「defect inspection device」に関連した英語例文の一覧と使い方(5ページ目) - Weblio英語例文検索

DEFECT INSPECTION DEVICE AND DEFECT INSPECTION METHOD FOR MASK BLANK, AND METHOD OF MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

マスクブランクの欠陥検査装置および欠陥検査方法、ならびに半導体装置の製造方法 - 特許庁

OPTICAL DEFECT INSPECTION METHOD AND DEVICE FOR THE SAME例文帳に追加

光学式欠陥検査方法及びその装置 - 特許庁

SOLID-STATE IMAGE PICKUP DEVICE, PIXEL DEFECT INSPECTION DEVICE AND PIXEL DEFECT CORRECTION METHOD例文帳に追加

固体撮像装置、画素欠陥検査装置および画素欠陥補正方法 - 特許庁

COATING DEFECT INSPECTING METHOD, AND COATING DEVICE HAVING COATING DEFECT INSPECTION DEVICE例文帳に追加

塗工欠陥検査法と、塗工欠陥検査装置を備えた塗工装置 - 特許庁

The defect inspection system is constituted of a DF defect inspection device 1 having a spatial filter section 12, and a defect inspection correction device 2.例文帳に追加

空間フィルタ部１２を有するＤＦ欠陥検査装置１及び欠陥検査補正装置２を含み欠陥検査システムが構成される。 - 特許庁

DEFECT INSPECTION METHOD AND DEFECT DETECTING DEVICE FOR ELECTROLUMINESCENT ELEMENT例文帳に追加

エレクトロルミネッセンス素子の欠陥検査方法及び欠陥検出装置 - 特許庁

DEFECT INSPECTION DEVICE OF PHOTOMASK, DEFECT INSPECTION METHOD OF PHOTOMASK, AND MANUFACTURING METHOD OF PHOTOMASK例文帳に追加

フォトマスクの欠陥検査装置、フォトマスクの欠陥検査方法及びフォトマスクの製造方法 - 特許庁

CHARACTERISTIC EXTRACTION METHOD OF IMAGE, TOOL DEFECT INSPECTION METHOD, AND TOOL DEFECT INSPECTION DEVICE例文帳に追加

画像の特徴抽出方法並びに工具欠陥検査方法と工具欠陥検査装置 - 特許庁

To provide a mask defect inspection method, and a mask defect inspection device used therefor.例文帳に追加

マスク欠陥検査方法及びこれに使用されるマスク欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a defect inspection device and a defect inspection method capable of improving accuracy of defect inspection at the end of an inspection domain.例文帳に追加

検査領域の端部における欠陥検査の精度を向上させることが可能な欠陥検査装置および欠陥検査方法を提供する。 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEFECT INSPECTION DEVICE AND METHOD THEREOF例文帳に追加

半導体欠陥検査装置ならびにその方法 - 特許庁

THROUGH HOLE WALL SURFACE DEFECT INSPECTION DEVICE OF PRINTED BOARD例文帳に追加

プリント基板のスルーホール壁面欠陥検査装置 - 特許庁

MONITORING DEVICE FOR PERFORMANCE OF SURFACE-DEFECT INSPECTION APPARATUS例文帳に追加

表面欠陥検査装置の性能監視装置 - 特許庁

WAFER SURFACE DEFECT INSPECTION DEVICE, AND METHOD THEREFOR例文帳に追加

ウェハ表面欠陥検査装置およびその方法 - 特許庁

To provide a defect inspection device and a defect inspection method capable of performing defect inspection at high speed, suppressing cost increase.例文帳に追加

コストの増大を抑えて高速に欠陥検査を行うことができる欠陥検査装置及び欠陥検査方法を提供する。 - 特許庁

DEFECT INSPECTION METHOD, ITS DEVICE, DEFECT ANALYSIS METHOD AND ITS DEVICE例文帳に追加

欠陥検査方法及びその装置並びに欠陥解析方法及びその装置 - 特許庁

METHOD FOR DETECTING CONCRETE DEFECT DURING PLACING AND INSPECTION DEVICE OF THE DEFECT例文帳に追加

打設中のコンクリート欠陥検出方法及び該欠陥の検査装置 - 特許庁

PROBE NAVIGATION METHOD AND DEVICE AND DEFECT INSPECTION DEVICE例文帳に追加

プローブナビゲーション方法及び装置並びに不良検査装置 - 特許庁

ILLUMINATING DEVICE AND DEFECT INSPECTION DEVICE USING SAME例文帳に追加

照明装置およびこの装置を用いた欠陥検査装置 - 特許庁

DEFECT INSPECTION DEVICE AND DEVICE MANUFACTURING METHOD USING THE SAME例文帳に追加

欠陥検査装置およびそれを用いたデバイス製造方法 - 特許庁

TRANSPARENT FILM INSPECTION DEVICE AND DEFECT DETECTION METHOD例文帳に追加

透明フィルム検査装置及び欠陥検出方法 - 特許庁

SUBSTRATE SURFACE DEFECT INSPECTION METHOD AND DEVICE THEREOF例文帳に追加

基板表面欠陥検査方法およびその装置 - 特許庁

DEFECT INSPECTION APPARATUS, DEFECT INSPECTION METHOD AND METHOD FOR MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE USING THE SAME例文帳に追加

欠陥検査装置、欠陥検査方法並びにこれを用いた半導体デバイスの製造方法 - 特許庁

APPEARANCE DEFECT INSPECTION DEVICE OF ANTIREFLECTION FILM AND APPEARANCE DEFECT INSPECTION METHOD USING THE SAME例文帳に追加

反射防止フィルムの外観欠陥検査装置及びそれを用いた外観欠陥検査方法 - 特許庁

DARK FIELD DEFECT INSPECTION METHOD, DARK FIELD DEFECT INSPECTION DEVICE, ABERRATION ANALYSIS METHOD, AND ABERRATION ANALYZER例文帳に追加

暗視野欠陥検査方法、暗視野欠陥検査装置、収差解析方法及び収差解析装置 - 特許庁

DEFECT INSPECTION DEVICE FOR COLOR FILTER AND DETECT INSPECTION METHOD FOR COLOR FILTER例文帳に追加

カラーフィルターの欠陥検査装置およびカラーフィルターの欠陥検査方法 - 特許庁

OBJECT LENS, ELECTRON BEAM DEVICE AND DEFECT INSPECTION METHOD例文帳に追加

対物レンズ、電子線装置及び欠陥検査方法 - 特許庁

PATTERN DEFECT INSPECTION METHOD AND DEVICE例文帳に追加

パターン欠陥検査方法及びパターン欠陥検査装置 - 特許庁

PATTERN DEFECT INSPECTION DEVICE AND METHOD例文帳に追加

パターン欠陥検査装置およびパターン欠陥検査方法 - 特許庁

DATA MANAGEMENT DEVICE, INSPECTION SYSTEM AND DEFECT REVIEWING APPARATUS例文帳に追加

データ管理装置、検査システムおよび欠陥レビュー装置 - 特許庁

FILM DEFECT INSPECTION DEVICE AND METHOD例文帳に追加

フイルム欠陥検査装置及びフイルム欠陥検査方法 - 特許庁

IMAGE CORRECTION DEVICE, PATTERN INSPECTION DEVICE, IMAGE CORRECTION METHOD, AND PATTERN DEFECT INSPECTION METHOD例文帳に追加

画像補正装置、パターン検査装置、画像補正方法、及び、パターン欠陥検査方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE, MARKING DEVICE AND DEFECT INSPECTION APPARATUS THEREFOR例文帳に追加

半導体装置とそのマーク形成装置，その欠陥検査装置 - 特許庁

ILLUMINATING DEVICE, DEFECT INSPECTION DEVICE USING THE SAME AND DEFECT INSPECTION METHOD, AND HEIGHT MEASURING DEVICE AND HEIGHT MEASURING METHOD例文帳に追加

照明装置並びにそれを用いた欠陥検査装置及びその方法並びに高さ計測装置及びその方法 - 特許庁

To provide a defect inspection device, a defect inspection system and a defect inspection method that use defect data for analysis without lowering the number of samples of a defect with a high killer rate.例文帳に追加

キラー率が高い欠陥のサンプリング数を低下させずに欠陥データを解析に用いることが可能な欠陥検査装置、欠陥検査システム及び欠陥データ処理方法を提供する。 - 特許庁

To provide a defect inspection device and a defect inspection method with which a defect inspection is possible in all areas of a semiconductor wafer to eliminate an area where the defect inspection is impossible.例文帳に追加

半導体ウェハの全ての領域で欠陥検査が可能であり、欠陥検査が不可能な領域をなくすことができる欠陥検査装置及び欠陥検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a defect inspection device having unprecedented high accuracy, in a defect inspection device of a manufacturing process of a semiconductor device; and to provide a defect inspection (or evaluation) method.例文帳に追加

半導体デバイスの製造過程の欠陥検査装置において従来にはない精度の良い欠陥検査装置及び検査（或いは評価）方法を実現する。 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR SUPPORTING INSPECTION OF INTERNAL DEFECT IN CASTING例文帳に追加

鋳造品内部欠陥検査支援装置及び方法 - 特許庁

DEFECT INSPECTION DEVICE WITH CATADIOPTRIC OBJECTIVE LENS例文帳に追加

反射屈折型対物レンズを用いた欠陥検査装置 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE DEFECT INSPECTION METHOD AND SYSTEM THEREOF例文帳に追加

半導体デバイスの欠陥検査方法およびそのシステム - 特許庁

DEFECT INSPECTION METHOD AND DEFECT INSPECTION DEVICE FOR MASK BLANK, AND METHOD FOR MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE USING THEM例文帳に追加

マスクブランクの欠陥検査方法及び欠陥検査装置、並びにそれらを用いた半導体装置の製造方法 - 特許庁

SURFACE DEFECT INSPECTION DEVICE AND METHOD例文帳に追加

表面欠陥検査装置および表面欠陥検査方法 - 特許庁

PATTERN DEFECT INSPECTION DEVICE AND IMAGE SENSOR CALIBRATION METHOD例文帳に追加

パターン欠陥検査装置及びイメージセンサの校正方法 - 特許庁

DEFECT INSPECTION METHOD AND METHOD FOR MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

欠陥検査方法及び半導体装置の製造方法 - 特許庁

DEFECT INSPECTION DEVICE AND METHOD OF INSPECTING SURFACE OF SUBSTRATE例文帳に追加

欠陥検査装置及び基板表面の検査方法 - 特許庁