「inspection object」に関連した英語例文の一覧と使い方(10ページ目) - Weblio英語例文検索

An IC 60 of an inspection object is temperature-controlled by a temperature control part 30.例文帳に追加

温度制御部３０によって、検査対象となるＩＣ６０の温度を制御する。 - 特許庁

By this, the printed pattern 34a of a substrate 32 is selected to be an object of inspection.例文帳に追加

これにより、基板３２のプリントパターン３４ａが選択され、検査の対象となる。 - 特許庁

APPARATUS AND METHOD FOR INSPECTION OF TRANSPARENT MATERIAL OR OBJECT WRAPPED WITH TRANSPARENT MATERIAL例文帳に追加

透明材料または透明材料で包まれた物体の検査装置及び検査方法 - 特許庁

The inspection beam L transmitted through the inspected object 20 is photoreceived by a photoreception means 12.例文帳に追加

その被検査物２０を透過した検査光Ｌが受光手段１２で受光される。 - 特許庁

To provide an X-ray foreign matter detecting device capable of detecting foreign matter in an inspection object without blocking conveyance of the inspection object by an X-ray shielding curtain, even when the inspection object conveyed successively along a conveyance route abuts on the X-ray shielding curtain.例文帳に追加

搬送路上を順次搬送されてくる被検査物がＸ線遮蔽カーテンに当接しても、Ｘ線遮蔽カーテンが被検査物の搬送を阻止することなく被検査物中の異物の検出が行えるＸ線異物検出装置を提供する。 - 特許庁

To cope with miniaturization of an airtight container of a measuring object in an air leak inspection device.例文帳に追加

エアリーク検査装置において、測定対象の密閉容器の小形化に対応する。 - 特許庁

END TILT ANGLE MEASURING METHOD, SYSTEM AND METHOD FOR INSPECTION OF UNDULATING OBJECT例文帳に追加

端部傾斜角測定方法、起伏を有する被検査物の検査方法および検査装置 - 特許庁

X-RAY MICROSCOPE OF REFLECTOR TYPE AND INSPECTION SYSTEM WHICH INSPECT OBJECT ON WAVELENGTH ≤100 nm例文帳に追加

波長≦１００ｎｍで物体を検査する反射型Ｘ線顕微鏡および検査系 - 特許庁

The inspection system 100 includes a processor 150 receiving image data 145 or 165 showing the object 130.例文帳に追加

検査システム(100)は、対象物(130)を表す画像データ(145又は165)を受信するプロセッサ(150)を含む。 - 特許庁

To optimize the dose of X rays without actually photographing an object of inspection.例文帳に追加

検査対象物を実際に撮影することなくＸ線照射量の最適化する。 - 特許庁

To provide a pattern defect inspection device capable of detecting a defect with high inspection accuracy even when a pattern is formed with a transparent film on an object under inspection and the film thickness of the transparent film is varied according to the position on the object under inspection.例文帳に追加

被検査物体上に透明薄膜でパターンが形成されていて、その透明薄膜の膜厚が被検査物体上の位置によって変化している場合においても、高い検査精度で欠陥を検出できるパターン欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

Since an irradiation object of inspection light is formed as the inspection pattern having a larger area than the diffraction pattern, the irradiation object can be aimed surely, even if the diameter of inspection light irradiated from an irradiation part is large, to thereby execute an inspection work easily.例文帳に追加

照射部から照射される検査光の直径が大きくても、検査光の照射対象を面積が回折パターンより大きい検査用パターンとしたことで、確実に照射対象を狙うことができ、検査作業を容易に実施することができる。 - 特許庁

A horizontal arm 6 is arranged below an inspection object via a vertical rod 5 vertically movably attached to an inspection carriage installed on the inspection object, and a photographing camera is mounted on the traveling carriage traveling on the horizontal arm 6 to perform inspection.例文帳に追加

点検対象物上に設置された点検台車に上下動可能に取り付けた垂直ロッド５を介して水平アーム６を点検対象物の下方に配置し、水平アーム６上を走行する走行台車に撮影カメラを取り付けて点検を行う。 - 特許庁

POSITION DETECTING METHOD OF FASTENING MEMBER, REMOVING METHOD OF FASTENING MEMBER, INSPECTION METHOD OF PROCESSING OBJECT, POSITION DETECTING DEVICE OF FASTENING MEMBER, REMOVING DEVICE OF FASTENING MEMBER, INSPECTION DEVICE OF PROCESSING OBJECT AND DISASSEMBLING SYSTEM OF PROCESSING OBJECT例文帳に追加

締結部材の位置検出方法、締結部材の取り外し方法、被処理物の検査方法、締結部材の位置検出装置、締結部材の取り外し装置、被処理物の検査装置及び被処理物の解体システム - 特許庁

To provide a touch panel inspection apparatus, capable of shortening an inspection time and conducting an effective inspection for even an inspection object, such as, touch panel which has wiring arranged in the form of a matrix in an x-axis direction and a y-axis direction, by conducting inspection in a noncontact inspection fashion.例文帳に追加

検査対象物がx軸方向及びｙ軸方向にマトリクス状に配置される配線を有するタッチパネルのような検査物であっても、非接触検査方式にて検査を実施することで、検査時間を短縮して効率良く検査を実施することが可能となるタッチパネル検査装置の提供。 - 特許庁

The inspection method for inspecting a plurality of inspection objects, each of which has a larger inspection domain than an imageable dimension by the camera, while conveying them on a conveyance line, has an inspection process for inspecting the whole inspection domain of the inspection object.例文帳に追加

カメラで撮像可能な寸法より大きい検査領域を有する検査対象物であって、複数の前記検査対象物を搬送ライン上にて搬送しつつ検査を行なう検査方法において、検査対象物の検査領域全体の検査を行なう検査を有する。 - 特許庁

When generating inspection data used for print inspection for inspecting the printed state by imaging a substrate after solder printing, inspection object position data which are inspection objects on the substrate are grouped, and execution data to which an inspection threshold and an inspection frequency are added are generated in each group.例文帳に追加

半田印刷後の基板を撮像して印刷状態を検査する印刷検査に用いられる検査用データ作成において、基板上で検査対象となる検査対象位置データをグループ化し、各グループ別に検査しきい値と検査頻度を付与した実行用データを作成する。 - 特許庁

To provide a power feeder for inspection apparatus, capable of shortening a total inspection time (tact time) by significantly shortening a standby time for inspection of an object to be measured, when placing an inspection apparatus to be inspected by energizing the object to be measured into a manufacturing line for the object to be measured.例文帳に追加

被測定物に対し電流を流して検査する検査装置を被測定物の製造ラインに投入する場合において、被測定物の検査のための待ち時間の大幅な短縮を図り、全体としての検査時間（タクトタイム）を短縮することを可能とする検査装置用の給電装置を提供する。 - 特許庁

An inspection object is irradiated with inspection light, and reflected light polarized and separated by the inspection object is received, and light components of the received reflected light are subjected to photoelectric conversion, to thereby generate interference data showing the value of each polarized component, and a defect on the surface of the inspection object is detected according to the interference data.例文帳に追加

検査光を検査対象物に照射し、検査対象物において偏光分離された反射光を受光し、受光した反射光の光成分を光電変換して各偏光成分の値を示す干渉データを生成し、干渉データに基づいて、検査対象物の表面の欠陥を検出する。 - 特許庁

In this visual inspection device A for acquiring inspection region image information of the inspection object 3 by detecting by the image pick up means, the reflected beam of the inspection beam F with which the inspection object 3 is irradiated by an illumination means 1, and analyzing the inspection region image information, coaxial epi-illumination is used as the illumination means 1.例文帳に追加

照明手段１によって被検査体３に照射した検査用光線Ｆの反射光線を画像撮像手段で検出することにより被検査体３の検査領域画像情報を取得して、同検査領域画像情報を解析することにより検査を行う外観検査装置Ａにおいて、照明手段１に同軸落斜照明を用いる。 - 特許庁

To provide a visual inspection device having improved quality determination accuracy, concerning the visual inspection device for irradiating an inspection object with an inspection beam, detecting a reflected beam of the inspection beam by an image pick up means, and analyzing image information acquired by the image pick up means, to thereby perform quality determination of the inspection object.例文帳に追加

被検査体に対して検査用光線を照射し、検査用光線に対する反射光線を画像撮像手段で検出し、画像撮像手段で取得した画像情報の解析を行うことにより被検査体の良否判定を行う外観検査装置において、良否判定精度を向上させた外観検査装置を提供すること。 - 特許庁

A space part 29 which is a space having an area of the square of the width of the inspection part 27 is provided as a reverse flow prevention structure from the waste liquid storage part 31 to the inspection part 27, downstream of the inspection part 27 of an inspection pattern constitution part 20 of the inspection object acceptor.例文帳に追加

検査対象受体の検査パターン構成部２０の検査部２７の下流側に廃液溜部３１から検査部２７への逆流防止構造として、検査部２７の幅の２乗の面積以上の空間である空間部２９を設ける。 - 特許庁

A measurement point group data storing means 15 stores a measurement point group data of the shape-inspected object of the object for shape inspection.例文帳に追加

測定点群データ記憶手段１５が、形状検査の対象となる被形状検査物の測定点群データを記憶する。 - 特許庁

To provide a photographing inspection device inspecting an object to be inspected while conveying the object to be inspected as maintained at an original state.例文帳に追加

被検査物を元来の状態に保ったまま搬送しながら検査を行うことができる撮影検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide an object inspection method and its apparatus capable of visually and easily grasping which category an object to be inspected belong to.例文帳に追加

検査対象がどのカテゴリに属するかを視覚的に容易に把握できる物体検査方法及びその装置を提供する。 - 特許庁

An inspection image acquiring part 12 acquires an inspection object image, obtained by picking up a printed matter with image data to be an inspection reference image printed thereon, and an image difference detecting part 14 detects difference amount between the inspection object image and the inspection reference image and derives a difference image.例文帳に追加

検査画像取得部１２において、検査基準画像となる画像データが印刷された印刷物から撮像して得られた検査対象画像を取得するとともに、画像差分検出部１４において、この検査対象画像と、検査基準画像の差分量を検出し差分画像を導出する。 - 特許庁

The display includes an inspection pixel Px2 comprising organic light emitting elements 10R, 10G, 10B on an inspection region 150 of the outside of an effective region 110, and makes a distance W2 between the inspection pixels Px2 of both the sides of inspection object colors narrower than a distance W1 between display pixels Px1 of both the sides of inspection object colors.例文帳に追加

有効領域１１０の外側の検査領域１５０に、有機発光素子１０Ｒ，１０Ｇ，１０Ｂよりなる検査用画素Ｐｘ２を設け、検査対象色の両側の検査用画素Ｐｘ２の間の距離Ｗ２を、検査対象色の両側の表示用画素Ｐｘ１の間の距離Ｗ１よりも狭くする。 - 特許庁

The arithmetic processing part 4 is equipped with a decision means which decides whether or not an object A of inspection is present at an inspection position of each image picked up by the CCD camera 1 and a processing means which performs inspection by using an image so decided by the decision means that the object A of inspection is present at the inspection position.例文帳に追加

演算処理部４は、ＣＣＤカメラ１により撮像された各画像に対して検査位置での検査対象物Ａの存否を判定する判定手段と、判定手段により検査対象物Ａが検査位置にあると判定されたときの画像を用いて検査処理を実行する処理手段とを備えている。 - 特許庁

To provide an inspection device or the like capable of improving the inspection accuracy and responding to an inspected object of various printing forms.例文帳に追加

検査精度の向上を図り、多様な印刷形態の検査対象に対応することが可能である検査装置等を提供する。 - 特許庁

The product is shifted to the next inspection item, and the next new product is treated as an inspection object, returning to the step ST12.例文帳に追加

そして、当該製品については次の検査項目に移行し、次の新たな製品を検査対象として、ステップＳＴ１２に戻る。 - 特許庁

To provide an inspection device capable of inspecting difference in surface state of an inspected object like an inspection of silicon coating to syringe.例文帳に追加

シリンジへのシリコン塗布の検査のような被検査物の表面状態の違いを検査することができる検査装置を提供する。 - 特許庁

To shorten inspection time for an inspection of a scanner to read an image of a reference sheet and that of a test sheet, which is an object of measurement.例文帳に追加

基準シートの画像と、測定対象となるテストシートの画像を、スキャナに読み取らせる検査の検査時間を短縮させること。 - 特許庁

To provide a hardening quality inspection device which is capable of accurately inspecting hardening quality of an object to be inspected, by nondestructive inspection.例文帳に追加

非破壊検査により検査対象物の焼入れ品質を精度良く検査することができる焼入れ品質検査装置を提供する。 - 特許庁

When a correlation value is equal to or larger than a threshold, the correlation matching execution part 126 determines that the inspection object is present in the inspection image.例文帳に追加

相関マッチング実行部１２６は、相関値が閾値以上である場合に検査画像に検査対象が存在すると判定する。 - 特許庁

To provide a technique capable of executing a plate inspection even if the form of an image that is an object of plate inspection is slightly varied.例文帳に追加

検版対象となる画像の形式に多少の差異がある場合にも検版を実行することのできる技術を提供する。 - 特許庁

To provide a sensor system that has high inspection performance irrespective of moving speed and moving direction of an inspection object and environmental change.例文帳に追加

検知対象物の移動速度及び移動方向、さらには環境の変化によらず、検知性能の高いセンサシステムを提供する。 - 特許庁

To provide an inspection device capable of scanning in the arbitrary direction of an inspection object region of a sample and using high throughput electron beams.例文帳に追加

試料の検査対象領域の任意の方向に走査（スキャン）可能で高スループットな電子ビームを用いた検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide an inspection apparatus and inspection method for preventing occurrence of displacement of a probe needle from a connection terminal of an inspecting object.例文帳に追加

プローブ針と被検査対象の接続端子とのずれの発生を防止することができる検査装置および検査方法を提供する。 - 特許庁

This energization inspection device comprises the probe unit 10, a holder 20 for holding the probe unit 10, and a sample stand for placing an object of inspection.例文帳に追加

プローブユニット１０と、プローブユニット１０を保持するホルダ２０と、被検査対象物を載置する試料台とを備えた通電検査装置。 - 特許庁

To prevent degradation of accuracy of quality determination of a shape of an object to be inspected caused by an inspection environment depending on the inspection environment.例文帳に追加

検査環境による検査対象物の形状の良否判定の精度が検査環境によって低下することを防止する。 - 特許庁

To provide a character inspection method capable of inspecting printed characters even at a pre-printed inspection object portion.例文帳に追加

予め印刷が施された対象箇所であっても、印刷された文字の検査を行うことができる文字検査方法を提供する。 - 特許庁

To improve the reliability by enabling an operation inspection using an inspection gas other than a detection object gas without changing the detection timing.例文帳に追加

検出タイミングを変えることなく検知対象ガス以外の点検ガスを使用した作動点検を可能として信頼性を向上する。 - 特許庁

To provide an automatic optical inspection method for a printed circuit board, capable of reducing overdetection in an inspection object (flexible printed circuit board).例文帳に追加

検査対象物（フレキシブルプリント回路基板）の過検出を減らすことができるプリント回路基板の自動光学検査方法を提供する。 - 特許庁

A plurality of images as to lights in the plural wavelength ranges is acquired in an inspection-objective area on the inspection object.例文帳に追加

検査対象物上の検査対象領域について、複数の波長域の光に関する複数の画像をそれぞれ取得する。 - 特許庁

To provide an infrared image inspection device inexpensively inspect a defect without disassebling or moving an inspection object.例文帳に追加

検査対象物を分解あるいは移動することなくより安価に欠陥を検査することができる赤外線映像検査装置である。 - 特許庁