「test-connection」に関連した英語例文の一覧と使い方(11ページ目) - Weblio英語例文検索

Thereby, after the master chip 1 and a subordinate chip 2 are jointed, the operation confirmation of only the master chip 1 or the subordinate chip 2 and the connection confirmation of the master chip 1 and the subordinate chip 2 are enabled, by pressing test probes P against the parts of the extending part 14 which is drawn out to the outside of the junction region 12.例文帳に追加

これにより、親チップ１と子チップ２とが接合された後であっても、延設部１４の接合領域１２の外方に引き出された部分にテストプローブＰを押し当てて、親チップ１または子チップ２のみの動作確認や親チップ１と子チップ２との接続確認を行うことができる。 - 特許庁

The resin 8 protruding from the semiconductor chip A1 and the semiconductor chip B2 flows out to the region 21 lower than the mounting region and the region 21 for not mounting the semiconductor chip, which can eliminate a connection defect caused by an increase in thermal stress added to the projecting electrode 4 by a thermal shock test.例文帳に追加

半導体チップＡ１と半導体チップＢ２からはみだした樹脂８が、搭載領域よりも低い半導体チップを搭載しない領域２１上に流出し、熱衝撃試験で突起電極４に加わる熱応力の増大による接続不良を無くすことができる。 - 特許庁

To provide a semiautomatic combination balance which easily and surely can display various connection embodiments per interlock condition for each peripheral device and conduct transmission test of interlock signal when selectively arranging a plurality of peripheral devices that can be interlocked with an automatic combination balance.例文帳に追加

自動式組合せ秤と連動可能な複数の周辺装置を選択的に配設する際に、各周辺装置におけるインターロック条件ごとの様々な接続態様の表示やインターロック信号の送信試験を容易且つ確実に行うことができる半自動式組合せ秤を提供する。 - 特許庁

When video signals are transmitted through component signals from the tuner to the monitor and the harness connection is checked and tested for the bathroom television, the tuner outputs signals to the monitor for test display using at least blue or red.例文帳に追加

コンポーネント信号によってチューナ部からモニタ部に対して映像を送信するものにあっては、浴室に設置した際のハーネスの接続状態をチェックするテスト時に、モニタ部に、青と赤の内の少なくとも一方の色彩によるテスト用表示をさせる信号をチューナ部からモニタ部に出力するようにした。 - 特許庁

To provide a governor testing device, by which connection of an equipment, the analysis of data and the data reduction of a test result can be conducted easily in a short time, labor and a time can be reduced while an error on the reading of a measured data can be lowered and levelling for input conversion is made unnecessary.例文帳に追加

機器の接続やデータの解析および試験結果の整理が短時間にかつ容易にでき、労力と時間を削減できると共に、測定データの読み取り誤差を低減でき、入力換算のためのレベル調整が不要な調速機試験装置を提供する。 - 特許庁

The test circuit includes: a contact chain 50 which contains a plurality of serially-connected contact resistances R; transistors TR in which a source region 17a is electrically connected to a connection point P of the adjacent contact resistances R; and a fuse 22 whose one end is electrically connected to a drain region 17b.例文帳に追加

直列に接続された複数のコンタクト抵抗Rを含むコンタクトチェーン５０と、隣り合うコンタクト抵抗Rの接続点Pに、ソース領域１７ａが電気的に接続されたトランジスタTRと、ドレイン領域１７ｂに一端が電気的に接続されたヒューズ２２とを有する試験回路による。 - 特許庁

To provide a spark plug or the like, hardly generating cracks, dents or the like at a molten alloy part of an outer electrode chip with an outer electrode base material in a thermal cycle test, and capable of improving connection reliability between the outer electrode chip and the outer electrode base material through the molten alloy part.例文帳に追加

熱サイクル試験において外側電極チップと外側電極母材との溶融合金部にクラックやえぐれ等の不具合が生じにくく、溶融合金部を介した外側電極チップと外側電極母材との接続信頼性を向上させることができるスパークプラグ等を提供すること。 - 特許庁

At the time of emergency stop test operation, when the permanent magnet type synchronous motor detects connection changing of winding wire for generating larger torque than that of normal operation, a switching frequency of an inverter device for driving the permanent magnet type synchronous motor is set to be a lower value than that of the normal operation.例文帳に追加

非常止め試験運転時に、永久磁石式同期電動機が通常運転時よりも大きなトルクを発生するための巻線の繋ぎ換えを検出したときに、永久磁石式同期電動機を駆動するインバータ装置のスイッチング周波数を通常運転時よりも低い値に設定する。 - 特許庁

When positive charges are applied to the pad 1 for external connection at the time of an ESD test, a first N-channel MIS transistor 7 in the electrostatic discharge protective circuit 2 is turned off and a second N-channel MIS transistor 8 is turned on to lower the breakdown voltage of the electrostatic discharge protective circuit thus enhancing surge resistance.例文帳に追加

ＥＳＤ試験時に、外部接続用パッド１に正電荷を印加すると静電放電保護回路２の第１のＮチャネル型ＭＩＳトランジスタ７がオフし、第２のＮチャネル型ＭＩＳトランジスタ８がオンすることで、静電放電保護回路のブレークダウン電圧が低下し、サージ耐圧が向上する。 - 特許庁

Further, an electrical connection device includes a connector brought into contact with each corresponding electrode arranged at a position corresponding to each electrode of an object to be inspected to perform energization in a device brought into contact with an electrode of the object to be inspected to perform a test, and uses the contactor as a corresponding contactor.例文帳に追加

また、電気的接続装置は、被検査体の電極に接触して試験を行う装置において、上記被検査体の各電極に対応する位置に配設され当該各電極に接触して通電する接触子を備え、当該接触子として上記接触子を用いた。 - 特許庁

The circuit board according to an embodiment of the present invention includes: an active element that is mounted inside the circuit board and includes at least one connection terminal; a passive element of which one terminal is electrically connected to one of the connection terminals of the active element and the other terminal is electrically connected to a signal pad on a surface of the circuit board; and a test pad that is electrically connected to the one terminal of the passive element.例文帳に追加

本発明の一実施形態による回路基板は、回路基板の内部に実装されて、一つ以上の接続端子を含む能動素子、一端が前記能動素子の接続端子のうち一つと電気的に連結されて、他端が前記回路基板の表面の信号パッドと電気的に連結される受動素子、及び前記受動素子の前記一端と電気的に連結されるテストパッドを含む。 - 特許庁

To make checkable the connection state of each input/output terminal of a semiconductor integrated circuit loaded on a substrate without using a dedicated testing device, and to make testable the operation of the semiconductor integrated circuit by inputting a prescribed test pattern into each input/output terminal of the semiconductor integrated circuit loaded on the substrate.例文帳に追加

専用のテスト装置を用いずに、基板上に搭載された半導体集積回路の各入出力端子の接続状態をチェックすることができ、基板上に搭載された半導体集積回路の各入力端子に所定のテストパターンを入力し、半導体集積回路の動作をテストすることができるようにする。 - 特許庁

The semiconductor device is provided with a plurality of pads 21, for bump connection, which are formed mainly of aluminum on a semiconductor chip with a formed semiconductor element and to which bumps 7 connected to a package substrate are connected and pads 22, for test, which are connected to them so as to correspond to them and which are installed to perform an electric measurement and evaluation in a wafer states.例文帳に追加

半導体素子が形成された半導体チップ上に主としてアルミニウムにより形成され、パッケージ基板に接続するためのバンプ7 が接続された複数のバンプ接続用パッド21、および、これらに各対応して連なり、ウエハ状態で電気的測定評価を行うために設けられたテスト用パッド22とを具備する。 - 特許庁

A base frame 1 for forming a closed space S for compressing a test piece P by making connection so that the base frame 1 can be rocked via a pivot 2 is provided, and chucking blocks 3 that are connected outside the closed space S for compression are arranged at two pivots 2 that oppose each other in the pivots 2 for connecting the base frame 1.例文帳に追加

枢軸２を介して揺動可能に連結して試験片Ｐの圧縮用閉空間Ｓを形成するベースフレーム１を設け、前記ベースフレーム１を連結する枢軸２のうち、互いに対向する２本の枢軸２に圧縮用閉空間Ｓの外側においてそれぞれ連結するチャッキングブロック３を配置する。 - 特許庁

The data controller (16) receives text and EPG information from one or many permission data sources 20 through a communication connection, processes the received data with the internal database managing device of the controller (16), performs data compression and subsequently transmits the test information to the viewers under the control of a head end controller (34).例文帳に追加

データコントローラー（１６）は、１つまたは多数の許可データソース２０からのテキストおよびＥＰＧ情報を通信連結を通して受け取り、この受け取ったデータをそれの内部データベース管理装置で処理してデータ圧縮などを実施した後、ヘッドエンドコントローラー（３４）のコントロール下で上記テキスト情報をその視聴者に伝える。 - 特許庁

The terminal function section 124 sends a radio signal to a signal processing section of a base station 102 or 103 through an antenna of the base station 102, and call connection processing between the terminal function part 124 and a test server 112 is performed through the antenna of the base station 101, and the antenna and signal processing part 122 of the base station 102 (route 192).例文帳に追加

端末機能部１２４から、基地局１０１のアンテナを介して、基地局１０２又は１０３の信号処理部に無線信号を送信し、基地局１０１のアンテナと、基地局１０２のアンテナ及び信号処理部１２２とを介して（経路１９２）、端末機能部１２４とテストサーバ１１２との呼接続処理を実行する。 - 特許庁

To provide a safe press type pipe joint achieving O-ring primary water tight function by being caulked to be joined with a connection pipe, capable of discovering missing of tightening in a water pressure test without mistake by surely generating water leak before caulking, and capable of preventing liquid leak accident.例文帳に追加

接続パイプと結合するためにかしめを施すと、Ｏリング本来の水密機能が果たされることはもちろん、かしめ前においては確実に水漏れが生じるために、水圧試験において締め忘れを間違いなく発見でき、液漏れ事故を未然に防止し得る安全性の高いプレス式管継手を提供する。 - 特許庁

Then, by comparing signals detected by a signal detection section 540 with the test signals at the connection end at the side of a charging device 160 of the power lines PWR-H, PWR-C by means of the abnormality detection section 530, the disconnection and short-circuit of the power lines PWR-H, PWR-C are detected.例文帳に追加

そして、電力線ＰＷＲ−Ｈ，ＰＷＲ−Ｃの充電装置１６０側の接続端において、信号検出部５４０により検出された信号と、上記試験信号とを、異常検出部５３０で比較することにより、電力線ＰＷＲ−Ｈ，ＰＷＲ−Ｃの断線，短絡を検出する。 - 特許庁

In a continuity test a continuity probe 40 is inserted from forward in a tilted orientation with its leading end facing downward, guided through the notch groove 37 of the retainer 30 to the declining surface 38 on the back surface, inserted into the insertion groove 28 keeping its tilted orientation and touched with the top surface of relatively highly resilient connection section 16.例文帳に追加

導通検査を行う場合は、導通プローブ４０が先端を下に向けた斜め姿勢で前方から挿入され、リテーナ３０の切欠溝３７を通りその奥面の傾斜面３８で案内されるようにして、斜め姿勢のまま挿入溝２８に差し込まれ、比較的剛性の高い接続部１６の上面に当てられる。 - 特許庁

To provide a wafer tester which has no need for reinforcing designs or precise mechanisms at part for electrically connecting a probe card to a wafer measuring board to be mounted on a test head and can realize miniaturization of the probe card and a high-speed signal transmission line, even for increased electric connection terminals.例文帳に追加

本発明は、プローブカードとテストヘッドに装着されるウエーハ測定用ボードとの間を電気的に接続するに当り、各部での補強設計や精密機構が不要で、さらに電気的接続端子が増加しても、プロープカードの小型化と信号伝送路の高速化が確立できるウエーハ試験装置を提供する。 - 特許庁

A test-use switch 21d is disposed between a differential amplifying circuit 22 and a connection node which connects a capacitor 21b, a switch 21c and an output terminal of an operational amplifier 21a in a C-V converting circuit 21, and a high-voltage generating circuit 23 is provided for applying a high voltage Vpp to an inverting input terminal of the operational amplifier 21a.例文帳に追加

Ｃ−Ｖ変換回路２１におけるオペアンプ２１ａの出力端子とコンデンサ２１ｂやスイッチ２１ｃの接続点と差動増幅回路２２の間に検査用スイッチ２１ｄを備えると共に、オペアンプ２１ａの反転入力端子に高電圧Ｖｐｐを印加するための高電圧発生回路２３を備える。 - 特許庁

To test an electronic component without generating damage such as a crack or a chipped part in the electronic component, by connecting an external terminal of the electronic component to a connection terminal of a socket without applying a load concentratedly to a dust-deposited portion even when dust such as a small piece is deposited on a surface of the component.例文帳に追加

電子部品の表面に小片などのゴミが付着している場合であっても、ゴミが付着している部分に集中的に荷重をかけることなく、電子部品の外部端子をソケットの接続端子に接続し、電子部品に割れや欠けなどの損傷を発生させることなく、電子部品を試験する。 - 特許庁

To obtain a composite semiconductor integrated circuit device and its connection testing method which does not need any additional circuits inside LSIs, is consequentially capable of using existing LSI chips, suppresses increase in the number of external terminals (number of device pins) to a minimum, and dramatically improves a test function.例文帳に追加

ＬＳＩ内部に何ら付加的回路を必要とせず、したがって、既存のＬＳＩチップを用いることが可能であるとともに、外部端子数（デバイスピン数）の増加も最小限に抑えて、テスト機能を飛躍的に向上させた複合半導体集積回路装置、並びに、その接続試験方法を提供する。 - 特許庁

A management server 1 executes a Ping test, by accessing a camera system 4 by each prescribed timing, confirms a response from the camera system 4, inspects the connection state; and when the inspection result indicates that the camera system 4 is not connected normally, the management server 1 informs a notice destination corresponding to the user of this.例文帳に追加

管理サーバ１は、カメラシステム４を所定タイミング毎にアクセスすることによってＰｉｎｇテストを実施し、当該カメラシステム４からの応答を確認してその接続状態を検査した結果、カメラシステム４が正常に接続されていない場合には、その旨を当該ユーザ対応の通知先へ報告する。 - 特許庁

To provide a frame relay exchange capable of confirming the continuity of a PVC connection path without connecting a terminal provided with a continuity confirmation function and confirming the continuity at a call processing level without narrowing the range of usable DLCI even in the case that the frame relay exchange not provided with a function for recognizing a test frame coexists inside a frame relay network.例文帳に追加

試験フレームを認識する機能を持たないフレームリレー交換機がフレームリレーネットワーク内に混在した場合でも、導通性確認機能を持つ端末を接続することなくＰＶＣ接続パスの導通性確認を行い、使用可能なＤＬＣＩの範囲を狭めることなく呼処理レベルでの導通性確認を行えるフレームリレー交換機を提供する。 - 特許庁

To easily and surely test an electric connection state, that is, a thermocompressing bonding state between terminals through an anisotropic conductive film(ACF) 3, in a tape carrier package 1 mounted on a display panel 2 of a liquid crystal display device or the like using the ACF 3, and a method of manufacturing a flat display using the tape carrier package 1.例文帳に追加

液晶表示装置等の表示パネル２に異方性導電フィルム（ＡＣＦ）３を用いて実装されるテープキャリアパッケージ１、及びこれを用いる平面表示装置の製造方法において、ＡＣＦ３を介しての端子間の電気的接続の状態、すなわち熱圧着の状態を簡便かつ確実に検査できるものを提供する。 - 特許庁

To provide a compression caulking pipe joint in which water leakage is surely found during initial water pressure test when a caulking failure occurs during construction, causing no coming-off of a resin pipe, nor water leakage from a connection portion even after long-period use if normal caulking work is done, and to provide a connecting structure between the compression caulking pipe joint and the resin pipe.例文帳に追加

施工時にかしめ忘れがあった場合、初期水圧テスト時に確実に水漏れが生じ、正常なかしめが行われれば、長期使用後においても、樹脂管が抜けたり、接続部分から水漏れしたりすることがない圧縮かしめ管継手及びこの圧縮かしめ管継手と樹脂管との接続構造を提供する。 - 特許庁

First and second measurement signals output from a measurement board 2 via first and second signal transmission paths 21a, 22 are fast Fourier transformed, and the magnitude of the fundamental wave spectrum component of the measurement signal is compared with a theoretical value of the magnitude of the fundamental wave spectrum component of a first test wave to detect the presence of abnormality in a connection means 3.例文帳に追加

第１及び第２の信号伝送経路２１ａ、２２を介して測定ボード２から出力された第１及び第２の測定信号を高速フーリエ変換し、測定信号の基本波スペクトル成分の大きさと第１の試験波の基本波スペクトル成分の大きさの理論値とを比較して接続手段３の異常の有無を検出する。 - 特許庁

To provide a data processor and method for testing stability of a cell using a reliable, effective and practical (in connection with test time period) mechanism for detecting a defective memory cell that may malfunction in normal use due to unstableness of the cell caused by a hysteresis effect in a body region of transistors configuring the memory cell in a memory device.例文帳に追加

メモリ・デバイス内のメモリ・セルを構成するトランジスタのボディ領域の履歴効果が引き起こすセルの不安定性により通常の使用中に誤動作するかもしれない欠陥メモリ・セルの検出のための信頼できる効果的で現実的な（テスト時間に関して）メカニズムを用いて、セルの安定性をテストするデータ処理装置と方法を提供すること。 - 特許庁

The serial connection of a pair of MOS transistors 8 and 9 mutually inversely connecting sources and drains is provided parallel with a pull-down resistor 7, second pulse signal having an inverted waveform is extracted in a high speed test and the charges of a parasitic capacitor are sharply discharged through a pair of MOS transistors 8 and 9 to be turned on in response to the second pulse signal.例文帳に追加

ソースとドレインを互いに逆接続した一対のＭＯＳトランジスタ８，９の直列接続をプルダウン抵抗７と並列に設け、高速テスト時には反転波形を持つ第２のパルス信号を取り出し、第２のパルス信号に応答してオン動作する一対のＭＯＳトランジスタ８，９を通して寄生容量の電荷を急峻に放電させる。 - 特許庁

The regulations must indicate-- (a) the persons authorized to use the certification mark; (b) the characteristics to be certified by the certification mark; (c) how the certifying body is to test those characteristics and to supervise the use of the certification mark; (d) the fees, if any, to be paid in connection with the use of the certification mark; and (e) the procedures for resolving disputes. 例文帳に追加

規約は，次の事項を表示しなければならない。 (a) 証明標章を使用することを許可された者 (b) 証明標章により証明される特性 (c) 証明機関が当該特性を試験し，かつ，証明標章の使用を管理する方法 (d) 証明標章の使用に関して納付すべき手数料(ある場合)，及び (e) 紛争解決の手続 - 特許庁

This device is provided with a fuse 13 to stop the normal operation of an internal circuit by re-connecting to a connection path of a terminal 11 for test and an internal circuit and a dummy fuse 16 which is provided near the fuse 13, has the same shape as the fuse 13, and by which normal operation of the internal circuit cannot be performed by re-connecting.例文帳に追加

検査用端子１１と内部回路との接続経路上に、再接続することにより内部回路の正常動作が不可能になるヒューズ１３と、ヒューズ１３の近傍に設けられ、ヒューズ１３と同形状で、且つ再接続することにより内部回路の正常動作が不可能になるダミーヒューズ１６とが設けられている。 - 特許庁

A high frequency signal switching circuit 17 at the inspection of reception switches connection to connect an input terminal of a gain variable high frequency amplifier 2 and an output terminal of a local oscillator VCO 1, and the local oscillator VCO 1 provided in advance to provide a local signal to mixer circuits 7, 8 is selected as a test signal source.例文帳に追加

受信の検査の時に、高周波信号切り替え回路１７はゲイン可変高周波アンプ２の入力端子と局部発振器ＶＣＯ１の出力端子とを接続するように接続の切り替えを行い、ミキサ回路７・８にローカル信号を与えるために予め設けられた局部発振器ＶＣＯ１を、テスト信号源として選択する。 - 特許庁

A system configuration drawing part 1 draws the product configuration and the connection relation of a system as a configuration diagram, a drawing data analyzing part 2 judges what kinds of products exist in the system configuration diagram based on a database 3 for the drawing data analyzing part, and a cost calculating part 4 calculates a manufacturing and test costs for constituting a system product based on this judgement result.例文帳に追加

システム構成描画部１がシステムの製品構成、並びに接続関係をシステム構成図として描画し、このシステム構成図にどのような製品があるかを図面データ分析部２が図面データ分析部用データベース３に基づいて判断し、この判断結果に基づいて、システム製品を構成するための製作試験費用をコスト計算部４が計算する。 - 特許庁

To test the connection of the pads of the input-output terminals of LSIs 11 and 12 with external terminals extended outward from a single package in a composite semiconductor device constituted by providing the LSIs 11 and 12 in the package like the so called stacked package, multichip module, etc., without providing any special additional circuit nor increasing the number of the external terminals.例文帳に追加

いわゆるスタックドパッケージやマルチチップモジュール等のように単一のパッケージ内に複数のＬＳＩ１１，１２が設けられて構成される複合半導体装置において、各ＬＳＩ１１，１２の入出力端子のパッドと、パッケージ外へ延びる対応する外部端子との接続試験を、特別の付加回路を設けることなく、また外部端子数の増加を招くことなく行う。 - 特許庁

A logic simulation part 4 verifies the setup and hold time of a terminal by controlling the input to the virtual input terminal of the input buffer with virtual input terminal while using the input buffer with virtual input terminal in place of the ordinary input buffer by simulating the operation of a real circuit based on the contents in a logic connection information storage part 1, test vector storage part 2 and FB library 3.例文帳に追加

論理シミュレーション部４は論理接続情報記憶部１とテストベクトル記憶部２とＦＢライブラリ３との内容を基に実際の回路の動作を模倣し、通常の入力バッファの代わりに仮想入力端子付き入力バッファを用い、仮想入力端子付き入力バッファの仮想入力端子への入力を制御して端子のセットアップ及びホールドタイムを検証する。 - 特許庁

The operational test apparatus for USB interface comprises: a connection means for connecting a host device USB interface circuit 106 and a peripheral device USB interface circuit 107 each other; a CPU 100 for performing communication between the host device USB interface circuit 106 and the peripheral device USB interface circuit 107; and an operation panel 109 for displaying whether the communication via the CPU 100 has succeeded or not.例文帳に追加

ホスト装置側ＵＳＢインターフェース回路１０６と周辺装置側ＵＳＢインターフェース回路１０７とを相互に接続する接続手段と、前記ホスト装置側ＵＳＢインターフェースと前記周辺装置側ＵＳＢインターフェースとの間で通信を実行するＣＰＵ１００と、ＣＰＵ１００における通信結果の正否を表示する操作パネル１０９とを有する。 - 特許庁

The analysis system comprises equipment for evaluating an electric signal; a test element holder 23 for holding and positioning the assay element 6 at a measurement position; and at least one electrical contact element 4, used for generating electrical connection to the evaluation equipment for electrical contact to at least one electrical contact surface 16 of the assay element 6.例文帳に追加

該分析システムは、電気信号の評価用評価機器と、分析試験エレメント（６）を測定位置に保持し、かつ位置づけるための試験エレメントホルダー（２３）と、分析試験エレメント（６）の少なくとも１つの電気的接触表面（１６）と電気的接触をさせるために、また該評価機器に電気的接続を生じさせるために使用される少なくとも１つの電気的接触エレメント（４）とを含む。 - 特許庁

This three-dimensional random loop connection structure produced by bending continuous filaments having ≥300 dtex to form random loops, and bringing the loops into contact with each other in a melted state to fuse most of the contact portions, is characterized in that the compressive strain retention of the structure is ≥60% in a light resistance test using a carbon arc lamp.例文帳に追加

３００デシテックス以上の連続線状体を曲がりくねらせランダムループを形成し、夫々のループを互いに溶融状態で接触せしめて、接触部の大部分を融着させてなる三次元ランダムループ接合構造体であり、カーボンアーク燈による耐光試験において圧縮歪み保持率が６０％以上であることを特徴とする弾性網状構造体。 - 特許庁

To provide a method for manufacturing a semiconductor device wherein the problems are prevented such as a short circuit, an adhesion failure, and focus deviation etc., due to over-etching of wiring because the areas of overlapping regions for connection are randomly different, in a method for forming fine wiring which is a test pattern and wide leads connected to it on a semiconductor substrate by double exposure using two masks.例文帳に追加

テストパターンである微細配線とそれに繋がる幅広の引き出し配線とを２枚のマスクを用いた２重露光により半導体基板上に形成する方法において、繋ぎ合わせるオーバーラップ領域の面積がランダムに異なっていたため発生していた、配線のオーバーエッチングにより短絡、密着性不良、フォーカスずれ等の諸問題を発生させない半導体装置の製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a sheet-like probe allowing certain prevention of a positional shift of electrode structures and inspected electrodes caused by a temperature change in a burn-in test even if an inspection target is a large-area wafer of a diameter ≥8 inches or a circuit device having the inspected electrodes of an extremely small pitch to stably maintain an excellent electric connection state, and to provide a manufacturing method therefor and application thereof.例文帳に追加

検査対象が、直径が８インチ以上の大面積のウエハや被検査電極のピッチが極めて小さい回路装置であっても、バーンイン試験において、温度変化による電極構造体と被検査電極との位置ずれを確実に防止することができ、従って、良好な電気的接続状態を安定に維持することができるシート状プローブおよびその製造方法並びにその応用を提供すること。 - 特許庁

The performance test apparatus 102 for connection to electronic equipment 1 during use includes a means for designating the performance which the electronic equipment 1 should exercise and the output data to be outputted by the equipment, a means for requesting the electronic equipment 1 to exercise the designated performance and output the output data, and a means for receiving the output data transmitted from the electronic equipment 1.例文帳に追加

本発明は、電子機器１に接続して使用される動作試験装置１０２であって、電子機器１が実行すべき動作及び出力すべき出力データを指定する手段と、電子機器１に対して、指定された動作の実行及び出力データの出力を要求する手段と、上記電子機器１から送信された上記出力データを受信する手段とを含むことを特徴とする。 - 特許庁

The method includes the steps of: detecting via a host computer the connection of each instrument to the data communication network; uploading data received from each instrument to the host computer; processing the uploaded data on the host computer for operator review; and downloading configuration data from the host computer to each test instrument, the downloaded data including instrument-specific setup and control data.例文帳に追加

本方法は、各器具のデータ通信ネットワークへの接続を、ホストコンピュータを介して検出するステップと、各器具から受信されたデータをホストコンピュータへアップロードするステップと、アップロードされたデータを、オペレータのレビューのためにホストコンピュータ上で処理するステップと、構成データをホストコンピュータから各検査器具へダウンロードするステップとを備え、ダウンロードされたデータは、器具固有のセットアップおよびコントロールデータを有する。 - 特許庁

To change the capacitance with the change of a liquid surface level, the sensor is composed of a dielectric-covered electrode A composed of a rod-like conductor covered with a dielectric, a conductor electrode B for electric connection with a liquid under test, and an electrode fixing material C formed as a mounting structure on a tank top for electric insulation between the electrodes A, B and for mechanical holding of the electrodes.例文帳に追加

液面レベルの変化によって静電容量を変化させるために、棒状導体の表面を誘電体で被膜した誘電体被膜電極Ａと、被測定対象液と電気的に接続する導体電極Ｂと、誘電体被膜電極Ａ，導体電極Ｂ間の電気的絶縁と、電極の機械的保持およびタンク上部への取り付け用構造体としての電極固定材料Ｃで構成する。 - 特許庁

To provide a socket assembly for testing an IC chip, capable of improving reliability for electrical characteristics inspection by improving efficiency by selecting one of direct/indirect connection between a test board and the IC chip in accordance with its characteristics, and reducing the load capacity between probe pins through direct contact and terminals, the IC chip which uses the same, and a tester which uses the socket assembly.例文帳に追加

テストボードと集積素子との間の接続を集積素子の特性に従い直間接的方式のうちの一つを選ぶことにより効率性を高め、直接接続を通じたリードと端子との間の負荷容量を減らして電気的特性検査の信頼度を高めることができる集積素子テスタ用ソケット組立体とこれを用いる集積素子、及びこれを用いるテスタを提供するにある。 - 特許庁