「defect detection」に関連した英語例文の一覧と使い方(12ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a surface layer defect detector which accurately discriminates between formation noises of a metal analyte and detection signals due to scab defects.例文帳に追加

金属被検体の地合ノイズとヘゲ欠陥に起因する検出信号とを精度良く弁別する。 - 特許庁

To provide a device and a method for pattern inspection which can efficiently perform accurate defect detection.例文帳に追加

正確な欠陥検出を効率的に行うことが可能なパターン検査装置及び方法を提供する。 - 特許庁

The defect detection step further includes a step for transforming a heterogeneous software application into a homogeneous application.例文帳に追加

欠陥検出段階は、異種ソフトウェアアプリケーションを同種のアプリケーションに変形する段階を更に有する。 - 特許庁

To make detectable not only a white line but also a black line in a line defect, and to enhance detection precision.例文帳に追加

線欠陥で白線に限らず黒線も検出でき、さらに検出精度の向上を目的とする。 - 特許庁

To improve resolution by imaging of an internal defect by water immersion C scan ultrasonic flaw detection.例文帳に追加

水浸Ｃスキャン超音波探傷による内部欠陥の映像化における分解能を向上させる。 - 特許庁

To increase the manufacture yield of a photomask blank with improved defect detection sensitivity on a photomask blank.例文帳に追加

フォトマスクブランクの欠陥検出感度を向上させてフォトマスクブランクの製造歩留まりを高めること - 特許庁

To improve defect detection position accuracy while suppressing the deflection of a substrate that is used for a flat panel.例文帳に追加

フラットパネルに用いられる基板の撓みを抑制しつつ欠陥検出位置精度を向上させる。 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR DEFECT DETECTION, INFORMATION RECORDING AND REPRODUCING DEVICE, AND MAGNETIC DISK DRIVE例文帳に追加

欠陥検出方法および欠陥検出装置ならびに情報記録再生装置および磁気ディスク装置 - 特許庁

To provide a defect detection optical system and a defect inspection device that can detect a defect at a high accuracy and have a simple structure without being affected by scratch in a substrate surface or directivity of scattered light on a chip defect.例文帳に追加

基板表面のスクラッチやカケ欠陥の散乱光の指向性に影響されることなく、欠陥検出が高い精度で検出でき、かつ構造が簡単な欠陥検出光学系欠陥検出光学系および欠陥検査装置を提供することにある。 - 特許庁

To provide a failure detecting device, a failure detection method, and an air conditioner, capable of determining whether a defect in motor operation is caused by phase interruption in a power supply line of a motor, such as a defect in wiring or by a defect in an inverter circuit, in the case of the occurrence of a defect in motor operation .例文帳に追加

モータの動作不良が生じた場合、その原因が配線不備などによるモータの通電線の欠相にあるのか、インバータ回路の不良にあるのかを判別できる故障検知装置、故障検知方法及び空気調和装置を提供すること。 - 特許庁

In this process, a defect is detected by comparing a basic inspection image obtained from the basic pattern formed in the basic pattern region of the mask for inspection of pattern defect detection sensitivity with a defect reference image produced by image processing based on the design data of the defect pattern.例文帳に追加

この際、パターン欠陥検出感度検査用マスクの基本パターン領域に形成された基本パターンから取得した基本検査画像と、欠陥パターンの設計データを基に画像処理により生成した欠陥参照画像とを、比較して欠陥を検出する。 - 特許庁

In the small surface irregularity defect detection method detecting the small surface irregularity defect of a magnetic metal object to be inspected, physical quantity resulting from a distortion of the defect part in the object to be inspected is measured, then using the measured value, the surface defect is detected.例文帳に追加

磁性金属被検体の微小凹凸表面欠陥を検出する微小凹凸表面欠陥の検出方法において、前記被検体の欠陥部の歪に起因する物理量を測定し、その測定値を利用して前記表面欠陥を検出する。 - 特許庁

The 'defect compensation processing for detection' is performed for the purpose of excluding a defective pixel registered as initial defect data from a detecting object of a defect detecting operation and an interpolation processing by the closest pixels with the same color is performed based on the initial defect data.例文帳に追加

「検出用欠陥補償処理」は、初期欠陥データとして登録されている欠陥画素を欠陥検出動作の検出対象から除外する目的で行われるものであり、初期欠陥データに基づいて最近接同色画素による補間処理が行われる。 - 特許庁

A correction control part 4 compares pixel defect detection signals with respect to multiple frames, determines that the pixel defect is the true one when the same kind of pixel defects exist at the same pixel positions of the multiple frames, and indicates the correction of the pixel defect to a pixel defect correction part 5.例文帳に追加

補正制御部４は、複数フレームに対する画素欠陥検出信号を比較し、複数フレームの同じ画素位置に同種の画素欠陥が存在している場合は真の画素欠陥と判定し、画素欠陥補正部５に対し画素欠陥の補正を指示する。 - 特許庁

In an image processing part 12 of this radiation image photographing apparatus 10, a defect detection part 24 detects a black defect of a radiation image, and makes a storage part 28 store a position of the black defect satisfying a prescribed condition.例文帳に追加

放射線画像撮影装置１０の画像処理部１２では、欠陥検出部２４が放射線画像の黒欠陥を検出し、所定の条件を満たした黒欠陥の位置を記憶部２８に記憶させる。 - 特許庁

To provide a technique that allows a sample surface with an insulation region and a conduction region formed thereon to be observed under high contrast, and that facilitates detection of a deletion defect and an open defect and classification of the defect types.例文帳に追加

絶縁領域と導電領域が形成されている試料面の観察を高コントラストで行い、且つ、欠落欠陥や開放欠陥の検出と欠陥種類の分類を容易なものとする技術を提供すること。 - 特許庁

The detection device moves between candidates in each classification, a point-defect candidate smaller than a prescribed threshold or a line-defect candidate smaller than a prescribed threshold between the defect pixel candidates detected in each classification.例文帳に追加

そして、検出装置は、種別ごとに検出された欠陥画素候補間で、所定の閾値よりも小さい点欠陥候補や所定の閾値よりも小さい線欠陥候補を、前記種別ごとの候補間で移動する。 - 特許庁

To provide a defect detection method capable of acquiring accurately information of the form and the position of a defect from the outside in a layered product after laminating a metal layer, concerning the defect existing inside the layered product.例文帳に追加

積層体の内部に存在する欠陥を、金属層を積層した後の積層体において、その外部から欠陥の形態及び位置の情報を精度良く把握するという、欠陥の検出方法を提供する。 - 特許庁

An operator designates local defective areas within a sample image, subsequently performs defect candidate detection with the area threshold as a minimum value (S2), and classifies the defect candidates into overlooked defects, noise defects and designated defect candidates (S3).例文帳に追加

オペレータがサンプル画像内の局所的な欠陥領域を指定した後、面積しきい値を最小値として欠陥候補検出を行って（Ｓ２）、見逃し欠陥、ノイズ欠陥、指定欠陥候補に分類する（Ｓ３）。 - 特許庁

The defect removing equipment 20 stops running of the printed matter 10 at a position where the position of detection of the defect and the position indicated by the mark 13 coincide with each other, and performs cutting and pasting of an area of removal including the defect.例文帳に追加

欠陥除去装置２０は、欠陥検出位置とマーク１３が示す位置とが一致する位置で印刷物１０の走行を停止させ、欠陥を含む除去領域の切断及び貼り合わせを行う。 - 特許庁

In an image signal processing device, a defect detection circuit 12 compares the image signal of a target pixel with the image signal of surrounding pixels thereof to detect a pixel defect candidate, and stores the address information of the pixel defect candidate in a position memory circuit 13.例文帳に追加

欠陥検出回路１２で目標画素の画像信号を周辺画素の画像信号と対比して画素欠陥候補を検出し、画素欠陥候補のアドレス情報を位置メモリ回路１３に記憶する。 - 特許庁

To provide an apparatus and a method for the detection of a defect on a substrate such as a solar cell, in which a defect such as a crack is detected uniformly, in which the kind of the defect is discriminated, and in which the substrate is not heated excessively.例文帳に追加

クラックのような欠陥を均一に検出し、欠陥の種類を識別し、しかも、基板を過度に加熱することのない、太陽電池のような基板の欠陥を検出する装置及び方法を提供すること。 - 特許庁

Furthermore, the defect detection device 100 has a defect determining portion 65 for detecting a defect (for example, a resin peeling portion 9) on a boundary surface 12 between the layers of the semiconductor device 11.例文帳に追加

欠陥検出装置１００は、更に、撮像部による撮像結果に基づいて、少なくとも、半導体装置１１の層間の界面１２における欠陥（例えば、樹脂剥離部９）を検出する欠陥判定部６５を有する。 - 特許庁

For display, many inspection recipes are arranged on the coordinate system specified by many axes having characteristics values (charge robustness, defect detection speed, defect detection accuracy and others) which have the mutual trade-off relationship.例文帳に追加

複数の検査レシピは、互いにトレードオフの関係にある特性値（帯電ロバスト性、欠陥検出速度、欠陥検出精度等）を持つ複数の軸により特定される座標系上に配置されて表示される。 - 特許庁

The control system for the printer is such that a color control sub system and a defect detection sub system are integrated, and thereby the color control system and the defect detection sub system are made to commonly have data obtained from the printer.例文帳に追加

色制御サブシステムおよび欠陥検出サブシステムを統合し、かくして前記色制御システムおよび前記欠陥検出サブシステムが印刷機から得たデータを共有するようにされている印刷機用制御システム。 - 特許庁

To provide a layered film defect detection device capable of performing defect detection considering irregularities of optical performance of a phase difference layer constituting the layered film without requiring insertion of an additional component into an optical path.例文帳に追加

新たな部品を光路中に挿入することなく、積層フィルムを構成する位相差層の光学性能のばらつきを考慮した欠陥検出を行うことが可能な積層フィルムの欠陥検出装置を提供する。 - 特許庁

To provide a pixel defect detection/correction device that detects pixel defects even if there is a large value of the pixel in the adjacent same color pixels, an image pickup device, a pixel defect detection/correction method, and program therefor.例文帳に追加

同色隣接画素に大きな値の画素が存在する場合であっても画素欠陥を検出することが可能な画素欠陥検出補正装置、撮像装置、画素欠陥検出補正方法、およびプログラムを提供する。 - 特許庁

To provide a defect detection device and method capable of shortening an inspection time corresponding to the case where a large defect larger than a prescribed size exists.例文帳に追加

所定サイズ以上の大欠陥がある場合に対応して検査時間を短縮することができる欠陥検出装置および欠陥検出方法を提供する。 - 特許庁

In a period of the pulse, the second input signal is changed so as to make possibility that the defect detection signal shows the presence of a defect become small.例文帳に追加

前記パルスの期間において、前記ディフェクト検出信号がディフェクトがあることを示す可能性が小さくなるように、前記第２の入力信号を変化させる。 - 特許庁

To provide an eddy current flaw detection sensor capable of detecting a defect on a deep part and on a defective shell part, and discriminating and evaluating the defect highly accurately.例文帳に追加

深層部分及び欠陥胴体部の欠陥検出が可能で、欠陥の識別及び評価を高精度に行うことが可能な渦電流探傷センサを提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory device which can efficiently detect a defect due to shortage of an accumulated charge amount of a memory cell, and to provide its defect detection method.例文帳に追加

メモリセルの蓄積電荷量の不足による不良を効率よく検出することができる半導体記憶装置及びその不良検出方法を提供する。 - 特許庁

A defect detection means 84 compares the theoretical edge shape with the observed edge shape, and from a difference found by the comparison, detects a defect of the article to be inspected.例文帳に追加

欠損検出手段８４は、理論エッジ形状と実測エッジ形状とを比較することにより、その差分から円盤状の被検査物品の欠損を検出する。 - 特許庁

A defect detection processing part 110 detects the defect of the working surface by signals outputted from the sensor 80 after positioning is performed by the controller 100.例文帳に追加

欠陥検出処理部１１０が、制御装置１００により位置決めした後にセンサ８０から出力される信号により加工表面の欠陥を検出する。 - 特許庁

To provide a surface defect detection device capable of detecting an irregular defect on the cylindrical work surface in a short time with excellent sensitivity, and requiring only a small installation space.例文帳に追加

円筒状ワーク表面の凹凸欠陥を短時間で感度良く検出できるとともに、設置スペースが少なくて済む表面欠陥検出装置を提供すること。 - 特許庁

The existence of defect detection is checked (S36), and when no defect is detected, inspecting image data are deleted and the fact of deletion is recorded in the history information (S40).例文帳に追加

そして、欠陥検出の有無を調べ（Ｓ３６）、欠陥が検出されない場合には、検査画像データを削除し履歴情報に削除した旨を記録する（Ｓ４０）。 - 特許庁

To provide a method of setting a threshold for blot defect detection to simply set a threshold for detecting a blot defect by means of a plurality of inspection devices under a unified determination.例文帳に追加

複数の検査装置で統一した判断でシミ欠陥を検出するための閾値を簡便に設定するシミ欠陥検出用閾値設定方法を提供する。 - 特許庁

When a defect detection means 10 detects a data defect in image data, an output means 11 outputs, to a display part 50, information representing an error.例文帳に追加

欠損検出手段１０が画像データの中からデータ欠損を検出したときに、出力手段１１が表示部５０に表示部にエラーであることを出力する。 - 特許庁

To provide a surface inspection device and a surface inspection method, capable of detecting highly precisely an appearance defect, even relative to the appearance defect having low detection precision in a circular slit.例文帳に追加

円形スリットでは検出精度が悪い外観不良に対しても、高精度に外観不良を検出できる表面検査装置および表面検査方法を提供する。 - 特許庁

The defect candidate detection part 20 images the optically transparent film A which is an inspection object, and detects a defect candidate of the optically transparent film A from the acquired image.例文帳に追加

欠陥候補検出部２０は、検査対象である光透過性フィルムＡを撮像し、得られた画像から光透過性フィルムＡの欠陥候補を検出する。 - 特許庁

An output signal generated by the detection thereof is stored as an image signal, the stored image is compared in a calculation part 29 and a defect determination part 30, and a defect is determined.例文帳に追加

検出されたその出力信号は画像信号として記憶され、記憶された画像は演算部２９及び欠陥判定部３０で比較され、欠陥が判定される。 - 特許庁

To provide a work defect detection system by which a defect determination is performed accurately even when setting mistake of inspection software to an inspection apparatus occurs.例文帳に追加

この発明は、検査装置への検査ソフトのセットミスが起きた場合でも正確に不良判定を行うことができるワーク不良検出システムを提供することを課題とする。 - 特許庁

A defect abnormality detection processing part 234 decides that any image defect exists when the specified interrelation coefficients of the positioned portions are lower than a decision index value.例文帳に追加

欠陥異常検出処理部２３４は、位置が合った部分での正規化相互相関係数が判定指標値を下回る場合画像欠陥が存在すると判定する。 - 特許庁

To provide a surface defect inspection method which enables accurate detection of surface defects in information recording media which can cause errors, and to provide a surface defect inspection apparatus.例文帳に追加

エラーとなり得る情報記録媒体の表面の欠陥を精度良く検出可能な表面欠陥検査方法および表面欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a device and method for defect signal detection capable of precisely detecting a defect signal according to an input reproduction signal.例文帳に追加

入力される再生信号に応じてさらに正確に欠陥信号を検出できる欠陥信号検出装置及びその欠陥信号検出方法を提供する。 - 特許庁

The defect inspection device inputs the illuminance distribution of the light detected by the detection optical system, and calculates the thresholds by pixels of the detection optical system based upon the input data.例文帳に追加

検出光学系で検出された光の照度分布を取り込み、取り込んだデータを基に、検出光学系の画素毎にしきい値を算出する。 - 特許庁