「defect inspection device」に関連した英語例文の一覧と使い方(11ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide an inspection device which can stably inspect a dross defect of a molten metal plating steel plate by being separated from formation noise and a slight defect.例文帳に追加

溶融金属メッキ鋼板のドロス欠陥を地合ノイズや軽度の欠陥と分離して、安定して検査することができる検査装置を提供する。 - 特許庁

Further, the defect for fine alignment is selected on the basis of the inclination of a detection value on the size of a defect on the substrate for calibration detected by the inspection device.例文帳に追加

更に、検査装置によって検出した校正用基板の欠陥サイズの検出値の傾向に基づいて、ファインアライメント用の欠陥を選定する。 - 特許庁

To provide a defect inspection device capable of non-destructively and high-accurately inspecting a defect of a transparent substrate without using an expensive evaluation equipment or a microscope.例文帳に追加

高価な評価機器や顕微鏡を用いることなく、非破壊にて精度高く透明基板の欠陥を検査することができる欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

Based on representative values of product manufacturing data and inspection data collected for each product, a calculation device 16 analyzes the defect factor of a produced defect.例文帳に追加

演算装置１６は、製品の生産データと検査データを製品毎に集計した代表値を元に不良発生の不良要因の分析を行う。 - 特許庁

To provide a defect-inspecting device and method for reliably detecting the defect (spot) of an inspection target with improved detection sensitivity.例文帳に追加

良好な検出感度で、検査対象物の欠陥（斑）を確実に検出することができる欠陥検査装置および欠陥検査方法を提供する。 - 特許庁

To enable a surface defect inspection device to automatically, easily and surely inspect a surface defect regardless of an annular object of a large diameter to be inspected.例文帳に追加

表面欠陥検査装置によって、大径の環状被検査体であっても自動で表面欠陥を簡単且つ確実に検査できるようにする。 - 特許庁

To provide a cylindrical body surface inspection device capable of distinguishing a reflected wave from a defect from a reflected noise and having excellent defect discriminability.例文帳に追加

欠陥からの反射波を反射ノイズと区別することができ、欠陥判別性の良い円柱体表面検査装置を提供することにある。 - 特許庁

To provide an inspection method and an inspection device for a display device that enable a defect of pixels to be detected based on a current flowing to only one pixel and consequently enable the resolution of an inspection waveform to be increased to realize highly accurate inspection.例文帳に追加

一つの画素にだけ流れる電流に基づいて画素の欠陥検査を可能とし、もって検査波形の分解能を高めて精度の高い検査を行うことのできる表示装置の検査方法及び検査装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a defect inspection device and a defect inspection method using the device capable of reducing a maintenance work, transferring accurately defect information detected in upper processes to lower processes, and recognizing surely the defect in the lower process even when a defect detector installed in the lower process is simplified.例文帳に追加

保守作業を少なくすることができ、かつ正確に上工程で検出した欠陥情報を下工程に伝達することができ、たとえ下工程に設置する欠陥検出器を簡単なものとした場合であっても下工程で欠陥を確実に認識することができる欠陥検査装置およびそれ用いた欠陥検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a design method of filter, a filter, a defect inspection method and a defect inspection device capable of reducing the cost and tact time required for a defect inspection, and removing only moire fringes from an input image without losing the characteristic quantity of a defective part.例文帳に追加

欠陥検査に要するコストおよびタクトタイムの低減を図るとともに、欠陥部の特徴量を失うことなく、入力画像からモアレ縞だけを極力除去することが可能なフィルタの設計方法、フィルタ、欠陥検査方法および欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a defect inspection method discovering early a VA pattern formation defective substrate by detecting a partial VA deficiency of VA having a line width of 5-10 μm, and improving a line production efficiency, and also to provide a defect inspection device to which the defect inspection method is adapted.例文帳に追加

線幅５μｍ〜１０μｍのＶＡの、部分ＶＡ欠損を検出することで、ＶＡパターン形成不良基板を早期に発見し、ラインの生産効率を向上させることが可能な欠陥検査方法、および、この欠陥検査方法を適応した欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a defect inspection method and a defect inspection device of a laminate, capable of detecting a defect of the laminate in a nondestructive/noncontact manner, regardless of the material of the laminate, and utilizable, for example, for deterioration diagnosis of for a solid oxide type fuel cell or process inspection at manufacturing.例文帳に追加

積層体の材質に左右されることなく、積層体の欠陥を非破壊・非接触で検出しることができ、例えば固体酸化物形燃料電池の劣化診断や、製造時の工程検査などに利用することができる積層体の欠陥検査方法及び欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a filter design method, a filter, a defect inspection method and a defect inspection device that can reduce cost and cycle time for defect inspection and remove only as many moire fringes as possible from an input image without losing a feature value of a defective portion.例文帳に追加

欠陥検査に要するコストおよびタクトタイムの低減を図るとともに、欠陥部の特徴量を失うことなく、入力画像からモアレ縞だけを極力除去することが可能なフィルタの設計方法、フィルタ、欠陥検査方法および欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

To shorten a time required for determining the optimum device condition, concerning an inspection device for inspecting a defect on an inspection object such as a wafer.例文帳に追加

本発明は、ウエハ等の被検物体の欠陥検査を行う検査装置に関し、最適な装置条件の決定に掛かる時間を短縮することを目的とする。 - 特許庁

The exposure mask is provided with a design pattern 3 which forms an actual device and a monitor pattern which possesses a defect having the smallest defect size exceeding a permissible range and further a defect detectable by a defect inspection apparatus and having the defect size within the permissible range together with the design pattern.例文帳に追加

露光マスクに、実デバイス形成用の設計パタン３と共に、許容範囲を越える最小の欠陥サイズを有する欠陥、さらには欠陥検査装置による検出が可能でかつ許容範囲内の欠陥サイズを有する欠陥を備えたモニタパタンとを設ける。 - 特許庁

To provide a defect inspection method, a schedule control method and a defect inspection device for periodically performing schedule control with high accuracy by plotting data of the number of defects in various kinds of electronic devices on the same chart.例文帳に追加

欠陥検査方法、工程管理方法及び欠陥検査装置に関し、複数品種の電子デバイスの欠陥数データを同一のチャートにプロットして、工程管理を定期的に精度良く行う。 - 特許庁

To provide an inspection device that can detect reliably a molding defect of a molded article when opening a molding die in an injection molder, and thereby capable of improving reliability of a defect inspection.例文帳に追加

射出成形機の成形金型の型開時に成形品の成形不良を確実に検出することができ、不良検査の信頼性の向上を図ることが可能な検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide an inspection device that accurately discriminates a bulkhead and an organic light emitting layer from an imaged picture and detects only a defect mode causing a significant defect to a display unit, and an inspection method.例文帳に追加

撮像画像から精度よく隔壁と有機発光層を判別し、表示装置に重大な欠陥を与える欠陥モードのみを検出する検査装置および検査方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a method and a device for penetrant inspection that make a flaw detecting liquid penetrate into a fine defect in the surface layer of a specimen to detect a surface defect easily, in penetrant inspection.例文帳に追加

浸透探傷検査において、被検査物の微細な表層欠陥中にも探傷液を浸透させ、表層欠陥の検出を容易にする浸透探傷検査方法及び装置を提供する。 - 特許庁

To detect accurately a defect of a printed matter by preventing wrong detection caused by misregistration on a printed face, concerning an inspection device and an inspection method for detecting a pattern defect of the printed matter.例文帳に追加

印刷物の絵柄の欠陥を検出する検査装置及び検査方法に関し、印刷面の位置ずれによる誤検出を防止して、より精度良く印刷物の欠陥を検出できるようにする。 - 特許庁

To provide an optical disk inspection device which inspects a defect of an optical disk with high accuracy.例文帳に追加

光ディスクの欠陥検査において、精度の高い検査を行うことのできる光ディスク検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a distortion defect inspection device unaffected by lighting environment for inspecting surface conditions.例文帳に追加

表面の状態と検査する照明環境などに左右されない表面歪み欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

To quickly apply marking for a defect portion on an inspection object, and to reduce the size of a device.例文帳に追加

検査対象物上の欠陥箇所に対するマーキングを迅速に行うとともに、装置の小型化を図る。 - 特許庁

To provide a transparent body inspection device for determining whether any defect exists as to various types of defects.例文帳に追加

複数の種類の欠陥について欠陥の有無を判定することができる透明体検査装置を提供する。 - 特許庁

METHOD AND SYSTEM FOR DETECTING DEFECT BY 8- NEIGHBORHOOD POINT ADJOINING COMPARISON SYSTEM IN IMAGING INSPECTION DEVICE例文帳に追加

撮像検査装置における８近傍点隣接比較方式による欠陥検出方法、欠陥検出システム - 特許庁

To provide a remote inspection method and a remote inspection device for a structure that can detect a defect with accuracy by a remote inspection made in a place at some distance from the structure.例文帳に追加

構造物までの距離が離れている遠隔検査において精度良く欠陥を検出できる構造物の遠隔検査方法及び遠隔検査装置を提供することを課題とする。 - 特許庁

To provide an inspection method and an inspection device capable of performing accurate visual inspection by preventing misunderstanding dust or the like on the outside face of a substrate as an internal defect.例文帳に追加

基板外面上の塵埃等を内部欠陥と誤認することを防止することにより、正確な外観検査を行うことのできる検査方法及び検査装置を提供する。 - 特許庁

An image processor 14 detects a defect of the inspection area determined by the imaging inspection area determination part based on a picked-up image and sends the inspection result to a display control device 4.例文帳に追加

画像処理装置１４は、撮像画像に基づいて、撮像検査領域判定部によって判定された検査領域の欠陥を検出し、検査結果を表示制御装置４に送る。 - 特許庁

Further, a semiconductor device 1A which does not have passed the continuity inspection is disassemble in the disassembling step (d) and the cause of a defect is found through subsequent inspection.例文帳に追加

また、導通検査が不合格の半導体装置１Ａは分解工程ｄにおいて分解され、その後の検査で不良原因が明らかになる。 - 特許庁

To provide a speedy circuit pattern inspection method and a device thereof which have short inspection preparation time and can perform defect determination by image detection for one die.例文帳に追加

検査準備時間が短く、１ダイの画像検出のみで欠陥判定のできる高速な回路パターン検査方式とその装置を提供する。 - 特許庁

To provide a defect inspection device for dispensing with gain adjustment of each camera by enabling stable inspection in common threshold setting in a plurality of different imaging systems.例文帳に追加

異なる複数の撮像系において、共通の閾値設定で安定した検査ができ、各カメラでのゲイン調整を不要とした欠陥検査装置を実現する。 - 特許庁

To provide a piping inspection device in which inspection of a defect of the piping is easily executed with simple work at a desired part of an inner face of a pipe even such the piping with a small diameter.例文帳に追加

簡単な作業で、小径の配管でも、管内面の所望箇所において配管の欠陥部を検査し易い配管検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide an inspection method of a steel plate deck capable of certainly and speedily inspecting a defect of the steel plate deck with a simple constitution, and an inspection device used for this.例文帳に追加

簡素な構成で確実且つ高速に鋼床版の欠陥を検査可能な鋼床版の検査方法及びこれに用いる検査装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a defect inspection device for a magnetic tape capable of identifying foreign matter as well as detecting a flaw on the magnetic tape with a nondestructive inspection.例文帳に追加

非破壊検査により磁気テープの傷の検出に加えて異物の特定も可能な磁気テープの欠陥検査装置を提供することを課題とする。 - 特許庁

To provide an inspection device and an inspection method of a capillary array sheet capable of detecting surely a gel defect of a through hole of the capillary array sheet.例文帳に追加

キャピラリー・アレイ・シートの貫通孔のゲル欠陥を確実に検出することができるキャピラリー・アレイ・シートの検査装置及び検査方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a semiconductor inspection device and a defect inspection method that efficiently adjusts a plurality of secondary electron beams.例文帳に追加

複数本の二次電子ビーム調整を、効率良く実施することのできる半導体検査装置および欠陥検査方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a defect inspection device for which a threshold can be set so as to match an illuminance distribution of inspection light detected by a detection optical system.例文帳に追加

検出光学系で検出された検査光の照度分布に適合するようにしきい値の設定が可能な欠陥検査装置を実現する。 - 特許庁

The tool defect inspection device includes a backface reflecting plate 22 for reflecting an irradiation light emitted from the ring illumination 32 in a backface side of the inspection image of the work 12 and in the periphery thereof.例文帳に追加

リング照明３２から照射された照射光を、ワーク１２の検査面の背面側及び周囲で反射させる背面反射板２２を備える。 - 特許庁

This conveyance inspection device 1 is equipped with this conveyance device 2 for conveying a thin member 5 in the noncontact state by controlling a voltage applied to an electrode surface, and a defect inspection device 3 for inspecting the defect of the thin member 5 during conveyance.例文帳に追加

電極面へ印加する電圧を制御して薄状部材５を非接触の状態で搬送する搬送装置２と薄状部材５の欠陥を搬送中に検査する欠陥検査装置３とを備えた搬送検査装置１である。 - 特許庁

The inspection control device 10 is equipped with a panel alignment means for performing alignment between the inspection panel 2 and the reference panel 5 by moving the table 3, and a defect inspection means for imaging the inspection panel 2 by the CCD camera 6 by lighting the inspection panel 2 and the reference panel 5 and inspecting a displayed defect of the inspection panel 2 based on the imaged image.例文帳に追加

検査制御装置１０は、テーブル３を移動させて検査パネル２および基準パネル５の位置合わせを行うパネル位置合わせ手段と、検査パネル２および基準パネル５を点灯させてＣＣＤカメラ６で検査パネル２を撮像し、その撮像画像に基づいて検査パネル２の表示欠陥を検査する欠陥検査手段とを備える。 - 特許庁

To provide a learning-type defect detection device, method and program, capable of maintaining the accuracy of defect detection regardless of the size of a defect generated in an inspection object.例文帳に追加

検査対象物に発生する欠陥の大きさにかかわらず欠陥の検出精度を維持可能な学習型の欠陥検出装置、欠陥検出方法および欠陥検出プログラムを提供する。 - 特許庁

To provide a defect reviewing system, a defect reviewing method, a defect analyzing method and a method of manufacturing a semiconductor device by which the purpose of inspection can be limited and a process that generates defects can be easily specified.例文帳に追加

検査目的を限定でき、欠陥の発生する工程を特定することが容易になる欠陥レビュー装置、欠陥レビュー方法及び欠陥解析方法、半導体装置の製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a defect inspection device capable of certainly detecting a defect such as foreign matter or the like having mixed in an object to be detected without being affected by the shape of the object to be detected or the position of the defect.例文帳に追加

検出対象の形状や、欠点の位置に影響されず、検出対象に混入している異物等の欠点を確実に検出することができる欠点検出装置を提供する。 - 特許庁

Even the small rugged defect which was difficult to identify in a conventional polarization type surface defect inspection device can thereby be identified with high accuracy, not to mention the small pattern-like defect.例文帳に追加

これによって小さな模様状欠陥は勿論、従来の偏光式表面欠陥検査装置では識別が困難であった小さな凹凸欠陥についても高精度に識別することができる。 - 特許庁

To provide a steel sheet defect inspection device capable of identifying the kinds of defects generated on a surface and in a surface layer, a defect generated in an inside, and a hole defect.例文帳に追加

本発明は、表面及び表層に発生する欠陥、内部に発生する欠陥、及び穴欠陥の種類を識別することが可能な鋼板欠陥検査装置を提供することを目的とする。 - 特許庁