例文 (999件) |
inspection objectの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 2478件
EXTRACTION METHOD FOR INFORMATION ON COLOR AND SHAPE FEATURE IN VISUAL INSPECTION SYSTEM FOR OBJECT, OBJECT DISCRIMINATION METHOD BASED ON COLOR AND SHAPE FEATURE AND VISUAL INSPECTION SYSTEM FOR OBJECT例文帳に追加
物品の外観検査システムにおける色形状特徴情報の抽出方法、色形状特徴に基づく物品弁別方法、物品の外観検査システム - 特許庁
To provide an inspection device capable of improving discrimination accuracy of an abnormality of an inspection object part.例文帳に追加
検査対象部の異常の判別の精度を向上させることができる検査装置を提供する。 - 特許庁
To provide an inspection device supplying an electric power from an inspection object surface to which a solid immersion lens is opposed.例文帳に追加
固体浸レンズが対向する被検査対象面から給電可能な検査装置を提供すること。 - 特許庁
The image inspection device performs inspection by processing an image of the inspecting object plate obtained by photographing it with a camera.例文帳に追加
カメラで撮影した検査対象板の画像を処理して検査を行う画像検査装置である。 - 特許庁
To perform an inspection work more efficiently by speeding up an inspection process on an inspecting object plate such as a liquid crystal panel.例文帳に追加
液晶パネル等の検査対象板の検査処理を高速化して、検査作業の効率化を図る。 - 特許庁
The inspection device 1 can inspect with high accuracy defects in the inspection object having patterns.例文帳に追加
本検査装置1は、絵柄を有する検査対象の欠陥を、高精度で検査することが可能である。 - 特許庁
A macro inspection device 100 examines the size variation of a rugged pattern of the surface of an inspection object 2.例文帳に追加
被検査物2の表面の凹凸パターンのサイズ変動を検査するマクロ検査装置100である。 - 特許庁
Inspection whether an inspection object TCP in the TCP tape 20 is defective or not is performed through the contact pin 36.例文帳に追加
コンタクトピン36を介してTCPテープ20の検査対象のTCPに不良がないか検査する。 - 特許庁
Alternatively, the inspection apparatus 1 gives the signal sequentially to the terminals 5 of the wiring harness 2 as an inspection object.例文帳に追加
ワイヤハーネス検査装置1は検査対象物としてのワイヤハーネス2の端子5に順に信号を与える。 - 特許庁
An e-mail apparatus is provided with an inspection object discrimination part for discriminating the inspection object part and the inspection exempt part when inspecting whether or not secret information is included in the e-mail, and a secret information inspection part for inspecting whether or not the secret information is included in the inspection object part.例文帳に追加
電子メール装置が、電子メールに秘密情報が含まれるか否かを検査する場合に、検査対象部分と検査対象外部分とを判別する検査対象判別部と、検査対象部分に秘密情報が含まれるか否かを検査する秘密情報検査部とを備える。 - 特許庁
To provide a laser ultrasonic inspection technique for performing nondestructive inspection of an inspection object whose surface shape is complicated at a high speed with high precision.例文帳に追加
表面形状が複雑な検査対象の非破壊検査を高速かつ高精度で行うレーザ超音波検査技術を提供する。 - 特許庁
To provide a member inspection device for performing visual inspection on an inspecting object according to a desired inspection manner at a low cost.例文帳に追加
複検査対象物の外観検査を所望の検査態様に応じて低コストで行うことが可能な部材検査装置を提供する。 - 特許庁
This defect inspection device is employed for inspecting the existence of a defect of an inspection object and inspecting a plurality of inspection objects continuously.例文帳に追加
検査対象物の欠陥の有無を検査すると共に複数の検査対象物を連続して検査する欠陥検査装置である。 - 特許庁
To provide an inspection apparatus that radiates electromagnetic wave to an inspection object, acquires a transmission image or reflection image of an inspection object structure, and non-destructively inspects the inspection object body, structures of different transmittance or reflectivity, and an internal defect.例文帳に追加
検査体に電磁波を照射して、検査体構造の透過画像あるいは反射画像を得る検査装置に関し、検査体本体と透過率あるいは反射率が異なる構造や内部欠陥を非破壊に行なうための装置を提供する。 - 特許庁
To provide a visual inspection device and a visual inspection method capable of enhancing precision in shape inspection of an inspection object, and capable of enhancing working efficiency.例文帳に追加
検査対象物の形状検査の精度を向上させ、かつ作業効率の向上を図ることができる外観検査装置および外観検査方法を提供する。 - 特許庁
The image inspection apparatus 30 acquires a key image in an inspection in the past under the same condition as the inspection in which DICOM images to be an image inspection object are generated from an image server 40.例文帳に追加
検像装置30は、検像対象となるDICOM画像を生成した検査と同一条件の過去検査におけるキー画像を、画像サーバ40から取得する。 - 特許庁
To provide a defect inspection device and method to quickly and accurately perform a defect inspection even when inspecting inspection faces of both upper and lower sides of an inspection object.例文帳に追加
検査対象物の上下両側の検査面を検査する場合でも、欠陥検査を迅速に且つ精度良く行うことができる欠陥検査装置及び方法を提供する。 - 特許庁
This commodity inspection terminal unit is provided with a commodity inspection table for storing commodity inspection information such as a commodity name, a sale price and the expected delivery commodity number in response to a commodity identification code of an inspection object commodity.例文帳に追加
検品対象商品の商品識別コードに対応して商品名,売価,納品予定数等の検品情報を記憶した検品テーブルを設ける。 - 特許庁
To provide an ultrasonic inspection method and an ultrasonic inspection device capable of easily identifying a thickness reduction of an inspection target portion regardless of a state of an inspection object.例文帳に追加
被検査体の状況に関わらず簡便に検査対象部の減肉等を検出可能な超音波検査方法及び超音波検査装置を提供すること。 - 特許庁
To provide a defect detecting method capable of emphasizing the defects of an inspection object, without depending on the luminance of the inspection object.例文帳に追加
検査対象の輝度に依存することなく当該検査対象の欠陥を強調することができる欠陥検出方法を提供すること。 - 特許庁
To easily detect flatness of a surface of an inspection object with high sensitivity.例文帳に追加
被検査物の表面の平坦度を高感度で簡易に検出する。 - 特許庁
A defect part 13 and a defect part 14 in the inspection object are detected by the binarization threshold value based on the image data obtained by imaging the inspection object.例文帳に追加
検査対象を撮像した画像データから二値化しきい値によって上記検査対象の欠陥部分13・14を検出する。 - 特許庁
Hereby, the interval between the inspection object 10 and the magnet 20 is periodically blocked/opened, and a fluctuating magnetic field is applied to the inspection object 10, and thereby an elastic wave is generated in the inspection object 10 by a magnetostrictive effect.例文帳に追加
これにより、検査対象物10と磁石20との間を周期的に遮断・開放し、検査対象物10に変動磁場を印加して磁歪効果により検査対象物10内に弾性波を発生させる。 - 特許庁
A surface inspection apparatus inspects an object 6 having a curved surface.例文帳に追加
表面検査装置は、表面が曲面である物体6を検査する。 - 特許庁
Evidence that an object is located in the field of view is used for detection, and evidence that the object satisfies appropriate inspection criteria is used for inspection.例文帳に追加
物体が視野に位置する証拠は、検出のために使われ、物体が適切な検査基準を満たす証拠は検査のために使われる。 - 特許庁
To provide an inspection method for determining the initial mechanical damage to an object.例文帳に追加
対象物の初期機械的破損を判定する方法を提供する。 - 特許庁
To set an optional region on an image as an inspection object region.例文帳に追加
画像上の任意の領域を検査対象領域として設定する。 - 特許庁
This device comprises a lighting part 13 for illuminating an inspection object 11, and an observation part 14 for observing the inspection object illuminated by the lighting part.例文帳に追加
被検物11を照明する照明部13と、この照明部によって照明された被検物を観察する観察部14とを備える。 - 特許庁
INTEGRITY CONFIRMATION INSPECTION SYSTEM AND INTEGRITY CONFIRMATION METHOD FOR TRANSPORTED OBJECT例文帳に追加
輸送物の健全性確認検査システムおよび健全性確認方法 - 特許庁
Comparison is made between the color data about the pixels, which the detected inspection object occupies, and color data about a inspection object of a preliminarily prepared non-defective product, to decide whether the inspection object is non-defective or defective.例文帳に追加
検出した検査対象物が占める画素の色データと、予め用意しておいた良品の検査対象物の色データとを比較し、検査対象物が良品であるか不良品であるかを判定する。 - 特許庁
To reduce a mounting area, and to correctly read image data of a pattern on an inspection object even if the inspection object is made of a soft material.例文帳に追加
実装面積を小さくし、かつ被検体が軟質物であっても正しく被検体上のパターンの画像データを読み取ることを可能にする。 - 特許庁
An apparatus for setting inspection conditions (inspection apparatus 1) presets conditions for the appearance inspection before conducting the appearance inspection of an inspection object having a plurality of electronic circuits such as semiconductors, liquid crystal circuits, or printed circuit boards mounted thereon by comparing CAD data (41) and an inspection object image (43).例文帳に追加
検査条件設定装置(検査装置1)は、半導体、液晶回路、またはプリント基板などの電子回路を複数搭載する被検査物の外観検査をCADデータ(41)と被検査物画像(43)との対比によって行う前に、当該外観検査の条件を予め設定する。 - 特許庁
Even if an inspection area is widened, therefore, the inspection light quantity into the hole part of the inspection object 2 is increased, and the incident quantity into a fluorescent plate of inspection light passing the hole part is increased, and thereby the inspection sensitivity to the hole part of the inspection object 2 is improved.例文帳に追加
これによって、検査面積を広げた場合であっても、被検査物2の孔部への検査光量を増加させ、孔部を通過した検査光の蛍光板への入射量を増加させて、被検査物2の孔部に対する検査感度を向上させることを可能とする。 - 特許庁
The inspection tool of the inspection device is brought into contact with the inspection object signal wire at the inspection time, and the disconnection failure is detected from an abnormality of a supply current and an output from the disconnection failure detection circuit 3 when applying the inspection signal, and a supply current and an output from an inspection object circuit 5.例文帳に追加
検査時には、本検査装置の検査治具を検査対象信号線に接触させ、検査信号を印加した時の断線故障検出回路3の電源電流、出力、検査対象回路5の電源電流、出力の異常により断線故障を検出する。 - 特許庁
To determine quickly and surely existence of a hole in an inspection object; to remove instability caused by an inspection method using an ultrasonic wave; and to perform stable inspection to an optional inspection object.例文帳に追加
本発明は、被検査物の孔の有無が迅速且つ確実に判断ができ、超音波を用いた検査方法による不安定さがなくなり、任意の被検査物に対して安定した検査を行えることを課題とする。 - 特許庁
The inspection signal supply part 12 applies an inspection signal to a signal line of inspection object of a circuit 11 of inspection object through the probe 14, and the failure detection part 13 fetches a signal of the signal line.例文帳に追加
検査信号供給部12が信号印加測定用プローブ14を介して検査対象回路11の検査対象信号線に検査信号を印加するとともにその信号線の信号を故障検出部13に取り込む。 - 特許庁
To provide an ultrasonic probe, an ultrasonic inspection device and an ultrasonic inspection method, capable of making ultrasonic wave incident on a position within an intended inspection object regardless of temperature change to inspect the inner part of the inspection object.例文帳に追加
温度変化に関係なく、目的とする被検査物内の位置に超音波を入射でき、被検査物内部を検査可能な超音波探触子,超音波検査装置及び検査方法を提供すること。 - 特許庁
An inspection signal reception section 274 of the receiver 200 receives the inspection signal transmitted from an inspection signal transmission section 174 and a reception state decision section 275 uses the inspection signal for its inspection object.例文帳に追加
検査信号送信部174から送信された検査信号は受信装置200の検査信号受信部274により受信され、受信状況判定部275における検査対象となる。 - 特許庁
Further, an inspection area determination part 36 determines whether the inspection area expanded by the inspection area expanding part 35 is an inspection area including the inspection object in accordance with a feature amount.例文帳に追加
そして、検査領域判別部36は、検査領域拡大部35によって拡大された検査領域が検査対象を含む検査領域であるか否かを特徴量に応じて判別する。 - 特許庁
To always perform inspection efficiently in the necessary minimum time by removing a loss of an inspection time, when executing simultaneously a plurality of inspection programs in the inspection to the same inspection object equipment.例文帳に追加
同一の被検査対象機器に対する検査で複数の検査プログラムを同時実行する場合に、検査時間の損失を無くして、常に、必要最小限の時間で効率的に検査を行うこと。 - 特許庁
The X-ray inspection system images X-rays output from an X-ray generation device and transmitted through an object of inspection by means of a solid state image pickup device 1A to inspect the object of inspection.例文帳に追加
X線検査システムは、X線発生装置から出力されて検査対象物を透過したX線を固体撮像装置1Aにより撮像して該検査対象物を検査する。 - 特許庁
With regard to a component of inspection object, an inspection executing section 107 determines the similarity of an inspection object image for each model by using the acceptable model and the rejectable model corresponding to that component.例文帳に追加
検査実行部107は、検査対象の部品について、その部品に対応する良モデルおよび不良モデルを用いて、各モデルに対する検査対象画像の類似度を求める。 - 特許庁
To provide an inspection device capable of easily and properly determining the quality of an inspection object, based on an index expressing the lightness of light suitable for evaluating a glossy face of the inspection object.例文帳に追加
検査対象物の光沢面の評価に相応しい光の明度を表す指標に基づき、検査対象物の良否判定を簡易かつ適切に行える、検査装置を提供する。 - 特許庁
To provide an inspection method and its device capable of always stably and accurately inspecting an inspection object even with a variation in a light source and change in the inspection object.例文帳に追加
検査装置において、光源の変動が生じたり、検査対象が変っても、検査体に対して常に安定して高精度の検査が行える検査方法とその装置を提供すること。 - 特許庁
The inspection of the printed circuit board which is the inspection object is performed by using a result of a line simulation and/or a circuit simulation of the printed circuit board which is the inspection object.例文帳に追加
また、上記検査対象のプリント基板の線路シミュレーションおよび/または回路シミュレーションの結果を用いて、上記検査対象のプリント基板の検査を行うようにしたものである。 - 特許庁
To provide a surface inspection device with enhanced inspection accuracy on defects on a surface of an inspecting object by suppressing the influence of the surface condition of the inspecting object on the inspection accuracy.例文帳に追加
被検査物の表面の状態が検査精度に与える影響を抑えて被検査物表面の欠陥の検査精度を向上させることが可能な表面検査装置を提供する。 - 特許庁
To provide an ultrasonic inspection device capable of measuring the size of a flaw on an inspection object portion by correcting an error of an ultrasonic beam path length caused by a curvature of the surface of the inspection object.例文帳に追加
被検査体の表面の曲率による超音波ビーム路程の誤差を補正し被検査体部位のきずの大きさを測定できる超音波検査装置を提供することである。 - 特許庁
To provide an article shape inspection device capable of easily specifying a portion of an inspection object having an error with deviation from a designed shape larger than a tolerance directly on the inspection object.例文帳に追加
検査体において設計形状との誤差が公差から外れている箇所を検査体上で容易に特定できる物品の形状検査装置を提供することを目的とする。 - 特許庁
The tool for inspection of the connector is used in such a way that a connector 12 on the tool side is fitted to a connector on the inspection object side, and the connector on the inspection object side is electrically connected to a measuring instrument through the connector 12 on the tool side.例文帳に追加
被検査側のコネクタに治具側のコネクタ12を嵌合し、被検査側のコネクタを治具側のコネクタ12を介して測定器に電気的接続するコネクタ検査用治具である。 - 特許庁
例文 (999件) |
Copyright © Japan Patent office. All Rights Reserved. |
ログイン |
Weblio会員(無料)になると
|
ログイン |
Weblio会員(無料)になると
|