its address and reports a server device for controlling test of the network equipment of connection information indicating the determined state of the network equipment.例文帳に追加

試験対象のネットワーク機器が接続される装置は、該ネットワーク機器の状態を、そのアドレスの値から判別し、判別したネットワーク機器の状態を示す接続情報をネットワーク機器の試験を制御するサーバ装置へ通知する。 - 特許庁

In addition, test signals are generated responding to connection of the devices with the device interface, and then transmitted on the bus.例文帳に追加

いくつかの実施形態では、デバイスをデバイス・インターフェースと結合させるのに応答してテスト信号を生成し、バス上に当該テスト信号を送信し、デバイス・インターフェースでのバス信号が予想されたバス信号と異なる時にエラー信号を生成する。 - 特許庁

To enable visually grasping a communication state and a signal waveform of a message in testing simultaneously on the time axis in a connection test for a mobile communication terminal by a simulated base station or the like.例文帳に追加

本発明の目的は、移動体通信端末の擬似基地局による接続試験等において、試験時のメッセージの交信状態及び信号波形を同一時間軸上で同時に、視覚的に把握できるようにすることである。 - 特許庁

The plurality of scan flip-flops are allocated to each of a plurality of scan paths which are formed by connection of the scan flip-flops like a shift register when a scan test is performed, and forms a plurality of partial scan paths with the same number as the plurality of scan paths.例文帳に追加

複数のスキャンフリップフロップは、スキャンテストするときに、スキャンフリップフロップがシフトレジスタ状に接続されて形成される複数のスキャンパスのそれぞれに割り当てられ、複数のスキャンパスと同数の複数の部分スキャンパスを形成する。 - 特許庁

To prevent rise of a resistance value after aging test by preventing void from remaining in a connection material when an electronic element such as a bare IC chip is mounted on a wiring circuit substrate by a liquid or paste- like connecting material.例文帳に追加

液状もしくはペースト状の接続材料でベアＩＣチップ等の電子素子を配線回路基板へ実装する際に、接続材料中にボイドを残存させず、従ってエージング試験後の抵抗値上昇を招かないようにする。 - 特許庁

At this time, the test-use switch 21d is turned off in order to prevent the potential of the connection node which connects the capacitor 21b, the switch 21c and the output terminal of the operational amplifier 21a in the C-V converting circuit 21, from transmitting to the differential amplifying circuit 22.例文帳に追加

このとき、検査用スイッチ２１ｄをＯＦＦにし、Ｃ−Ｖ変換回路２１におけるオペアンプ２１ａの出力端子とコンデンサ２１ｂやスイッチ２１ｃの接続点の電位が差動増幅回路２２に伝わらないようにする。 - 特許庁

The transmission unit transmits test signal light for determining an optical connection state of a communication partner to a connection destination of a housing to which the communication partner is optically connected, by setting the light to a very small optical level that does not cause danger to a human body, and starts a communication service by transmitting signal light at an operational optical level to the communication partner who returned response signal light.例文帳に追加

送信部は、通信相手が光接続される筐体の接続先に対して、通信相手の光接続状態を判断するための試験信号光を、人体に危険を及ぼさない微小光レベルに設定して送信し、応答信号光の返信をした通信相手に対して、運用光レベルの信号光を送信して通信サービスを開始する。 - 特許庁

A relay 5 is provided between the external circuit 3 and the semiconductor integrated circuit 1, and the connection destination of first wiring 6 is switched to third wiring 8 for connecting the semiconductor integrated circuit 1 and an LSI tester 4 when executing a system test, thus judging whether the connected state between the external connection terminal of the semiconductor integrated circuit 1 and the first wiring 6 is appropriate or not.例文帳に追加

外部回路３と半導体集積回路１との間にリレー５を設け、システムテストを実施する際に、第１の配線６の接続先を第３の配線８に切り換えて半導体集積回路１とＬＳＩテスタ４を接続することで、半導体集積回路１の外部接続端子と第１の配線６間の接続状態の良否を判定する。 - 特許庁

To provide a verification program, apparatus and method capable of surely verifying design of wiring for electrically connecting a test head body to a plurality of connection terminals to which the plurality of external terminals of an electronic component to be tested are connected.例文帳に追加

テストヘッド本体と、被試験電子部品の複数の外部端子が接続される複数の接続端子とを電気的に接続する配線の設計を確実に検証することのできる検証プログラム、検証装置及び検証方法を提供する。 - 特許庁

Vacuum seals 49, 72 permitting a relative movement along a movement direction of the cross heads 31, 32 are provided between connection bodies 45, 46 interposed between the cross heads 31, 32 and the test terminal 3 and the high temperature observation furnace 60 respectively.例文帳に追加

各クロスヘッド３１，３２及び試験材料３の間にそれぞれ介在する連結体４５，４６と高温観察炉６０との間にクロスヘッド３１，３２の移動方向に沿った相対移動を許容する真空シール４９，７２をそれぞれ設けてある。 - 特許庁

Since only one of the large number of test cards 104 is selected by switching in a switch section 128, on the occasion of connection using the RS232C, processing such as debugging or the like can be easily performed without providing wiring conductors around inside a case.例文帳に追加

ＲＳ２３２Ｃを用いた接続に際して、多数のテスト用カード１０４のうち１枚のみがスイッチ部１２８の切り換えによって選択されるので、筐体内に配線を引き回すことなくデバッグ等の処理を容易に行うことができる。 - 特許庁

Each of the connection terminal parts of the semiconductor device under the condition put into an environment test vessel 9 is connected to the constant current device 5 and the voltage monitoring device 6 by two wires (one thereof is a grounding wire) via the resistance circuit network 4.例文帳に追加

環境試験槽９に入れた状態における半導体デバイス１の各接続端子部と、抵抗回路網４を介して２本の配線（１本は接地線である）で定電流源装置５および電圧モニタ装置６とが接続される。 - 特許庁

To provide an adhesive and an adhesive for circuit connection which exhibit high adhesive strength in spite of a radical curing system, has a stable performance even after a reliability test and is excellent in storage stability, too, and to provide a connected body and a semiconductor device using the adhesive.例文帳に追加

ラジカル硬化系でありながら、高い接着強度を示し、かつ、信頼性試験後においても安定した性能を有し、さらに貯蔵安定性にも優れる接着剤、回路接続用接着剤、接続体及び半導体装置を提供する。 - 特許庁

An apparatus route corresponding table storage part 16 stores an apparatus route corresponding table showing a connection route connected to an apparatus and whether the apparatus has an autonomous redundant function or not for each apparatus in a test target system 4 which is a redundant system.例文帳に追加

機器経路対応テーブル記憶部１６は、冗長システムである試験対象システム４内の機器ごとに、機器に接続されている接続経路と、機器が自律冗長機能を有する機器であるか否かが示される機器経路対応テーブルを記憶する。 - 特許庁

To provide a fuel tank having a connecting piping (2) extending from an air filter to a filter element, in which connection of the filter element and the air filter can be consistently secured without performing special measurement even after a pressure test of the fuel tank is completed.例文帳に追加

エアフィルタからフィルタ要素まで延びる接続配管(２)を有する燃料タンクにおいて、燃料タンクの圧力試験が終了した後も、特別な計測を行うことなく、フィルタ要素とエアフィルタとの接続を常に確保できるようにする。 - 特許庁

A simulated secure connection between the first port unit and the second port unit via a network under test may be opened using a selected PCCD set from the one or more PCCD sets without performing decryption processing.例文帳に追加

検査下のネットワークを介して、第１のポートユニットと第２のポートユニットとの間のシミュレートされたセキュアな接続が、解読処理を実行することなく、１つ以上のＰＣＣＤのセットから選択されたＰＣＣＤのセットを用いて開かれてよい。 - 特許庁

A leakage detector includes a primary pump unit, a secondary pump unit with at least one secondary pump, a gas analyzer, a test module, a calibration module, a discharge module of the secondary pump unit, a plurality of valves, and a plurality of connection parts.例文帳に追加

漏れ検出器は、一次ポンプユニット（１０）と、少なくとも１つの二次ポンプ（６）を有する二次ポンプユニット（５）と、ガスアナライザ（４）と、テストモジュール（８）と、校正モジュール（９）と、二次ポンプユニットの吐出モジュール（１２）と、複数のバルブ（１３）と、複数の結合部（１４）とを含む。 - 特許庁

On the end edge of a first large substrate 110 having a plurality of TFT substrate areas 10, a test terminal 111 to be connected, via a wiring pattern, to an external connection terminal 102 formed on each TFT substrate area 10 is formed.例文帳に追加

ＴＦＴ基板領域１０を複数有する第１の大型基板１１０の端縁に、各ＴＦＴ基板領域１０に形成されている外部接続端子１０２に対し配線パターンを介して接続するテスト端子１１１を形成する。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit capable of controlling the electric connection of pull-down/pull-up elements connected to an input terminal or a bidirectional terminal used for input/output of a signal in each of a test mode and a normal operation mode.例文帳に追加

テストモード及び通常動作モードのそれぞれにおいて、入力端子、又は、信号の入出力に用いられる双方向端子に接続されるプルダウン／プルアップ素子の電気的接続を制御することが可能な半導体集積回路を提供する。 - 特許庁

To provide a communication system capable of recognizing and restoring a fault in an early stage without increasing the transmission frequency of a test message and a connection message and performing efficient fault restoring work wherein the mixture of the notification of a fault and the message of restoration is eliminated.例文帳に追加

試験電文や接続電文の送出頻度を上げることなく障害の早期の把握や復旧を行い、障害の通知と復旧の電文の交錯を排除した効率的な障害復旧作業が可能な通信システムを提供する。 - 特許庁

In a state that a body 1 under test is kept from being conveyed to a conveyance mechanism 2, that is, on condition comprising only an external electromagnetic noise environment condition, a connection state for minimizing the signal level of the combined detection signal is set in the selection part 16.例文帳に追加

そして、被検体１を搬送機構２に搬送させない状態、すなわち、外部の電磁ノイズ環境条件のみの条件において、合成検出信号の信号レベルが最小の接続状態を接続切換部１６に設定する。 - 特許庁

In a connection test, data held in registers 241-1 and 241-2 are transferred to registers 211-1 and 211-2 in an interface circuit 210, further transferred to registers 312-1 and 312-2 at a side of the second chip 200-2 and held therein.例文帳に追加

接続試験においては、レジスタ２４１−１および２において保持されているデータを、インターフェース回路２１０内のレジスタ２１１−１および２に転送し、さらに第２チップ２００−２側のレジスタ３１２−１および２に対して転送して保持させる。 - 特許庁

To provide a liquid or pasty connecting material to implement connection with high reliability, and to impart an excellent preservation property and moisture absorption resistant property of level 2A of JEDEC not giving rise to floating in moisture absorption reflow test.例文帳に追加

液状もしくはペースト状の接続材料に対し、高信頼性で接続を可能とし、優れた保存特性と、ＪＥＤＥＣのレベル２Ａの吸湿リフロー試験を行った場合でも浮きが発生しないという良好な耐吸湿リフロー性とを付与する。 - 特許庁

In the test spring module that is attached with an arrester module having a protection circuit therein and makes wiring connection terminals electrically conductive via the attached arrester module, an earth bar installed between the arrester module and the test spring module is characterized by having an earth terminal opening engaged with an earth terminal of the arrester module, thus solving the problem.例文帳に追加

内部に保護回路を有するアレスタモジュールを装着し、装着されたアレスタモジュールを介して配線接続用端子間を電気的に導通させる試験弾器モジュールにおいて、前記アレスタモジュールと前記試験弾器モジュールとの間に装着されるアースバーは、前記アレスタモジュールのアース端子と嵌合するためのアース端子用開口部を有することを特徴とすることにより上記課題を解決する。 - 特許庁

A network control device 17 or 25 is designed in such a manner that the registered information inputted from a keyboard contains an installation information which indicates establishment, extension or alteration of the image forming device on the network 16 or 24 and, furthermore, when the instruction of the communication test is received, performs a communication test for determining the connection with the image forming device which is established, extended or altered.例文帳に追加

ネットワーク管理装置１７（又は２５）は、キーボードから入力された登録情報がネットワーク１６（又は２４）上の画像形成装置の新設，増設，変更を示す設置情報を含むものであり、更に通信テストの指示があったとき、ネットワーク１６上の新設，増設，あるいは変更された画像形成装置との接続確認のための通信テストを実行する。 - 特許庁

An apparatus for determining connection state of an interface connector comprises a means for delivering an AC test signal from an insert substrate to an inserted substrate, and a means for determining whether an error is included in an AC test signal send back from the inserted substrate to the insert substrate or not, and determining that an interface connector between the insert substrate and the inserted substrate is connected incompletely if an error is included.例文帳に追加

挿入基板から被挿入基板に交流テスト信号を出力する手段と、被挿入基板で挿入基板に折り返された交流テスト信号にエラーが含まれているか否かを判断し、エラーが含まれている場合には、挿入基板と被挿入基板との間のインターフェース・ユニットが不完全に接続されていると判断する手段と、を備える。 - 特許庁

The system comprises a storing device 4 having a means that classifies the test data 2 of an LSI acquired by a semiconductor testing apparatus 1 into lots/wafer/chips/measurement data/categories and a means that organically connects them to store by setting connection information from among classified items; and a displaying device 5 having a means of searching the stored test data and a means of displaying the searched results.例文帳に追加

半導体試験装置１にて収集されたＬＳＩのテストデータ２を、ロット・ウエハ・チップ・測定データ・カテゴリ単位に分類する手段及び分類した項目の中で連結情報を設定することで有機的に結合させて蓄積する手段を有する蓄積装置４と、蓄積されたテストデータを検索する手段及び検索結果を表示する手段を有する表示装置５とからなる。 - 特許庁

This design method for a semiconductor integrated circuit is provided with a net list creation step (S121) for creating a net list, which includes connection information between and inside macros of the semiconductor integrated circuit and identification information about the used macro, and a test pattern creation step (S122) creating a test pattern for the semiconductor integrated circuit on the basis of the identification information about the used macro inside the net list.例文帳に追加

半導体集積回路のマクロ間及びマクロ内の結線情報並びに使用するマクロの識別情報を含むネットリストを生成するネットリスト生成ステップ（Ｓ１２１）と、ネットリスト内の使用マクロの識別情報を基に半導体集積回路の試験パターンを生成する試験パターン生成ステップ（Ｓ１２２）とを有する半導体集積回路の設計方法が提供される。 - 特許庁

When receiving updating information inputted from the connection determination unit 224, the local updating unit 228 adds discrimination information for discriminating the information to be one newly added to the information on the test, and outputs the result to the local DB 230.例文帳に追加

また、ローカル更新部２２８は、接続判定部２２４から入力された更新情報を受け入れると、試験に関する情報に対して新たに追加された情報であることを識別するための識別情報を付加して、ローカルＤＢ２３０に対して出力する。 - 特許庁

A conductivity test between the fuel rod 1 and the tip side conductive end contact part 2e is conducted, and a connection/disconnection state between the base end side conductive end contact part 2d and the seating stage edge 1b of the fuel rod 1 is determined based on result of measurement by a conductivity measuring device 3.例文帳に追加

そして燃料棒１と先端側導電性端接部２ｅとの間における導電テストを行い、基端側導電性端接部２ｄと燃料棒１の着座段縁１ｂとの接離状態を、導通計測器３の測知結果により判別する。 - 特許庁

The programmable device 11 is loaded on the board 10, transmits test signals to the programmable device 21 through respective signal lines connecting both boards, also receives the inspected results of the connection conditions of the respective signal lines from the programmable device 21 and outputs them.例文帳に追加

プログラマブルデバイス１１は、ボード１０に搭載され、両ボード間を接続する信号線のそれぞれを介してプログラマブルデバイス２１へテスト信号を送信するとともに、信号線それぞれの接続状況の検査結果をプログラマブルデバイス２１から受信して出力する。 - 特許庁

The BSC macrostructures 10A, 10B for three-dimensional wiring includes a BSC (boundary scan cell) 12, and an opening electrode 11 for electrode connection connected to the BSC 12, thus performing the boundary scan test in the low-cost configuration without increasing the size of the system.例文帳に追加

本発明に係る３次元配線用ＢＳＣマクロ構造１０Ａ、１０Ｂは、ＢＳＣ（バウンダリスキャンセル）１２と、ＢＳＣ１２に接続された電極接続用の開口電極１１と、を備えた構成により、システムサイズを肥大化することなく、低コストな構成でバウンダリスキャンテストを行う。 - 特許庁

The chip structure for a multiply integrated circuit is provided with chip-to-chip interface circuits for selective connection of internal circuits in an integrated circuit for testing an interface circuit having the ESD protection circuit and the input/output circuit for establishing communication with an external testing system during a test and a burn-in process.例文帳に追加

多重集積回路チップ構造は、テストおよびバーン・イン手順中に外部テスト・システムと通信するためのＥＳＤ保護回路および入出力回路を有するインターフェース回路をテストするため集積回路の内部回路を選択的に接続するチップ間インターフェース回路を有する。 - 特許庁

The vehicle operation program creation part 120 selects an arc capable of executing a vehicle test during an interval of the connection of a train represented by the arc among arcs constituting a train operation network for allocating the respective vehicle tests to the vehicle operation network.例文帳に追加

そして、車両運用計画作成部１２０は、列車運用ネットワークを構成するアークのうち、当該アークにより表される列車の接続の間合いに車両検査を実施することが可能なアークを選定することにより、車両運用ネットワークに各車両検査を割り当てる。 - 特許庁

To create printing image data for a reproduction test that precisely reproduces printing data during a fault on an image processing apparatus even when no printing data can be provided by a client in connection to a fault whose cause is hard to determine only from recorded log information.例文帳に追加

画像処理装置において、記録されたログ情報のみからでは原因の特定が困難な障害について、顧客から印刷データの提供を受けられない場合においても、障害発生時の印刷データを的確に再現した再現テスト用の印刷画像データを作成することを課題とする。 - 特許庁

To provide a semiconductor device which enables a flip chip connection without the need for an underfill resin and the blow-out of a fuse is enabled based on the test result of electrical characteristics in a WLCSP including a stress relief layer, and moreover, the sealing of the upper part of the fuse can flexibley be dealt with.例文帳に追加

アンダーフィルの不要なフリップチップ接続を可能にするとともに、応力緩和層を設けるＷＬＣＳＰにおいて、電気的特性の検査結果をもとにヒューズの切断を可能にし、このヒューズの上部の封止に柔軟に対応することができる半導体装置を提供する。 - 特許庁

To provide a technique for eliminating a connection failure induced in a cooling test or during use of an element mounted in a vehicle or the like and reducing a dielectric loss or the like in the structure of a lead wire fixed to each of metallikon electrodes formed on both ends of the element included in various electronic components such as a film capacitor.例文帳に追加

フィルムコンデンサ等各種電子部品に於ける素子の両端面に形成したメタリコン電極に接続・固定したリード線の構成に於いて、その冷熱試験や車両等搭載使用時に誘起される接続不良をなくしかつ誘電損失等を少なくした技術を提供する。 - 特許庁