「inspection object」に関連した英語例文の一覧と使い方(8ページ目) - Weblio英語例文検索

The contour image generation part 123 generates a contour image in which the contour of the inspection object is extracted from the inspection image.例文帳に追加

輪郭画像生成部１２３は、検査画像から検査対象の輪郭が抽出された輪郭画像を生成する。 - 特許庁

The range of extraction is determined so as to enable optimum inspection, from the size information of the semiconductor chip as the inspection object.例文帳に追加

検査対象の半導体チップの大きさ情報から最適検査が行なえるように切り出す範囲を決定する。 - 特許庁

To accurately pinpoint the position of a conductive line being an inspection object, in a noncontact type inspection method.例文帳に追加

非接触式の検査方法において、検査対象となる導電性ラインの位置を正確に特定し得るようにする。 - 特許庁

To exactly position a stage at a specific inspection objective position when a stage put by an inspection object is moved by an operation.例文帳に追加

被検査物が載置されたステージを移動操作する際に、ステージを所定の検査対象位置に正確に位置決めする。 - 特許庁

To provide an inspection device capable of detecting highly accurately disconnection of a thin-walled inspection object having poor rigidity.例文帳に追加

薄肉で剛性に乏しい検査対象の断線を高い精度で検出することができる検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide an X-ray inspection device for determining abnormalities in shape of an inspection object by an easy and quick method.例文帳に追加

被検査物の形状異常を容易かつ迅速な方法で判断することができるＸ線検査装置を提供する。 - 特許庁

To attain an independent inspection of a storage circuit by separating a parallel output of the storage circuit and a control object circuit at the inspection.例文帳に追加

記憶回路のパラレル出力と制御対象回路を検査時に切り離し、記憶回路の単独検査を可能とする。 - 特許庁

To allow detail color tone measurement, and allow color tone inspection for an inspection object having a pattern of plural colors.例文帳に追加

詳細な色調計測を可能にし、複数色の図柄を有する検査対象物の色調検査を可能にする。 - 特許庁

A metal detector 10 and an X-ray inspection apparatus 6 are provided in a belt conveyor 2 for carrying a non-inspection object 4.例文帳に追加

非検査物４を搬送するベルトコンベヤ２に、金属検出機１０とＸ線検査装置６とが設けられている。 - 特許庁

To increase efficiency of measurement and inspection, and to reduce labor by obviating weighing of an inspection object solution.例文帳に追加

被検溶液の計量を不要にして、計測および検査の効率化と省力化を実現することを目的とする。 - 特許庁

To provide a carrying device comprising a carrying conveyer for supplying a ring-shaped inspection object to an inspection position.例文帳に追加

リング状被検査体を検査する被検査体を検査位置に供給する搬送コンベアからなる搬送装置を提供する。 - 特許庁

To provide a line sensor inspection device constituted so as not only to achieve space saving but also to enhance the versatility of the inspection of an object.例文帳に追加

省スペース化を図ると共に対象物の検査の汎用性を高めるラインセンサ検査装置を提供する。 - 特許庁

To reduce dispersion of a differential pressure detection value caused by a temperature change, and to thereby improve inspection accuracy, by suppressing heat exchange between a leak inspection device and an inspection object, and by reducing a temperature change during inspection of the device and the inspection object, concerning the leak inspection device of an air differential pressure type.例文帳に追加

空気差圧式の漏洩検査装置において、該洩検査装置と被検査体との間の熱交換を抑制して、装置及び被検査体の検査中の温度変化を低減することにより、温度変化に起因する差圧検出値のバラツキを低減して、検査精度の向上を図るための技術を提案する。 - 特許庁

To provide a printed matter inspection method and device for detecting defects in a printed matter by using only an inspection object image obtained by image-inputting the printed matter to be an object of an inspection without the need of an inspection reference image to be obtained by image-inputting the printed matter to be a reference of the inspection.例文帳に追加

検査の基準とする印刷物を画像入力して得る検査基準画像を必要とせず、検査の対象となる印刷物を画像入力して得る検査対象画像だけを用いてその印刷物における欠陥を検出する印刷物検査方法および装置を提供する。 - 特許庁

To provide a device and a method for image processing and inspection which can accurately inspect an object to be inspected even if the size of an inspection object area is different corresponding to the object to be inspected.例文帳に追加

検査対象物に応じて検査対象領域の大きさが異なる場合でも検査対象物の検査を正確に行える画像処理検査装置及び画像処理検査方法を提供する。 - 特許庁

A selection unit 169 sets a priority for the objects indicated by the extracted inspection candidate object information, and selects, as inspection object information, the inspection candidate object information for objects falling within a range not exceeding a threshold in the order of priority.例文帳に追加

選択部１６９は、抽出された各検査候補オブジェクト情報が示すオブジェクトに優先度を設定し、優先度の順に閾値を超えない範囲に収まるオブジェクトの検査候補オブジェクト情報を、検査オブジェクト情報として選択する。 - 特許庁

As a result, the foreign object on the inspection electrode 72 is removed, or the distance of nozzle plate 63 and the foreign object can be separated by the ink discharged in the discharge processing before the inspection, and the noise caused in the foreign object in the discharge inspection can be controlled.例文帳に追加

これにより、検査前吐出処理で吐出されたインクにより検査電極７２上の異物を除去するか又はノズルプレート６３と異物との距離を離すことができ、吐出検査における異物に起因するノイズを抑制することができる。 - 特許庁

To provide a panel inspection device and inspection method applying light on an inspection target object transmitting or reflecting light such as a substrate, film, nonwoven fabric or the like, picking up reflected or transmitted light and detecting a defection of the inspection target object.例文帳に追加

本発明は基板、フィルム、不織布等の光を透過または反射させる検査対象物に光を照射して、反射または透過される光を撮像して検査対象物の不良を検出するパネル検査装置及び検査方法を提供する。 - 特許庁

The patrol inspection support system according to the present embodiment includes: the on-site control panel provided associated with the inspection object installed at a site; and a portable terminal device carried by an operator when the operator performs the patrol inspection of the inspection object.例文帳に追加

本実施形態の巡視点検支援システムは、現場に設置された点検対象物に対応付けて設けられた現場操作盤と、作業者が点検対象物の巡視点検を行う際に携帯する携帯端末装置とからなる。 - 特許庁

To conduct advanced interference inspection by minutely setting a workable object (part) and an object (part) not to be worked in the interference inspection using three-dimensional space data.例文帳に追加

三次元空間データを使用した干渉検査において、加工できるもの（部分）、加工してはいけないもの（部分）をきめ細かく設定して高度な干渉検査を行うこと。 - 特許庁

The image reading apparatus 1 comprises a camera 2 for imaging the inspection object, a side lighting illumination LED 3 for illuminating the inspection object, and a guide pipe 5 surrounding the view field of the camera 2.例文帳に追加

画像読取装置１は、検査対象を撮像するカメラ２と、検査対象を照明する側射用照明ＬＥＤ３と、カメラ２の視野を囲むガイドパイプ５とを備える。 - 特許庁

To reduce deterioration of a random pattern by friction or the like, in a system deciding authenticity of an inspection object by use of the minute random pattern of the surface of the inspection object.例文帳に追加

検査対象物の表面の微細なランダムパターンを用いてその検査対象物の真贋を判定するシステムにおいて、摩擦等によるランダムパターンの劣化を低減する。 - 特許庁

In the case of day, a moving object is detected in an inspection image, based on the difference in the luminance between a reference image and the inspection image by the first moving object detector.例文帳に追加

昼と判定されたときには、第１の移動物体検出部により基準画像と検査画像との輝度の相違に基づき検査画像中から移動物体を検出する。 - 特許庁

To provide a crack inspection device and crack inspection method for measuring a crack inside an inspecting object even when the inspecting object is transparent or translucent.例文帳に追加

被検査物が透明または半透明であっても、検査被検査物内部のクラックを測定することが可能なクラック検査装置およびクラック検査方法を提供する。 - 特許庁

A front surface 100a of an inspection object 100 is convexly curved toward an outside of the inspection object 100 at least from a transmitter 2 to a receiver 3.例文帳に追加

被検査体１００の表面１００ａは、少なくとも送信子２及び受信子３間において被検査体１００の外側に向けて凸状の曲面である。 - 特許庁

In a measurement mode, the inspection object is measured by the metering section, the measurement result is printed on the inspection object by the IJP, and the print is read by the camera and is checked against the measured value.例文帳に追加

測定モードでは、計量部で被検査物を計量し、ＩＪＰで被検査物にその結果を印字し、これをカメラで読み取って測定値と照合する。 - 特許庁

To provide an image processing board which can correct the tilt of an inspection object real time, even when the inspection object in a tilt state is imaged by a camera.例文帳に追加

傾いた状態で検査対象物をカメラで撮像したとしても、リアルタイムで検査対象物の傾きを補正することができる画像処理ボードを提供する。 - 特許庁

An output signal from the second reverse filter 4f is limited thereby to that due to the abnormal sound from the inspection object, so as to detect surely the presence of the abnormality of the inspection object.例文帳に追加

そのため、第２逆フィルタ４ｆの出力信号は対象検査物の異常音によるものに限定され、検査対象物の異常の有無を確実に検出できる。 - 特許庁

A magnet 20 is arranged oppositely to an inspection object 10, and a magnetic body rotation disk 31 is arranged between the magnet 20 and the inspection object 10.例文帳に追加

検査対象物１０に対向して磁石２０を配置するとともに磁石２０と検査対象物１０との間に磁性体回転円盤３１を配置する。 - 特許庁

The place where the sine wave-shaped line illumination 4 is projected on the inspection object 3 is imaged by using a line sensor camera 1 having pixels arranged in the axial direction of the inspection object 3.例文帳に追加

被検物３上の正弦波状ライン照明４が投影された場所を、被検物３の軸方向に画素が並べられたラインセンサカメラ１を用いて撮像する。 - 特許庁

To provide a technique capable of determining easily a wavelength range suitable for obtaining an image of an inspection object when the optional inspection object is inspected.例文帳に追加

任意の検査対象物を検査する際に、検査対象物の画像を取得するのに適した波長域を容易に決定することができる技術を提供する。 - 特許庁

Then, the digital camera 13 photographs the outline shape of the inspection object 1 and the infrared camera photographs the temperature distribution of the surface of the inspection object.例文帳に追加

そして、デジタルカメラ１３では点検対象物１の外観形状を撮影し、赤外線カメラ１４では点検対象物１の表面の温度分布を撮影する。 - 特許庁

The inspection device supplies the test object 1 into the guide part 3 of the disk 2 from the supply mechanism 4, rotates the disk 2, and inspects the test object 1 at the inspection position.例文帳に追加

検査装置は、供給機構４から円盤２の案内部３に被試験体１を供給し、円盤２を回転させて被試験体１を検査位置で検査する。 - 特許庁

Then, comparison inspection is performed based on a difference between the master image and an object image.例文帳に追加

そして、マスタ画像とオブジェクト画像との差分に基づいて比較検査を行う。 - 特許庁

To provide an inspection probe capable of coping with refinement of the electrode of an object to be inspected.例文帳に追加

被検査物の電極の微細化に対応できる検査プローブを提供する。 - 特許庁

An inspection object pattern is picked up to prepare binary image data (step 10 and 12).例文帳に追加

検査対象パターンを撮像して２値画像データを作成する（ステップ１０、１２）。 - 特許庁

Hereby, stable measurement of an electric characteristic can be performed to an inspection object.例文帳に追加

これにより、被検査物に対し、安定した電気特性を測定することができる。 - 特許庁

The scanning type X-ray source 10 outputs X rays to an inspection object 20.例文帳に追加

走査型Ｘ線源１０は、検査対象２０に向けてＸ線を出力する。 - 特許庁

DEVICE FOR AUTOMATICALLY DETERMINING CAUSE OF PRESCRIBED SURFACE STATE OF OBJECT OF INSPECTION例文帳に追加

検査対象物の所定の表面状態の原因を自動的に求める装置 - 特許庁

The OS 1 ensures a trace data area 12 corresponding to the inspection object memory area.例文帳に追加

また，その検査対象メモリ領域に対応するトレースデータ域１２を確保する。 - 特許庁

When the connection object is at the fitted position, a route for inspection is formed.例文帳に追加

接続対象体が嵌合位置にあるときに検査用の経路が形成される。 - 特許庁

SYSTEM AND METHOD OF RADIOGRAPHIC INSPECTION WITHOUT PRIOR INFORMATION OF OBJECT TO BE INSPECTED例文帳に追加

検査対象物体の事前情報なしに放射線検査するシステム及び方法 - 特許庁

Consequently, a stable electric characteristic can be measured relative to an inspection object.例文帳に追加

これにより、被検査物に対し、安定した電気特性を測定することができる。 - 特許庁

To provide an object surface inspection apparatus capable of clearly detecting a difference of glossiness at an inspected surface of an object surface.例文帳に追加

物体表面の検査面において光沢度の差を明瞭に検出できる物体表面検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a pattern inspection method in which an object can be inspected satisfactorily even when the object is a chemically polished product.例文帳に追加

対象物が化学研磨品である場合であっても良好な検査ができるパターン検査方法を提供すること。 - 特許庁