「defect detection」に関連した英語例文の一覧と使い方(6ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a pattern defect detector and a pattern defect detecting method capable of detecting a pattern defect without generating detection missing, and allowing the detection without lowering a detection speed, and without separating a defective area.例文帳に追加

パターンの欠陥を漏れなく検出し、検出速度を低下させず、欠陥領域を分離させずに検出可能なパターン欠陥検出装置及びその方法を提供する。 - 特許庁

In this defect detection method of the elongate member, the external defect, the surface defect and the internal defect of the elongate member 1 having the fixed sectional shape are detected.例文帳に追加

断面形状が一定の細長部材１の外形欠陥、表面欠陥及び内部欠陥を検出する細長部材の欠陥検出方法。 - 特許庁

To provide a defect detection system for accurately detecting a cause of defect of a semiconductor device.例文帳に追加

半導体装置の不良原因を高精度に検出可能な不良検出システムを提供する。 - 特許庁

To provide a defect detection method capable of precisely detecting a defect of an array substrate.例文帳に追加

アレイ基板の欠陥を精度良く検出することができる欠陥の検出方法を提供する。 - 特許庁

To detect a defect by pixels by avoiding a detection error by an artificial defect.例文帳に追加

疑似欠陥による誤検出の問題を回避して、画素単位の欠陥の検出を行うこと。 - 特許庁

Self-diagnosis is conducted based on detection of the false defect as a prescribed defect signal.例文帳に追加

この疑似欠陥が所定の欠陥信号として検出されるかどうかにより、自己診断を行う。 - 特許庁

A database 24 previously stores relation between the times of defect detection and the defect occurrence rate.例文帳に追加

データベース２４には、欠陥検出回数と不良発生率との関係が予め格納される。 - 特許庁

DEFECT INSPECTION METHOD AND ITS SYSTEM, AND DEFECTIVE AREA DETECTION METHOD FOR AUTOMATIC DEFECT CLASSIFICATION例文帳に追加

欠陥検査方法とその装置、及び欠陥の自動分類のための欠陥位置検出方法 - 特許庁

The presentation means 21 presents the defect candidate detected by the defect candidate detection part 20.例文帳に追加

提示手段２１は前記欠陥候補検出部２０で検出された欠陥候補を提示する。 - 特許庁

To provide a color filter defect detection method for easily detecting a growth type common defect.例文帳に追加

成長型共通欠陥を容易に検出可能なカラーフィルタの検査方法を提供すること。 - 特許庁

The position specified by the defect detection process corresponds to the site where the surface defect occurs.例文帳に追加

欠陥検出処理で特定された位置が表面欠陥の発生している箇所に相当する。 - 特許庁

METHOD OF DETERMINING DEFECT SIZE OF PATTERN USED TO EVALUATE DEFECT DETECTION SENSITIVITY AND METHOD OF CREATING SENSITIVITY TABLE例文帳に追加

欠陥検出感度評価用パターンの欠陥サイズ算出方法及び感度表作成方法 - 特許庁

A defect determination part 38 determines the presence/absence of a defect in each of the plurality of detection circuits U according to the detection signal S of each of the detection circuits U.例文帳に追加

欠陥判定部３８は、複数の検出回路Ｕの各々における欠陥の有無を当該検出回路Ｕの検出信号Ｓに応じて判定する。 - 特許庁

A detection frequency integration part 112 integrates a detection frequency of the defect of the monitored equipment.例文帳に追加

検知回数積算部１１２は、被監視機器の不具合の検知回数を積算する。 - 特許庁

MULTIPLE ILLUMINATION PATH SYSTEM AND METHOD FOR DETECTION OF DEFECT例文帳に追加

欠陥検出のための複数照明経路システム及び方法 - 特許庁

IMAGE DEFECT CORRECTION SYSTEM OF IMAGING DEVICE USING DIRECTION DETECTION例文帳に追加

方向検出を用いた撮像デバイスの画像欠陥補正システム - 特許庁

METHOD FOR AUTOMATIC DETECTION OF RED-EYE DEFECT IN PHOTOGRAPHIC IMAGE DATA例文帳に追加

写真画像データにおける赤目欠陥の自動識別方法 - 特許庁

To enhance the detection sensitivity of a defect in TFT array inspection.例文帳に追加

ＴＦＴアレイ検査において欠陥の検出感度を高める。 - 特許庁

To shorten the test time for leak defect detection of a driver circuit.例文帳に追加

ドライバ回路のリーク不良検出のテスト時間を短縮する。 - 特許庁

OPTICAL DISK DRIVE, AND DEFECT AREA DETECTION METHOD FOR OPTICAL DISK例文帳に追加

光ディスク装置及び光ディスクの欠陥領域検出方法 - 特許庁

PIXEL DEFECT DETECTION/CORRECTION DEVICE AND IMAGE PICK- UP DEVICE USING THE SAME例文帳に追加

画素キズ検出・補正装置およびそれを用いた撮像装置 - 特許庁

DETECTION SIGNAL PROCESSING METHOD FOR PERIODIC DEFECT, AND DEVICE THEREFOR例文帳に追加

周期性欠陥の検出信号処理方法及びその装置 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE AND DETECTION METHOD FOR ITS SHORT DEFECT LOCATION例文帳に追加

半導体装置およびそのショート欠陥箇所の検出方法 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR DEFECT DETECTION BASED ON SHAPE FEATURE例文帳に追加

形状特徴に基づく欠陥検出の方法及び装置 - 特許庁

The non-reviewed defect is supplied with the defect class having the identical definition, by using a defect data set which relates to defects of an inspection apparatus at a defect detection event, and the defect class of the reviewed defect given by an ADC of a review system.例文帳に追加

欠陥検出時の検査装置の欠陥に関する欠陥データとレビュー済み欠陥のレビュー装置のADCで与えられた欠陥クラスを用いて，レビューしていない欠陥に対して同じ定義の欠陥クラスを付与する。 - 特許庁

The first defect detection for detecting the first true device defect, and the second defect detection for detecting the second true device defect and a pseudo defect together are performed by using inspection signals having each different signal pattern.例文帳に追加

異なる信号パターンの検査信号を用いることで、第１の真のデバイス欠陥を検出する第１の欠陥検出と、第２の真のデバイス欠陥と擬似欠陥とを合わせて検出する第２の欠陥検出とを行う。 - 特許庁

To provide a defect detection method of a structure and a defect detection device of the structure capable of quantitative evaluation of existence of a defect more surely by a simple constitution.例文帳に追加

簡易な構成で、かつ、より確実に欠陥の有無の定量評価が可能な、構造物の欠陥検出方法および構造物の欠陥検出装置を提供する。 - 特許庁

To provide a surface defect detector and a surface defect detection method which improve detection accuracy of a surface defect by setting a threshold value adapted to a frequency distribution of brightness of a surface image according to a variation of formation.例文帳に追加

地合の変動による表面画像における輝度の度数分布に適合した閾値を設定することにより、表面欠陥の検出精度を向上させる。 - 特許庁

To provide a defect detection method and a defect detection device capable of detecting a defect of the surface state of an inspection object with extremely high accuracy.例文帳に追加

検査対象物の表面状態の欠陥を極めて高精度に検出することが可能な欠陥検出方法及び欠陥検出装置を提供すること。 - 特許庁

The defect inspection apparatus 1 comprises a boundary emphasis section 12 having the above functions, a defect detection section 13, and a defect count section 14.例文帳に追加

欠陥検査装置１は、上記機能を有する境界強調部１２、欠陥検出部１３及び欠陥計数部１４からなる。 - 特許庁

A defect occurrence rate deriving part 22 derives the defect occurrence rate, based on the times of defect detection obtained by the defect identification determining part 21 with referring to the database 24.例文帳に追加

不良発生率導出部２２は、データベース２４を参照して、欠陥同一判定部２１によって求められた欠陥検出回数から不良発生率を導出する。 - 特許庁

An irregular defect is detected in image data wherein the point/strain defect is repaired in the point/strain defect repair process ST200 (irregular defect detection process ST300).例文帳に追加

点・シミ欠陥修補工程ＳＴ２００にて点欠陥・シミ欠陥が修補された画像データにおいてムラ欠陥を検出する（ムラ欠陥検出工程ＳＴ３００）。 - 特許庁

A defect detecting part 15 determines whether a pattern defect is found based on the respective difference image detection results.例文帳に追加

欠陥検出部１５は、それぞれの差画像検出結果をもとに、パターン欠陥の有無を判定する。 - 特許庁

To reduce detection sensitivity for a defect having a low degree of influence as a defect to conduct inspection.例文帳に追加

本発明は、欠陥として影響度の小さい欠陥の検出感度を低下して欠陥検査を行う。 - 特許庁

To provide an inspection method for a defect of a honeycomb filter that improves detection precision of the defect more.例文帳に追加

欠陥の検出精度をより向上できる、ハニカムフィルタの欠陥を検査する方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a defect detector and a defect detection method for reducing false detections of defects.例文帳に追加

欠陥を誤って検出することが少ない欠陥検出装置及び欠陥検出方法を提供する。 - 特許庁

A defect detection part 25 extracts a defect on an inspection object by using the reduced image information.例文帳に追加

欠陥検出部25は、縮小画像情報を用いて検査対象物上の欠陥を抽出する。 - 特許庁

SHADING CORRECTION METHOD, DEFECT DETECTION METHOD, AND DEFECT DETECTOR AND CONTROL METHOD PROGRAM THEREOF例文帳に追加

シェーディング補正方法、欠陥検出方法、欠陥検出装置、欠陥検出装置の制御方法プログラム - 特許庁

To improve a defect inspection in detection sensitivity for a minute defect while suppressing generation of pseudo defects.例文帳に追加

欠陥検査において、疑似欠陥の発生を抑制しつつ、微小欠陥の検出感度を向上する。 - 特許庁

DEFECT DETECTOR, WIRING AREA EXTRACTOR, DEFECT DETECTION METHOD, AND WIRING AREA EXTRACTING METHOD例文帳に追加

欠陥検出装置、配線領域抽出装置、欠陥検出方法および配線領域抽出方法 - 特許庁

CUTTING DEFECT DETECTION METHOD IN PLASMA MACHINE AND DEVICE THEREFOR例文帳に追加

プラズマ加工機における切断不良検出方法およびその装置 - 特許庁

APPARATUS AND METHOD FOR DETECTION OF DEFECT IN SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体装置の欠陥検出装置および欠陥検出方法 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR PROCESSING RECORDING MEDIUM, AND DEFECT DETECTION METHOD例文帳に追加

記録媒体処理装置及び方法、並びに欠陥検出方法 - 特許庁

DEVICE, METHOD AND PROGRAM FOR IMAGE QUALITY DEFECT DETECTION例文帳に追加

画質欠陥検出装置、画質欠陥検出方法およびプログラム - 特許庁

DEFECT DETECTION DEVICE FOR LAMINATED BODY AND INSPECTING DEVICE FOR FUEL CELL例文帳に追加

積層体の欠陥検出装置及び燃料電池の検査装置 - 特許庁