「defect detection」に関連した英語例文の一覧と使い方(7ページ目) - Weblio英語例文検索

DEFECT DETECTION METHOD FOR DISPLAY PANEL, ITS DETECTION DEVICE, AND MANUFACTURING METHOD FOR THE DISPLAY PANEL例文帳に追加

表示パネルの欠陥検出方法及びその検出装置並びに表示パネルの製造方法 - 特許庁

A defect detecting means 2 detects a defect on the surface of a sample at a predetermined inspection sensitivity, a false defect specifying means 4 specifies a false defect from defect information acquired by the defect detection, and a non-inspected region setting means 5 sets the detection part of the specified false defect in a non-inspected region.例文帳に追加

欠陥検出手段２は、所定の検査感度で試料表面の欠陥検出を行い、擬似欠陥特定手段４は、欠陥検出により得られた欠陥情報から擬似欠陥を特定し、非検査領域設定手段５は、特定した擬似欠陥の検出箇所を非検査領域に設定する。 - 特許庁

A control device determines whether or not the same defect is registered repeatedly into at least two defect detection data, based on position information of each defect registered in the defect detection data respectively, and acknowledges that a defect acknowledged to be registered repeatedly is a repeated defect.例文帳に追加

制御装置が、欠陥検出データの各々に登録されている欠陥の位置情報に基づいて、同一の欠陥が少なくとも２つの欠陥検出データに重複して登録されているか否かを判定し、重複して登録されていると認定される欠陥を重複欠陥と認定する。 - 特許庁

To provide a defect inspection device, a defect information acquisition device and a defect inspection method, capable of optimizing further an acquisition amount of a scattered light signal regarding the defect by improving a detection accuracy of the defect to be as the detection object.例文帳に追加

検出対象とする欠陥の検出精度を向上させ、当該欠陥に関する散乱光信号の取得量をより適正化することができる欠陥検査装置、欠陥情報取得装置及び欠陥検査方法を提供する。 - 特許庁

To minimize the detection of a pseudo defect and to surely detect an actual defect when the defect of a semiconductor IC device is detected.例文帳に追加

半導体ＩＣデバイスの欠陥の検出において擬似欠陥の検出を最小化するとともに実際の欠陥の検出を確実にする。 - 特許庁

DETECTION SYSTEM FOR WELDING DEFECT OF ELECTRIC RESISTANCE WELDED STEEL PIPE AND ELECTRIC RESISTANCE WELDED STEEL PIPE例文帳に追加

電縫鋼管の溶接欠陥の検出システム及び電縫鋼管 - 特許庁

PRINTING DEFECT DETECTION METHOD, DETECTOR AND PRINTING MACHINE CONTROL PROCESS例文帳に追加

印刷不良検知方法及び検知装置並びに印刷機制御方法 - 特許庁

To provide a device and a method for inspecting mask blank, that improve detection sensitivity to and detection reliability of a phase defect and an amplitude defect which are too high in defect height to detect only through dark field detection.例文帳に追加

暗視野検出だけでは困難であった欠陥高さの高い位相欠陥や振幅欠陥に対する検出感度や検出信頼性を向上できるマスクブランク検査装置および方法を提供する。 - 特許庁

A discrimination method by a threshold is used for defect detection as hitherto.例文帳に追加

欠陥の検出には、従来同様、閾値による判別手法を用いる。 - 特許庁

FIELD PATTERN DEFECT DETECTION METHOD IN SEMICONDUCTOR PRODUCTION PROCESS例文帳に追加

半導体製造工程におけるＦｉｅｌｄパターン欠陥検出方法 - 特許庁

To provide a semiconductor wafer defect detection system having a remarkably heightened throughput.例文帳に追加

スループットが著しく高められる半導体ウェハ欠陥検出システム。 - 特許庁

COLOR-CALIBRATING APPARATUS OF IMAGE DATA, AND COLOR DEFECT AUTOMATIC DETECTION APPARATUS例文帳に追加

画像データの色彩較正装置および色彩欠陥自動検出装置 - 特許庁

DEFECT ANALYZER FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, SYSTEM, AND DETECTION METHOD例文帳に追加

半導体集積回路の不良解析装置、システムおよび検出方法 - 特許庁

A camera signal processing circuit 200 has a defect detection circuit 211 for discriminating defect levels of defective pixels by setting a detection level.例文帳に追加

カメラ信号処理回路２００は、検出レベルの設定によって欠陥画素の欠陥レベルを判定する欠陥検出回路２１１を有する。 - 特許庁

To provide a defect detail specifying device of a rotating speed detection device allowing a proper measure to be taken according to the defect detail by specifying the defect detail of the rotating speed detection device.例文帳に追加

回転速度検出装置の異常内容を特定して同異常内容に応じた適切な処置を採りえる回転速度検出装置の異常内容特定装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a pixel defect correction device, along with an imaging apparatus, pixel defect correction method and program, capable of improving edge detection accuracy, and capable of improving defect detection accuracy.例文帳に追加

エッジ検出精度の向上を図れ、ひいては欠陥検出精度の向上を図ることが可能な画素欠陥補正装置、撮像装置、画素欠陥補正方法、およびプログラムを提供する。 - 特許庁

To provide an edge defect detection method and a detection device capable of detecting a defect only from a photographed image, and detecting accurately even a defect near the edge.例文帳に追加

撮像画像のみから欠陥を検出することができ、エッジ付近における欠陥であっても精度よく検出することができるエッジ欠陥検出方法、及び検出装置の提供。 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR DETECTING DEFECT OF SUBSTRATE SURFACE, AND RECORDING MEDIUM WITH RECORDED PROGRAM FOR DEFECT DETECTION例文帳に追加

基板面の不良検出装置、不良検出方法、及び不良検出のためのプログラムを記録した記録媒体 - 特許庁

The differential interface image of the surface of the substrate is supplied to a defect detection means (34), and a defect is detected.例文帳に追加

基板表面の微分干渉画像は欠陥検出手段（３４）に供給されて欠陥が検出される。 - 特許庁

To provide a defect detection device for an optically transparent film A, detecting a defect highly accurately.例文帳に追加

欠陥検出を高精度で行うことができる光透過性フィルムＡの欠陥検出装置を提供する。 - 特許庁

Thereby, delay at the time of detection of the original defect signal is prevented and the defect can be removed.例文帳に追加

これにより、本来の欠陥信号の検出時の遅延をなくし、当該欠陥を除去することができる。 - 特許庁

To provide a defect detector which obtains an actual picture of high precision to improve the defect detection sensitivity.例文帳に追加

高精度の実画像を得られ、欠陥検出感度を高くすることが可能な欠陥検出装置を提供する。 - 特許庁

The differential interference image on the surface of the substrate is supplied to defect detection means (34) so that a defect therein is detected.例文帳に追加

基板表面の微分干渉画像は欠陥検出手段（３４）に供給されて欠陥が検出される。 - 特許庁

DEFECT DETECTING DEVICE, SENSITIVITY CORRECTION METHOD THEREOF, SUBSTRATE FOR DEFECT DETECTION SENSITIVITY CORRECTION, AND MANUFACTURING METHOD THEREOF例文帳に追加

欠陥検査装置及びその感度校正方法、欠陥検出感度校正用基板及びその製造方法 - 特許庁

To achieve detection of a fine defect, highly accurate measurement of the size of the detected defect, and so on.例文帳に追加

微小な欠陥を検出すること、検出した欠陥の寸法を高精度に計測することなどが求められる。 - 特許庁

To provide a defect inspection technology capable of performing defect detection with high sensitivity at a high speed that uses an electron beam.例文帳に追加

電子線を用いた、高速かつ高感度に欠陥検出を可能にする欠陥検査技術を提供する。 - 特許庁

A defect detection unit included in a defect correction device generates a defect region image being a difference image between a defect image of a repeated pattern in a multilayer substrate and a reference image.例文帳に追加

欠陥修正装置が備える欠陥検出部が、多層基板における繰り返しパターンの欠陥画像と参照画像との差画像である欠陥領域画像を生成する。 - 特許庁

To provide a defect inspection method capable of inspecting a defect by setting a size determination region having defect detection sensitivity corresponding to the size of a defect part automatically according to the pattern density.例文帳に追加

パターンの密度に応じて自動的に欠陥部分のサイズに応じた欠陥検出感度を有するサイズ判定領域を設定して欠陥検査できる欠陥検査方法を提供すること。 - 特許庁

Since the pixel defect information is corrected starting from one having the highest defect level or a latest detection time, defect pixels can be corrected efficiently even when a defect pixel is generated anew.例文帳に追加

従って、新たに画素欠陥が発生しても欠陥レベルの大きいものから、或いは検出時期の新しいものから補正されるため、効率的に欠陥画素を補正することができる。 - 特許庁

DETECTION DEVICE FOR DETECTING DEFECT STATE OF BATTERY SAFETY VALVE, AND BATTERY AND ASSEMBLED BATTERY HAVING DETECTION DEVICE例文帳に追加

電池安全弁の状態を検知する検知装置、その検知装置を有する電池および集合電池 - 特許庁

To provide a defect detector which can detect the defect of a carrier, using an optimum defect detection method, according to the classification of the tape carrier.例文帳に追加

テープキャリアの種別などに応じて、最適な欠陥検出手法を用いて、テープキャリアの欠陥を検出可能な欠陥検出装置を提供する。 - 特許庁

To make it possible to enhance the detection accuracy of a line defect and to enhance the identification accuracy of the point defect and the line defect in inspection of a TFT array.例文帳に追加

ＴＦＴアレイの検査において、線欠陥の検出精度を高めることができ、また、点欠陥と線欠陥の識別精度を高めること。 - 特許庁

To provide a defect correcting device capable of precisely correcting a defect in a short time by being equipped with a defect detection unit for a substrate.例文帳に追加

基板の欠陥検出ユニットを備えることによって、正確かつ短時間で欠陥の修正を行うことが可能な欠陥修正装置を提供する。 - 特許庁

To provide a leakage flux flaw detection method and a leakage flux flaw detection device having a defect discrimination function for determining a defect generation cause.例文帳に追加

欠陥の発生原因を判定する欠陥弁別機能を有する漏洩磁束探傷法および漏洩磁束探傷装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a crimping defect determination data forming method for a terminal crimping defect detection device in which the times of inputting, inputting mistakes, and the time of detection can be saved.例文帳に追加

入力の手間、入力ミス、検証の手間が省ける端子圧着不良検出装置の圧着不良判定データ作成方法を提供する。 - 特許庁

To suppress deterioration of detecting precision due to the defect of a detection circuit.例文帳に追加

検出回路の欠陥に起因した検出精度の低下を抑制する。 - 特許庁

To provide a defect detection device capable of detecting simultaneously a black spot and a defect such as a hollow, without lowering a detection capacity of a flaw.例文帳に追加

キズの検出能力を低下させることなく、黒点や凹みなどの欠陥を同時に検出することができる欠陥検出装置を提供する。 - 特許庁

To improve the accuracy of defect detection, and prevent the reduction in productivity.例文帳に追加

欠陥検出の精度を高めるとともに、生産性の低下を防止する。 - 特許庁

DETECTION METHOD OF DEFECT CAUSED BY CHEMICAL SOLUTION, AND MANUFACTURING METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

薬液起因の欠陥検出方法及び半導体装置の製造方法 - 特許庁

To inexpensively provide a defect detection device having performance equivalent to conventional performance.例文帳に追加

従来と同等の性能を持つ欠損検出素子を安価に提供する。 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR DEFECT DETECTION AND METHOD AND APPARATUS FOR IMAGING例文帳に追加

欠陥検査方法及びその装置並びに撮像方法及びその装置 - 特許庁

DEFECT DETECTION METHOD FOR PREFABRICATION-TYPE CABLE CONNECTION PART AND LOOP ANTENNA-TYPE SENSOR例文帳に追加

プレハブ型ケーブル接続部の欠陥検出方法およびループアンテナ型センサ - 特許庁

The defect detection device includes the first generation part 100, a rough image generation part 101, the second generation part 102, an enlarging part 103 and a defect detection part 104.例文帳に追加

欠陥検出装置に、第１生成部１００、粗画像生成部１０１、第２生成部１０２、拡大部１０３および欠陥検出部１０４を設ける。 - 特許庁

To provide an automatic defect inspection device that sets a detection condition at starting-up of a plurality of automatic defect inspection devices and periodically corrects the detection condition.例文帳に追加

複数の自動欠陥検査装置の立ち上げ時の検出条件の設定と、定期的に検出条件を校正する自動欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

To eliminate influence of reverse incident light through an eyepiece shutter at defect detection and to cope with degradation of a defect of pixel over aging without generating erroneous detection.例文帳に追加

欠陥検出時のアイピースシャッタからの逆入射光の影響がなくなり、誤検出を生じることなく画素欠陥の経時劣化に対応する。 - 特許庁