「cross section analysis」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

To provide a device and a method for mass spectrometric analysis for the cross section of cut sample, immediately and with high sensitivity.例文帳に追加

試料を切断した断面を、直ちに、かつ、高感度に、質量分析する装置および方法の提供。 - 特許庁

To provide an analysis device that can perform highly precise analysis by taking an influence of a particle located in the depth direction into consideration, in magnetization distribution analysis for each particle in a two-dimensional cross section.例文帳に追加

２次元断面内にある各粒子の磁化分布の解析において、奥行き方向にある粒子の影響を考慮することにより精度よく解析する解析装置を提供する。 - 特許庁

From a cross-section analysis of the results of our questionnaire, we found some interesting trends in markets today.例文帳に追加

アンケート結果のクロスセクション分析により、私たちは今日の市場におけるいくつかの興味深い動向を発見した。 - Weblio英語基本例文集

Then, the analysis model of the gas is rotated around a rotating shaft of the tire at a uniform angular velocity in a meridional cross section of the created analysis model of the gas (a step S102).例文帳に追加

次に、作成した気体の解析モデルの子午断面内において一様な角速度で、前記気体の解析モデルをタイヤの回転軸周りに回転させる（ステップＳ１０２）。 - 特許庁

To shorten the structural calculation time of a heterogeneous macrostructure within a cross-section with periodicity only in one direction in structural analysis.例文帳に追加

構造解析において、１方向にのみ周期性を有し、断面内で不均質なマクロ構造の構造計算時間を短縮することである。 - 特許庁

To provide a member cross section examination method allowing a member constituting a construction structure to be arbitrarily selected; and to provide a recording medium having a program by the member cross section examination method stored and allowing a static elastic-plastic analysis and a dynamic elastic-plastic analysis by a member rigidity matrix corresponding to the member cross section examination result thereof.例文帳に追加

建築構造物を構成する部材を任意に選択可能にする部材断面検定方法を提供し、この部材断面検定法によるプログラムが格納され、この部材断面検定結果に対応した部材剛性行列により、静的弾塑性解析及び動的弾塑性解析を可能とするプログラムを格納した記録媒体を提供することを目的とするものである。 - 特許庁

To provide a method for counting the number of steel material in a steel material bundle by the image analysis of its cross-section, that is, means for counting the number of steel material without generating any error even when the section of a shadow or the variation of luminance is generated in a cross-sectional image.例文帳に追加

鋼材束中の鋼材本数をその断面の画像解析により計数する方法であって、断面画像に影の部分や輝度のバラツキがあっても、鋼材本数を誤差無く計数できる手段を提供する。 - 特許庁

That is, only a section surely determined as a normal steel material cross-sectional image is counted by the image analysis, and the image of the section is erased, and the number of steel material remaining in a non-erased section is counted by visual inspection.例文帳に追加

すなわち、画像解析で正常な鋼材断面像と確実に判断された部分のみを計数するとともにその部分の画像を消去し、未消去部分に残存する鋼材数を目視で計数する。 - 特許庁

To provide a sample analysis device equipped with a focusing ion beam machining/observation apparatus capable of carrying out superb cross-section observation of a sample in a short time.例文帳に追加

短時間で良好な試料の断面観察を行うことが可能な収束イオンビーム加工観察装置を備える試料解析装置を提供する。 - 特許庁

To provide a radar reflection cross section analysis device or the like analyzing a radar reflection cross section of an object when emitting an electric wave of a specific frequency to the object of an arbitrary shape incorporated with a frequency selection plate from an arbitrary incident angle.例文帳に追加

周波数選択板を組み込んだ任意形状の物体に対して任意の入射角度から特定の周波数の電波を放射した際の物体のレーダ反射断面を解析するレーダ反射断面解析装置等を提供することを課題とする。 - 特許庁

Analysis information change rates r_Ti, r_N of Ti and N constituting the sample 5 are calculated from relation data of an ionization cross section to (energy of a primary electron beam/binding energy).例文帳に追加

（一次電子線のエネルギー/結合エネルギー）に対するイオン化断面積の関係データから試料５を成すTiとNの分析情報変化率ｒ_Ti、ｒ_Nを算出する。 - 特許庁

Three-dimensional shapes around abdomens of many samples are measured by a three-dimensional shape measuring system 100, and a group of Fourier descriptors to describe a closed curve of a predetermined cross section (e.g. a cross section at a navel's height) of each of the three-dimensional shapes are calculated by a Fourier analysis part 206.例文帳に追加

多数のサンプルの腹部周りの三次元形状を三次元形状計測システム１００で計測し、それら各三次元形状の所定断面（例えば臍の高さでの断面）の閉曲線を記述するフーリエ記述子の組をフーリエ解析部２０６で計算する。 - 特許庁

To provide a device of processing/observing a minute sample and a method of processing/observing a minute sample, which can execute cross section observation and analysis of a wafer cross section from a horizontal direction to a vertical direction without dividing the wafer used as a sample, with high resolution, high precision and high throughput.例文帳に追加

試料となるウェーハを割ることなしにウェーハ断面を水平から垂直迄の方向からの断面観察や分析を高分解能，高精度かつ高スループットで行える微小試料加工観察装置および微小試料加工観察方法を実現することを目的とする。 - 特許庁

To provide a minute sample processing observation device and a minute sample processing observation method capable of executing cross-section observation and analysis of a wafer cross section from directions from a horizontal direction to a vertical direction without dividing a wafer used as a sample, with high resolution, high precision and high throughput.例文帳に追加

試料となるウェーハを割ることなしにウェーハ断面を水平から垂直迄の方向からの断面観察や分析を高分解能，高精度かつ高スループットで行える微小試料加工観察装置および微小試料加工観察方法を実現することを目的とする。 - 特許庁

To set samples stably on a Raman spectroscopic analysis apparatus as fixed to a sample holder for a cross-section cutting device and also to finely adjust samples for rotating to any angle.例文帳に追加

断面切削装置用試料ホルダーに固定したままで試料をラマン分光分析装置に安定して設置でき、さらに試料を任意の角度で回転させる微調整ができる。 - 特許庁

A cross statistical system comprises: space provision means having space provision recording section for providing extended real space; multiple concealment calculation means; and analysis means.例文帳に追加

本発明の横断統計システムは、空間提供記録部を有し、拡張現実空間を提供する複数の空間提供手段と、複数の秘匿計算手段と、分析手段とを備える。 - 特許庁

An analysis model forming section 11 forms an analysis model where rubber display cells formed of rubber molecule cells, cross-linking point cells, and filler cells are arranged at random, and frictional surface display cells are arranged adjacently to the rubber display cell arranged on the lowest part.例文帳に追加

解析モデル形成部１１は、ゴム分子セル、架橋点セル及び充填材セルからなるゴム表示セルがランダムに配置されるとともに、最も下方に配置されたゴム表示セルに隣接して摩擦面表示セルが配置された解析モデルを形成する。 - 特許庁

In the vibration analysis, a displacement of each node, in a node group for one round in a circumferential direction and existing at a same position within a meridional cross section of the analysis model, is defined by overlapping a product of at least one of sine and cosine waves as n-cycles of one circumferential round, in the analysis model with an additional freedom degree.例文帳に追加

振動解析では、解析モデルの子午断面内で同じ位置に存在する周方向１周分の節点群に含まれるそれぞれの節点の変位が、解析モデルの周方向１周をｎサイクルとした正弦波と余弦波との少なくとも一方と、追加自由度との積の重ね合わせで規定さる。 - 特許庁

The Fe alloy forged member which is drawn and forged in the axial direction becomes less dispersant in the composition measured on the analysis line similar to the shaft cross section on the shaft cross section, and less easily distorted even when heat- treated, and easily finished.例文帳に追加

これにより、前記軸線方向に延伸鍛造加工したＦｅ系合金鍛造部材は、その軸断面上における該軸断面と相似形を有する分析線上において測定された成分組成にばらつきが生じにくくなるため、熱処理を行っても歪みが生じにくく、加工仕上げが容易となる。 - 特許庁

To provide a minute sample working observation apparatus and a minute sample working observation method where cross-sectional observation and analysis of wafer cross section from horizontal direction up to vertical direction can be performed with high resolution, high precision and high throughput, without breaking the wafer which is to become samples.例文帳に追加

試料となるウェーハを割ることなしにウェーハ断面を水平から垂直迄の方向からの断面観察や分析を高分解能，高精度かつ高スループットで行える微小試料加工観察装置および微小試料加工観察方法を実現することを目的とする。 - 特許庁

To provide a trace sample working observation apparatus and a minute sample working observation method where cross-sectional observation and analysis of wafer cross section from horizontal direction up to vertical direction can be performed with high resolution, high precision and high throughput, without having to breaking the wafer which is to become samples.例文帳に追加

試料となるウェーハを割ることなしにウェーハ断面を水平から垂直迄の方角からの断面観察や分析を高分解能，高精度かつ高スループットで行える微小試料加工観察装置および微小試料加工観察方法を実現することを目的とする。 - 特許庁

To realize a minute sample processing observation device and a minute sample processing observation method where cross-sectional observation and analysis of a wafer cross section from a horizontal direction up to a vertical direction can be performed with high resolution, high precision and a high throughput, without breaking the wafer to be a sample.例文帳に追加

試料となるウェーハを割ることなしにウェーハ断面を水平から垂直迄の方向からの断面観察や分析を高分解能，高精度かつ高スループットで行える微小試料加工観察装置および微小試料加工観察方法を実現することを目的とする。 - 特許庁

To realize a micro testpiece processing and an observation device wherein cross-sectional observation and analysis of the wafer cross-section from horizontal to vertical direction can be made in high resolution and high precision with a high throughput, without splitting in pieces the wafer being a testpiece, and a micro testpiece processing and observation method.例文帳に追加

試料となるウェーハを割ることなしにウェーハ断面を水平から垂直迄の方向からの断面観察や分析を高分解能，高精度かつ高スループットで行える微小試料加工観察装置および微小試料加工観察方法を実現することを目的とする。 - 特許庁

To provide an apparatus and a method for observing the processing of a minute sample where the cross-sectional observation and analysis of a wafer cross section from a horizontal direction to a vertical direction can be performed with a high resolution, high precision and high throughput, without breaking a wafer being the sample.例文帳に追加

試料となるウェーハを割ることなしにウェーハ断面を水平から垂直迄の方向からの断面観察や分析を高分解能，高精度かつ高スループットで行える微小試料加工観察装置および微小試料加工観察方法を実現することを目的とする。 - 特許庁

To provide a device for processing and observing a microscopic sample and a method for processing and observing the same, whereby the cross-sectional observation and analysis of a wafer cross-section can be performed with high resolution, high precision and high throughput from various directions from horizontality to verticality without breaking a wafer used as a sample.例文帳に追加

試料となるウェーハを割ることなしにウェーハ断面を水平から垂直迄の方向からの断面観察や分析を高分解能，高精度かつ高スループットで行える微小試料加工観察装置および微小試料加工観察方法を実現することを目的とする。 - 特許庁

To achieve a minute sample processing observation device and a minute sample processing observation method where cross-sectional observation and analysis of a wafer cross section from a horizontal direction up to a vertical direction can be performed with high resolution, high precision and a high throughput, without breaking the wafer which is to become a sample.例文帳に追加

試料となるウェーハを割ることなしにウェーハ断面を水平から垂直迄の方向からの断面観察や分析を高分解能，高精度かつ高スループットで行える微小試料加工観察装置および微小試料加工観察方法を実現することを目的とする。 - 特許庁

To provide an analysis method for a formed body of forging process capable of applying whether a cross section slightly changing a cross sectional area before/after working can be set or not and visually grasping/discriminating whether its formability is normal or abnormal and to provide a medium recorded with its practice program.例文帳に追加

加工前後で断面積があまり変わらない断面を設定できるか否かにかかわらず適用でき，成形性の良否を視覚的に把握して判定できる鍛造工程の成形性の解析方法およびその実行プログラムを記録した媒体を提供すること。 - 特許庁

To realize a micro testpiece processing and observation device in which cross-sectional observation and analysis of the wafer cross-section from horizontal to vertical direction can be made in high resolution and high precision with a high throughput, without splitting in pieces the wafer being a testpiece, and a micro testpiece processing and observation method.例文帳に追加

試料となるウェーハを割ることなしにウェーハ断面を水平から垂直迄の方向からの断面観察や分析を高分解能，高精度かつ高スループットで行える微小試料加工観察装置および微小試料加工観察方法を実現することを目的とする。 - 特許庁

A W-CDMA analyzer is provided with a signal analysis section 20, that measures reception power for each communication channel of a received signal and with a detection section that displays power of each measured communication channel in cross reference with a short code number of respective communication channels.例文帳に追加

W−CDMA解析装置は、受信信号の各通信チャンネル毎に受信電力を測定する信号解析部２０と、測定された各通信チャンネルの電力値を、それぞれの通信チャンネルのショートコード番号に対応させて表示する表示部とを備えている。 - 特許庁

To provide a minute sample processing/observing device and a minute sample processing/observing method, which execute cress section observation and analysis of a wafer cross section from a horizontal direction to a vertical direction without dividing the wafer used as a sample, with high resolution, high precision and high throughput.例文帳に追加

試料となるウェーハを割ることなしにウェーハ断面を水平から垂直迄の方向からの断面観察や分析を高分解能，高精度かつ高スループットで行える微小試料加工観察装置および微小試料加工観察方法を実現することを目的とする。 - 特許庁

The syntax analysis section is in operation in cross-reference with an electronic program guide, this remote control system confirms a program available for viewing or recording via the electronic program guide and supplies a proper prompt to the user.例文帳に追加

上記構文解析部は電子番組ガイドと関連して動作し、本遠隔制御システムは、上記電子番組ガイドを介して視聴又は記録のために利用可能な番組を確認し、適当なプロンプトをユーザへ供給する。 - 特許庁

According to this surface roughness evaluating method of a component for an image forming device, a cross- section curve defined by JIS B0601 is found on the surface condition of the component to perform multiple resolution analysis on positional data rows in a surface roughness direction at equally spaced positions on the cross-section curve, and the state of the surface roughness is evaluated at least based on the result.例文帳に追加

画像形成装置用部品の表面の状態についてＪＩＳ Ｂ０６０１に定める断面曲線を求め、その断面曲線上の等間隔位置における表面粗さ方向の位置データー列の多重解像度解析を行い、少なくともその結果に基づいて表面粗さの状態を評価することを特徴とする画像形成装置用部品の表面粗さ評価方法。 - 特許庁

To provide an electron microscope holder having high X-ray detection efficiency even in an EDX analysis by an X-ray analyzer of a low angle for extracting a sample for TEM observation in cross section produced by the FIB processing and to provide a spacer for use therefor.例文帳に追加

ＦＩＢ加工により作製した断面ＴＥＭ観察用試料の、低取り出し角のＸ線分析器によるＥＤＸ分析においても、高いＸ線検出効率を有する電子顕微鏡ホルダー及びこれに用いるスペーサーを提供する。 - 特許庁

A light transmissive container of a cylindrical body having transparency and whose cross-section has an almost rectangular shape (the one in which at least a pair of confronted sides are transparent) is filled with an electrolytic solution 2 comprising an object for synthesis, an object for analysis or the like.例文帳に追加

横断面が略矩形状の筒状体で透明性を有する光透過性容器（少なくとも対向する一対の側面が透明な光透過性容器）に、被合成対象，被分析対象等を含んだ電解液２を充填する。 - 特許庁

To provide a technique capable of analyzing a segregation degree without polishing any cross-section surface of a cast piece sample, and capable of conducting the analysis of the segregation degree over a short period (about 2-4 hours) in which the process to be conducted is shifted from a continuous casting process to a rolling process.例文帳に追加

鋳片サンプル断面を研磨加工することなく偏析度の分析を行うこと可能であって、かつ、連続鋳造工程から圧延工程へ移行するまでの短時間（約２〜４時間）の間に偏析度の分析を可能とする技術の提供。 - 特許庁

A cross section of a thin film layer of which the dimensions are previously known is processed into a mirror finished surface, image data of a scanning electron microscope image is obtained, and thereafter the performance evaluation of the scanning electron microscope is stably and quantitatively executed by using a means such as a frequency analysis or the like.例文帳に追加

予め寸法の分かっている薄膜層の断面を鏡面加工し、走査形電子顕微鏡像の画像データを取得後、周波数解析等の手段を用いて、走査形電子顕微鏡の性能評価を安定かつ定量的に行う。 - 特許庁

After a groove 40 is formed in the vicinity of the analyzing region 30 of a sample 22, the cross section of the sample is exposed and the cut surface 50 thereof is set as an analyzing target surface, and the groove 40 appearing on the cut surface 50 is used as a mark to perform analysis to specify the analyzing region 30.例文帳に追加

試料２２の分析領域３０の近傍に溝４０を作成した後、試料断面を出してその切断面５０を分析対象面とし、切断面５０に表出した溝４０を目印として分析を行い、分析領域３０を特定する。 - 特許庁

This analyzer analyses the form of the blood vessel based on the created image and displays the created extension image and/or the orthogonal cross section image linked with the volume rendering image, the plane reformat image, or the MIP (maximum value projection) image along with the analysis result.例文帳に追加

この作成画像に基づいて血管の形態に関する解析を行うとともに、作成された伸展画像及び／又は直交断面画像を前記ボリュームレンダリング画像、平面リフォーマット画像、又はＭＩＰ（最大値投影）画像に対応させて、解析結果と共に表示する。 - 特許庁

To provide a design support technology for reducing operation man-hours, and for suppressing the occurrence of any operation mistake by automatically generating data for analysis for associating the nodes, independent nodes, and identification information of one-dimensional dummy elements configuring the mesh of a division cross-section.例文帳に追加

分割断面のメッシュを構成する一次元ダミー要素の、節点、独立節点、及び識別情報を関連付ける解析用データを自動的に生成でき、これにより作業工数の低減、作業ミスの発生の抑制ができる設計支援技術の提供を課題とする。 - 特許庁

To provide an electronic component built-in substrate, along with a manufacturing method thereof and an inspection method therefor, capable of readily and accurately inspecting an interlayer connection of a multilayer printed wiring board, regardless of the kind of removing method of insulating layer, without having to carry out cross-section analysis of a finished product of the multilayer printed wiring board.例文帳に追加

多層プリント配線基板の完成品の断面解析を行わず、絶縁層の除去方法の種類を問わずに、多層プリント配線基板の層間接続を簡便且つ精確に検査可能な電子部品内蔵基板、その製造方法、及びその検査方法を提供する。 - 特許庁

When the measurement of specific resistance is completed and a plurality of specific resistance values along each horizontal course of traverse 1 are obtained, a finite element model is prepared, and reverse analysis by a limited least square method is done to form a two-dimensional specific resistance cross section distribution drawing along each horizontal course of traverse 1.例文帳に追加

比抵抗の測定が終了し、各水平測線１に沿った複数個の比抵抗値が得られると、有限要素モデルを作成し、制限付き最小二乗法による逆解析を行い、各水平測線１に沿った二次元比抵抗断面分布図を作成する。 - 特許庁

The bead part is determined into a simplified finite element model whose cross section is composed of one or several finite elements and is defined by an anisotropic material to adjust Young's modulus and Poisson's ratio of the anisotropic material so that reaction force such as twisting and pulling-out when performing analysis agrees with actually measured reaction force (step 124).例文帳に追加

ビード部分をその断面が１又は数個の有限要素からなる簡略化した有限要素モデルに定めかつ異方性材料で定義し、解析を行ったときのねじりや引っ張りの反力が実測の反力と一致するように、異方性材料のヤング率やポアソン比を調整する（ステップ１２４）。 - 特許庁

To provide a shape of a sizing die having a die life longer than a life of a conventional die by optimizing the die shape by using an approach part radius R of the approach part A of a round cross section and a bearing part length L of the sizing die as a parameter with use of a CAE(calculation acid engineering) analysis for increasing a die life.例文帳に追加

金型寿命の向上を目的として、ＣＡＥ（計算支援技術）解析を用いて、サイジング用金型の一部である断面円形のアプローチ部Ａのアプローチ部半径Ｒと、ベアリング部長さＬをパラメータとして最適化を図って、従来よりも金型寿命の長いサイジング用金型形状を提供する。 - 特許庁

A bending limit strain is measured by putting a ruling line on a cross section of the plate material, and a bending forming portion and an elongation strain of an outermost layer bending center part are extracted from a forming analysis output result of a bending forming product made of the plate material, and existence of a bending crack is determined by comparing the elongation strain with the bending limit strain.例文帳に追加

板状素材の断面に罫書き線を入れて曲げ限界ひずみを測定し、この板状素材からなる曲げ成形品の成形解析出力結果から、曲げ成形部位とその最外層曲げ中心部の伸びひずみとを抽出し、この伸びひずみを前記曲げ限界ひずみと比較して曲げ割れの有無を判定する。 - 特許庁