意味 | 例文 (553件) |
test-connectionの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 553件
TEST SPRING MODULE AND FIXTURE FOR INSERTING WIRING CONNECTION TERMINAL INTO TEST SPRING MODULE例文帳に追加
試験弾器モジュール及び該試験弾器モジュールの内部に配線接続用端子を圧入するための治具 - 特許庁
To provide a dicing substrate for test capable of improving test accuracy and connection reliability.例文帳に追加
試験精度及び接続信頼性の向上を図ることが可能な試験用個片基板を提供する。 - 特許庁
To provide a connection test method, a connection test program, a recording medium, and an image forming apparatus that can readily confirm the accuracy of connection information while setting the connection information for making a connection to an information storage server.例文帳に追加
情報格納サーバに接続するための接続情報を設定しつつ、接続情報の正確性を容易に確認できる接続テスト方法、接続テストプログラム、記録媒体および画像形成装置を提供することを目的とする。 - 特許庁
To provide a test circuit and a test method of a semiconductor integrated circuit, by which macro and the like of a test object can be tested without adding an external connection pin for a test which is necessary for a test.例文帳に追加
テスト時に必要となるテスト用の外部接続ピンを追加することなく、テスト対象のマクロ等をテストすることができる半導体集積回路のテスト回路およびテスト方法を提供する。 - 特許庁
EXCLUSIVE COMPONENT FOR CONNECTION EVALUATION AND TEST METHOD FOR EVALUATING CONNECTION OF ELECTRONIC COMPONENT TO MOUNTING SUBSTRATE例文帳に追加
接続評価専用部品およびそれを用いた電子部品と実装基板の接続の評価試験方法 - 特許庁
IC TESTER, REFERENCE POSITION SETTING EQUIPMENT FOR ITS TEST HEAD, AND CONNECTION POSITION CONTROLLING METHOD FOR ITS CONNECTION MECHANISM例文帳に追加
ICテスタ、そのテストヘッド用基準位置設定器具、及びその接続機構の接続位置制御方法 - 特許庁
To provide a circuit test apparatus which can reduce man-hours and costs required for a test on the operation of the connection between boards under test.例文帳に追加
被検査基板間の接続の動作の試験に要する工数、コストの低減を実現することが可能な回路試験装置を提供する。 - 特許庁
To provide a test pattern generating device that easily and automatically generates a test pattern without the preparation of complicated test pattern in verification for wiring connection of a semiconductor chip.例文帳に追加
半導体チップの配線接続検証において、複雑なテストパターンの作成を必要とせず、テストパターンを容易に自動発生すること。 - 特許庁
To evaluate the operation of a base station unit under the same test condition in one-to-multi connection test.例文帳に追加
一対多対向接続試験における同一試験条件下での基地局装置動作評価を可能とすること。 - 特許庁
To easily inspect a connection part of a semiconductor device in an environment test.例文帳に追加
環境試験における半導体デバイスの接続部を簡易に検査する。 - 特許庁
METHOD OF TEST FOR CONNECTION SYSTEM OF SEMICONDUCTOR MEMORY, DEVICE, AND PICTURE FORMING DEVICE例文帳に追加
半導体メモリ接続系統の検査方法,装置及び画像形成装置 - 特許庁
To provide a mobile phone tester provided with a function of finding out the abnormity of a test purpose coaxial cable by minimizing a connection change from the connection for an ordinary test.例文帳に追加
常試験からの接続変更を最小限にとどめてテスト用同軸ケーブルの異常を発見する機能を備えた携帯電話機テスタを提供する。 - 特許庁
CONNECTION INTEGRITY TEST OF AUTOMATIC ENDOSCOPE REGENERATOR BY LIQUID SUCTION例文帳に追加
液体の吸い込みによる自動内視鏡再生器の接続完全性試験 - 特許庁
MANUFACTURING METHOD, MANUFACTURING DEVICE, TESTING DEVICE, TEST METHOD, AND SUBSTRATE FOR CONNECTION例文帳に追加
製造方法、製造装置、試験装置、試験方法および接続用基板 - 特許庁
To provide a LAN tester which can conduct a cable continuity test and a reverse-connection confirmation test only at one end and enables a simple operation test including a HUB.例文帳に追加
一方端だけでケーブル導通試験や逆接続確認試験ができ、さらに、HUBを含めた簡易動作試験も可能なLANテスタを提供する。 - 特許庁
The test device 5 includes a test circuit 51 and a connection FPC 52 connecting the test circuit 51 and an HSA 140.例文帳に追加
本発明の一実施態様において、テスト装置5は、テスト回路51と、そのテスト回路51とHSA140とを接続する接続用FPC52とを備えている。 - 特許庁
When a withstand voltage test and an electrical circuit verification test (sequence test) of a distribution panel are carried out, a wire connection device is attached on a block terminal stand in the distribution panel.例文帳に追加
配電盤の耐電圧試験及び電気回路検証試験(シーケンス試験)を行う時に配電盤内のブロック端子台に結線装置を取り付ける。 - 特許庁
To provide a connector for a test head which enables to replace a test board within a limited space and moreover, facilitate the connection of the test head to an automatic handler.例文帳に追加
限られたスペースのなかでテストボードの交換ができ、しかもテストヘッドをオートハンドラに容易に接続できるテストヘッドの接続装置を提供する。 - 特許庁
The transmission part 1 transmits the connection request signal in the case that this signal passes the test, and the persistence test is executed again in the case that the signal does not pass the test.例文帳に追加
試験の結果が合格であった場合、送信部1は接続要求信号を送信し、不合格であった場合は再度パーシステンス試験を実施する。 - 特許庁
Based on the execution mode information 1320, a connection for real execution or test is generated, and the connection is established.例文帳に追加
実行モード情報1320に基づいて、本番用またはテスト用のコネクションが生成され、接続を確立する。 - 特許庁
The connection connector 3 is connected to a tip part of the cable 30 for the test.例文帳に追加
試験用ケーブル30の先端部には接続コネクタ3が接続されている。 - 特許庁
CONNECTION MONITORING DEVICE, NETWORK APPARATUS USING THE SAME, AND NETWORK TEST DEVICE例文帳に追加
接続監視装置並びにこれを用いたネットワーク機器及びネットワーク試験装置。 - 特許庁
A call processing test suspension means 109 suspends the connection or the release of the call.例文帳に追加
呼処理試験停止手段109は、呼の接続又は解放を停止する。 - 特許庁
A connection part 24, having a plurality of pads, is provided to a test board 21.例文帳に追加
テストボード21には、複数のパッドを有する接続部24が設けられている。 - 特許庁
Wires from an continuity test apparatus are soldered to the wiring connection parts 22.例文帳に追加
配線接続部22には通電試験装置からの配線がハンダ付けされている。 - 特許庁
Therefore, it is possible to prevent connection negligence of the connector cap 31 to the test connector 23 after a test of ground characteristic.例文帳に追加
このため、地絡特性試験後におけるコネクタキャップ31の試験用コネクタ23への接続忘れを防止することができる。 - 特許庁
A short circuit plate equipped with a short circuit contact for using at the withstand voltage test is fitted to the wire connection device, and a contact capable of easily attaching and detaching a test wire for using at the electrical circuit verification test (sequence test) is fitted to the wire connection device.例文帳に追加
耐電圧試験実施時に使用する短絡接触子を備えた短絡板が結線装置に設けられ、そして、電気回路検証試験(シーケンス試験)時に使用する試験配線が容易に着脱できる接触子を結線装置に備える。 - 特許庁
When the connection characteristics of the connection mechanisms are not different from each other, a first load test execution part 22 determines load test combination programs of the test program and the load program with load effects for all processors, allocates them to the processors, and executes the load test.例文帳に追加
第1負荷試験実行部22は接続機構の接続特性に相違がない場合、全プロセッサを対象に負荷効果のある試験プログラムと負荷プログラムとの負荷試験組合せプログラムを決定し、プロセッサに割付けて負荷試験を実行する。 - 特許庁
To facilitate work for disposing a test object on an electric connection device.例文帳に追加
被検査体を電気的接続装置に配置する作業を容易にすることにある。 - 特許庁
To provide a semiconductor device of which the connection test is facilitated.例文帳に追加
接続試験を容易化できる半導体装置を提供することを目的としている。 - 特許庁
To rapidly test defects of terminal connection to a circuit board, using a simple structure.例文帳に追加
回路基板への端子接続の良、不良を簡単な設備で迅速に試験する。 - 特許庁
A USB connection section 11 connects the control device 10 and the test device 20.例文帳に追加
USB接続部11は、制御装置10と試験装置20との接続を行う。 - 特許庁
A second set of relays control the connection of the metallic line test bus to the subscriber line.例文帳に追加
第二リレー群が、メタル回線テストバスの加入者回線への接続を制御する。 - 特許庁
To increase reliability in electrical continuity between a connection pad of a head slider and a connection terminal of a suspension in a test of the head slider.例文帳に追加
ヘッド・スライダのテストにおいて、ヘッド・スライダの接続パッドとサスペンションの接続端子との導通の信頼性を高める。 - 特許庁
Respective connection lines 31 of a cable 30 for the test are connected to a base part of a fixed terminal tube 21 for the connection terminals.例文帳に追加
各接触端子の固定端子管21の基部には試験用ケーブル30の各接続線31が接続されている。 - 特許庁
To provide a semiconductor device which can suppress degradation of junction strength between a connection pad and connection electrode caused by a test probe on the connection pad.例文帳に追加
接続用パッドへの試験用プローブによる接続パッドと接続電極との間の接合強度の低下を抑制できる半導体装置を提供する。 - 特許庁
A semiconductor device 10 is provided with a self-test connection selecting circuit 16, an error detecting circuit 17, and a test control circuit 18.例文帳に追加
半導体装置10にセルフテスト用の接続選択回路16、エラー検出回路17、テスト制御回路18を設ける。 - 特許庁
To provide a LAPD testing apparatus that eliminates the need for connection to a test apparatus such as a protocol analyzer or a switch compatible with the ISDN when carrying out an LAPD test.例文帳に追加
LAPD試験のとき、プロトコルアナライザ等の試験機もしくはISDN対応交換機との接続を不要とする。 - 特許庁
To provide a test method which can switch multistage test states only by the use of a few external connection terminals.例文帳に追加
僅かの外部接続端子の使用だけで多段のテスト状態の切り換えができるテスト方法を提供することを目的とする。 - 特許庁
Also, a connection test of each terminals can be performed by only terminals used for normal operation without providing an exclusive test terminal.例文帳に追加
また、専用の試験端子を設けることなく通常動作に使用する端子だけで各端子の接続試験が実行される。 - 特許庁
To provide a wire connection device with work efficiency or reliability improved at the time of carrying out of a withstand voltage test and an electric circuit verification test (sequence test) of a distribution panel.例文帳に追加
配電盤の耐電圧試験及び電気回路検証試験(シーケンス試験)を行う時の作業の効率や信頼性が向上する結線装置を提供する。 - 特許庁
At least two of the semiconductor chips have a connection test circuit and a switch circuit.例文帳に追加
半導体チップの少なくとも2つは、接続試験回路とスイッチ回路とを有している。 - 特許庁
The first test terminals are arranged in a pitch wider than that of the external circuit connection terminals.例文帳に追加
第1検査端子は、外部回路接続端子と比較して広いピッチで配置されている。 - 特許庁
To test a connection state between a reinforcement contact of a piezoelectric actuator and a wiring board.例文帳に追加
圧電アクチュエータの補強接点と配線基板との接続状態を検査すること。 - 特許庁
To provide a printer with a digital camera direct printing function, which allows a single body to make a connection test.例文帳に追加
単体で接続テストが可能なデジタルカメラダイレクト印刷機能付きプリンタを提供する。 - 特許庁
The trigger is then employed in connection with subsequent monitoring of signals within the test and measurement device.例文帳に追加
次に、試験測定装置内の信号の後続のモニタに関連して、トリガを用いる。 - 特許庁
When the connection characteristics of the connection mechanisms are different from each other, a second load test execution part 24 determines load test combination programs of the test program and the load program with load effects for each processor group classified according to the difference in connection characteristics, allocates them to the processors, and executes the load test.例文帳に追加
第2負荷試験実行部24は接続機構の接続特性に相違がある場合、接続特性の相違に応じて分類された複数のプロセッサ群毎に負荷効果のある試験プログラムと負荷プログラムとの負荷試験組合せプログラムを決定し、複数のプロセッサに割付けて負荷試験を実行する。 - 特許庁
A test invertor 21 is connected to a battery simulator 23 through the connection device 31, and the test invertor 21 is connected to a motor 24.例文帳に追加
供試インバータ21が接続装置31を介してバッテリシミュレータ23に接続され、また、供試インバータ21はモータ24に接続されている。 - 特許庁
Consequently, test of a multi-system portable terminal, system automatic identification of the portable terminal, connection test between terminals of different systems, test under interference with other system, self-diagnosis and remote test can be carried out.例文帳に追加
これによって、マルチシステム携帯端末の試験、携帯端末のシステム自動識別、異なるシステムの端末間における接続試験、他のシステムの干渉下における試験、自己診断およびリモート試験が可能となる。 - 特許庁
A test plug 3 is configured so that, when a plug part 31 is inserted into a test terminal port 10, a protective cover 5 covers a test plug body 30 except a plurality of connection plugs 32 protruding to the side opposite to the test terminal port 10.例文帳に追加
テストプラグ3は、プラグ部31がテスト端子口10に挿入された場合に、テスト端子口10とは反対側に突出する複数の接続プラグ32を除くテストプラグ本体30が保護カバー5で覆われる。 - 特許庁
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