「defect detection」に関連した英語例文の一覧と使い方(8ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a defect detector and a defect detection method having improved accuracy in detecting defects in a formed part.例文帳に追加

成形部の欠陥の検出精度を向上させた欠陥検出装置および欠陥検出方法を提供する。 - 特許庁

An occurrence rate calculation part 114 calculates a defect occurrence rate as the detection frequency of the defect per unit operation amount.例文帳に追加

発生率算出部１１４は、単位稼動量あたりの不具合の検知回数として不具合発生率を算出する。 - 特許庁

Timing of additional registration itself is basically optional provided that it is after the defect detection even when it is before or after defect compensation.例文帳に追加

追加登録タイミング自体は欠陥補償の前でも後でも、欠陥検出以後なら基本的には任意である。 - 特許庁

To efficiently suppress a false defect and to carry out reticle inspection where a defect is detected with high detection sensitivity.例文帳に追加

本発明は、効率良く擬似欠陥を抑制し、高い検出感度で欠陥検出可能なレチクル検査を実現する。 - 特許庁

To realize a resizing process with high accuracy and improve defect detection sensitivity in a defect inspecting device.例文帳に追加

欠陥検査装置におけるリサイズ処理を高い精度で実現することができ、欠陥検出感度の向上をはかる。 - 特許庁

To provide a defect detection method and device for performing defect inspection in the course of conveying a detecting object.例文帳に追加

検出対象物を搬送する途中で欠陥の検査を行う欠陥検出方法および装置を提供する。 - 特許庁

To provide a defect detection device capable of satisfactorily detecting a defect of a plate body having photoelasticity.例文帳に追加

光弾性を有する板状体の欠陥を良好に検出可能な欠陥検出装置を提供することができる。 - 特許庁

According to one embodiment, the disk drive apparatus includes a defect table formed using more than one defect detection standard.例文帳に追加

一実施形態によれば、ディスクドライブ装置は、２以上の欠陥検出基準を用いて生成された欠陥テーブルを含む。 - 特許庁

A comparison part compares the defect occurrence rate and the reference value in timing wherein the defect is detected by the detection part 110.例文帳に追加

比較部は、検知部１１０により不具合が検知されたタイミングで、不具合発生率と基準値とを比較する。 - 特許庁

To provide a self discharge defect detection device and a self discharge defect detection method for a secondary battery that can detect self discharge defect without accelerating depletion of the battery in a short time.例文帳に追加

短時間で、かつ、電池の劣化を加速させることなく自己放電不良を検出することができる二次電池の自己放電不良検出装置および自己放電不良検出方法を提供する。 - 特許庁

To provide a learning-type defect detection device, method and program, capable of maintaining the accuracy of defect detection regardless of the size of a defect generated in an inspection object.例文帳に追加

検査対象物に発生する欠陥の大きさにかかわらず欠陥の検出精度を維持可能な学習型の欠陥検出装置、欠陥検出方法および欠陥検出プログラムを提供する。 - 特許庁

The detection device detects from an obtianed imaged image, defect pixel candidates in each classification, by using each different detection condition in each classification of a point defect or a line defect detected from the imaged image.例文帳に追加

また、検出装置は、取得した撮像画像から、該撮像画像から検出する点欠陥又は線欠陥の種別ごとに異なる検出条件を用いて種別ごとに欠陥画素候補を検出する。 - 特許庁

To provide a defect detection apparatus and a defect detection method for detecting the defect of an object to be inspected reliably by applying light for detecting defects to the site of the object to be detected whose position is regulated reliably, and for miniaturizing the entire defect detection apparatus.例文帳に追加

位置が確実に規制される検査対象物の部位に欠陥検出用の光を照射して、検査対象物の欠陥を確実に検出することができ、しかも欠陥検出装置全体の小型化を図ることができる欠陥検出装置および欠陥検出方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method of determining a defect size of an evaluation pattern for evaluating defect detection sensitivity capable of accurately determining the defect size of the evaluation pattern formed on an evaluation mask used to evaluate the defect detection sensitivity of mask defect inspection systems, and a method of creating a sensitivity mask.例文帳に追加

マスク欠陥検査装置の欠陥検出感度を評価するために用いられる評価用マスクに作り込まれた評価用パターンの欠陥サイズを精度良く算出することが可能な欠陥検出感度評価用パターンの欠陥サイズ算出方法及び感度マスクの作成方法を提供する。 - 特許庁

To provide an image defect correction system of an imaging device using direction detection.例文帳に追加

方向検出を用いた撮像デバイスの画像欠陥補正システムを提供する。 - 特許庁

APPARATUS, METHOD, AND PROGRAM FOR DEFECT DETECTION AND RECORDING MEDIUM例文帳に追加

欠陥検出装置、欠陥検出方法、欠陥検出プログラム、及び、記録媒体 - 特許庁

METHOD AND SYSTEM FOR HIGH-SPEED ONLINE ELECTROCHEMICAL DETECTION OF WAFER DEFECT例文帳に追加

ウェーハ欠陥の高速オンライン電気光学的検出のための方法及びシステム - 特許庁

To evaluate a performance of an internal defect inspection device by magnetic leakage flux flaw detection.例文帳に追加

漏洩磁束探傷による内部欠陥検査装置の性能を評価する。 - 特許庁

CONTACT FAILURE DEFECT DETECTION METHOD AND COMPUTER READABLE RECORDING MEDIUM例文帳に追加

コンタクト不良欠陥検出方法およびコンピュータ読み取り可能な記録媒体 - 特許庁

CRYSTAL DEFECT DETECTION ELEMENT FOR MONITOR, SEMICONDUCTOR DEVICE AND METHOD OF MANUFACTURING THE SAME例文帳に追加

モニター用結晶欠陥検出素子、半導体装置及びその製造方法 - 特許庁

AUTOMATIC FOCUSING METHOD FOR SCANNING ELECTRON MICROSCOPE HAVING LASER DEFECT DETECTION FUNCTION例文帳に追加

レーザ欠陥検出機能を備えた走査型電子顕微鏡のオートフォーカス方式 - 特許庁

DEFECT DETECTING APPARATUS OF PHOTOCONDUCTOR FOR ELECTROPHOTOGRAPHY AND METHOD FOR CALIBRATING DETECTION ELECTRODE例文帳に追加

電子写真用感光体の欠陥検出装置、検知電極の校正方法 - 特許庁

The patterns of the test mask are transferred onto a wafer; the certified defect dimension of each kind of defects is determined; and the detection sensitivity of the defect inspection apparatus, with respect to a semitransparent defect, is controlled by using the test mask in the defect inspecting apparatus.例文帳に追加

テストマスクをウェハーへ転写し、各種欠陥の保証欠陥寸法と決定し、欠陥検査装置にて、テストマスクにより半透明欠陥に対する欠陥検査装置の検出感度調整する。 - 特許庁

TERMINAL DEVICE, MOVEMENT DETECTION DEVICE, GETTING-ON/OFF DETECTION DEVICE, DEFECT RESPONSE SYSTEM, TRANSFER DEVICE AND ON-VEHICLE DEVICE例文帳に追加

端末装置、移動検出装置、乗降検出装置、不具合対応システム、転送装置、および車載装置 - 特許庁

To perform proper focus detection when there is a defect in focus detection pixels including divided-pupil pixels.例文帳に追加

瞳分割された画素を含む焦点検出用画素に欠陥がある場合に、適切に焦点検出を行う。 - 特許庁

To provide a shading correction method for improving precision for removing shading in a display defect detection step of a display device and detecting display defects precisely, and to provide a defect detection method, a defect detector, and a control method program of the defect detector.例文帳に追加

表示デバイスの表示欠陥検出工程においてシェーディング除去の精度を高め、表示欠陥を高精度に検出できるシェーディング補正方法、欠陥検出方法、欠陥検出装置、その制御方法プログラムを提供すること。 - 特許庁

To provide a defect detection apparatus and a defect detection method for facilitating a setup of threshold values in a plurality of scattered light detectors, and properly obtaining detection data from the individual scattered light detector.例文帳に追加

複数の散乱光検出器のしきい値設定を容易化し、個々の散乱光検出器の検出データを適切に取得することができる欠陥検査装置及び欠陥検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a cutting defect detection method in a plasma machine to prevent a cutting defect by automatically detecting generation of a cutting defect and a device therefor.例文帳に追加

切断不良の発生を自動的に検出して切断不良を防ぐことのできるプラズマ加工機における切断不良検出方法およびその装置を提供する。 - 特許庁

Rank determination of the liquid crystal panel is performed based on a defect area of the irregular defect and average brightness detected in the irregular defect detection process (ST300) (rank determination process ST400).例文帳に追加

ムラ欠陥検出工程（ＳＴ３００）にて検出されたムラ欠陥の欠陥面積、平均輝度に基づいて液晶パネルをランク判定する（ランク判定工程ＳＴ４００）。 - 特許庁

To accurately evaluate the defect detection sensitivity of an inspection apparatus for a defect in a mask pattern by suppressing influences of the shift of a pattern defect created in a basic pattern from a design value.例文帳に追加

基本パターンに作り込んだパターン欠陥の、設計値からのズレによる影響を抑えて、正確にマスクパターンの欠陥検査装置の欠陥検出感度を評価する。 - 特許庁

In this system and method, upon the detection of a defect, the printer is enabled to skip the defect area, or alternatively an image influenced by the defect is reprinted.例文帳に追加

本発明のシステムおよび方法において、欠陥が検出された場合、プリンタをイネーブルして欠陥領域をスキップさせるか、欠陥の影響を受けた画像を再印刷する。 - 特許庁

To provide an imaging apparatus in which a TFT defect caused by static electricity does not occur, and a point defect and a line defect in a detection image are not caused.例文帳に追加

静電気によるＴＦＴ不良が発生することがなく、検出画像において点欠陥、線欠陥を生じることのない撮像装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a stain defect detection method and a device capable of detecting highly accurately a stain defect, even when an illuminance difference of the stain defect caused by a voltage change has a noise level.例文帳に追加

電圧変化によるシミ欠陥の輝度差がノイズレベルであっても、シミ欠陥を高精度に検出することができるシミ欠陥検出方法および装置を提供すること。 - 特許庁

The defect detection part 21 detects delivery defect including the double feed and non-feed of the sheet from the sheet loading base 37.例文帳に追加

不良検出部２１は、シート積載台３７からの用紙の重送及び不送りを含む繰り出し不良を検出する。 - 特許庁

A scan start position of CCD data is set to zero, the number of pixels up to a defect is counted, and a defect detection position is retained in a memory.例文帳に追加

ＣＣＤデータのスキャン開始位置をゼロとして欠点までの画素数をカウントし、欠点検出位置をメモリに保持する。 - 特許庁

To provide a defect detecting device for stably detecting a defect on the basis of an envelope detection signal whose level frequently repeats up and down around a threshold value.例文帳に追加

閾値付近で頻繁に上下を繰り返しているエンベロープ検波信号に基づき、安定したディフェクト検出を行う。 - 特許庁

To provide a method for manufacturing a semiconductor device in which the accuracy of defect detection is enhanced, and a method for optically inspecting the defect.例文帳に追加

欠陥の検出精度を向上させた半導体装置の製造方法及び光学式欠陥検査方法を提供する。 - 特許庁

In the digital process 108, a 'defect compensation processing for detection' is first performed under control of a defect compensation control part 112d.例文帳に追加

ディジタルプロセス１０８では、最初に、欠陥補償制御部１１２ｄの制御の下に「検出用欠陥補償処理」が行われる。 - 特許庁

Defects in repetitive patterns in a multilayer substrate are detected by a defect detection part provided in the defect correcting device, and when the defects detected by the defect detection part overlap with a region where an occurrence of the interlayer short-circuit defect is assumed, a control part 301 provided in the defect correcting device generates an object corresponding to a defect correction technique for the interlayer short-circuit defect.例文帳に追加

欠陥修正装置が備える欠陥検出部により多層基板における繰り返しパターン内の欠陥を検出し、欠陥検出部で検出された欠陥が層間ショート欠陥の発生が想定される領域に重なる場合、欠陥修正装置が備える制御部３０１により層間ショート欠陥用の欠陥修正手法に対応するオブジェクトを生成する。 - 特許庁

METHOD FOR DETECTING WELD DEFECTS OF CAPACITOR DISCHARGE TYPE STUD WELDING MACHINE AND DEFECT DETECTION DEVICE例文帳に追加

コンデンサ放電型スタッド溶接機の溶接良否判定方法及び判定装置 - 特許庁

To provide an edge defect detection method for automatically detecting edge defects appropriately.例文帳に追加

エッジ欠陥を適切に自動検出できるエッジ欠陥検出方法を提供する。 - 特許庁

DEFECT DETECTION OPTICAL SYSTEM, AND EFFECT INSPECTION METHOD AND DEVICE USING IT例文帳に追加

欠陥検出光学系、これを用いる欠陥検査方法および欠陥検査装置 - 特許庁

TEST MASK, MANUFACTURING METHOD, AND METHOD FOR CONTROLLING DETECTION SENSITIVITY OF DEFECT INSPECTING APPARATUS例文帳に追加

テストマスク及び製造方法及び欠陥検査装置の検出感度調整方法 - 特許庁

This defect detection device is constituted by using the dark field illumination device.例文帳に追加

また、このような暗視野照明装置を用いて、欠陥検出装置を構成する。 - 特許庁

To provide an automatic detection device for an initial print defect on a metalized strip.例文帳に追加

金属化ストリップ上の初期印刷欠陥の自動検出装置を提供する。 - 特許庁