意味 | 例文 (224件) |
depletion regionの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 224件
The resultant enhancement mode device (10) provides the excellent Schottky barrier having a high barrier, which prevents the unwanted surface depletion effect with a charge shield of the shield layer (22) in the region between the end of recessed part and the gate metal.例文帳に追加
結果として得られるエンハンスメントモードデバイス(10)は、高バリヤー高さを有する優れたショットキーバリヤーを与え、それは、凹部端とゲート金属との間の領域におけるシールド層(22)による電荷シールドを通じて望ましくない表面空乏効果を阻止する。 - 特許庁
For the p-type semiconductor layer 12, the impurity amount for each unit region is set higher than 3×1012/cm2 for avoiding entire depletion even if a reverse bias voltage is applied between the source electrode 13 and a drain electrode 14.例文帳に追加
このp型半導体層12は、ソース電極13とドレイン電極14間に逆バイアスの電圧が与えられても、完全には空乏化しないようにその単位面積当たりの不純物量が3×10^12/cm^2より多く設定されている。 - 特許庁
A reflection angle is made large, at an interface between the light-diffusion particle and the depletion part so that reflection of the fluorescent light converted by the scintillator layer 13 is produced in the small region, and suppresses lowering of the resolution or the luminance due to diffusion of the reflected light to long distance.例文帳に追加
光散乱性粒子と空乏部との界面での屈折角が大きくなり、シンチレータ層13により変換された蛍光の反射が小領域内で生じ、反射光の遠方拡散による解像度低下や輝度の低下を抑える。 - 特許庁
The super-junction semiconductor element makes a current flow in an ON state, and provides an n^-high-resistance layer 32a located between a semiconductor substrate region 32 which becomes depletion in an OFF state and a low-resistance layer 31, for having the same conductivity type as the low-resistance layer 31 and a low impurity concentration.例文帳に追加
オン状態では電流を流すとともに、オフ状態では空乏化する半導体基体領域32と低抵抗層31との間に低抵抗層31と同じ導電型で、かつ不純物濃度が低いn^-高抵抗層32aを設ける。 - 特許庁
Then, the shape of the magnetism sensor HP is made variable in response to the potential of these electrodes ED1, ED2, via the variation of the width of the depletion layer formed between an n-type semiconductor region 12 and the p-type electrodes ED1, ED2.例文帳に追加
そして、P型の電極ED1およびED2とN型の半導体領域12との間に形成される空乏層の幅変化を通じて、これら電極ED1およびED2の電位に応じて磁気検出部HPの形状を可変とする。 - 特許庁
To provide a semiconductor element that can naturally implement a cut-off state of a transistor and increase driving current by selecting the Fermi level of a source region so that the Schottky barrier can be substantially reduced with suppressing the generation of a depletion layer in the neighborhood of the interface with a metal region in a semiconductor region, and a semiconductor element structure having the semiconductor element.例文帳に追加
本発明は、かかる事情に鑑み、トランジスタの遮断状態を自然に実現し、半導体領域に金属領域との界面近傍の空乏層の形成を抑制しつつ、ショットキー障壁を実質的に下げることができるようにソース領域のフェルミ準位を選択することにより、駆動電流を増加させる半導体素子及び該半導体素子を備える半導体素子構造を提供することを課題とする。 - 特許庁
For this reason, a depletion layer formed in the junction of a P type well layer 102 and a P+ type semiconductor region 103a, and the fourth region 118 can be extended in the direction of the photoelectric transfer section 307, so that the parasitic capacitance can be reduced, electric potential fluctuation by signal charges can be magnified, and the output conversion efficiency can be enhanced.例文帳に追加
このため、P型ウエル層102及びP+型半導体領域103aと、第4領域118との接合部に形成される空乏層を光電変換部307の方向に延ばすことができるため、寄生容量を低減することができ、信号電荷による電位変動を大きくすることができ、出力変換効率を向上させることができる。 - 特許庁
To provide a manufacturing method of a semiconductor device comprising a capacitor whose lower electrode containing silicon, wherein the increase in contact resistance in the peripheral circuit region is suppressed and the depletion of the impurity introduced into silicon can be suppressed.例文帳に追加
下部電極がシリコンを含むキャパシタを備える半導体装置の製造方法であって、周辺回路領域でのコンタクト抵抗の上昇を抑え、且つ、シリコンに導入された不純物の空乏化を抑制可能な半導体装置の製造方法を提供する。 - 特許庁
A plurality of photodiodes 3 are formed on a p-type semiconductor substrate 1 by using pn junction, and a microlens 7 is arranged on each photodiode 3 for condensing incident light to a depletion layer region 4 formed at the pn junction of the photodiode 3.例文帳に追加
PN接合を用いてP型半導体基板1上に複数のフォトダイオード3を形成し、入射光をフォトダイオード3のPN接合部に形成されている空乏層領域4に集光するマイクロレンズ7をフォトダイオード3の上にそれぞれ配置する。 - 特許庁
However, because it became difficult to log the forest due to the depletion of raw wood in this region, Miso-yama was moved to Kiso-dani Valley which was in Owari Domain, also one of the Tokugawa Gosanke, after the 47th Shikinen Sengu, and it has stayed there ever since (only once returning to Osugi-dani Valley for the 51st Shikinen Sengu). 例文帳に追加
しかしながら、原木の枯渇による伐り出しの困難さから、第47回式年遷宮から同じ御三家の尾張藩の領地である木曾谷に御杣山は移動し、以降(第51回式年遷宮のみ大杉谷に戻ったが)木曽を御杣山としている。 - Wikipedia日英京都関連文書対訳コーパス
The reason why large current density is possible is that, under the prescribed voltage drop at both ends of the dielectric layer, effective negative electron affinity is realized at the 'cold' electrons of quasi-equilibrium condition that are accumulated in the depletion layer of the p region adjacent to the dielectric layer.例文帳に追加
高電流密度が可能となるのは、誘電体層の両端の所定の電圧降下のもとで、有効な負の電子親和力が、誘電体層に隣接したp領域の空乏層に蓄積された準平衡状態の「冷」電子について実現されるからである。 - 特許庁
In the power semiconductor device comprising a gate electrode 11 buried in a groove via a gate insulating film, a p-type depletion region enlargement layer 4 is provided between two n-type drift layers 3 and 5, and the groove is formed to reach the n-type drift layer 3.例文帳に追加
溝の中にゲート絶縁膜を介して埋め込まれたゲート電極11を備えた電力用半導体装置において、二つのn型ドリフト層3、5の間にp型空乏領域拡大層4を挟み、前記溝は、前記n型ドリフト層3に達するように形成される。 - 特許庁
The method of evaluating the silicon substrate includes forming a PN junction on a silicon substrate surface, irradiating a depletion region of the silicon substrate having the PN junction formed with an electron beam, and evaluating the silicon substrate from the wavelength and intensity of light emitted by the silicone substrate irradiated with the electron beam.例文帳に追加
シリコン基板表面にPN接合を作製し、PN接合が作製されたシリコン基板の空乏領域に電子線を照射して、電子線が照射されたシリコン基板から得られる発光の波長及び強度からシリコン基板の評価を行うシリコン基板の評価方法。 - 特許庁
When the cathode Cath has a positive potential and electrons are attracted thereto, the depletion layer spreads on the interface 4a of the channel layer 2 composed of n-GaN and the p-GaN region 4 to block the two-dimensional electron gas, and thereby no current flows between the cathode Cath and the anode An.例文帳に追加
陰極Cathが正電位となり電子が吸引されると、n−GaNから成るチャネル層2とp−GaN領域4との界面4aには空乏層が拡大して2次元電子ガスが阻止され、陰極Cathと陽極Anとの間には電流が流れない。 - 特許庁
To provide an image sensor in which when red, green and blue lights are made to be incident into each photodiode on a semiconductor substrate, a photo-charge by the red light is properly generated in an effective depletion region of the photodiode same as the photo-charge by the green and the blue lights, and also to provide its manufacturing method.例文帳に追加
半導体基板の各フォトダイオードに赤色光、緑色光、青色光が入射されるとき、赤色光による光電荷が、緑色光、青色光による光電荷と同様、フォトダイオードの有効空乏領域に適正に生成されるイメージセンサ及びその製造方法を提供する。 - 特許庁
Since a depletion layer being formed along the PN junction (11) is formed widely toward the inside of the second semiconductor region (2) having a relatively low concentration, the concentration of electric field to the side part junction face (11b) side can be mitigated from the bottom part junction face (11a) to the major surface (8).例文帳に追加
PN接合(11)に沿って形成される空乏層が、比較的低濃度の第2の半導体領域(2)内に向かって幅広に形成され、底部接合面(11a)から主面(8)まで側部接合面(11b)側での電界集中を良好に緩和することができる。 - 特許庁
A depletion layer is expanded from the floating-current blocking region 8 towards the n-type GaN layer 6 on turning off the semiconductor device, a potential is lowered in the n-type GaN layer 26 filled in the aperture 28, and the voltage is decreased across the front side and the back side of a gate-insulating film 20.例文帳に追加
半導体装置のオフ時に、浮遊電流ブロック領域8からn型のGaN層6に向かって空乏層が広がり、アパーチャー28を充填しているn型のGaN層26の電位が低下し、ゲート絶縁膜20の表面と裏面の間にかかる電位差が減少する。 - 特許庁
To provide a CMOS image sensor sensing red, green and blue lights easily by varying a back bias voltage being applied to a semiconductor substrate without using a color filter layer thereby varying the width of depletion region of a photodiode, and to minimize the effect of the back bias voltage on an element on the outside of the photodiode.例文帳に追加
カラーフィルター層を使用せず半導体基板にバックバイアス電圧を変えて、フォトダイオードの空乏領域の幅を変え、赤、緑、青光を容易に感知できるCMOSイメージセンサーを提供し、フォトダイオードの外側の素子にバックバイアス電圧の影響を最小化する。 - 特許庁
Impurity concentration in the channel region 30 of an MOS transistor is set higher at the end of a surface depletion layer 26 than on the surface of a semiconductor substrate 20 by providing an impurity concentration profile of linear or higher order function or Gaussian distribution.例文帳に追加
MOSトランジスタのチャネル領域30における不純物濃度を、深さ方向に対して1次以上の関数や、ガウス分布状などの形状を有する不純物濃度プロファイルを持たせて、半導体基板20表面における不純物濃度よりも、表面空乏層26端における不純物濃度を高くすることを特徴としている。 - 特許庁
To provide an underground heat storage type cogeneration system capable of preventing waste use of heat by seasons found in a conventional cogeneration system, simultaneously preventing the depletion of underground heat source of an underground heat source heat pump, supplying stable heating for a long period, and reducing CO_2 emissions in a cold region.例文帳に追加
従来のコジェネレーションシステムにおける季節による熱の無駄を防ぎ、また同時に、地中熱源ヒートポンプの地下熱源の枯渇を防ぎ、長期にわたり安定的な暖房を供給することが可能で、寒冷な地方に対して、CO_2排出量を削減することのできる地中蓄熱コジェネレーションシステムを得る。 - 特許庁
The heat generated in the region A by the gate operation of a complete depletion type SOI transistor is conducted to a contact layer 19, a metal wiring layer M1, a via layer 21, and a metal wiring layer M2, and further conducted to an uppermost metal wiring layer M6 via the heat conduction part 33, and radiated from the upper surface side of an insulating layer 17.例文帳に追加
領域Aにおいて、完全空乏型SOIトランジスタのゲート動作により発生した熱は、コンタクト層19、メタル配線層M1、ビア層21、メタル配線層M2に伝導され、さらに熱伝導部33を介して最上層のメタル配線層M6まで伝導され、絶縁層17の上面側から放熱される。 - 特許庁
A method for forming a MOSFET array includes a step for preparing a substrate, a step for forming ac conductor layer on the substrate, a step for injecting dopant species into conductor layer, a step for counter- doping the non-mask part of the doped conductor layer and masking a part of the doped conductor layer and step for forming a depletion conductor region on the substrate.例文帳に追加
本発明のMOSFETアレイを形成する方法は、基板を準備するステップと、基板上に導体層を形成するステップと、導体層中にドーパント種を注入するステップと、ドープした導体層の一部分をマスクするステップと、ドープした導体層の非マスク部分をカウンタ・ドープして基板上に空乏導体領域を形成するステップとを含む。 - 特許庁
A power amplifier of one embodiment comprises: at least one or more first growth ring gate structure formed in a semiconductor layer to perform power amplification operation; multiple second growth ring gate structures formed in the semiconductor layer to be adjacently positioned to surround the first growth ring gate structure in order to isolate the first structure from the surroundings by forming a depletion region by applying reverse bias when the first structure performs power amplification operation.例文帳に追加
一つの実施形態の電力増幅器には、半導体層に形成され、少なくとも1つ以上から構成され、電力増幅動作する第1のグロースリングゲート構造体と、半導体層に形成され、第1のグロースリングゲート構造体を取り囲むように隣接配置され、第1の構造体が電力増幅動作するときに、逆バイアスが印加されて空乏化領域が形成され、第1の構造体を周囲からアイソレートする複数の第2のグロースリングゲート構造体とが設けられる。 - 特許庁
The estimation for income surplus was made according to the following conditions: (i) net external assets increased by the accumulation of current account surplus (profit and loss due to foreign exchange and depletion of fixed assets are eliminated); (ii) as a result of the “dual-track” income balance structure, both external assets and external debts increased in scale without changing the ratio of assets and debts; (iii) as a result of the improved portfolio by asset type, the share of direct investments with relatively high rates of return expanded to the current UK level; and (iv) as a result of the improved portfolio by region, the share of securities investments in Asia expanded to the current UK level.例文帳に追加
具体的には、我が国が2030年に、①対外純資産は経常収支黒字幅の累積によって増加(為替等による損益や固定資産減耗は捨象)し、②所得収支構造の「複線的」構造の実現の結果として、対外資産、対外負債は、資産と負債の比率を維持したまま双方ともに規模を拡大し、③資産種別ポートフォリオの改善の結果、相対的に収益率の高い直接投資の比率が現在の英国並の水準まで拡大し、④地域別ポートフォリオの改善の結果、証券投資のアジア向け投資比率が現在の英国並の水準まで拡大、した場合の所得収支を試算した。 - 経済産業省
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