「inspection object」に関連した英語例文の一覧と使い方(9ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a classification mechanism of an object, an inspection device of the object and a classification method of the object easy to automate without enlarging a device.例文帳に追加

装置が大型化することなく、自動化し易い対象物の仕分け機構、対象物の検査装置及び対象物の仕分け方法を提供すること。 - 特許庁

SURFACE INSPECTION METHOD OF CONTAMINATION ON SURFACE OF OBJECT TO BE INSPECTED SUCH AS WAFER SUBSTRATE TRANSPARENT GLASS FOR LIQUID CRYSTAL DISPLAY OR THE LIKE AND SURFACE INSPECTION DEVICE例文帳に追加

ウエハー基板、液晶ディスプレイ用透明ガラス等の被検査物の表面上の異物・表面検査方法およびその装置 - 特許庁

The state of an imaged inspection object surface is inputted as the inspection image, and divided into prescribed domains (step 101, 102).例文帳に追加

撮像された被検査物表面の状態を検査画像として入力し、所定の領域に分割する（ステップ１０１、１０２）。 - 特許庁

To detect the objects of inspection such as foreign matters or flaws with stable detection sensitivity in surface inspection of a filmed object to be inspected.例文帳に追加

膜付被検査物の表面検査において、異物や傷等の検査対象の検出を安定した検出感度で行う。 - 特許庁

To provide a magnetic particle inspection device having a high detection capability for shallow flaws by inspecting an inspection object during applying a rotating magnetic field.例文帳に追加

回転磁界印加中に被検査物の検査を行い浅いきずの検出能力の高い磁粉探傷装置を提供する。 - 特許庁

To provide an inspection method capable of inspecting, with accuracy and simply, leakage state of a content from an inspection object.例文帳に追加

検査対象物における内容物の漏出状況を、精度よく簡単に検査することのできる検査方法を提供する。 - 特許庁

A wafer, test object, is inspected by a wafer defect inspection part 11, and coordinate value data S11 are outputted from the wafer defect inspection part 11.例文帳に追加

検査の対象となるウエハがウエハ欠陥検査部11で検査され、該ウエハ欠陥検査部11から座標値データS11 が出力される。 - 特許庁

An inspection control part 17 discriminates defects on the surface of the inspection object 1, based on the detected signal from the light-receiving part 16.例文帳に追加

検査制御部１７は、受光部１６からの検出信号に基づいて、被検査物１の表面の欠陥を判別する。 - 特許庁

The irradiation device 1 irradiates the inspection surface B having diffusion reflectivity of the inspection object A with light from an oblique direction.例文帳に追加

照射装置１は、検査対象Ａの拡散反射性を有する被検査面Ｂに斜め方向から光を照射する。 - 特許庁

To provide a relay inspection device that enables accurate quality decision of a relay for an object for inspection, as well as, management of degradation tendency.例文帳に追加

検査対象リレーの正確な良否判定であり、かつ劣化傾向管理を可能にしたリレー点検装置を提供すること。 - 特許庁

To accurately and quickly discriminate and detect a defect such as a flaw and a foreign matter, in inspection for an inspection object such as a semiconductor wafer.例文帳に追加

半導体ウェハ等被検査物の検査において、傷等の欠陥と異物とを正確かつ迅速に区別して検出する。 - 特許庁

An inventive substrate inspection device performs acquisition of inspection data and acquisition of a focus data signal of an object lens (8) in parallel.例文帳に追加

本発明による基板検査装置は、検査データの取得と対物レンズ（８）の焦点データ信号の取得を並行して行う。 - 特許庁

To provide a watertight inspection device capable of lightening labor and easily inspecting watertight of the inspection object in a short time.例文帳に追加

労力を軽減するとともに、短時間で検査対象物の水密を容易に検査可能な水密検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide an inspection tool capable of coping with the fine-pitch tendency of a wiring pattern for an inspection object board easily and being manufactured at low cost.例文帳に追加

被検査基板の配線パターンのファインピッチ化に容易に対応でき且つ低コストで製造可能な検査用治具を実現する。 - 特許庁

To provide a method for defect inspection capable of inspecting accurately existence of a defect such as a bright point in an inspection object.例文帳に追加

検査対象における輝点等の欠陥の有無を精度良く検査することができる欠陥検査方法を提供すること。 - 特許庁

This method detects the defect by etching an inspection object until at least a part of the defect existing inside the inspection object appears on a surface of the inspection object, and is the defect detecting method comprising an etching step of etching the inspection object by an anisotropic etching method being an etching method comprising a maximum etching speed in the prescribed direction.例文帳に追加

被検査物の内部に存する欠陥の少なくとも一部が該被検査物の表面に現れるまで該被検査物をエッチングして欠陥を検出する方法であって、所定方向に最大のエッチングの速度を有するエッチング方法である異方性エッチング方法により被検査物をエッチングするエッチングステップを備えてなる、欠陥検出方法である。 - 特許庁

The inspection processing device 4 inspects abnormality of the inspection object 1 based on the picture data of the inspection object component 1 obtained with the digital camera 13.例文帳に追加

点検処理装置は４、デジタルカメラ１３で得られた点検対象機器１の映像データ及び赤外線カメラ１４で得られた点検対象機器１の映像データに基づき点検対象物１の異常を点検する。 - 特許庁

To provide an image inspection device that can inspect an overall surface by holding a sheetlike object to be inspected sucked on an inspection plate, and increases inspection accuracy by maintaining a flat overall surface of the object to be inspected.例文帳に追加

シート状の検査対象を検査プレートに吸着させて保持することにより、全面を検査できると共に、検査対象の全面を平面に保って、検査精度を向上させた画像検査装置を提供する。 - 特許庁

To constitute a flexible system of high extendability, and to shorten an inspection time for an object to be inspected such as a substrate, or to enhance inspection precision, in visual inspection of the object.例文帳に追加

本発明は、被検査体の外観検査において、拡張性が高くフレキシブルなシステム構成を可能とし、また基板などの被検査体の検査時間を短縮し、または検査精度を向上することを目的とする。 - 特許庁

To provide a method and device to irradiate laser onto an inspection object surface, generate laser plasma, obtain information of radiated electromagnetic waves, and perform a remote non-destructive inspection inside the inspection object or around the irradiation surface.例文帳に追加

被検査物表面にレーザーを照射して、レーザープラズマを生成させ、放射される電磁波の情報を捉え、遠隔で被検査物内部あるいは照射面周辺の非破壊検査を行う方法及び装置を提供する。 - 特許庁

To reduce an amount of water to be supplied between an ultrasonic probe and the surface of an inspection object and to prevent interference of air bubbles which becomes an obstacle in an inspection of the inspection object in ultrasonic measurement by a local water immersion method.例文帳に追加

局部水浸法による超音波測定において超音波探触子と被検査体の表面との間に供給する水の量を減らすと共に被検査体の検査時に障害となる気泡の干渉を防ぐ。 - 特許庁

When the inspection section of the display object on the report display screen 132 is switched, the inspection section of the display object on the image display screen 131 is switched to the same inspection section of the report display screen 132.例文帳に追加

レポート表示画面１３２において表示対象の検査区分が切り替えられると、画像表示画面１３１の表示対象の検査区分をレポート表示画面１３２と同じ検査区分に切り替える。 - 特許庁

Next, the inspection object is imaged in inspection processing, and the color components of the repetitive pattern are removed from the inspection image on the basis of preliminarily extracted color components (B).例文帳に追加

次に、検査処理において被検査物を撮像し、事前に抽出しておいた色成分を元に検査画像から繰り返し絵柄の色成分を除去する（Ｂ）。 - 特許庁

To provide a visual inspection device capable of inspecting accurately even a lightweight inspection object, while shortening a cycle time for visual inspection therefor.例文帳に追加

軽量な検査対象物に対しても、その外観検査のサイクルタイムの短縮化を図りつつ、正確な検査を行うことができる外観検査装置を提供する。 - 特許庁

A sufficient inspection light quantity is also secured to a hole part near an edge part of the inspection object 2, and the inspection sensitivity as the whole device is homogenized.例文帳に追加

また、被検査物２のエッジ部付近の孔部に対しても、十分な検査光量を確保して、装置全体として検査感度を均一とすることを可能とする。 - 特許庁

To provide an appearance inspection device capable of performing excellent appearance inspection by improving the inspection accuracy further, even if an unmeasurable part exists on an object to be imaged.例文帳に追加

被撮像物につき計測不能な部分があっても、検査精度をより向上させることにより、優れた外観検査を行うことができる外観検査装置を提供する。 - 特許庁

At this time, an inspection item according to the specification of the object equipment to be maintained at the field is obtained from a monitoring center 17 and the maintenance/inspection work is performed according to the inspection item.例文帳に追加

その際、当該現場の保守対象機器の仕様に応じた点検項目を監視センタ１７から取得し、その点検項目に従って保守点検作業を行う。 - 特許庁

A truck portion of a bridge inspection robot 30 is arranged on a railroad rail which is laid on the bridge; and the bridge inspection robot is moved to an inspection object position.例文帳に追加

橋梁に敷設された鉄道レール上に、橋梁検査ロボット３０の台車部を配置すると共に、検査対象位置まで橋梁検査ロボットを移動させる。 - 特許庁

To provide a visual inspection method and a device therefor with an inspection speed increased by performing conveyance and inspection of an object to be inspected in one process.例文帳に追加

被検査物の搬送と検査を１工程内で行うことを可能にして、検査速度の高速化を可能とした外観検査方法及びその装置を提供することにある。 - 特許庁

To prevent interference of a reflected light beam from each inspection portion, when measuring collectively the surface heights of a plurality of inspection portions in an inspection object by a confocal method.例文帳に追加

検査対象の複数の検査部位の表面高さを共焦点法により一括して測定する際に、各検査部位からの反射光線の干渉を防止できる。 - 特許庁

To improve inspection accuracy and operating efficiency by automating the inspection of right side and back side of a sheet laver (i.e., the inspection whether the surface of object to be inspected is the right side or back side).例文帳に追加

シート海苔の表裏検査（すなわち、検査対象面が表面か裏面かの検査）を自動化して検査精度の向上および作業効率の向上を図る。 - 特許庁

A relaying charger is introduced between an inspection probe that has a contact arrangement which is made for general-purpose or standardized to an inspection device and an integrated circuit of an inspection object.例文帳に追加

検査装置側とは汎用または規格化された接点配列を有する検査プローブと、検査対象である集積回路との間に中継挿入器を導入する。 - 特許庁

Further, at least a drawing of the sheath test showing in a diagram of an inspection object, an inspection item and an inspection standard to be used for the sheath test is pasted on the surface.例文帳に追加

また、表面には、少なくとも外装検査において使用される、検査対象、検査項目及び検査基準を図式化して表す外装検査図が貼り付けられている。 - 特許庁

To provide an inspection jig capable of surely bringing a plurality of probes into contact with inspection points electrically, even in the case a pin is used as the inspection point disposed on an object to be inspected.例文帳に追加

検査対象に設けられた検査点がピンであっても、複数のプローブを確実に検査点に電気的に接触させることができる検査治具を提供する。 - 特許庁

To provide a substrate inspection device capable of performing inspection efficiently in the case of a small amount of inspection object substrates, and reducing cost by a simple constitution.例文帳に追加

検査対象の基板が少量である場合に、効率良く検査を実施することができ、且つ、簡便な構成でコスト低減を図ることのできる基板検査装置の提供。 - 特許庁

When an inspection condition with respect to the test piece of an object to be inspected cannot be obtained from the inspection condition of the defaults and the inspection condition prepared in the past, it is prepared newly.例文帳に追加

検査対象の試料に対する検査条件が、デフォルトの検査条件、及び、過去に作成した検査条件から得られない場合には新たに作成する。 - 特許庁

To provide an inspection device capable of performing surface inspection with high accuracy by sequentially emitting a plurality of light of different wavelengths to an object to be inspected by one inspection device.例文帳に追加

１つの検査装置により被検査体に波長の異なる複数の光を順次照射できる様にして、表面検査を高精度に行える検査装置を提供する。 - 特許庁

The visual inspection apparatus for inspecting the appearance of an object W to be inspected comprises inspection mode switching parts 3, 6, and 7 for selectively switching between a plurality of inspection modes on the basis of recipe information, including information on at least a destructive inspection mode and nondestructive inspection mode and a storage part M for storing information on the inspection location of the object W, when the destructive inspection mode is selected.例文帳に追加

被検物Ｗの外観を検査するための外観検査装置において、少なくとも破壊検査モードと非破壊検査モードとに関する情報を含むレシピ情報に基づいて、複数の検査モードを選択的に切換える検査モード切換え部３，６，７と、前記破壊検査モードが選択されているときに、前記被検物Ｗの検査位置情報を記憶する記憶部Ｍとを有する。 - 特許庁

This invented inspection system has an inspection part for conducting the inspection of an inspection object, the inspection device having a storage part for storing a queue of the inspection result, a registration part that extracts the inspection result in the queue sequentially, a database management system for storing the extracted inspection result and a database server having a nonvolatile memory part.例文帳に追加

本発明の検査システムは、被検査対象の検査を行う検査部、及び検査結果のキュー待ち行列を記憶する記憶部を有する検査装置と、前記キュー待ち行列の前記検査結果を順次取り出す登録部、取り出した前記検査結果を記憶するデータベースマネージメントシステム、及び不揮発性記憶部を有するデータベースサーバーとを有する。 - 特許庁

This defect inspection system for inspecting defects of an inspection object comprises a data generation means for generating inspection information for specifying an inspection and inspection result information containing defect information showing the details of the defect detected by inspection in a predetermined united format, and registering the generated inspection result information in a database.例文帳に追加

検査対象の欠陥を検査する欠陥検査システムにおいて、検査を特定する検査情報と、検査で検出した欠陥の詳細を示す欠陥情報を含む検査結果情報を所定の統一フォーマットで生成し、生成した検査結果情報をデータベースに登録するデータ生成手段とを有する。 - 特許庁

This device has an inspection head 4 for photographing each fuel rod 100 which is an inspection object, a moving means for moving the fuel rod 100 and the inspection head 4, and a fuel rod inspection control device 6 for performing visual dimension inspection or defect inspection from an appearance image of the fuel rod 100 photographed by the inspection head 4.例文帳に追加

被検査体である燃料棒１００を撮影する検査ヘッド４と、燃料棒１００または検査ヘッド４を移動させる移動手段と、検査ヘッド４で撮影した燃料棒１００の外観画像から外観寸法検査または欠陥検査をする燃料棒検査制御装置６とを有する。 - 特許庁

INSPECTION OBJECT CHECKED WITH AUTHENTICITY, PECULIAR INFORMATION REGISTRATION DEVICE AND AUTHENTICITY DETERMINATION DEVICE例文帳に追加

真贋がチェックされる検査対象物、固有情報登録装置、及び真贋判定装置 - 特許庁

LASER DEVICE, PHOTOTHERAPY DEVICE, EXPOSURE DEVICE, DEVICE MANUFACTURING METHOD, AND INSPECTION APPARATUS FOR INSPECTING OBJECT TO BE INSPECTED例文帳に追加

レーザ装置、光治療装置、露光装置、デバイス製造方法、及び被検物検査装置 - 特許庁

To improve the throughput of a substrate as an object to be inspected, in a TFT substrate inspection apparatus.例文帳に追加

ＴＦＴ基板検査装置において、検査対象である基板のスループットを改善する。 - 特許庁

The inspection apparatus 1 inspects the object to be inspected by using the composited image.例文帳に追加

検査装置１は、前記合成画像を用いて前記被検査対象物の検査を行う。 - 特許庁