「defect inspection device」に関連した英語例文の一覧と使い方(7ページ目) - Weblio英語例文検索

ELECTRON BEAM DEVICE, DEFECT INSPECTION METHOD AND DEVICE, AND DEVICE MANUFACTURING METHOD THEREWITH例文帳に追加

電子線装置、欠陥検査方法及び該装置及び方法を用いたデバイス製造方法 - 特許庁

To provide a substrate inspection device allowing a detailed defect review inspection to be performed while inhibiting increase in time required for complete inspection.例文帳に追加

検査完了までに要する時間の増加を抑制しつつ詳細な欠陥レビュー検査を可能にする。 - 特許庁

ILLUMINATING DEVICE FOR MEASURING UNEVENNESS, UNEVENNESS MEASURING DEVICE, ILLUMINATING DEVICE FOR INSPECTING DEFECT, DEFECT INSPECTION DEVICE AND ILLUMINATING METHOD THEREFOR例文帳に追加

凹凸測定用照明装置、凹凸測定装置、欠陥検査用照明装置、欠陥検査装置およびその照明方法 - 特許庁

To provide a defect inspection device and method to quickly and accurately perform a defect inspection even when inspecting inspection faces of both upper and lower sides of an inspection object.例文帳に追加

検査対象物の上下両側の検査面を検査する場合でも、欠陥検査を迅速に且つ精度良く行うことができる欠陥検査装置及び方法を提供する。 - 特許庁

To provide a pixel defect inspection method of a light emitting device precisely inspecting a defect of pixel.例文帳に追加

精度よく画素の欠陥を検査できる発光装置の画素欠陥検査方法を提供すること。 - 特許庁

A defect present on the element formation surface is detected by the defect inspection device (S4).例文帳に追加

前記欠陥検査装置により前記素子形成面に存在する欠陥を検出する（Ｓ４）。 - 特許庁

To provide a defect inspection device for a solar battery, capable of detecting a position of a defect in a short time.例文帳に追加

短時間で、欠陥部の位置を検知できる太陽電池の欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

SPACE COORDINATE VALUE MEASURING METHOD, ITS MEASURING DEVICE AND DEFECT INSPECTION DEVICE例文帳に追加

空間座標値測定方法及びその測定装置並びに欠陥検査装置 - 特許庁

To provide an optical defect inspection device capable of improving defect coordinate accuracy and reducing detection defect coordinate errors.例文帳に追加

欠陥座標精度を向上し、検出欠陥座標誤差を低減可能な光学式欠陥検査装置を実現する。 - 特許庁

CRIMPING DEFECT DETERMINATION DATA FORMING METHOD FOR TERMINAL CRIMPING DEFECT DETECTION DEVICE, AND CRIMPING DEFECT DETERMINATION DATA INSPECTION METHOD例文帳に追加

端子圧着不良検出装置の圧着不良判定データ作成方法および圧着不良判定データ検査方法 - 特許庁

To provide a glass substrate defect inspection device or a glass substrate defect inspection method or a glass substrate defect inspection system attaining accurate inspection by securing flatness over the entire surface of a separated glass substrate.例文帳に追加

分ガラス基板の全面亘って平坦性を確保し、精度よく検査できるガラス基板欠陥検査装置またはガラス基板欠陥検査方法あるいはガラス基板欠陥検査システムを提供する。 - 特許庁

To provide a defect inspection analysis system and a defect inspection analysis method capable of improving the efficiency of a series of inspection analysis processes, including the defect inspection of a wafer at the manufacturing of a semiconductor device and a final defect analysis result of a target portion, and to provide a management computer that uses the defect inspection analysis method.例文帳に追加

半導体装置製造時のウエハの欠陥検査や注目部の最終的な欠陥解析結果を含む一連の検査解析工程を高効率化することができる欠陥検査解析システム、欠陥検査解析方法及びこれに用いる管理コンピュータを提供する。 - 特許庁

PATTERN DEFECT INSPECTION METHOD, PATTERN DEFECT INSPECTING TEST PATTERN BOARD, PATTERN DEFECT INSPECTION DEVICE, PHOTO MASK MANUFACTURING METHOD, AND METHOD OF MANUFACTURING DISPLAY DEVICE SUBSTRATE例文帳に追加

パターン欠陥検査方法、パターン欠陥検査用テストパターン基板、及びパターン欠陥検査装置、並びにフォトマスクの製造方法、及び表示デバイス用基板の製造方法 - 特許庁

To provide a defect inspection device and a defect inspection method capable of enlarging a taking range of light scattered from a fine defect, and heightening signal intensity.例文帳に追加

微細な欠陥から散乱した光の取込範囲を拡大し信号強度を高める欠陥検査装置及び欠陥検査方法を提供する。 - 特許庁

This makes it possible to adjust the criteria of the defect inspection performed by the defect inspection device 14, 24 in accordance with the criteria of defect inspection to be performed by the inspection device 30 later, so that the defect inspection can be more preferably performed and the yield of the optical films can be improved.例文帳に追加

これにより、後に検査装置３０により行われる欠点検査の基準に合わせて、欠点検査装置１４，２４により行われる欠点検査の基準を調整することができるので、欠点検査をより好適に行うことができ、光学フィルムの歩留りを向上することができる。 - 特許庁

To easily set the inspection conditions in a defect inspection apparatus for inspecting defect in patterns of a semiconductor device.例文帳に追加

半導体デバイスのパターンの欠陥を検査する欠陥検査装置において、検査条件の設定を容易に行えるようにする。 - 特許庁

DEFECT INSPECTION DEVICE OF ORGANIC ELECTROLUMINESCENT ELEMENT, ORGANIC ELECTROLUMINESCENT ELEMENT, AND DEFECT INSPECTION METHOD OF ORGANIC ELECTROLUMINESCENT ELEMENT例文帳に追加

有機エレクトロルミネッセンス素子欠陥検査装置および有機エレクトロルミネッセンス素子および有機エレクトロルミネッセンス素子欠陥検査方法 - 特許庁

To provide a defect inspection device, capable of implementing defect inspection with correct, high accuracy, and less loss in the signal intensity.例文帳に追加

信号強度のロスが少なく、正確で精度の高い欠陥検査を行うことができる欠陥検査装置を提供すること。 - 特許庁

DEFECT INSPECTION DEVICE BEFORE CRIMPING WIRE, INSPECTION METHOD, AND MANUFACTURING METHOD OF WIRE WITH TERMINAL例文帳に追加

電線圧着前の不具合検査装置、検査方法、および端子付き電線の製造方法 - 特許庁

DEFECT INSPECTION APPARATUS AND DEVICE MANUFACTURING METHOD USING IT例文帳に追加

欠陥検査装置及び欠陥検査装置を用いたデバイス製造方法 - 特許庁

DEFECT CORRELATION DEVICE, SUBSTRATE INSPECTION SYSTEM, AND METHOD OF CORRELATING DEFECTS例文帳に追加

欠陥関連付け装置、基板検査システム、および欠陥関連付け方法 - 特許庁

DEFECT EXTRACTION METHOD AND PRINTED WIRING BOARD FINAL APPEARANCE INSPECTION DEVICE例文帳に追加

欠陥抽出手法及びプリント配線板最終外観検査装置 - 特許庁

To provide a defect inspection method, and a defect inspection device for inspecting a place detected as a pseudo-defect of a transmissivity signal without detecting the place as the pseudo-defect.例文帳に追加

透過率信号の疑似欠陥として検出されてしまう箇所を疑似欠陥として検出することなく検査することが可能な欠陥検査方法及び欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a defect inspection method and a defect inspection device of a sealed honeycomb structure, capable of specifying the position of a cell having a defect and of readily grasping the defect size.例文帳に追加

欠陥のあるセルの位置を特定するとともに、欠陥の大きさを容易に把握することが可能な目封止ハニカム構造体の欠陥検査方法及び欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

STANDARD SILICON WAFER USED FOR INSPECTION MADE BY DEFECT INSPECTION DEVICE, ITS MANUFACTURING METHOD, AND INSPECTION METHOD USING STANDARD SILICON WAFER例文帳に追加

欠陥検査装置検査用の標準シリコンウェーハ、その製造方法および標準シリコンウェーハを用いた検査方法 - 特許庁

To provide a method for manufacturing a photomask which produces an electronic circuit board and also performs inspection of a mask defect inspection device itself, and also to provide a method for inspecting a photomask defect inspection device, by using the photomask, and a device for inspecting a photomask defect inspection device.例文帳に追加

電子回路基板の製造と共にマスク欠陥検査装置自体の検査を実行可能なフォトマスクを製造するフォトマスク製造方法、そのフォトマスクを用いたフォトマスク欠陥検査装置判定方法、及びフォトマスク欠陥検査装置判定装置を提供する。 - 特許庁

To provide a defect inspection device capable of inspecting a defect in a large-sized photomask and a glass substrate at high speed.例文帳に追加

大型のフォトマスクやガラス基板を高速で欠陥検査できる欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide an inspection device of solid-state imaging element and an inspection method thereof capable of conducting an electric pixel defect inspection and a pixel defect inspection through image analysis, thereby improving yield.例文帳に追加

本発明は、電気的画素欠陥検査と、画像分析による画素欠陥検査を行うことができ、歩留まりを向上させる固体撮像素子の検査装置及び検査方法を提供する。 - 特許庁

OPTICAL SURFACE DEFECT INSPECTION DEVICE AND METHOD例文帳に追加

光学式表面欠陥検査装置及び光学式表面欠陥検査方法 - 特許庁

MAPPING PROJECTION TYPE ELECTRON BEAM DEVICE AND DEFECT INSPECTION SYSTEM USING THE SAME例文帳に追加

写像投影型の電子線装置及び該装置を用いた欠陥検査システム - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR DEFECT INSPECTION OF PHOTOMASK AND RECORDING MEDIUM例文帳に追加

フォトマスクの欠陥検査方法、フォトマスクの欠陥検査装置及び記録媒体 - 特許庁

To provide an EL display device capable of simply performing a defect inspection or the like.例文帳に追加

欠陥検査などが簡単にできるＥＬ表示装置を提供する。 - 特許庁

QUALITY INSPECTION METHOD AND DEVICE FOR MICRO SURFACE DEFECT IN MAGNETIC METAL ZONE例文帳に追加

磁性金属帯の微小表面欠陥の品質検査方法及び装置 - 特許庁

UV LASER LIGHT GENERATOR, DEVICE FOR INSPECTION OF DEFECT AND METHOD THEREFOR例文帳に追加

紫外レーザ光発生装置並びに欠陥検査装置およびその方法 - 特許庁

A defect inspection device 21 and a dimension inspection device 31 are arrayed along the moving direction of a mount 11 so that the blade 1 is relatively moved continuously to the defect inspection device 21 and to the dimension inspection device 31.例文帳に追加

欠陥検査装置２１および寸法検査装置３１は、ブレード１が欠陥検査装置２１および寸法検査装置３１に対して連続的に相対移動されるように取付台１１の移動方向に沿って配列されている。 - 特許庁

It is a defect data analysis method to analyze the defect distribution status based on defect position coordinates detected by an inspection device to classify into any one of the distribution characteristics categories among iterations defect, high density defect, line distribution defect, ring/massive distribution defect, and random defect.例文帳に追加

検査装置によって検出された欠陥位置座標に基づいて欠陥の分布状態を解析し、繰り返し欠陥、密集欠陥、線状分布欠陥、環・塊状分布欠陥、ランダム欠陥のうちいずれかの分布特徴カテゴリに分類する。 - 特許庁

To provide a defect extraction device and a defect extraction method capable of improving the reliability of defect inspection, and reducing the data amount of inspection result.例文帳に追加

欠陥検査の信頼性を向上させることと、検査結果のデータ量を低減させることができる欠陥抽出装置及び欠陥抽出方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a defect inspection method and an inspection device determining quickly whether a defect on a disk is a circumferential flaw or an island defect.例文帳に追加

ディスク上の欠陥について円周疵か、島状欠陥かの判定を高速に処理することが可能な欠陥検査方法および検査装置を提供することにある。 - 特許庁

To provide a device inspection unit capable of determining a defect in an electric circuit of a device inside discriminatingly from a defect of electric connection between a device electrode and an inspection unit side electrode, when the defect is detected by inspection.例文帳に追加

検査により不良が検出されたとき、デバイス内部の電気回路の不良であるか、又はデバイス電極と検査装置側電極との間の電気的接続の不良であるかを判別できるデバイス検査装置の提供。 - 特許庁

To provide a defect inspection method for a semiconductor device capable of efficiently setting an inspection region.例文帳に追加

効率的に検査領域を設定することが可能な半導体装置の欠陥検査方法を提供する。 - 特許庁

The inspection condition of the inspection device is set, by using the estimation image 124 and defect data 123A.例文帳に追加

推定画像１２４および欠陥データ１２３Ａを用いて検査装置の検査条件を設定する。 - 特許庁

To provide an inspection method and inspection device of defect and foreign matter for flat panel display device capable of separately performing the defect inspection and foreign matter inspection of an FPD itself such as LCD and improving the precision of the quality inspection of FPD.例文帳に追加

ＬＣＤなどＦＰＤ自体の欠陥検査と異物検査を区別して行うことができ、ＦＰＤの品位検査の精度を向上できる平面表示装置の欠陥・異物検査方法およびその検査装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a defect inspection device and an image display method capable of performing optimum color display corresponding to the purpose of the defect device, defect characteristics, or the like.例文帳に追加

欠陥検査の目的や欠陥の特性等に応じて、最適なカラー表示を行うことができる欠陥検査装置及び画像表示方法を提供する。 - 特許庁

To provide a defect inspection device capable of detecting a defect independently, and calculating a characteristic quantity of the detected defect, and an image processing device therefor.例文帳に追加

単独で欠陥を検出し検出した欠陥の特徴量を算出することができる欠陥検査装置及びその画像処理装置を提供する。 - 特許庁

The inspection device has a first inspection mode in which a defect other than a step bunching is detected and a second inspection mode in which the step bunching is detected.例文帳に追加

ステップバンチング以外の欠陥を検出する第１検査モードとステップバンチングを検出する第２の検査モードを有する。 - 特許庁