「defect inspection device」に関連した英語例文の一覧と使い方(8ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a reticle defect inspection device and a reticle defect inspection method, which suppresses damages on a reticle by irradiation with inspection light when a reticle is inspected in a still state.例文帳に追加

レチクルを静止させた状態での検査の際の、検査光照射によるレチクルの損傷を抑制するレチクル欠陥検査装置およびレチクル検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a defect inspection device and a defect inspection method capable of improving accuracy and efficiency of detect inspection on the surface of a work having gloss.例文帳に追加

光沢を有するワークの表面における欠陥検査の精度と効率とを向上させることが可能な欠陥検査装置および欠陥検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a defect inspection device for a PDP substrate and a defect inspection method capable of obtaining a precise defect location even if the defect inspection is carried out with the substrate in a state of thermal expansion, and capable of improving production efficiency.例文帳に追加

基板が熱膨張した状態で欠陥検査を行っても正確な欠陥位置を得ることができ、生産効率を向上させることができるＰＤＰ用基板の欠陥検査装置および欠陥検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a defect inspection device, a defect information acquisition device and a defect inspection method, capable of optimizing further an acquisition amount of a scattered light signal regarding the defect by improving a detection accuracy of the defect to be as the detection object.例文帳に追加

検出対象とする欠陥の検出精度を向上させ、当該欠陥に関する散乱光信号の取得量をより適正化することができる欠陥検査装置、欠陥情報取得装置及び欠陥検査方法を提供する。 - 特許庁

To obtain an inspection method and an inspection apparatus for semiconductor devices, which require short inspection time, are highly reliable and readily constituted, without using a defect-inspection device.例文帳に追加

検査の所要時間が短く信頼性も高い、しかも欠陥検査装置を用いない簡易な構成の、半導体装置の検査方法及び検査装置を得る。 - 特許庁

ILLUMINATION OPTICAL SYSTEM, PATTERN DEFECT INSPECTION DEVICE USING IT AND OPTICAL FIBER例文帳に追加

照明光学系及びこれを用いたパターン欠陥検査装置及び光ファイバー - 特許庁

To evaluate a performance of an internal defect inspection device by magnetic leakage flux flaw detection.例文帳に追加

漏洩磁束探傷による内部欠陥検査装置の性能を評価する。 - 特許庁

REFLECTION IMAGE FORMING ELECTRON MICROSCOPE AND PATTERN DEFECT INSPECTION DEVICE USING IT例文帳に追加

反射結像型電子顕微鏡及びそれを用いたパターン欠陥検査装置 - 特許庁

TEST PATTERN WAFER FOR DEFECT INSPECTING DEVICE, ITS MANUFACTURING METHOD, AND EVALUATION METHOD OF DEFECT INSPECTION APPARATUS USING IT例文帳に追加

欠陥検査装置用テストパターンウエハ、その製造方法及びそれを用いた欠陥検査装置の評価方法 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR INSPECTING SURFACE DEFECT, AND STORAGE MEDIUM RECORDED WITH SURFACE DEFECT INSPECTION PROGRAM例文帳に追加

表面欠陥検査装置、表面欠陥検査方法及び表面欠陥検査用プログラムを記録した記録媒体 - 特許庁

To provide a defect inspection device capable of acquiring precisely an image of an inspection object, and capable of obtaining sufficient defect detection precision.例文帳に追加

検査対象の画像を高精度で取得することができ、十分な欠陥検出精度を得ることが可能な欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

To achieve an inspection correction device for efficiently performing various processing even when defect inspection or a defect correction object substrate is large-sized.例文帳に追加

欠陥検査又は欠陥修正される基板が大型化しても、各種処理を効率よく行うことができる検査修正装置を実現する。 - 特許庁

From the stage position of a defect detected by a review device, a defect candidate close to that stage position is listed along with the defect information (defect type, defect image, defect size) provided by an inspection device, so that a defect for use in the fine alignment correction can be selected.例文帳に追加

レビュー装置が検出した欠陥のステージ位置から、そのステージ位置に近い欠陥候補を検査装置が提供する欠陥情報（欠陥種別，欠陥画像，欠陥サイズ）とともに一覧表示し、ファインアライメント補正に使用する欠陥を選択できるようにする。 - 特許庁

DUST-PROOFING DEVICE, STENCIL MASK WITH DUST-PROOFING DEVICE, EXPOSURE METHOD, INSPECTION METHOD AND DEFECT CORRECTING METHOD例文帳に追加

防塵装置、防塵装置付きステンシルマスクおよび露光方法、検査方法と欠陥修正方法 - 特許庁

TAPE CARRIER DEFECT INSPECTION DEVICE, AND TAPE CARRIER CONVEYING METHOD IN THE SAME DEVICE例文帳に追加

テープキャリア欠陥検査装置及びテープキャリア欠陥検査装置におけるテープキャリアの搬送方法 - 特許庁

To provide a pattern defect inspection device reducing pseudo defect detection due to uneven colors and capable of improving sensitiveness of actual defect detection.例文帳に追加

色むらによる疑似欠陥検出を減少させ実欠陥検出の感度を向上させることのできるパターン欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide an inspection device and an inspection method capable of inspecting a defect at high speed with high sensitivity.例文帳に追加

高速かつ高感度で欠陥検査を行うことができる検査装置、及び検査方法を提供すること。 - 特許庁

To accurately detect an irregularity defect on an inspection surface of an inspection object by an inexpensive and simple device constitution.例文帳に追加

低コストかつ単純な装置構成で検査対象の被検査面の凹凸欠陥を精度よく検出する。 - 特許庁

To reduce the movement of visual point when a visual inspector refers to the inspection information of a surface defect inspection device.例文帳に追加

目視検査員が表面欠陥検査装置の検査情報を参照する場合に視点の移動を少なくする。 - 特許庁

DEFECT DETECTION OPTICAL SYSTEM, AND EFFECT INSPECTION METHOD AND DEVICE USING IT例文帳に追加

欠陥検出光学系、これを用いる欠陥検査方法および欠陥検査装置 - 特許庁

To provide an appearance inspection device of an inspection device capable of determining presence/absence of a defect of an opening of a PET bottle with high accuracy.例文帳に追加

ペットボトルの開口部の欠陥の有無を高精度に判定することができる検査装置の外観検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide an automatic defect inspection device that uses a conveying device with a self-propelled conveyor for reducing inspection cost.例文帳に追加

検査費用のコストダウンを可能とする自走コンベア搬送方式の搬送装置を用いた自動欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a defect detection method and a defect detection device improving sensitivity of defect detection of an inspection object, even when a bright defect and a dark defect are mixed together.例文帳に追加

明欠陥と暗欠陥とが混在する場合にも被検査物の欠陥検出の感度を向上することができる欠陥検出方法及び欠陥検出装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a simple defect inspection device and a defect inspection method for performing defect inspection on a substrate by using diffraction beams generated from a repetitive pattern of further fine intervals without shortening the wavelengths of illumination beams.例文帳に追加

照明光の波長を短くしなくても、さらに微細なピッチの繰り返しパターンから発生する回折光を利用して、基板の欠陥検査を行える簡易な欠陥検査装置および欠陥検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a defect inspection device capable of simply inspecting the defect such as a crack or the like of a solar cell on a definite decision level, and a flaw inspection method of the solar cell.例文帳に追加

太陽電池のクラック等の欠陥の検査を一定の判定レベルで簡単に行うことができる検査装置と方法を提供する。 - 特許庁

To provide a surface inspection device of generating hardly a pseudo-defect, even when detecting a defect based on a difference between hues of a reference image and an inspection image.例文帳に追加

ファレンス画像と検査画像の色相の差に基づいて欠陥を検出する場合においても、擬似欠陥の発生しにくい表面検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a surface inspection device for inspecting defect distribution on a wafer which can measure the thickness and the flatness of the wafer simultaneously with defect inspection.例文帳に追加

ウェーハ上の欠陥分布を検査する表面検査装置において、欠陥検査と同時進行でウェーハの厚さとフラットネスを測定できるようにする。 - 特許庁

To provide an automatic defect inspection device that sets a detection condition at starting-up of a plurality of automatic defect inspection devices and periodically corrects the detection condition.例文帳に追加

複数の自動欠陥検査装置の立ち上げ時の検出条件の設定と、定期的に検出条件を校正する自動欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

To realize a defect inspection device by which a vertical or horizontal defect of fine line width such as a CD error can be detected.例文帳に追加

ＣＤエラーのような微細線幅の縦長又は横長の欠陥を検出できる欠陥検査装置を実現する。 - 特許庁

To provide a pattern inspection device which eliminates an erroneous detection of false defect macroscopically, and enables high defect detection accuracy microscopically.例文帳に追加

マクロには擬似欠陥の誤検出がなく、ミクロには欠陥検出精度が高いパターン検査装置を提供する。 - 特許庁

To realize an inspection device capable of individually detecting a step bunching and a defect other than the step bunching such as a lattice defect.例文帳に追加

格子欠陥等のステップバンチング以外の欠陥とステップバンチングとを個別に検出できる検査装置を実現する。 - 特許庁

METHOD OF INSPECTING DEFECT IN CIRCUIT BOARD FOR FLAT PANEL DISPLAY, METHOD OF MANUFACTURING THIS CIRCUIT BOARD AND DEFECT INSPECTION DEVICE例文帳に追加

フラットパネルディスプレイ用パネル回路基板の欠陥検査方法、当該パネル回路基板の製造方法及び欠陥検査装置 - 特許庁

To provide a defect inspection device capable of efficiently classifying a defect with high precision without taking labor.例文帳に追加

欠陥を分類するのに手間を掛けずに効率良く高精度に欠陥分類できる欠陥検査装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a defect detection method and device for performing defect inspection in the course of conveying a detecting object.例文帳に追加

検出対象物を搬送する途中で欠陥の検査を行う欠陥検出方法および装置を提供する。 - 特許庁

To provide a surface defect inspection device capable of more reliable surface defect inspection capable of imaging while securing sufficient brightness even the inspection object is curvilinear solid.例文帳に追加

被検査物が曲面体であっても十分な明るさをもった撮影画像が確保でき、より信頼性の高い表面欠陥検査が可能となる表面欠陥検査装置を提供する - 特許庁

Then, the defect inspection device is enabled to recalculate an inspection result in response to change in a threshold coefficient from the inspection result data, display it on an assist tool picture (GUI), and observe a detection defect.例文帳に追加

次に、検査結果データから、しきい値係数の変更による検査結果の再計算を可能とし、アシストツール画面(ＧＵＩ)上に表示させ、検出欠陥の観察も可能とする。 - 特許庁

Then image data of an inspection image obtained by a pattern defect inspecting device with inspection wavelength is compared and contrasted with the data for phase shift mask correspondence inspection to detect a pattern defect.例文帳に追加

続いて、検査波長でのパターン欠陥検査装置により得た検査画像の画像データと位相シフトマスク対応検査用データとを比較対照してパターン欠陥を検出する。 - 特許庁

To provide a defect inspection device constituted so as to be capable of achieving the drastic enhancement of inspection precision at the time of inspection of defect in a PTP sheet manufacturing process, and a PTP packaging machine.例文帳に追加

ＰＴＰシートの製造過程における不良を検査するに際し、検査精度の飛躍的な向上を図ることのできる不良検査装置、及び、ＰＴＰ包装機を提供する。 - 特許庁

To provide a defect inspection device capable of suppressing a defect data amount to be managed without impeding acquisition of a defect generation state on a substrate to be inspected.例文帳に追加

被検査基板における欠陥発生状況の把握を妨げることなく、管理すべき欠陥データ量を抑制できる欠陥検査装置の提供。 - 特許庁

Defect information including at least information on each defect position is acquired by detecting each defect on the substrate with the use of an inspection device (S302).例文帳に追加

検査装置によって基板上の欠陥をそれぞれ検出して、各欠陥の位置を表す情報を少なくとも含む欠陥情報を取得する（Ｓ３０２）。 - 特許庁

To provide a mask inspection device that can improve the defect detection sensitivity.例文帳に追加

欠陥検出感度を向上させることができるマスク検査装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a defect inspection device capable of stably detecting minute defects.例文帳に追加

微少な欠陥を安定して検出することができる欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide an inspection device of a display panel capable of improving detection accuracy of a defect.例文帳に追加

欠陥の検出精度を向上できる表示パネルの検査装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a defect inspection device capable of obtaining the long-term stable detection sensitivity.例文帳に追加

長期的に安定した検出感度を得ることができる欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide an inspection device capable of classifying a defect with high accuracy.例文帳に追加

欠陥を高い精度で分類することができる検査装置を提供することにある。 - 特許庁