「defect inspection device」に関連した英語例文の一覧と使い方(6ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a defect inspection method capable of capturing surely a deformation defect, and discriminating easily the deformation defect and the other defect such as a foreign matter defect, and a defect inspection device.例文帳に追加

変形欠陥の捕捉が確実に行えるとともに、変形欠陥と異物欠陥など他の欠陥との判別が容易に行える欠陥検査方法および欠陥検査装置の提供。 - 特許庁

INSPECTION METHOD FOR DEFECT OF HONEYCOMB FILTER, INSPECTION DEVICE FOR DEFECT OF HONEYCOMB FILTER, AND MANUFACTURING METHOD FOR HONEYCOMB FILTER例文帳に追加

ハニカムフィルタの欠陥の検査方法、ハニカムフィルタの欠陥の検査装置、及び、ハニカムフィルタの製造方法 - 特許庁

To provide a defect inspection device for easily performing inspection even on a luminescent spot defect with a low luminance value.例文帳に追加

輝度値が低い輝点欠点などであってもその検査が容易な欠点検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a defect inspection device and a defect inspection method capable of reliably detecting various defects.例文帳に追加

様々な欠陥を確実に検出し得る欠陥検査装置及び欠陥検査方法を提供する。 - 特許庁

REFERENCE DATA GENERATION METHOD, PATTERN DEFECT INSPECTION DEVICE, PATTERN DEFECT INSPECTION METHOD, AND REFERENCE DATA GENERATION PROGRAM例文帳に追加

参照データ生成方法、パターン欠陥検査装置、パターン欠陥検査方法、及び参照データ生成プログラム - 特許庁

To provide a defect inspection device capable of outputting the inspection result of the defect related to the whole of an inspection target surface even if there are many defects, and a defect inspection method.例文帳に追加

欠陥が多くても検査対象面の全体についての欠陥の検査結果を出力可能な欠陥検査装置および欠陥検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide an inspection device making correct defect inspection even when the inspection surface is tilted greatly.例文帳に追加

被検面の傾きが大きくても正しい欠陥検査を行える検査装置を提供する。 - 特許庁

PHOTOVOLTAIC DEVICE INSPECTION APPARATUS AND METHOD OF DETERMINING DEFECT IN PHOTOVOLTAIC DEVICE例文帳に追加

太陽電池の検査装置及び太陽電池の欠陥判定方法 - 特許庁

DEFECT INSPECTION SYSTEM, DISPLAY DEVICE AND METHOD FOR MANUFACTURING DISPLAY DEVICE例文帳に追加

欠陥検査システム、表示装置および表示装置の製造方法 - 特許庁

To decide accurate defect inspection parameters which are not influenced by the knowledge, etc., of a defect inspection unit, by reducing the occupying time of a defect inspection device.例文帳に追加

欠陥検査装置の占有時間を減少し、欠陥検査者の知識等に左右されることのない正確な欠陥検査パラメータを決定する。 - 特許庁

ORGANIC LIGHT EMITTING DISPLAY DEVICE AND DEFECT INSPECTION METHOD OF THE SAME例文帳に追加

有機発光表示装置及びその欠陥検査方法 - 特許庁

REPETITIVE PATTERN ERASING METHOD, DEFECT INSPECTION METHOD AND DEVICE例文帳に追加

繰り返しパターン消去方法、欠陥検査方法及び装置 - 特許庁

DEFECT INSPECTION METHOD AND DEFECT INSPECTION DEVICE OF MASK SUBSTRATE, MANUFACTURING METHOD OF PHOTO MASK, AND MANUFACTURING METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

マスク基板の欠陥検査方法及び欠陥検査装置、フォトマスクの製造方法及び半導体装置の製造方法 - 特許庁

TFT ARRAY INSPECTION DEVICE AND DEFECT INTENSITY CALCULATION METHOD例文帳に追加

ＴＦＴアレイ検査装置および欠陥強度算出方法 - 特許庁

SURFACE DEFECT INSPECTION DEVICE AND CONTROL PROGRAM RECORDING MEDIUM例文帳に追加

表面欠陥検査装置及び制御プログラム記録媒体 - 特許庁

DEFECT INSPECTION METHOD AND MANUFACTURING METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

欠陥検査方法および半導体装置の製造方法 - 特許庁

DEFECT INSPECTION APPARATUS AND DEVICE MANUFACTURING METHOD USING SUCH APPARATUS例文帳に追加

欠陥検査装置及び該装置を用いたデバイス製造方法 - 特許庁

To provide a defect inspection method and a defect inspection device for a honeycomb filter capable of an inspection in a short time.例文帳に追加

短時間での検査が可能な、ハニカムフィルタの欠陥を検査する方法、及び、ハニカムフィルタの欠陥の検査装置を提供する。 - 特許庁

INSULATION DEFECT INSPECTION DEVICE OF ROTATING ELECTRICAL MACHINE COIL, AND METHOD FOR INSPECTING INSULATION DEFECT例文帳に追加

回転電機巻線の絶縁欠陥検査装置および絶縁欠陥検査方法 - 特許庁

To provide an image defect inspection device, and a defect inspection classification and image defect inspection method, capable of detecting a defect under the optimum defect detecting condition, even when a noise level included in an inspection image depends greatly on the inspection image.例文帳に追加

検査画像に含まれるノイズレベルの検査画像に対する依存性が大きい場合にも、最適な欠陥検出条件で欠陥を検出可能な画像欠陥検査装置、欠陥検査分類、及び画像欠陥検査方法を提供する。 - 特許庁

FOR DEVICE, DEFECT INSPECTION DEVICE USING THE SAME, AND METHOD FOR MANUFACTURING SEMICONDUCTOR USING THE INSPECTION DEVICE例文帳に追加

ＦＯＰ装置、それを用いた欠陥検査装置、及び該検査装置を用いた半導体製造方法 - 特許庁

To provide a defect inspection device and a defect inspection method, being capable of accurately inspecting a fine defect in a short time.例文帳に追加

微細な欠陥の検査を精度よく且つ短時間に行うことができる欠陥検査装置および欠陥検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a defect inspection device capable of defect inspection even in the case of occurrence of multiple defects.例文帳に追加

多量の欠陥が発生した場合にも欠陥検査を行なうことができる欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a defect inspection device, a specimen for an electronic device, and a defect inspection method, capable of inexpensively and easily inspecting a defect in a short time.例文帳に追加

欠陥の検査を安価、短時間、及び容易に行うことができる欠陥検査装置、電子装置用試験体、及び欠陥検査方法を提供すること。 - 特許庁

IMAGING CONDITION DETERMINATION METHOD FOR PERIODIC PATTERN, DEFECT INSPECTION METHOD, AND DEFECT INSPECTING DEVICE例文帳に追加

周期性パターンの撮像条件決定方法、欠陥検査方法、および欠陥検査装置 - 特許庁

To re-detect a defect previously detected by a defect inspection device with a high throughput.例文帳に追加

欠陥検査装置により予め検出された欠陥を高いスループットで再検出する。 - 特許庁

In review work, the defect is extracted in a defect extracting part 3 of an appearance inspection device.例文帳に追加

レビュー作業では外観検査装置の欠陥抽出部３で欠陥抽出を行なう。 - 特許庁

This defect inspection device is employed for inspecting the existence of a defect of an inspection object and inspecting a plurality of inspection objects continuously.例文帳に追加

検査対象物の欠陥の有無を検査すると共に複数の検査対象物を連続して検査する欠陥検査装置である。 - 特許庁

METHOD OF INSPECTING QUALITY DEFECT OF LINEAR CONTROL VALVE, AND INSPECTION DEVICE例文帳に追加

リニア制御弁の品質不良の検査方法、及び、検査装置 - 特許庁

SUBSTRATE SURFACE DEFECT INSPECTION METHOD AND DEVICE例文帳に追加

基板表面欠陥検査方法，基板表面欠陥検査装置 - 特許庁

DEFECT INSPECTION DEVICE AND METHOD BY PHOTO LUMINESCENCE OF SOLAR BATTERY例文帳に追加

太陽電池のフォトルミネセンスによる欠陥検査装置及び方法 - 特許庁

MIRROR ELECTRON MICROSCOPE, AND PATTERN DEFECT INSPECTION DEVICE USING IT例文帳に追加

ミラー電子顕微鏡及びそれを用いたパターン欠陥検査装置 - 特許庁

METHOD OF ADJUSTING DEFECT INSPECTION DEVICE, EVALUATING METHOD OF ADJUSTING STATE OF DEFECT INSPECTION DEVICE, AND SETTING METHOD OF AZIMUTHAL ANGLE OF PATTERN例文帳に追加

欠陥検査装置の調整方法、欠陥検査装置の調整状態の評価方法、及びパターンの方位角の設定方法 - 特許庁

UNEVENNESS DEFECT DETECTION METHOD AND DEVICE, SPATIAL FILTER, UNEVENNESS DEFECT INSPECTION SYSTEM, AND PROGRAM FOR UNEVENNESS DEFECT DETECTION METHOD例文帳に追加

ムラ欠陥検出方法及び装置、空間フィルタ、ムラ欠陥検査システム並びにムラ欠陥検出方法のプログラム - 特許庁

LINE DEFECT INSPECTION METHOD, LINE DEFECT DETECTION DEVICE, LINE DEFECT DETECTION PROGRAM, AND RECORDING MEDIUM FOR RECORDING PROGRAM例文帳に追加

線欠陥検査方法、線欠陥検出装置、線欠陥検出プログラム、このプログラムを記録した記録媒体 - 特許庁

To provide a defect classification device for easily predicting a defect occurrence rate, based on defect inspection results.例文帳に追加

欠陥検査結果から不良発生率を容易に予測することが可能な欠陥分類装置を提供すること。 - 特許庁

ANALYSIS DEVICE, PROGRAM, DEFECT INSPECTION DEVICE, REVIEW DEVICE, ANALYSIS SYSTEM, AND ANALYSIS METHOD例文帳に追加

解析装置、プログラム、欠陥検査装置、レビュー装置、解析システム及び解析方法 - 特許庁

LIGHTING METHOD AND DEVICE THEREFOR, AND DEFECT INSPECTION DEVICE USING THE SAME例文帳に追加

照明方法およびその装置ならびにこれを用いた欠陥検査装置 - 特許庁

IMAGE INPUT METHOD, IMAGE INPUT DEVICE AND SURFACE DEFECT INSPECTION DEVICE例文帳に追加

画像入力方法、画像入力装置及び表面欠陥検査装置 - 特許庁

To realize an electron beam defect inspection device enabling the inspection of flaw at a high speed with high resolving power.例文帳に追加

高速且つ高分解能での検査が可能な電子ビーム欠陥検査装置を実現。 - 特許庁

To provide a defect inspection method and defect inspection device capable of stably detecting a defect occurring on the surface of an inspecting object.例文帳に追加

被検査物の表面上に発生する欠陥を安定して検出することができる欠陥検査方法及び欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

SIGNAL PROCESSOR, IMAGE PROCESSOR, AND SURFACE DEFECT INSPECTION DEVICE例文帳に追加

信号処理装置、画像処理装置及び表面欠陥検査装置 - 特許庁

METHOD AND DEVICE OF DEFECT INSPECTION FOR CCD SOLID-STATE IMAGING ELEMENT例文帳に追加

ＣＣＤ型固体撮像素子の欠陥検査方法及びその装置 - 特許庁

SYNCHRONIZING SIGNAL SHAPING CIRCUIT, IMAGE PROCESSOR AND DEFECT INSPECTION DEVICE例文帳に追加

同期信号整形回路、画像処理装置及び欠陥検査装置 - 特許庁

SURFACE INSPECTION DEVICE OF STEEL STRIP, AND DETECTING METHOD OF SURFACE DEFECT例文帳に追加

鋼帯の表面検査装置及び表面欠陥の検出方法 - 特許庁