「test-connection」に関連した英語例文の一覧と使い方(9ページ目) - Weblio英語例文検索

To enhance the reliability of piping capable of confirming the pressurized water resistance for any type of pipe line making, capable of performing hydraulic pressure test at the connection part of piping which is demanded of sealing performance.例文帳に追加

どのような配管路に対しても、止水性の求められている管の継手部分における水圧試験を行えるようにして、止水部の耐水圧性が確認でき、配管の信頼性を高める。 - 特許庁

Then, after the retention test is completed, the control circuit 10 secures electrical connection between the RAM 2 and an output terminal OUT, and outputs data held by the RAM 2 to the output terminal OUT.例文帳に追加

そして、リテンションテストが終了した後、コントロール回路１０は、ＲＡＭ２と出力端子ＯＵＴとの間の電気的接続を確保し、ＲＡＭ２に保持されたデータを出力端子ＯＵＴに出力する。 - 特許庁

To provide an anisotropic conductive film which shows high adhesive strength, excels in storage stability at from room temperature to 50°C, and has an enough performance after a reliability test, and to provide a connection, and a semiconductor device.例文帳に追加

高い接着強度を示し、室温〜５０℃での貯蔵安定性に優れ、かつ信頼性試験後も十分な性能を有する異方導電フィルム、接続体及び半導体装置を提供する。 - 特許庁

To provide a stacked semiconductor device in which a connection test can be accurately conducted even when a first and a second semiconductor device which are stacked have a common power supply line.例文帳に追加

積層された第１半導体装置及び第２半導体装置の電源ラインが共通になっている場合であっても、接続試験を正確に行うことができる積層半導体装置を提供する。 - 特許庁

To improve the production yield and manufacturing efficiency of semiconductor laser chip products by using a large semiconductor laser chip and a semiconductor laser chip connection bar for an intermediate test of the characteristics of a semiconductor.例文帳に追加

大サイズの半導体レーザーチップおよび半導体レーザーチップ連結バーを半導体特性の中間検査に用いることにより、製品の半導体レーザーチップの歩留まりおよび製造効率の向上を図る。 - 特許庁

At call connection, a load status is then checked for each of the relay servers 1b, 2b, 3b and if it is determined that a load is high, relay processing is shifted to a test relay server or other relay servers.例文帳に追加

そして、中継サーバ１ｂ、２ｂ、３ｂごとに呼接続時に負荷状況をチェックし、負荷が高いと判定した場合には中継処理を試験中継サーバやその他の中継サーバへ移行させる。 - 特許庁

The automatic wire connection device for electric instrument 100 performs the performance test of an electric instrument 50 including current terminals 52a to 52d and voltage terminals 53a to 53c protruded outward from a box 51.例文帳に追加

電気計器用自動結線装置１００は、ボックス５１外方へ突出する電流端子５２ａ〜５２ｄと電圧端子５３ａ〜５３ｃとを有する電気計器５０の性能試験を行なうものである。 - 特許庁

To provide an inter-LAN connection system that can effectively carry out a loopback test from a communication company to a termination point of a subscriber in the case of connecting a user LAN to a broadband LAN of the communication enterprise via an optical fiber transmission line.例文帳に追加

ユーザＬＡＮを通信事業者の広域ＬＡＮに光ファイバ伝送路を介して接続する際に、通信事業者側から宅内の終端点までのループバック試験を有効に実施する。 - 特許庁

Software for a test mode is written in a flash ROM 32b of a microcomputer 31 by using CAN communication by a flash ROM/EEPROM writer 5 connected to a connector 33 for external connection.例文帳に追加

外部接続用コネクタ３３に接続されたフラッシュＲＯＭ／ＥＥＰＲＯＭライタ５によって、ＣＡＮ通信を利用して、マイクロコンピュータ３１のフラッシュＲＯＭ３２ｂにテストモード用ソフトウエアを書き込む。 - 特許庁

To safely and easily conduct a characteristic test in a short time without requiring any preparative work and working for providing a connection connector in a relay side.例文帳に追加

継電器側に接続コネクタを設けるための予備的作業及び加工を必要とせず、特性試験を短時間で安全にかつ簡単に行うことができる継電器の特性試験用補助装置を提供する。 - 特許庁

Furthermore, a data error determination function section 140 compares a determination table with a confirmation result of the light-receiving level confirmation test function section 120 and a confirmation result of the ONU state confirmation test function section 130, determines the existence/non-existence of errors in connection information accumulated in the facility DB 110, and outputs the result of the determination.例文帳に追加

さらに、データ誤り判定機能部140が、判定テーブルと受光レベル確認試験機能部120による確認結果及びＯＮＵ状態確認試験機能部130による確認結果とを比較して、設備ＤＢ110に蓄積されている接続情報の誤りの有無を判定し、この判定結果を出力する。 - 特許庁

A connection between pads to be connected between the bare chips 103, 104 is electrically connected preliminarily on a probe card 102 to be inspected as a pseudo-multi-chip-module, and a defect in the multi chip module in a current consumption, a function test, an AC test or the like is thereby rejected in advance before wiring and the package sealing to reduce the yield loss.例文帳に追加

ベアチップ１０３、１０４間で接続されるべきパッド間の結線をあらかじめプローブカード１０２上で電気的に接続し、擬似的にマルチチップモジュールとして検査し、ワイヤリング及びパッケージ封止前に、消費電流、ファンクションテスト、ＡＣテストなどのマルチチップモジュール不良を事前にリジェクトすることで、歩留ロスを低減できる。 - 特許庁

Therein, when the connection with the image forming device is determined by the communication test, the communication test is completed, the communication with a center system 1 is permitted and, thereafter, the registered information including the installation information indicating the establishment, extension or alteration of the image forming device which is inputted beforehand is automatically transmitted to the center system 1.例文帳に追加

そして、通信テストによって上記画像形成装置との接続を確認できた場合は、通信テストを完了してセンタシステム１との通信を許可した後、先に入力された上記画像形成装置の新設，増設，あるいは変更を示す設置情報を含む登録情報をセンタシステム１へ自動的に送信する。 - 特許庁

Since a non-conductor coating 6 can be formed on only the first flat region 14a when a semiconductor device determined as an unacceptable product in the electric characteristic test is electrically disconnected from a common wiring, the burn-in test and the formation of the external connection terminal can be positively and stably formed.例文帳に追加

電気特性検査によって不良と判定された半導体装置を共通配線から電気的に切り離す際に第１の平坦領域１４ａのみに不導体被膜６を形成することができ、バーンイン試験および外部接続端子の形成を確実に安定して行うことが可能となる。 - 特許庁

This system is composed by forming a communication test execution means for executing a communication test to the general-purpose serial device by sequentially changing over a plurality of communication specifications respectively specified by destination address information prepared in advance and the communication condition in response to an automatic connection instruction from the development support device.例文帳に追加

開発支援装置からの自動接続指示に応答して、予め用意された宛先アドレス情報と通信条件との組み合わせでそれぞれ規定される複数の通信仕様を順次に切り換えて、汎用シリアルデバイスに対して通信テストを行う通信テスト実行手段を設けて構成する。 - 特許庁

Based on an appropriate reflow scope having no reduction in strength at connection interfaces acquired by performing a connection interface strength evaluation test, an appropriate reflow scope in a temperature profile having one temperature peak is acquired with the compound thickness of the connection interface determined uniquely by a thermal load as a standard.例文帳に追加

基板の電極部上に溶融温度を一定とした温度プロファイルを用いてはんだ接続を行い、それぞれ接続界面強度評価試験を行って求めた接続界面での強度低下のない適正リフロー範囲をもとに、熱負荷によって一意に決定される接続界面の化合物厚さを基準として、温度ピークを一つもつ任意の温度プロファイルでの適正リフロー範囲を求める。 - 特許庁

To provide a manufacturing method of a semiconductor device, which can manufacture a bump electrode high in connection reliability by enabling fine gaping, further can make a connection between terminals without using expensive anisotropy conductive film, and can easily execute a test high in connection reliability, a semiconductor device manufactured by it, a circuit substrate, an electro-optical device, and an electronic apparatus.例文帳に追加

狭ギャップ化が可能で接続信頼性の高い突起電極を製造することができ、さらに端子間の接続については高価な異方性導電膜を用いることなく行うことができ、しかも接続信頼性の検査も容易に行えるようにした、半導体装置の製造方法とこれによって得られる半導体装置、及び回路基板、電気光学装置、電子機器を提供する。 - 特許庁

To reduce a working time by minimizing a preparation work for a test of a terminal board side examiner and to improve quality due to test error eradication in a device which performs a connection test of an individual wiring between a terminal board supplying a control signal to an installed device such as a motor in the installed devices and a control panel supplying a control signal to the terminal board.例文帳に追加

設備機器におけるモータ等の設備機器に制御信号を供給する端子台２１ａａと、該端子台に制御信号を供給する制御盤１との間で個別配線１１の結線試験を行う装置において、端子台側試験者の試験のための準備作業を極力減少して作業時間の短縮を図るとともに、試験ミス撲滅による品質向上を可能とする。 - 特許庁

Using these test blocks, it is made possible to integrate a periodic test or on-demand test of the field devices to normal and continuous operations of the process control system or safety system without causing any scheduling problem or connection problem and without the need for relying on a maintenance person or other workers, thereby enabling better monitoring of the operation status of the field devices.例文帳に追加

これらの試験ブロックを用いることにより、フィールドデバイスの定期試験またはオンデマンド試験を、スケ−ジュール問題または接続問題を引き起こすことなく、また保守作業員または他の作業員に依存する必要もなく、プロセス制御システムまたは安全システムの通常のかつ継続した動作に統合することが可能になり、それにより、フィールドデバイスの動作ステータスをよりよく監視することが可能になる。 - 特許庁

For this reason, the test pattern can be set in all the function blocks 1a-1d, without changing the connection between the LSI tester and the semiconductor device, and the power supply current of the plurality of function blocks 1a-1d can be measured, in a short time.例文帳に追加

そのため、ＬＳＩテスタと半導体装置との接続を変更することなく、全ての機能ブロック１ａ〜１ｄにテストパターンを設定でき、複数の機能ブロック１ａ〜１ｄの電源電流を短時間で測定できる。 - 特許庁

To obtain a connection monitoring device which reliably detects that disconnection is resolved even when a time out period differs with received frames, and to provide a network apparatus using it, and a network test device.例文帳に追加

タイムアウト時間が受信したフレームで異なっている場合でも、接続切れの解消を確実に検出できる接続監視装置並びにこれを用いたネットワーク機器及びネットワーク試験装置を実現することにある。 - 特許庁

The interface apparatus according to this invention is characterized in that it is equipped with an interface device comprising multiple pins connected to a test terminal and a substrate terminal, and it has a mode-switch terminal for switching the connection destination of an inner loopback.例文帳に追加

本発明のインターフェース装置は、試験端子及び基板端子に接続された複数のピンを有するインターフェースデバイスを備え、内部ループバックの接続先を切り替えるモード切替端子を有することを特徴とする。 - 特許庁

The test control circuit 18 controls the connection selecting circuit 16, and sequentially switches one of the differential signal drivers 13a-13d and the differential signal receivers 14a-14d, and connects it to arbitrary one of the other.例文帳に追加

テスト制御回路１８は、接続選択回路１６を制御して、差動信号ドライバ１３ａ〜１３ｄ及び差動信号レシーバ１４ａ〜１４ｄの一方を、他方の任意の一つに順次切り替えて接続させる。 - 特許庁

When the connector cap 31 is semi-connected with the test connector 30, in closing the door 19 of the storing case the connector cap 31 is pressed by the door 19 in the connection direction.例文帳に追加

また、コネクタキャップ３１が試験用コネクタ３０に対して半接続状態にあるとき、収容ケース１８の扉１９を閉鎖すると、コネクタキャップ３１は扉１９によりその接続方向に押圧されるようにした。 - 特許庁

By switching this slide part 220 at a switch part 230 and continuously driving the connection component parts by one press 210, the electric wire test process, the electric wire press fitting process, and the cover part fitting process are continuously performed.例文帳に追加

このスライド部２２０を切換部２３０で切り換え、上記接続要素部品を連続的に一台のプレス機２１０で駆動することにより、連続的に電線検査工程、電線圧入工程、カバー部嵌合工程を行う。 - 特許庁

To detect whether a fail occurs in all DUTs when the DUTs have a plurality of pins, while setting the connection relationship between a semiconductor test apparatus and DUTs freely.例文帳に追加

半導体試験装置と被試験デバイスと接続関係を自由に設定しつつ、被試験デバイスに複数ピンが備えられている場合に全ての被試験デバイスにフェイルが生じているか否かを検出することを目的とする。 - 特許庁

To provide an electromagnetic clutch of a coupling for connecting and disconnecting power provided in a power transmission route of an automobile, which is hardly damaged to the connection part between the winding and lead wire of the coupling during the endurance test thereof.例文帳に追加

自動車の動力伝達経路に配置される動力断続用カップリングの電磁クラッチであって、動力断続用カップリングの耐久テスト時に巻線とリード線の結線部が損傷しない電磁クラッチを提供する。 - 特許庁

To provide an insulating member capable of simply and effectively insulating a wire connection part, of providing high airtightness and waterproofing capability and of allowing a test of insulation performance or the like after the insulation.例文帳に追加

電線接続部の絶縁処理を簡単に効率よく行うことができ、高い気密性、防水性が得られ、しかも絶縁処理後に絶縁性能などの試験を行うことが可能な絶縁処理部材を提供する。 - 特許庁

A monitor device arranged on the outside of the optical path is used to obtain a picture of a MENS array or transmit and receive a test signal through the cross connection device in order to detect the existence of mirror element drift.例文帳に追加

光学パスの外側に配置された監視デバイスを用いて、ＭＥＭＳアレイの画像を得るか、あるいはミラー素子ドリフトの存在を検出するために、交差接続装置を通ってテスト信号を送信し、受領する。 - 特許庁

The programmable device 21 is mounted on the board 20, receives the test signals transmitted from the programmable device 11, inspects the connection conditions of the respective signal lines, and transmits the inspected results to the programmable device 11.例文帳に追加

プログラマブルデバイス２１は、ボード２０に搭載され、プログラマブルデバイス１１から送信されたテスト信号を受信し、信号線それぞれの接続状況を検査するとともに、その検査結果をプログラマブルデバイス１１へ送信する。 - 特許庁

In a programmable device or a device for changing dynamically a logic constitution of data processing, a route delay test capable of corresponding to connection between processor elements changed according to the logic constitution is mounted beforehand on the device.例文帳に追加

プログラマブルデバイスあるいは動的にデータ処理の論理構成を変更するデバイスにおいて、論理構成に従って変更されるプロセサエレメント間の接続に対応可能な経路遅延テストをデバイスにあらかじめ実装しておく。 - 特許庁

These expected value generating means are composed in the same connection mode as the blocks in the single chip circuit to generate expected values by using the input supply group A supplied from the test vector supply means A.例文帳に追加

そして、これらの期待値生成手段を、１チップ回路内のブロックと同一の接続形態となるようにし、テストベクタ供給手段Ａから供給される入力信号群Ａを用いて、期待値を生成する。 - 特許庁

In a heat resistance test or the like, the lid 7 suppresses the deformation of the adhesive filling window 3b caused by thermal expansion of the adhesive 5, suppresses distortion of the ferrule 2, and further prevents optical loss from increasing during connection of the connector.例文帳に追加

耐熱試験等において蓋７が接着剤５の熱膨張による接着剤充填窓３ｂの変形を抑制し、フェルール２の歪みを抑制し、ひいてはコネクタ接続時の光損失増大を防止する。 - 特許庁

A transmission apparatus 1-31 transmits a loop control request frame, to which a code for requesting a loopback connection within the test object frame transmission interval is assigned to a particular area of a MAC frame, to a transmission apparatus 1-32.例文帳に追加

伝送装置１−３１は、試験対象のフレーム伝達区間の折返し接続を要求するコードをＭＡＣフレームの特定の領域に割当てたループ制御要求フレームを伝送装置１−３２に送信する。 - 特許庁

Connection of lead-out wiring lines and whether an input buffer 25 or output buffer 26 is broken can be confirmed using at least a part of the semiconductor constitution body 4, preferably, the test circuit portion 20.例文帳に追加

半導体構成体４の少なくとも一部、好ましくはテスト回路部２０を利用して、引出し配線の接続確認と入力バッファ２５及び出力バッファ２６の破壊有無の確認とを行なうことができる。 - 特許庁

To obtain an adhesive composition for connection in a circuit manifesting a high adhesive strength, excellent in storage stability at room temperature to 50°C, manifesting enough performance after a reliability test, and to provide a connected body and a semiconductor device.例文帳に追加

高い接着強度を示し、室温〜５０℃での貯蔵安定性に優れ、かつ信頼性試験後も十分な性能を有する回路接続用接着剤組成物、接続体及び半導体装置を提供する。 - 特許庁

This biosensor is made by forming electrodes and spacers on one or both of two insulative substrates together connected by a connection part, by folding up the two insulative substrates along the connection part, and by positioning the electrodes and spacers (and a puncture needle to be thrusted into the skin of a body under test for extracting a body fluid) between the insulative substrates.例文帳に追加

接続部によって繋がれた２枚の絶縁性基板上の一方または両方に、電極およびスペーサーが形成され、該接続部に沿って２枚の絶縁性基板を折り畳み、絶縁性基板間に電極、スペーサー(および被検体の皮膚を突き刺して体液を採取するための穿刺針)を位置させたバイオセンサー。 - 特許庁

To solve a problem that, in a four terminal measuring device implementing connection check by loading check current to wiring connecting between a measuring device and a test object, since it is required to cutoff a current source so that the measured current does not flow during the connection checking period or to reduce measured current value, constituent becomes complicated.例文帳に追加

計測装置と被測定物間を接続している配線にチェック電流を流して接続チェックを行う４端子計測装置において、接続チェックを行う間は測定電流が流れないように電流源を切り離すか、測定電流値を小さくしなければならず、構成が複雑になるという課題を解決する。 - 特許庁

The second switch 12 is provided between the first switch 11 and a high-frequency signal generation device 21 used at a test time, and performs selectively connection between the high-frequency signal generation device 21 and the first switch 11 or connection between the high-frequency signal generation device 21 and an open terminal by control from the outside.例文帳に追加

第２スイッチ１２は、第１スイッチ１１とテスト時に使用される高周波信号発生装置２１との間に設け、高周波信号発生装置２１と第１スイッチ１１との接続、または高周波信号発生装置２１と開放端子との接続を、外部からの制御によって選択的に行うようになっている。 - 特許庁

In this communication network system constituted of a server 1 which stores a web page carried in a hyper test format and a connection terminal 3 which reads a web page through an electric communication line 2 in the server 1, when the web page is read by the connection terminal 3, the look-ahead of the other Web page is operated in the priority order of category data.例文帳に追加

ハイパーテキスト形式で記載されたウェブページを記憶したサーバ１と、サーバ１に電気通信回線２を介してウェブページを読み込む接続端末３とからなる通信ネットワークシステムにおいて、接続端末３によりウェブページを読み込むときに、カテゴリデータに優先順位をつけて他のＷｅｂページを先読みする。 - 特許庁

To obtain a method of verifying connection between macros of an LSI capable of performing the verification of the propriety of connection between macros, without requiring man-hours of extracting only the net list from the subject of verification, the man-hours of making a test pattern, the man- hours of analyzing whether the subject of verification is connected correctly from the output pattern, and others.例文帳に追加

検証対象からネットリストだけを抽出する工数、テストパタンを作成する工数、出力パタンから検証対象が正しく接続されているか解析する工数等を必要とせず、マクロ間接続の正当性を短時間で行うことが可能なＬＳＩのマクロ間接続検証方式を得る。 - 特許庁

According to the three-core integrated connection box 1, a three-core integrated isolation case 6 is connected in a sealed state to the three-core integrated insulative connection unit 11 and an insulating oil 61 is injected into the three-core integrated isolation case 6 so that DC withstand voltage test is carried out on the CV cable 3.例文帳に追加

この３心一括型接続箱１は、３心一括遮蔽ケース６が３心一括絶縁接続ユニット１１に密封状態に接続され、３心一括遮蔽ケース６の内部に絶縁油６１が注入されることによって、ＣＶケーブル３に対してＤＣ耐電圧試験を行うことができる。 - 特許庁

This confirmation work is carried out in the procedure of (1) changeover to the new electronic interlocking device 20 from the existing electronic interlocking device 10, (2) a connection test of the new electronic interlocking device 20, (3) changeover to the existing electronic interlocking device 10 from the new electronic interlocking device 20, and (4) connection confirmation of the existing electronic interlocking device 10.例文帳に追加

この確認作業は、 現行の電子連動装置１０から新設の電子連動装置２０への切替、 新設の電子連動装置２０の接続試験、 新設の電子連動装置２０から現行の電子連動装置１０への切替、 現行の電子連動装置１０の接続確認、という手順で行われる。 - 特許庁

A test point insertion method includes: extracting a plurality of logic cones from a net list; generating an order for the plurality of logic cones based on a connection relation of logic cells in each of the plurality of logic cones; and setting a test point in each of the plurality of logic cones in turn in accordance with the order.例文帳に追加

テストポイント挿入方法は、ネットリストから複数のロジックコーンを抽出する工程と、複数のロジックコーンの各々に示される論理セルの接続関係に基づいて、複数のロジックコーンに対して一の順序を生成する工程と、その順序に従って順に複数のロジックコーンの各々にテストポイントを設定する工程とを備える。 - 特許庁

In the composite device for incorporating flash memory and CPU core chips 20 and 30 into one package, a CPU core 40 controls an I/O control circuit 34 to a signal connection state when the evaluation test is made, thus facilitating the evaluation test for the address and data of the flash memory and CPU core chips 20 and 30 that are laminated in the package.例文帳に追加

フラッシュメモリチップ２０およびＣＰＵコアチップ３０を１つのパッケージに内蔵する複合デバイスにおいて、評価テスト時には、ＣＰＵコア４０が入出力制御回路３４を信号接続状態に制御するので、パッケージ内に積層されたフラッシュメモリチップ２０およびＣＰＵコアチップ３０のアドレスやデータの評価テストが容易である。 - 特許庁