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defect detectionの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 1320件
Subsequently, the defect observation apparatus 3 forms a primary defect position correction expression for optimizing a defect position at the detection coordinate system, on the basis of the position deviation amount of each measurement point.例文帳に追加
続いて、欠陥観察装置3は、各測定ポイントの位置ずれ量に基づき、検出座標系での欠陥位置を適正化するための1次の欠陥位置補正式を作成する。 - 特許庁
To provide an image defect detecting technique which enables the accurate detection of defect pixels of an image formed on a recording medium, and grasp of the defect pixels with precision.例文帳に追加
画像記録媒体に形成された画像の欠陥画素を高精度に検出すると共に、的確に欠陥画素を把握することができる画像欠陥検査技術を提供する。 - 特許庁
When a defect is detected on a disk, a defect detection signal is extended between the small interval detecting the defect and the next small interval by registers 113 and 114.例文帳に追加
一方、ディスク上に欠陥が検出されると、レジスタ113および114により、欠陥が検出された小区間と次の小区間の間、欠陥検出信号が引き延ばされる。 - 特許庁
To provide an inspection apparatus and an inspection method for achieving precise and high-throughput defect detection performance, in a wide range of defect sizes from a small defect to a large one.例文帳に追加
小欠陥から大欠陥までの広範囲の欠陥サイズにおいて、高精度且つ高スループットな欠陥検出性能を実現する優れた検査装置および検査方法を提供する。 - 特許庁
To provide an inspection method enabling accurate detection of a defect by a foreign substance and a defect by a minute change in film thickness around the defect in manufacturing an antireflection film.例文帳に追加
反射防止フィルムの製造において、異物などの欠陥とその周辺の膜厚の微小な変化による欠陥を正確に検出できる検査方法を提供するものである。 - 特許庁
A detection rate is calculated in every of the defects based on whether the same defect is detected in a plurality of differential images or not, based on a result in a process for detecting the defect on a surface of the silicon wafer, and the shape of the defect is identified in the every defect on the surface of the silicon wafer, according to the detection rate.例文帳に追加
シリコンウエハ表面上の欠陥を検出する工程の結果から、同一の欠陥が複数の差分画像から検出されたかにより欠陥毎に検出率を算出し、前記検出率に従って前記シリコンウエハ表面上の欠陥毎に該欠陥の形状を識別する。 - 特許庁
Furthermore, in the scanning charged particle microscope for semiconductor test and semiconductor measurement, by using a pattern size measurement, defect detection, and defect classification or the like by using the image after image restoration, measurement precision improvement and high precision of defect detection and defect classification or the like become possible.例文帳に追加
さらに、半導体検査および半導体計測用の走査型荷電粒子顕微鏡において、画像復元後の画像を用いてパターン寸法計測、欠陥検出、欠陥分類等に用いることにより、計測精度向上や欠陥検出、欠陥分類の高精度化を可能とした。 - 特許庁
To provide an ultrasonic flaw detection method of solid shaft in which detection accuracy of defect can be enhanced when a defect occurring at the step part of a solid shaft is detected using an ultrasonic wave.例文帳に追加
中実軸の段付部から生じる欠陥を超音波で探傷するに当り、欠陥の検出感度を高めることのできる中実軸の超音波探傷方法を提供すること。 - 特許庁
To provide an ultrasonic wave defect detection apparatus that is compact and capable of effectively converging ultrasound energy into the deeper position of an object for defect detection even with low frequency supersonic wave.例文帳に追加
本発明は、低周波数の超音波であっても、小型化を図りつつ、被探傷対象物のより深い位置に超音波エネルギを有効に収束させることができるようにする。 - 特許庁
The defect detection unit 15 executes white defective pixel detection processing using the all black images and stores information for the pixel location of the defective pixel detected in the defect memory 16.例文帳に追加
欠陥検出部15は、全黒画像を用いて白欠陥画素検出処理を実行し、検出された欠陥画素の画素位置の情報を欠陥記憶部16に記憶させる。 - 特許庁
To obtain an optical disk drive capable of performing stable drive control of an operation such as reproduction without losing control continuity before and after the defect detection even when the defect detection period is long.例文帳に追加
欠陥検出前後の制御の連続性を失うこと無く、欠陥検出期間が長い場合でも、再生等の操作の安定した駆動制御が可能な光ディスク装置を得る。 - 特許庁
The system controller 112 confirms an opening/closing state of the eyepiece shutter prior to the defect detection and when the eyepiece shutter is opened, starts the defect detection after performing driving to close it.例文帳に追加
欠陥検出に先立ち、システムコントローラ112はアイピースシャッタの開閉状況を確認し、アイピースシャッタが開いている場合にはそれを閉駆動してから欠陥検出を開始する。 - 特許庁
To provide a marking signal control method for marking a print matter printed on a web-shaped base material according to defect detection signals for a defect detected by a plurality of defect inspection devices, the method controlling output of a marking signal for a plurality of defect detection signals such that marks are distinguishable for each defect detection signal.例文帳に追加
ウェブ状の基材に印刷された印刷物に、複数の欠陥検査装置により検出された欠陥の欠陥検出信号によりマーキングを行うためのマーキング信号制御方法であって、複数の欠陥検出信号に対するマーキング信号の出力制御を行い、各々の欠陥検出信号に対し、マーキングを区別できるようにした、マーキング信号制御方法を提供する。 - 特許庁
To provide a method for detecting a metal defect and a defect detection device, which allow clear detection of a defect portion by improving the uniformity, and increasing the brightness, of a non-defect portion of an imaged image of an inspecting surface when etching the inspecting surface of a metal sample to cause the defect to appear and imaging an image of the inspecting surface using an imaging device to detect the defect.例文帳に追加
金属試料の検査面をエッチング処理して欠陥を現出させ、撮像装置によって検査面を撮像することにより欠陥を検出するに際し、検査面撮像画像における非欠陥部の明度を均一かつ明るくすることにより、欠陥部を明瞭に検出することのできる金属の欠陥検出方法及び欠陥検出装置を提供する。 - 特許庁
To discriminate between a detected true defect and a pseudo defect, in image defect inspection for detecting the difference of a pixel value between each corresponding pixel in two images, and detecting a pixel part as a defect when the difference exceeds a detection threshold.例文帳に追加
2画像の対応する各画素同士の画素値の差分を検出して、この差分が検出閾値を超えるとき画素部分を欠陥として検出する画像欠陥検査において、検出された真欠陥と疑似欠陥とを区別する。 - 特許庁
A defect detection circuit 10 compares a latest half period measured at present with an anterior half period measured one half-period before the latest half period to detect that defect occurs.例文帳に追加
ディフェクト検出回路10は最新の半周期と1半周期前の半周期とを比較して異常が発生したことを検出する。 - 特許庁
TEG (TEST EXPERIMENTAL GROUP) FOR DETECTING PIPING DEFECT OF SEMICONDUCTOR DEVICE, ITS PIPING DEFECT DETECTION METHOD, AND ITS VOID FORMATION STATE DETERMINATION METHOD例文帳に追加
半導体装置のパイピング不良検出用TEG並びにそのパイピング不良検出方法およびそのボイド形成状態判定方法 - 特許庁
To provide a defect inspection device capable of acquiring precisely an image of an inspection object, and capable of obtaining sufficient defect detection precision.例文帳に追加
検査対象の画像を高精度で取得することができ、十分な欠陥検出精度を得ることが可能な欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁
Also, the level of a defect is set by the detection level setting key 20 and the defect is corrected in the priority order of the area and in the order of level of the defects.例文帳に追加
また、検出レベル設定キー20で欠陥のレベルを設定し、領域の優先順で、且つ欠陥のレベル順に欠陥を補正する。 - 特許庁
To provide a defect detection device and its method capable of detecting a linear defect on a test object with high accuracy.例文帳に追加
検査対象物上の線状欠陥を高精度に検出することができる欠陥検出装置および欠陥検出方法を提供する。 - 特許庁
To provide a battery defect detection circuit, capable of improving accuracy of detecting defect of a secondary battery, and to provide a power supply device using the same.例文帳に追加
二次電池の異常検出の精度を向上することができる電池異常検出回路、及びこれを用いた電源装置を提供する。 - 特許庁
To provide a method and a device for defect detection which inspect a defect of the outward appearance of an object to be inspected through image processing.例文帳に追加
画像処理により検査対象物の外観の欠陥を検査する欠陥検出方法及び欠陥検出装置を提供するにある。 - 特許庁
To provide a defect detection method of turbine generator end ring, capable of effectively detecting defects by discriminating between a defect echo and a pseudo echo.例文帳に追加
欠陥エコーと擬似エコーとを識別し、効果的に欠陥の検出ができるタービン発電機エンドリングの欠陥検出方法を実現する。 - 特許庁
A defect detection circuit 35 detects a defect inside the substrate 1 from a shape characteristic of the scattered light received by the light-receiving part 32.例文帳に追加
欠陥検出回路35は、受光部32が受光した散乱光の形状的特徴から、基板1の内部の欠陥を検出する。 - 特許庁
To provide the device capable of stable defect detection.例文帳に追加
安定した欠陥検出を行うことのできるレーザ溶接欠陥検出装置を提供すること。 - 特許庁
To provide a defect detector for a sheet, whose detection accuracy is high, and to provide a manufacturing method for the sheet.例文帳に追加
検出精度が高いシートの欠点検出装置およびシートの製造方法を提供する。 - 特許庁
To provide an inspection device for inspecting a defect with high detection sensitivity at high speed.例文帳に追加
高い検出感度で、高速に欠陥検査をすることができる検査装置提供すること。 - 特許庁
METHOD FOR DETECTING DEFECTS OF WELDING GUN FOR CAPACITOR DISCHARGE TYPE STUD WELDING AND DEFECT DETECTION DEVICE例文帳に追加
コンデンサ放電型スタッド溶接用溶接ガンの良否判定方法及び良否判定装置 - 特許庁
IMAGE PROCESSING DEVICE AND METHOD FOR SUPPORTING PARAMETER CONCERNING DETECTION OF DEFECT ON IMAGE例文帳に追加
画像処理装置および画像上の欠陥検出に係るパラメータの設定を支援する方法 - 特許庁
Therefore, defect detection is facilitated regardless of inclusion of the scan line driving circuit of CC driving.例文帳に追加
よって、CC駆動を行う走査線駆動回路を含んでいても欠陥検出が容易となる。 - 特許庁
To provide an amplitude-based approach for detection and classification of hard-disc defect regions.例文帳に追加
ハードディスク欠陥領域の検出および分類のための振幅ベースの方法を提供すること。 - 特許庁
To detect a defect 3 inside a welded part 2 using a TOFD(Time of Flight Diffraction) method for ultrasonic flaw detection.例文帳に追加
溶接部2内の欠陥3を、超音波探傷のTOFD(Time of FlightDiffraction)法によって検出する。 - 特許庁
To improve maintainability by simplifying a defect detection mechanism in a container push-up device.例文帳に追加
容器突き上げ装置における不良検出機構を簡略化し、メンテナンス性の向上を図る。 - 特許庁
DEFECT DETECTION METHOD OF DISC SUBSTRATE, APPARATUS FOR THE SAME, AND METHOD FOR MANUFACTURING SUBSTRATE FOR OPTICAL DISC例文帳に追加
円盤状基板の欠陥検出方法、その装置及び光ディスク用基板の製造方法 - 特許庁
DISK ARRAY CONTROL DEVICE, PROCESSING METHOD APPLIED TO THIS DEVICE UPON DETECTION OF DATA DEFECT, AND PROGRAM例文帳に追加
ディスクアレイ制御装置、同装置に適用されるデータ欠損検出時の処理方法及びプログラム - 特許庁
To provide a method for manufacturing/inspecting a photomask by which the defect detection sensitivity can be enhanced.例文帳に追加
欠陥検出感度を向上させ得るフォトマスクの製造・検査方法を提供すること。 - 特許庁
Therefore, the accuracy of defect detection at the end of the inspection domain can be improved.例文帳に追加
これにより検査領域の端部における欠陥検出の精度を向上させることができる。 - 特許庁
To provide a defect detection system for forming a thermal imagery of a structure energized by sound energy.例文帳に追加
音エネルギによって付勢された構造を熱画像化する欠陥検出システムを提供すること。 - 特許庁
Then, the bonding defect is detected on the basis of detection signals outputted from the test circuit.例文帳に追加
そして、テスト回路から出力される検出信号に基づいてボンディング不良を検出する。 - 特許庁
SPECTROSCOPIC DETECTION METHOD, APPARATUS THEREOF, DEFECT INSPECTION METHOD USING SAME, AND APPARATUS THEREOF例文帳に追加
分光検出方法及びその装置並びにそれを用いた欠陥検査方法及びその装置 - 特許庁
To execute defect detection of different images with time and accuracy of a substantially same level.例文帳に追加
実質的に同程度の時間及び正確さで、異なる画像の欠陥検出を実行する。 - 特許庁
To provide a mobile object position detection system which eliminates a defect (defect in mobile object position detection system by GPS) that processing by radio equipment becomes complicated and the defect (defect in mobile object position detection system by a beacon) that a beacon device and a beacon receiver have to be installed apart from the radio equipment.例文帳に追加
無線装置の処理が複雑になるという欠点(GPSによる移動体位置検出方式での欠点)、ビーコン装置及びビーコン受信装置を無線装置とは別に設置しなければならないという欠点(ビーコンによる移動体位置検出方式での欠点)を除去した移動体位置検出方式を提供することを目的とする。 - 特許庁
To provide a metal defect detection method capable of highlighting defect through etching treatment of the inspection surface of a metal sample, while when detection of the defect is carried out by imaging the inspection surface with an imaging device, brightness of non-defect parts on the imagery of inspection surface is made to be homogenized and brightened, leading clear defection of defect part.例文帳に追加
金属試料の検査面をエッチング処理して欠陥を現出させ、撮像装置によって検査面を撮像することにより欠陥を検出するに際し、検査面撮像画像における非欠陥部の明度を均一かつ明るくすることにより、欠陥部を明瞭に検出することのできる金属の欠陥検出方法を提供する。 - 特許庁
To provide a defect detector suitable for detecting a defect, such as a void on the bonded interface of transparent substrates composed of a compound semiconductor, which are bonded directly, and a defect detection system capable of surely removing the defect portion in a chip appearance inspection after chip process completion and a defect detection method.例文帳に追加
直接接合により貼り合わされた化合物半導体からなる透明基板の貼り合わせ界面のボイド等の欠陥を検出するのに好適な欠陥検出装置、更にチッププロセス終了後のチップ外観検査において該不良部を確実に取り除くことができる欠陥検出システムおよび欠陥検出方法を提供する。 - 特許庁
In a defect detection processing part 7, the difference in pixel value units, between the inspection object image 6a and the reference image 6b decomposed into space elements, is determined based on the detection gradation threshold set in a defect discrimination condition file 8, and thereby defect is detected.例文帳に追加
欠陥検出処理部7においては、欠陥判別条件ファイル8に設定されている検出諧調閾値を基に、空間要素に分解した被検物体像6aとリファレンス画像6bの画素値単位に相違を求め、欠陥を検出する。 - 特許庁
To provide a defect detection method of a cylindrical structure applied to defect detection of the cylindrical structure in the buried state, having excellent transmission efficiency of an SH wave to be transmitted and received, and capable of detecting the defect accurately and easily.例文帳に追加
埋設状態にある円筒形構造物の欠陥の検出に適用され、送受信されるSH波の伝達効率に優れ、その欠陥を精度よく容易に検出することができる円筒形構造物の欠陥検出方法を提供する。 - 特許庁
To sufficiently guarantee defect detection sensitivity corresponding to minute defects occurring in an actual semiconductor process and, in particular, to use the defect detection sensitivity for production management as an indicator for judging sensitivity adjustment after a light source replacement is performed in a lighting means of a defect detecting device.例文帳に追加
実際の半導体プロセスおいて発生する微小欠陥に対応した欠陥検出感度を十分に保証し、特に欠陥検査装置の照明手段の光源交換後の感度調整を判断する指標として製造管理に利用する。 - 特許庁
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