「inspection object」に関連した英語例文の一覧と使い方(3ページ目) - Weblio英語例文検索

SURFACE INSPECTION OF INSPECTED OBJECT USING IMAGE PROCESSING例文帳に追加

画像処理を利用した検査対象物の表面検査 - 特許庁

To inspect whether an inspection object has a dimension determined in some degree or not by measuring the dimension of the inspection object.例文帳に追加

被検査物の寸法を測定して被検査物がある程度決まった寸法のものか否かを検査する。 - 特許庁

TEST CASE GENERATION DEVICE, OBJECT INSPECTION DEVICE, AND PROGRAM例文帳に追加

テストケース生成装置、オブジェクト検査装置、およびプログラム - 特許庁

RADIOGRAPHIC INSPECTION FOR AIRFRAME AND OTHER BIG OBJECT例文帳に追加

機体および他の大きな物体の放射線透過検査 - 特許庁

To obtain a site inspection device capable of measuring the temperature of an inspection object component with good accuracy regardless of the state of inspection object component and automating the inspection.例文帳に追加

点検対象機器の状態によらず精度良く点検対象機器の温度を測定でき点検の自動化を図ることができる現場点検装置を提供することである。 - 特許庁

To provide a visual inspection device and a visual inspection method capable of measuring accurately the position and the dimension of an aimed portion of an inspection object, even if positional deviation of the inspection object occurs.例文帳に追加

被検査物の位置ずれが生じても、正確に被検査物の着目部位の位置及び寸法を測定できる外観検査装置及び外観検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide an inspection object acceptor capable of preventing reverse flow of waste liquid from a waste liquid storage part to an inspection part, and an inspection device equipped with the inspection object acceptor.例文帳に追加

廃液溜部から廃液が検査部に逆流することがない検査対象受体及び当該検査対象受体を備えた検査装置を提供すること。 - 特許庁

To provide an inspection device capable of accurately detecting a state of an inspection object in a noncontact state when the inspection object is a conductor.例文帳に追加

検査対象が導体である場合に、非接触で検査対象の状態を精度良く検出することのできる検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide an inspection device of an inspection object for stabilizing coordinate accuracy of foreign matter or defect detected on the inspection object.例文帳に追加

本発明の目的は、被検査物上に検出される異物や欠陥の座標精度を安定化させる被検査物の検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide an inspection object acceptor for causing no overflow of waste liquid from a waste liquid storage part, and an inspection device equipped with the inspection object acceptor.例文帳に追加

廃液溜部から廃液が溢れることがない検査対象受体及び当該検査対象受体を備えた検査装置を提供する。 - 特許庁

To discover precisely a mounting failure of a component of an inspection object by carrying out a high-accuracy electrical characteristic inspection on the inspection object.例文帳に追加

被検査体に対して精度の高い電気的特性検査を実施し、被検査体における部品の実装不良などを的確に発見する。 - 特許庁

This configuration inspection is a process to estimate the outline of an inspection object pattern and compute the degree of closeness of the inspection object pattern to a right configuration.例文帳に追加

形状検査は、被検査パターンの輪郭を推定し、被検査パターンが正しい形状にどの程度近いかを算出する処理である。 - 特許庁

The automatic diagnosis inspection system includes the inspection control system operably combined with the inspection object application.例文帳に追加

自動診断検査システムには、検査対象アプリケーションに動作可能に結合された検査制御システムが含まれる。 - 特許庁

To accurately detect the movement of an object, by distinguishing between an escalator and the object being an inspection object.例文帳に追加

エスカレータと検査対象物である物体とを区別して、物体の動きを精度よく検出する。 - 特許庁

To improve an operation rate of an inspection device by setting an inspection condition, in a state where an actual inspection object does not exist, in defect inspection that uses a substrate with a pattern as the inspection object.例文帳に追加

パターン付基板を検査対象とした欠陥検査において，実際の検査対象物物が存在しない状態で、検査条件を設定することにより、検査装置の稼働率を向上させる。 - 特許庁

When the inspection object 2 is conveyed to the opening 6 for inspection (inspection region X), the distances to both the inspection faces of the inspection object 2 are simultaneously measured with the two-dimensional laser displacement meters 5A, 5B.例文帳に追加

検査対象物２が検査用開口部６（検査領域Ｘ）まで搬送されると、二次元レーザ変位計５Ａ，５Ｂにより検査対象物２の両検査面までの距離を同時に測定する。 - 特許庁

The inspection device 1 for light emitting devices inspects the characteristics of light emission of an inspection object A.例文帳に追加

発光機器の検査装置１は、検査対象物Ａの発光特性を検査する。 - 特許庁

The apparatus obtains the operation speed of the inspection object actuator 11 in the inspection damping operation state.例文帳に追加

検査ダンピング作動状態で、検査対象のアクチュエータ１１の作動速度を取得する。 - 特許庁

METHOD FOR DETERMINING CORRELATION VALUE OF OBJECT TO BE INSPECTED, DEFECT INSPECTION METHOD, AND DEFECT INSPECTION APPARATUS THEREFOR例文帳に追加

被検査対象相関値決定方法、欠陥検査方法とその欠陥検査装置 - 特許庁

To discriminate the inspection object part and inspection exempt part of e-mail.例文帳に追加

電子メールの検査対象部分と検査対象外部分とを判別できるようにする。 - 特許庁

To provide a substrate object for inspection and an inspection apparatus for reducing labor hours for a substrate.例文帳に追加

基板の手間を低減しうる検査用基板体および検査装置を提供する。 - 特許庁

To shorten an inspection time, and reduce quality dispersion of an inspection object.例文帳に追加

検査時間の短縮化を図り、かつ検査対象の品質のばらつきを少なくする。 - 特許庁

An inspection object 6 having an inspection space 6a is accommodated inside a housing 4.例文帳に追加

内部に検査空間６ａを有する検査対象物６を筺体４に収容する。 - 特許庁

An inspection reference axis P is set along the surface of the substrate 90 of an inspection object.例文帳に追加

検査対象の基板９０の表面に沿って検査基準軸Ｐを設定する。 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR READING BAR CODE OF INSPECTION OBJECT例文帳に追加

被検査物体バーコード読取り装置および読取り方法 - 特許庁

THICKNESS NONDESTRUCTIVE INSPECTION METHOD OF MEASURING OBJECT, AND DEVICE THEREFOR例文帳に追加

被測定物の肉厚非破壊検査方法およびその装置 - 特許庁

inspection measuring if an object meets set standards 例文帳に追加

一定の標準に合っているかどうかを測定する検査 - EDR日英対訳辞書

An inspection system is equipped with a feed device for feeding an object to be inspected and an inspection device for inspecting the object to be inspected.例文帳に追加

被検査物を搬送する搬送装置と、前記被検査物を検査する検査装置とを備えた検査システムである。 - 特許庁

To provide an inspection device for an object of inspection, capable of inspecting the inspection object accurately and quickly by utilizing an X-ray image acquired as a transmission image.例文帳に追加

透過画像として得られるＸ線画像を利用して正確かつ迅速に被検査体を検査することが可能な被検査体の検査装置を提供する。 - 特許庁

The invention is to improve an inspection device for inspecting an object of inspection with waveform quality of a signal that the object of inspection outputs.例文帳に追加

本発明は、被検査対象が出力する信号の波形品位によって、被検査対象を検査する検査装置に改良を加えたものである。 - 特許庁

INSPECTION DEVICE FOR MINUTE OBJECT ELEMENT, INSPECTION DEVICE FOR COLOR FILTER, INSPECTION METHOD FOR MINUTE OBJECT ELEMENT, MANUFACTURING METHOD FOR SUBSTRATE WITH PICTURE ELEMENT, AND PROGRAM例文帳に追加

微小測定対象要素の検査装置、カラーフィルタの検査装置、微小測定対象要素の検査方法、画素付き基板の製造方法およびプログラム - 特許庁

An inspection reference master 31 associates an inspection type and inspection items of the inspection management device 2 with an inspection object product and a schedule type of an ERP management device 4.例文帳に追加

検査基準マスタ３１は、ＥＲＰ管理装置４の検査対象品目及び予定タイプに対して、検査管理装置２の検査タイプ及び検査項目を関連付ける。 - 特許庁

To provide a visual inspection device, and a visual inspection method of an inspection object, having excellent inspection accuracy, even when the direction of an optical axis of a camera is not in an ideal state, compared to a conventional technology.例文帳に追加

従来の技術と比較して、カメラの光軸の方向が理想的な状態でない場合でも、検査精度が良好となる。 - 特許庁

To detect surely a defect of an inspection object without depending on a defect shape of the inspection object, each different polishing line formed on each inspection object or the like.例文帳に追加

検査対象物における欠陥の形状や各検査対象物に形成されたそれぞれ異なる研磨筋等によらず、検査対象物の欠陥を確実に検出すること。 - 特許庁

To provide a carrier cup which can smoothly lift up and down an inspection object in the delivery process, and properly positioning the inspection object on a belt conveyor, and to provide a method of delivering the inspection object.例文帳に追加

被検査物をその搬送過程で円滑に昇降させ、しかもベルトコンベヤ上で被検査物を適正に位置決めできるキャリアカップ、及び被検査物の搬送方法を提供する。 - 特許庁

The inspection results of the metal detector 10 and the X-ray inspection apparatus 6 are inputted to a foreign object-specifying section 8, thus specifying a foreign object contained in the object 4 to be inspected from both the inspection results.例文帳に追加

金属検出機１０及びＸ線検査装置６の検査結果を異物特定部８に入力し、両検査結果に基づいて被検査物４に含まれる異物を特定する。 - 特許庁

In the second configuration inspection, an outline where the inspection object pattern contained in the separate regions of the inspection object has the right configuration is estimated based on the inspection object pattern having the right configuration and being in the periphery first.例文帳に追加

第２の形状検査では、まず正しい形状を備えた周囲の被検査パターンに基づいて、検査対象の個別領域に含まれる被検査パターンが正しい形状を備えている場合の輪郭を推定する。 - 特許庁

To provide a simply-constructed inspection object bed for infrared detection, capable of enhancing detection accuracy of a defective part, etc. of an inspection object, and an infrared inspection method for the defective part, etc. of the inspection object, using the same.例文帳に追加

簡単な構成で被検体の欠陥部等の検出精度を向上させうる赤外線検出による被検体用台及びそれを用いた被検体欠陥部等の赤外線検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide an ultrasonic inspection method and an ultrasonic inspection method, capable of inspecting the inside of an inspection object, even when there are surfaces of the inspection object having irregularities or are made sloped.例文帳に追加

表面に凹凸や傾きが存在する試験体であってもその内部の検査を行うことの可能な超音波試験方法及び超音波試験装置を提供すること。 - 特許庁

The wafer is imaged based on the inspection recipe to acquire an inspection object image (step S4), and a defect of the wafer is inspected based on the inspection recipe and the inspection object image (step S10).例文帳に追加

検査レシピに基づいてウェハを撮像して検査対象画像を取得し（工程Ｓ４）、検査レシピと検査対象画像に基づいてウェハの欠陥を検査する（工程Ｓ１０）。 - 特許庁

To provide an inspection method or the like capable of inspecting the whole inspection domain of an inspection object by one camera.例文帳に追加

検査対象物の検査領域全体の検査を、１台のカメラで行なうことができる検査方法等を提供する。 - 特許庁

AIRTIGHTNESS INSPECTION METHOD AND AIRTIGHTNESS INSPECTION DEVICE HAVING BOX BODY FOR MOUNTING STEAM MOVEMENT CONTROL DEVICE AS INSPECTION OBJECT例文帳に追加

水蒸気移動制御装置を取り付けるための箱体を検査対象とした気密検査方法及び気密検査装置 - 特許庁

HIGH-SPEED INTERFACE CIRCUIT INSPECTION MODULE, OBJECT MODULE FOR HIGH-SPEED INTERFACE CIRCUIT INSPECTION, AND HIGH-SPEED INTERFACE CIRCUIT INSPECTION METHOD例文帳に追加

高速インターフェース回路検査モジュール、高速インターフェース回路検査対象モジュールおよび高速インターフェース回路検査方法 - 特許庁

The inspection frame generation part 22 adds a sequence number of an inspection frame of a correction object and a correction value to the next inspection frame.例文帳に追加

検査フレーム生成部２２は、次の検査フレームに、補正対象の検査フレームのシーケンス番号と補正値を付加する。 - 特許庁

To provide an inspection system to image an object which can be placed on an object plane.例文帳に追加

物体平面におくことができる物体を結像するための検査系が提案される。 - 特許庁