「defect detection」に関連した英語例文の一覧と使い方(13ページ目) - Weblio英語例文検索

An image for defect detection obtained by a confocal microscope 10 is recorded in an image recording part 20, and only a G signal is taken out from RGB signals included in the image for defect detection to detect an abnormal position by an abnormal position detection part 30.例文帳に追加

共焦点顕微鏡１０で得られる欠陥検出用画像を画像記録部２０に記録し、異常個所検出部３０で、欠陥検出用画像に含まれるＲＧＢ信号の中からＧ信号のみを取り出すことにより異常個所を検出する。 - 特許庁

To provide an evaluation method for a flake defect of a steel material allowing efficient and objective detection.例文帳に追加

効率的かつ客観的に検出することが可能な鋼材の白点性欠陥の評価方法を提供する。 - 特許庁

Methods are shown where during defect detection a read/write gate assertion is triggered using a servo gate pulse.例文帳に追加

欠陥検出中は、読み出し／書き込みゲートアサーションが、サーボゲートパルスを用いてトリガされる方法が示される。 - 特許庁

To easily and properly classify defects, when carrying out sequentially a plurality of kinds of defect detection.例文帳に追加

複数種類の欠陥検出処理を順次行うような場合、欠陥の分類処理を容易かつ適切に行う。 - 特許庁

To inspect a surface defect of a metal band at the same detection angle, using a two-dimensional imaging means.例文帳に追加

２次元撮像手段を使用して、同一の検出角度で金属帯の表面欠陥を検査できるようにする。 - 特許庁

To provide a control system for a printer coordinating each function of the color control system and a defect detection system.例文帳に追加

色制御システムと欠陥検出システムの各機能の調整を図った印刷機用制御システムを提供する。 - 特許庁

To provide a metal ring inspection apparatus for solving a problem of excessive defect detection and a problem of cost increase.例文帳に追加

過剰な欠陥検出の問題やコスト上昇の問題を解決した金属リング検査装置を提供する。 - 特許庁

To properly and sufficiently perform detection of a pixel, the defect of which is to be compensated without depending on performance of an image pickup device.例文帳に追加

撮像素子の性能によらずに欠陥補償すべき画素の検出を適切且つ十分に行う。 - 特許庁

Furthermore, a method of manufacturing a unit cell of the fuel cell which includes processes of a unit cell defect detection method is provided.例文帳に追加

さらには、当該セル欠陥検出方法する工程を含む当該セルの製造方法を提供する。 - 特許庁

The measurement part 48 measures and detects the current and voltage of the coil of the disconnection defect detection sensor 24.例文帳に追加

計測部４８は、断線不良検出センサ２４のコイルの電流及び電圧を計測して検出する。 - 特許庁

To provide an efficient method and a system for detection of defect for which need grows more and more.例文帳に追加

必要性がますます増大している欠陥検出のための効率的な方法及びシステムを提供する。 - 特許庁

The determination means determines existence of a defect on the pattern based on the signal from the detection means.例文帳に追加

前記判定手段は、前記検出手段からの信号に基づいて前記パターンの欠陥の有無を判定する。 - 特許庁

Thus, detection is made for a minute medium defect which has not been discriminated to be an error in the decoder.例文帳に追加

よって、前記ビタビ復号器でエラーと判定されなかった微小な媒体欠陥の検出することができる。 - 特許庁

To provide a quick and high-sensitivity defect detection method to resolve various problems due to conventional techniques.例文帳に追加

従来の技術による諸問題を解決するため、迅速かつ高感度の欠陥検知方法を提供する。 - 特許庁

The result is a highly uniform image with improved contrast for accurate defect detection.例文帳に追加

これによって、高度に均一でコントラストの改善された画像が得られ、欠陥検出の精度を上げることができる。 - 特許庁

To reduce erroneous detection to enhance reliability, in automatic defect recognition for a test piece using nondestructive analysis.例文帳に追加

非破壊分析を用いたテストピースの自動欠陥認証において、誤った検出を少なくし信頼性を高める。 - 特許庁

The parameter calculated in the processing process is set as a threshold for blot defect detection in a threshold setting process.例文帳に追加

閾値設定工程では、画像処理工程にて算出されたパラメータをシミ欠陥検出用閾値として設定する。 - 特許庁

To provide a method for retreating a flaw detection head and a flaw detection apparatus with which a surface flaw can be detected even if shape defect exits in a steel plate which is an object to be detected without breakage of the flaw detection head through contact of the shape defect portions with the surface flaw detection apparatus.例文帳に追加

探傷対象の鋼板に形状不良があっても、この形状不良部分と表面欠陥探傷装置とが接触して欠陥探傷ヘッドを破損することがなく表面欠陥の検出を行うことができる、欠陥探傷ヘッドの退避方法および欠陥探傷装置を提供することを課題とする。 - 特許庁

The stripe defect detection filtering step comprises a step for carrying out a computation of convolution by filtering the image with each base filter, and a detection result of each base filter is calculated from the result of the computation, and a step defining a median value of the detection result of each base filter as the detection value of the stripe defect.例文帳に追加

筋状欠陥検出フィルタ処理工程は、画像に対して各ベースフィルタの各フィルタをかけて畳み込み演算をそれぞれ行い、各演算結果に基づいて各ベースフィルタの検出結果を算出する工程と、ベースフィルタ毎の検出結果のメディアン値を筋状欠陥の検出値とする工程とを備える。 - 特許庁

By this method, an error caused by a defect signal formed in a period of HS-HE is reducible to the utmost since a defect processing signal G for improving the detected defect signal is arranged so as to be generated for a period longer than that of the detection signal of the defect.例文帳に追加

本発明では、検出されたディフェクト信号を改善するためのディフェクト処理信号Ｇを、ディフェクトの検出信号Ｄの期間より長い期間だけ生成するようにしたので、ＨＳ〜ＨＥの期間でなるディフェクト信号によるエラーを極力低減することができる。 - 特許庁

When a region for storing the pixel defect information is full or when the pixel defect information cannot be stored entirely, the pixel defect information is ranked and stored sequentially starting from one having the highest defect level or a latest detection time.例文帳に追加

また、画素欠陥情報を記憶する記憶領域が満杯、或いは追記しようとする画素欠陥情報のすべてを記憶しきれない場合には、欠陥レベルの大きいものから順位付けして或いは検出時期の新しいものから順位付けして上位のものから記憶させる。 - 特許庁

A black spot defect position determination circuit 21 determining the position of a black spot defect on a self-luminous display panel 17 is arranged, and the black spot defect is determined by connecting a detection current source inside the black spot defect position determination circuit 21 to a pixel during a period other than a display period of a data signal.例文帳に追加

自発光表示パネル１７の黒点欠陥画素の位置を判別する黒点欠陥位置判別回路２１を設け、この黒点欠陥位置判別回路２１内の検出用電流源をデータ信号の表示期間とは別の期間に画素に接続して、黒点欠陥を判別する。 - 特許庁

To provide a bonding defect detector capable of accurately recognizing the possibility of generating a bonding defect by giving a large temperature difference to the bonding part of an electronic component and a substrate, and accurately reproducing the generation state of the bonding defect; and to provide a bonding defect detection method.例文帳に追加

電子部品と基板との接合部に大きな温度差を与えることにより接合不良が発生する可能性を正確に把握したり、接合不良の発生状態を的確に再現可能な接合不良検知装置、並びに、接合不良検知方法の提供を目的とする。 - 特許庁

Because of this, detection of minute defect is achieved by using detection signals of only forward scattered light among scattered light detection signals detected in many directions while high-accuracy detection of roughness is achieved by using detection signals of only back scattered light.例文帳に追加

このため、多方向で検出した散乱光検出信号のうち、前方散乱光のみの検出信号を用いることにより微小欠陥の検出が可能となり、後方散乱光のみの検出信号を用いることによりラフネスの高精度検出が可能となる。 - 特許庁

To provide a solid-state image pickup device with which a defect can be more exactly detected by preventing a detection error caused by the time change of a pixel defect and the defect can be corrected without deteriorating a spatial resolution.例文帳に追加

画素欠陥の時間変化による検出誤りを防止することを通じてより正確な欠陥検出を行い、また、空間解像度を劣化させることなく欠陥補正を行うことのできる固体撮像装置を提供する。 - 特許庁

In an initial inspection, defect detection processing for the solid- state image pickup element is performed, a defect number is attached to the detected defective pixel, and defect information (a defective part and a defective level) is successively stored in a memory space block 10.例文帳に追加

初期検査時において、固体撮像素子の欠陥検出処理を行い、この検出された欠陥画素に欠陥番号を付して欠陥情報（欠陥個所、欠陥レベル）を順次メモリ空間ブロック１０に格納していく。 - 特許庁

The defect detection method comprises an image acquiring process for capturing the image of the object to be inspected having an identical sequence of pattern, and a defect emphasizing process for performing the defect emphasizing processing to the captured image.例文帳に追加

欠陥検出方法は、同一繰り返しパターンを有する被検査物を撮像して画像を取得する画像取得工程と、取得した画像に対して欠陥強調処理を行う欠陥強調処理工程とを有する。 - 特許庁

To provide an automatic inspection device for display panel which automatically inspects testing items such as point defect or line defect, while achieving an enhancement of precision in detection and judgment of display unevenness without requiring any difficult display unevenness detection/determination processing.例文帳に追加

自動的に点欠陥や線欠陥などの検査項目を検査するとともに、困難な表示ムラ検出・判定処理を必要とせずに表示ムラの検出・判定の精度を向上可能なディスプレイパネル自動検査装置を提供する。 - 特許庁

As a result, a detection range (a light receiving range) is lengthwise longer, resulting in representing the change in the widthwise contrast of the PS plate 10 larger and realizing in the exact detection of a defect part R even when the defect part has a shape of a longitudinal streak continuous in a conveying direction.例文帳に追加

このため、検出範囲（受光範囲）が縦長になり、ＰＳ版１０の幅方向のコントラストの変化が大きく出るため、搬送方向に連続した縦筋のような欠陥部Ｒであっても、正確に検出できる。 - 特許庁

Thereafter, the image data expressing the light emission defect part for detection is acquired by a detection defect acquiring means 65 when irradiating the panel 10 exposed by radiation through an object with the stimulating light Le.例文帳に追加

その後、被写体を通して放射線が曝射された上記放射線像変換パネル１０へ励起光Ｌｅを照射したときに、検出欠陥取得手段６５により検出用の発光欠陥部位を表す画像データを取得する。 - 特許庁

When the defect of a reproducing RF signal 100 outputted from an RF amplifier 2 is detected by a defect detection circuit 8, its detection signal 400 is delayed by a rear edge delay circuit 9 to be outputted to a switch circuit 3.例文帳に追加

ＲＦアンプ２から出力される再生ＲＦ信号１００の欠陥を欠陥検出回路８が検出すると、その検出信号４００を後縁遅延回路９により遅延し、これをスイッチ回路３に出力する。 - 特許庁

To provide an apparatus and a method for inspecting defects capable of determining overlapping defects in the case that defect detection processing is performed on an object to be inspected by a plurality of defect detection means.例文帳に追加

検査対象物について、複数の欠陥検出手段によって欠陥検出処理を行った場合に、重複して検出された欠陥を判定することができる欠陥検査装置及び欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

To inspect a surface defect of a metal band at the same detection angle by use of a two-dimensional imaging means.例文帳に追加

２次元撮像手段を使用して、同一の検出角度で金属帯の表面欠陥を検査できるようにする。 - 特許庁

To enable detection of excessive erase defect without using word line voltage being threshold voltage or less of the lowest limit of excessive erase.例文帳に追加

過消去の下限の閾値電圧以下のワード線電圧を用いることなく過消去不良を検出可能にする。 - 特許庁

To provide a defect inspection method and a device improving detection sensitivity by restraining temperature rise on a sample surface.例文帳に追加

試料表面の温度上昇を抑えて検出感度を向上させる欠陥検査方法及び装置を提供する。 - 特許庁

To stably generate an image having brightness suitable for defect detection without affecting the accuracy of inspection.例文帳に追加

検査の精度に影響を及ぼすことなく、欠陥の検出に適した明るさの画像を安定して生成できるようにする。 - 特許庁

To provide a defect detection method for viewing and detecting SOI and BOX pin holes on one SOI wafer.例文帳に追加

ＳＯＩピンホールおよびＢＯＸピンホールを１枚のＳＯＩウェハで目視検出できる欠陥検出方法を提供する。 - 特許庁

To realize the exact detection of even a defect part developed continuously in the running direction of a PS plate.例文帳に追加

ＰＳ版の流れ方向に連続して発生した欠陥部でも正確に検出できるようにすることを課題とする。 - 特許庁

To raise efficiency in using incident light with respect to a signal for imaging by enabling focus detection and evading a pixel defect.例文帳に追加

焦点検出を可能にし、画素欠陥を回避し、撮像用信号に対する入射光の利用効率を高める。 - 特許庁

To obtain a defect-inspecting semiconductor substrate facilitating detection of defects, without changing the function and constitution of an inspection unit.例文帳に追加

検査装置の機能や構成を変えることなく、欠陥を検出しやすくする欠陥検査用半導体基板を得る。 - 特許庁

The high frequency flaw detection method detects the welding defect of a weldment 1 welded by using a high frequency current.例文帳に追加

高周波電流を用いて溶接した溶接物１の溶接欠陥を検出する高周波探傷方法である。 - 特許庁

To identify and separate unacceptable products from acceptable products or shut down a device by a computer system upon detection of a defect.例文帳に追加

欠陥の検出により、コンピュータシステムは、拒絶製品を識別して、良製品から分離し、もしくは、装置を止める。 - 特許庁

To provide a sensor for reducing the possibility of resulting in a defect of a metal terminal member and suppressing the reduction of the detection accuracy.例文帳に追加

金属端子部材の欠陥に至る可能性を低減し、かつ、検出精度の低下を抑制するセンサを提供する。 - 特許庁

The discriminating system 10 of the coil component is provided with a disconnection defect detection sensor 24, a measurement part 48, and a drive control unit 50.例文帳に追加

コイル部品の選別装置１０は、断線不良検出センサ２４、計測部４８、及び駆動制御部５０を備える。 - 特許庁

To provide a method of manufacturing a wiring circuit board, wherein erroneous detection of a defect of a wiring pattern is sufficiently reduced.例文帳に追加

配線パターンの不良の誤検出が十分に低減された配線回路基板の製造方法を提供する。 - 特許庁