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「defect detection」に関連した英語例文の一覧と使い方(9ページ目) - Weblio英語例文検索
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defect detectionの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 1320



例文

To heighten accuracy and to heighten speed of defect detection based on three-dimensional measurement.例文帳に追加

3次元計測に基づく欠陥検出の高精度化および高速化を図る。 - 特許庁

To prevent wrong detection relative to comparatively mild ink unevenness unrecognized as a defect by a person viewing a print, without reducing detection accuracy of the defect.例文帳に追加

欠陥の検出精度を低下させることなく、印刷物を見る者に欠陥として認識されないような、比較的穏やかなインキムラに関する誤検出を防止する。 - 特許庁

To provide improved defect detection and analysis using infrared thermography.例文帳に追加

赤外線サーモグラフィを使用して改善された欠陥検出及び解析を提供する。 - 特許庁

STATISTICAL SYSTEM AND METHOD THEREOF IN DETECTION OF DEFECT SIGNAL IN SEMICONDUCTOR MANUFACTURING例文帳に追加

半導体製造での欠陥信号の検出における、統計システム及びその方法 - 特許庁

例文

PROCESSING METHOD FOR DIGITAL PHOTO IMAGE DATA INCLUDING METHOD OF AUTOMATIC DETECTION OF RED EYE DEFECT例文帳に追加

赤目欠陥の自動識別方法を含むデジタル写真画像データの処理方法 - 特許庁


例文

The control section 11 changes the way of cutting by a sheet cutting section 10 for the continuous sheet 14b on the basis of the result of defect detection by the defect detection section 9.例文帳に追加

制御部11は、欠陥検出部9による欠陥検出結果に基づいて、連続シート14bに対するシート切断部10による切断の仕方を変更する。 - 特許庁

To provide a defect detection method for matrix structure and defect detection device of matrix structure which make it possible to easily detect point-like defects in matrix structure.例文帳に追加

マトリクス構造における点状の欠陥を容易に検出可能にするマトリクス構造の欠陥検出方法およびマトリクス構造の欠陥検出装置を提供する。 - 特許庁

DEFECT DETECTION DEVICE AND METHOD FOR COAXIAL FLEXIBLE PIEZOELECTRIC CABLE例文帳に追加

同軸状可撓性圧電体ケーブルの欠陥検出装置及び欠陥検出方法 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR DETERMINING DEFECT INFORMATION DETECTION SENSITIVITY DATA, METHOD FOR MANAGING DEFECT DETECTION DEVICE, AND METHOD AND DEVICE FOR DETECTING DEFECT IN SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

欠陥情報検出感度データの決定方法及び欠陥情報検出感度データの決定装置、欠陥検出装置の管理方法、半導体装置の欠陥検出方法及び半導体装置の欠陥検出装置 - 特許庁

例文

According to the use of the device, since defect chips electrically connected to the detection device is made invalid and rewritable chip serves as substitute for the defect chip, the detection device can operate continuously without having to remove the defect chip.例文帳に追加

この検出装置によれば、検出装置に電気的接続された欠陥チップが無効にされ、書き換え可能チップが欠陥チップの代用をすることから、欠陥チップを取り除くことなく動作することができる。 - 特許庁

例文

To provide a latent image carrier defect detection method for detecting the defect of a latent image carrier by a simple method and an image forming apparatus capable of detecting the defect of the latent image carrier by using the latent image carrier detection method.例文帳に追加

簡単な方法で潜像担持体の欠陥を検知できる潜像担持体欠陥検知方法及びその潜像担持体検知方法を用いて潜像担持体の欠陥を検知できる画像形成装置を提供する。 - 特許庁

The kind of a defect is detected, and signal processing is performed according to this defect, by providing an information processor with an envelope detection part 11 for detecting an envelope of a reproduction RF signal, and a defect detection device 1 comprising a three-block configuration for classifying the defects into a micro defect, a degenerated defect, and a difference defect.例文帳に追加

再生RF信号のエンベロープを検出するエンベロープ検出部11と、ディフェクトをマイクロディフェクト、縮退ディフェクト、及び差分ディフェクトの3種類に分類するための3つのブロック構成とを備えたディフェクト検出装置1を情報処理装置に設けることにより、ディフェクトの種類を検出し、このディフェクトに応じた信号処理を実行する。 - 特許庁

To provide an illuminating method, an inspecting method and a defect detection apparatus for detecting a defect of a hologram, which can be utilized universally for defect detection of an arbitrary type of holograms and can detect the defect precisely and stably.例文帳に追加

本発明は、任意の品種のホログラム欠陥検出に、汎用的に利用することができ、かつ欠陥を精度良く安定して検出することが可能なホログラム欠陥検出の照明方法、検査方法および欠陥検出装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

The detection sensitivity for a mask defect is inspected by using a mask for inspection of defect detection sensitivity having a basic pattern region where a pattern is formed based on the design data of a basic pattern and a defect pattern region where a pattern is formed based on the design data of a defect pattern prepared by adding a specified defect to the basic pattern.例文帳に追加

基本パターンの設計データを基づきパターンが形成された基本パターン領域と、基本パターンに、所定の欠陥を加えた欠陥パターンの設計データを元にパターンが形成された欠陥パターン領域とを備える欠陥検出感度検査用マスクを用いて、マスク欠陥検出感度の検査を行う。 - 特許庁

Thus, the ground-defect can be detected by the abnormality detection output Sout of a photo-coupler 106.例文帳に追加

フォトカプラ106の異常検知出力Soutにより地絡を検知することができる。 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR DEFECT SIGNAL DETECTION FOR OPTICAL RECORDING/REPRODUCING DEVICE例文帳に追加

光記録/再生装置の欠陥信号検出装置及びその欠陥信号検出方法 - 特許庁

The SEM image data is binarized by using the threshold to perform defect detection.例文帳に追加

そして、このしきい値を用いてSEM画像デ−タを二値化処理し、欠陥を検出する。 - 特許庁

To provide a mask inspection device that can improve the defect detection sensitivity.例文帳に追加

欠陥検出感度を向上させることができるマスク検査装置を提供すること。 - 特許庁

Thus, the abnormal position is detected from the image for defect detection with high accuracy.例文帳に追加

これにより、欠陥検出用画像から異常個所を精度良く検出することができる。 - 特許庁

DETECTION OF DEFECT AND CHARACTERISTICS EVALUATION IN MASK BLANK USING ANGLE DISTRIBUTION OF SCATTERED LIGHT例文帳に追加

散乱光の角度分布を使ったマスクブランクの欠陥の検出および特性評価 - 特許庁

To provide an inspection device of a display panel capable of improving detection accuracy of a defect.例文帳に追加

欠陥の検出精度を向上できる表示パネルの検査装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a novel and improved disk drive apparatus, and a novel and improved media defect detection method.例文帳に追加

新規且つ改善された、ディスクドライブ装置及びメディア欠陥検出方法の提供。 - 特許庁

To provide a defect inspection device capable of obtaining the long-term stable detection sensitivity.例文帳に追加

長期的に安定した検出感度を得ることができる欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method for correcting an output value of an imaging means, a shading correction method, a defect detection method, a defect detection program and a defect detection apparatus that can precisely calculate an input value by evaluating the sensitivity characteristic of an imaging element appropriately.例文帳に追加

撮像素子の感度特性を適切に評価して入力値を高精度に算出することができる撮像手段の出力値補正方法、シェーディング補正方法、欠陥検出方法、欠陥検出プログラムおよび欠陥検出装置を提供すること。 - 特許庁

To provide an ultrasonic flaw detector capable of heightening detection accuracy of a defect.例文帳に追加

欠陥の検出精度を高めることができる超音波探傷装置を提供する。 - 特許庁

A defect detection device includes: an irradiation device 1; an imaging device 2; and a processing device 3.例文帳に追加

欠陥検出装置は、照射装置1と、撮像装置2と、処理装置3とを備える。 - 特許庁

An identification circuit includes a media defect detection circuit 112 and an anchor fixing circuit 114.例文帳に追加

識別回路は、媒体欠陥検出回路112およびアンカ固定回路114を含む。 - 特許庁

To detect a plurality of defect types, in a short time without degrading detection performance.例文帳に追加

複数の欠陥種の検出を、検出性能を落とすことなく、短時間で行う。 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR SPECIFYING DETAIL OF DEFECT OF ROTATING SPEED DETECTION DEVICE例文帳に追加

回転速度検出装置の異常内容特定装置及び異常内容特定方法 - 特許庁

To realize a device and method for automating defect detection of an antireflection film.例文帳に追加

反射防止フィルムの欠陥検出を自動的に行う装置および方法を実現する。 - 特許庁

To improve accuracy in correcting a pixel value of a defect pixel in phase difference detection pixels.例文帳に追加

位相差検出画素における欠陥画素の画素値の補正の精度を向上させる。 - 特許庁

DEFECT DETECTION METHOD FOR CONTINUOUS CASTING SLAB AND TREATMENT METHOD FOR CONTINUOUS CASTING SLAB例文帳に追加

連続鋳造鋳片の欠陥検出方法及び連続鋳造鋳片の処理方法 - 特許庁

WELD DEFECT DETECTION SYSTEM, METHOD FOR PRODUCING ELECTRIC RESISTANCE WELDED TUBE AND WELDED PRODUCT例文帳に追加

溶接欠陥検出システム及び電縫鋼管の製造方法並びに溶接製品 - 特許庁

To heighten a correct answer ratio between genuine defects and pseudo-defects, and to improve the defect detection ratio.例文帳に追加

真正欠陥と疑欠陥の正答率を高め、欠陥検出率を向上させる。 - 特許庁

WELDING DEFECT DETECTION SYSTEM, METHOD FOR MANUFACTURING ELECTRIC RESISTANCE WELDED PIPE, AND WELDED PRODUCT例文帳に追加

溶接欠陥検出システム及び電縫鋼管の製造方法並びに溶接製品 - 特許庁

To detect a flicker defect in a cycle as long as possible using a limited frame memory in flicker defect pixel detection of a solid-state imaging device.例文帳に追加

固体撮像素子の点滅欠陥画素検出において、限られたフレームメモリでできるだけ長い周期の点滅欠陥を検出する。 - 特許庁

To provide an observation system and an installation defect detection program, capable of automatically detecting the installation defect of a container in an optical axis direction.例文帳に追加

光軸方向における容器の設置不備を自動で検出できる観察システム及び設置不備検出プログラムを提供する。 - 特許庁

To provide a surface defect detection method capable of detecting a defect present on the surface of an object to be tested with high precision.例文帳に追加

被検査体の表面に存在する欠陥を高い精度で検出することができる表面欠陥の検出方法を提供する。 - 特許庁

The classification support unit forms separated defect parts data for setting or changing the defect detection parameters and forming the knowledge base.例文帳に追加

分類支援装置は、上記欠陥検出パラメータの設定や変更、上記知識ベース作成のための分離欠陥部分データを作成する。 - 特許庁

To provide a defect detection device for detecting a defect with a simple method by setting a proper mask area.例文帳に追加

本発明は、適正なマスク領域を設定し、簡易な手法にて欠陥の検出を行う欠陥検出装置の提供を目的とする。 - 特許庁

A defect detection device detects a defect of a plate body P with photoelasticity by allowing light to pass through the plate body P.例文帳に追加

欠陥検出装置は、光弾性を有する板状体Pに光を透過させることにより、該板状体Pの欠陥を検出する。 - 特許庁

The defect detecting means 2 repeats the defect detection without inspecting the set non-inspected region, so that the inspection sensitivity can be increased.例文帳に追加

そして、欠陥検出手段2は、設定された非検査領域を検査せずに欠陥検出を繰り返すので、検査感度を高められる。 - 特許庁

The control device 6 includes an edge defect enhancement means 62 for enhancing a defect in contact with a continuous pattern edge by applying an edge defect enhancement filter to the imaged image and acquiring an edge defect enhancement value, and an edge defect detection means 63 for detecting an edge defect based on the edge defect enhancement value acquired by the edge defect enhancement means 62.例文帳に追加

制御装置6は、撮像画像にエッジ欠陥強調フィルタを適用して連続するパターンのエッジに接する欠陥を強調し、エッジ欠陥強調値を取得するエッジ欠陥強調手段62と、エッジ欠陥強調手段62で取得されるエッジ欠陥強調値に基づいてエッジ欠陥を検出するエッジ欠陥検出手段63とを備える。 - 特許庁

To provide a surface defect inspection apparatus and a surface defect inspection method capable of performing a detection of LPDs on a wafer surface and a detection of a dark field image in parallel with each other and having an improved detection sensitivity of the LPDs.例文帳に追加

ウェーハ表面のLPDの検出と暗視野像の検出とを並行して行うことができ、且つ、LPDの検出感度を高めた表面欠陥検査装置および表面欠陥検出方法を提供する。 - 特許庁

To achieve high efficient defect inspection with a high defect capture rate in a surface defect inspection device for a wafer and the like by enabling detection of forward scattered light with high sensitivity and at the same time enabling detection of specularly reflected light with high sensitivity.例文帳に追加

ウエーハ等の表面欠陥検査装置において、前方散乱光を高感度で検出し、正反射光をも同時に高感度検出可能とすることで、欠陥捕捉率の高い高効率の欠陥検査を実現。 - 特許庁

The invention has a stripe defect detection filtering step for filtering out a photographed image to detect a stripe defect, and a step in which a stripe defect is detected based on the detection value obtained in the filtering step.例文帳に追加

撮像した画像に対して筋状欠陥を検出する筋状欠陥検出フィルタをかける筋状欠陥検出フィルタ処理工程と、この工程で得られた検出値に基づいて筋状欠陥を検出する工程とを有する。 - 特許庁

In this case, the image data for inspection is converted in correspondence with the image state of the image for defect detection, and thus it is discriminated whether the abnormal position detected from the image for defect detection is a true defect or not.例文帳に追加

その際、検査用画像データを欠陥検出用画像の画像状態に対応させて変換することにより、欠陥検出用画像から検出される異常個所が、真の欠陥であるか否かを判定することができる。 - 特許庁

To provide a honeycomb filter which enables detection of a defect point and defect cause without installing a device for detecting a defect of the honeycomb filter on the downstream of the honeycomb filter.例文帳に追加

ハニカムフィルタの下流側にハニカムフィルタの欠陥を検出するための装置を配置することなく、欠陥箇所及び欠陥原因を検出することが可能なハニカムフィルタを提供する。 - 特許庁

When the installation defect is detected by the installation defect detection unit 242, a display 110 of a control PC 100 is configured to perform processing for giving an operator notification showing that the installation defect is detected.例文帳に追加

設置不備検出部242によって設置不備が検出された場合、制御PC100のディスプレイ110が、設置不備が検出された旨を操作者に通知する処理を行う。 - 特許庁

例文

To provide a dark field illumination device and a defect detection device capable of observing and detecting a defect in preferable conditions by a simple adjustment corresponding to the kind of an inspection sample or the direction of the defect.例文帳に追加

検査試料の種類や欠陥の方向に応じて、簡単な調整でその欠陥を好条件で観察、検出できる暗視野照明装置、及び、欠陥検出装置を提供する。 - 特許庁




  
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