「defect detection」に関連した英語例文の一覧と使い方(11ページ目) - Weblio英語例文検索

The media defect detection circuit 112 can operate to identify a media defect, and the anchor fixing circuit 114 can operate to identify a location based on the criterion of the media defect.例文帳に追加

媒体欠陥検出回路１１２は、媒体欠陥を識別するように動作可能であり、アンカ固定回路１１４は、その媒体欠陥を基準とするロケーションを識別するように動作可能である。 - 特許庁

When the defect of the track such as the scratch is formed in the optical disk 10, the defect is detected with a defect detecting part 16a in an RF amplifier 16, and a detection signal is supplied to a servo signal processing part 18.例文帳に追加

光ディスク１０に傷などのトラック欠陥が生じた場合、ＲＦアンプ１６内のディフェクト検出部１６ａで検出し、検出信号をサーボ信号処理部１８に供給する。 - 特許庁

A defect detection circuit 12 compares the picture signal of a target pixel with the picture signal of peripheral pixels, detects a pixel defect candidate and stores the address information of the pixel defect candidate in a position memory circuit 13.例文帳に追加

欠陥検出回路１２で目標画素の画像信号を周辺画素の画像信号と対比して画素欠陥候補を検出し、画素欠陥候補のアドレス情報を位置メモリ回路１３に記憶する。 - 特許庁

The defect detection sensitivity is inspected by using a mask for defect inspection having a photomask pattern which includes a basic pattern and a pattern defect comprising a resist pattern at a specified position of the basic pattern.例文帳に追加

基本パターンと、基本パターンの所定の位置に、レジストパターンにより形成されたパターン欠陥とを含むフォトマスクパターンを有する欠陥検査用マスクを用いて、欠陥検出感度検査を行う。 - 特許庁

To manufacture the artificial defect of TBC(thermal barrier coating) with its thickness and shape changed and to obtain a defect detection limit in an actual machine.例文帳に追加

本発明は、ＴＢＣの人工欠陥を厚さや形状を変えて製作でき、実機における欠陥検出限界を求めることを課題とする。 - 特許庁

To provide a method and apparatus for inspecting the defect of a filter, which can improve a detection accuracy of the defect, while using liquid particles.例文帳に追加

液体粒子を使いつつ、欠陥の検出精度をより向上できる、フィルタの欠陥の検査方法、及び、フィルタの欠陥の検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a defect inspection apparatus capable of highly accurately detecting pattern defects without reducing the light quantity of a laser beam used for defect detection.例文帳に追加

欠陥検出に用いるレーザ光の光量が低減することなく、パターン欠陥の検出を高感度にて行うことができる欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a defect inspecting device having exact defect detection sensitivity even for a phase shift mask such as a halftone mask and a Levenson mask.例文帳に追加

ハーフトーンマスクやレベンソンマスク等の位相シフトマスクについても、正確な欠陥検出感度を備えた欠陥検査装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

Immediately before this, sample data for a control signal obtained within a prescribed time corresponding to a delay in detecting the defect dependent on a defect detection means is stored.例文帳に追加

この直前に、ディフェクト検出手段に依存するディフェクトの検出遅れに相当する所定時間内に得られる制御信号のサンプルデータが記憶される。 - 特許庁

To provide an ultrasonic flaw detection testing technique capable of evaluating a shape of a defect, even when a direction of the defect existing in a testing object 4 is unknown.例文帳に追加

試験体４に存在する欠陥の向きが不明である場合にも、欠陥の形状を評価することができる超音波探傷試験技術を提供する。 - 特許庁

Further, the defect for fine alignment is selected on the basis of the inclination of a detection value on the size of a defect on the substrate for calibration detected by the inspection device.例文帳に追加

更に、検査装置によって検出した校正用基板の欠陥サイズの検出値の傾向に基づいて、ファインアライメント用の欠陥を選定する。 - 特許庁

To provide a point defect detection method by which a point defect can be detected without the need for any exclusive circuit and that is used for a picture signal processor.例文帳に追加

専用の回路を必要とせず、点欠陥の検出を行なうことができる画像信号処理装置で用いられる点欠陥検出方法を提供する。 - 特許庁

To provide a leakage flux flaw detecting method for stably discriminating a surface defect from an internal defect and performing detection regardless of measuring conditions.例文帳に追加

測定条件の変化によらず安定して、表面欠陥と内部欠陥を区別して検出することが可能な漏洩磁束探傷方法を提供する。 - 特許庁

Defect detection is done for each segment produced by plurally segmenting the width direction of the thin steel sheet, marking is done for each segment where a defect exists.例文帳に追加

欠陥の検出は、薄鋼板１の幅方向を複数に区分して、各区分ごとに行われており、マーキングも欠陥が存在する区分ごとになされる。 - 特許庁

To provide a defect-inspecting device and method for reliably detecting the defect (spot) of an inspection target with improved detection sensitivity.例文帳に追加

良好な検出感度で、検査対象物の欠陥（斑）を確実に検出することができる欠陥検査装置および欠陥検査方法を提供する。 - 特許庁

A defect state judging circuit 424 determines a defect state variable DET by subtracting the slack variable OCCNT from the difference detection variable DEFDET.例文帳に追加

欠陥状態判定回路４２４は、差分検出変数ＤＥＦＤＥＴから緩和変数ＯＣＣＮＴを減じた値を欠陥状態変数ＤＥＴとする。 - 特許庁

The defect detecting device sets and stores a size of a defect subject to a detection, receives a specification of a first direction where the background pattern is uniformly continued and stores it.例文帳に追加

検出対象の欠陥のサイズを設定して記憶し、背景模様が一様に連続している第一の方向の指定を受け付けて記憶する。 - 特許庁

To provide a stripe defect detection method and a device thereof capable of detecting a stripe defect highly accurately without detecting a bright point or a black point.例文帳に追加

輝点や黒点を検出することなく、筋状欠陥を高精度に検出することができる筋状欠陥検出方法及び装置を提供する。 - 特許庁

To provide a defect detection device capable of discriminating and detecting simultaneously an internal defect and a surface flaw of a material to be measured.例文帳に追加

被測定材の内部欠陥と表面疵を同時に識別して検出することが可能な欠陥検出装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

To discriminate a defect generated on a rolled film according to its characteristics, and to execute defect detection accurately and surely without erroneous-discrimination.例文帳に追加

ロール状フィルムに生じる欠陥をその特性に応じて判別できるようにして、誤判別することなく、正確、かつ確実に欠陥検出できるようにする。 - 特許庁

To provide a defect pixel detection method for a solid-state image pickup element that can accurately detect a defect pixel of a white spot.例文帳に追加

この発明は、白点の欠陥画素を正確に検出することができる固体撮像素子の欠陥画素検出方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a pattern defect inspection apparatus and an inspection method having enhanced pixel resolution and high defect detection performance, by excluding the noise due to radiation.例文帳に追加

画素分解能を高め、また、放射線によるノイズを排除することで、欠陥検出能力の高いパターン欠陥検査装置及び検査方法を提供する。 - 特許庁

When the laser light 5 is irradiated to a defect of disconnection 4, the capacitance of the disconnection defect 4 varies, and the impedance of the detection circuit varies.例文帳に追加

断線欠陥４が存在している欠陥部にレーザ光５が照射されると、断線欠陥４のキャパシタンスは変化し、検出回路のインピーダンスは変化する。 - 特許庁

To keep the constant defect detecting sensitivity without affected by the displacement of an examined object, and to realize the detection of defect with high accuracy with a simple constitution.例文帳に追加

被検査物の位置ズレの影響を受けずに欠陥の検出感度を一定に維持し、簡単な構成で高精度な欠陥検出を実現する。 - 特許庁

To provide a defect detection apparatus by which a defect generated on a sheetlike specimen at a production stage can be time-series-confirmed easily.例文帳に追加

製造段階におけるシート状の被検査物上に発生した欠陥の時系列確認を容易に行うことができる欠陥検出装置を提供する。 - 特許庁

To provide an eddy current flaw detection probe, an eddy current flaw detection device, and an eddy current flaw detection method for performing flaw detection of a defect inside a capillary, and eliminating an error resulting from lift-off of a probe included in a flaw detection signal.例文帳に追加

細管内面の欠陥を探傷することができると共に、探傷信号に含まれるプローブのリフトオフに起因する誤差をなくすことができる渦流探傷プローブ、渦流探傷装置、及び渦流探傷方法を提供する。 - 特許庁

To provide a defect detection device capable of easy and accurate defect detection when a plurality kinds of surface states of an inspection object to be determined to be a nondefective article exist.例文帳に追加

良品と判定されるべき被検査物の表面状態が複数種類存在する場合に容易でかつ正確な欠陥検出を行うことができる欠陥検出装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a defect detection method of an insulator cap part in which automation of detection is possible and precise inspection of the defect of the cap part can be done, and appropriate quality control can be performed.例文帳に追加

検出の自動化が可能であり、精度のよい笠部欠陥検査を行うことができ、しかも品質管理の適正化を果たすことのできるガイシ笠部の欠陥検出方法を提供する。 - 特許庁

To provide a defect detection method and a defect detection device capable of precisely detecting defects using a simple device even for a work-piece in a complicated shape.例文帳に追加

簡易な装置を用いて、複雑な形状のワークに対しても、精度良く欠陥を検出することができる欠陥検出方法および欠陥検出装置を提供することを目的としている。 - 特許庁

To provide a wafer surface defect inspection device capable of reducing instrument errors of detection sensitivity and foreign matter coordinate detection error, and capable of obtaining high position coordinate precision for a defect such as a foreign matter, and a method therefor.例文帳に追加

検出感度や異物座標検出誤差の機差が小さく、異物等の欠陥の高い位置座標精度が得られるウェハ表面欠陥検査装置およびその方法を提供することである。 - 特許庁

When acquiring an image of a position specified by position information of a defect registered in the defect detection data by the imaging device, as for the repeated defect, control is performed, so as not to acquire repeatedly the image of the position of the repeated defect.例文帳に追加

欠陥検出データに登録されている欠陥の位置情報で特定される位置の画像を、撮像装置により取得する際に、重複欠陥については、当該重複欠陥の位置の画像を重複して取得しない制御を行う。 - 特許庁

The device 11 for indicating a defect of a web comprises a defect detecting part 32 to detect a defect of a semifinished web 21 which is running and a printing part 34 to print a sign on the semifinished web 21 based on a detection signal from the defect detecting part 32.例文帳に追加

ウエブの欠陥標示装置１１は、走行中の半製品ウエブ２１の欠陥部を検出する欠陥検出部３２と、欠陥検出部３２からの検出信号に基づいて、半製品ウエブ２１に記号を印字する印字部３４と、を有する。 - 特許庁

In this inspection device, various characteristic quantities of a defect is extracted accurately by providing a defect detection threshold and a characteristic quantity extraction threshold which is smaller than the defect detection threshold to a differential image signal between each image signal of dies having similar brightness.例文帳に追加

明るさが近いダイ間の画像信号同士の差分画像信号に対して欠陥検出しきい値と該欠陥検出しきい値よりも低い特徴量抽出のしきい値とを設けることで、欠陥の各種特徴量を精度よく抽出する検査装置。 - 特許庁

A pixel defect detection part 2 compares the signal levels of respective pixels in a frame with two thresholds T1, T2 or compares signal level differences from peripheral pixels with a threshold T3, thereby to generate a pixel defect detection signal which identifies whether the pixel defect is a white flaw or a black flaw.例文帳に追加

画素欠陥検出部２は、フレーム内の各画素の信号レベルを２つの閾値Ｔ１，Ｔ２と比較して、あるいは周辺画素との信号レベル差を閾値Ｔ３と比較することで、画素欠陥が白キズか黒キズかを識別した画素欠陥検出信号を生成する。 - 特許庁

To enable detection/registration of acquired defects of detection while avoiding destruction of initial defect data in a nonvolatile memory.例文帳に追加

不揮発性メモリの初期欠陥データが破壊される危険を回避しつつ、後発性の検出欠陥についても検出・登録できるようにする。 - 特許庁

The detection method is a defect detection method for detecting defects of the sample, where a upper-plated layer (60) is formed on an SiO_2 layer (62) provided with trench portions.例文帳に追加

溝部を設けたＳｉＯ_２層（６２）上に銅メッキ層（６０）が形成された試料の欠陥を検出する欠陥検出方法である。 - 特許庁

The etching liquid for defect detection is a mixed liquid of hydrochloric acid and nitric acid heated to 60°C-80°C.例文帳に追加

欠陥検出用のエッチング液は、６０℃〜８０℃に加熱した塩酸と硝酸との混合液とする。 - 特許庁

As the threshold value is automatically set, a defect detection condition can be efficiently optimized.例文帳に追加

自動的にしきい値が設定されるため、欠陥検出条件の最適化を効率良く行うことができる。 - 特許庁

METHOD FOR DETECTING DEFECTS OF ACTIVE MATRIX SUBSTRATE OR ACTIVE MATRIX LIQUID CRYSTAL PANEL, AND DEFECT DETECTION DEVICE例文帳に追加

アクティブマトリクス基板又はアクティブマトリクス液晶パネルの欠陥検出方法及び欠陥検出装置 - 特許庁

APPARATUS AND METHOD FOR ACQUISITION OF SHAPE INFORMATION AND APPARATUS AND METHOD FOR DEFECT DETECTION例文帳に追加

形状情報取得装置、欠陥検出装置、形状情報取得方法および欠陥検出方法 - 特許庁

To provide a semiconductor memory device in which defect detection can be performed in a short period oftime and the circuit area is small.例文帳に追加

不良検出が短時間で行なえる回路面積の小さな半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

To reduce a possibility of the occurrence of erroneous detection or operational defect when detecting a polarity of a line.例文帳に追加

回線の極性を検出する際に、誤検出や動作不良が生じる可能性を低減する。 - 特許庁

These image data sets RD, TD are input to an image processing unit IPU, and a defect detection is carried out.例文帳に追加

このイメージデータＲＤ、ＴＤが、イメージ処理ユニットＩＰＵに入力され、欠陥検出が行われる。 - 特許庁

To improve accuracy in detection for an image defect that is generated in an image formed by an image forming apparatus.例文帳に追加

画像形成装置にて形成された画像に発生した画像欠陥の検出精度を向上させる。 - 特許庁

To reduce a position detection error arising from stain on a scale or a defect in a grating by simple calculation.例文帳に追加

簡単な計算で、スケールの汚れや格子の欠陥により発生する位置検出誤差を低減する。 - 特許庁