「inspection object」に関連した英語例文の一覧と使い方(32ページ目) - Weblio英語例文検索

When etching a silicon object film 93 laminated on a material 92 to be laminated, the object film 93 is irradiated with inspection light L1 involving P polarization at a Brewster angle θ1 of the object film 93, and etching endpoint is determined based on the reflectance of the P polarization.例文帳に追加

被積層材９２に積層された珪素からなる対象膜９３をエッチングする際、Ｐ偏光を含む検査光Ｌ１を対象膜９３のブリュースター角θ１で対象膜９３に照射し、前記Ｐ偏光の反射率に基づいてエッチング終点を判定する。 - 特許庁

The detection unit 2 includes a clamp device 20 for fixing an object 4 under inspection at a prescribed position, an ultrasonic transmitter 5 for outputting an ultrasonic wave into the interior of the object 4 fixed by the clamp device 20, and an ultrasonic receiver 6 for receiving an ultrasonic wave leaking from the object 4.例文帳に追加

被検査物４を所定の位置に固定するクランプ装置２０と、クランプ装置２０により固定された被検査物４の内部に超音波を出力する超音波発信装置５と、被検査物４から洩れた超音波を受信する超音波受信装置６とを備えている。 - 特許庁

To provide an illumination method used at a visual examination for an object to be measured such as an electronic component in which the whole of an inspection face of the object can be substantially uniformly illuminated by solving an illuminance difference between the outer edge part and the central part of the object.例文帳に追加

電子部品のような被測定物の外観検査を行う際に使用する照明方法であって、被測定物の外縁部と中央部との照度の差を解消し、被測定物の検査面全体にわたって実質的に均一な照明を行うことができる照明方法を提供すること。 - 特許庁

This inspection method for a three-dimensional object arranged on a sheet-like body is provided with a process for acquiring an image picked up from a direction capable of imaging a side face of the three-dimensional object, using a wide angle lens, and a process for inspecting the three-dimensional object based on the image.例文帳に追加

板状物体上に配置されている三次元物体を検査するための方法であって、広角レンズを用いて三次元物体を側面が映し出される方向から撮像した画像を取得する工程と、画像に基づいて前記三次元物体を検査する工程とを備える。 - 特許庁

An inspection device comprises: at least one socket for mounting an object to be inspected; a plurality of circuit boards each including the at least one socket, for testing the object to be inspected; and a tester head connected electrically to the plurality of circuit boards, for supplying a signal to the object to be inspected.例文帳に追加

検査装置は、被検査対象を搭載するための少なくとも１つのソケットと、ソケットを有し、被検査対象を試験するための複数の回路基板と、複数の回路基板と電気的に接続され、被検査対象に信号を供給するためのテスタヘッドと、を備える。 - 特許庁

A radiographic inspection system for an object includes a radiation source 16 positioned in one side of the object, and a radiation detector 18 positioned in another one side of the object, and the radiation detector is positioned to receive the radiation from the radiation source 16.例文帳に追加

物体の放射線透過検査用システムは、物体の一方の側に位置する放射線源（１６）と、物体のもう一方の側に位置する放射線検出器（１８）とを含み、放射線検出器は放射線源（１６）からの放射を受け取るように位置付けされている。 - 特許庁

The inspection method includes a process which carries out an electrical measurement for a first object to be measured by a first voltage, and a process which carries out an electrical measurement for a second object to be measured different from the first object to be measured by a second voltage lower than the first voltage.例文帳に追加

検査方法においては、第１の電圧によって第１の測定対象の電気的測定を行う工程と；前記第１の電圧よりも低い第２の電圧によって、前記第１の測定対象とは異なる第２の測定対象の電気的測定を行う工程とを含む。 - 特許庁

In this inspection, the ultrasonic wave is generated inside an inspected object, the gas is pressurized inside the object under a sealed condition, and the leaked ultrasonic wave is detected by an ultrasonic wave receiving sensor 21 when the ultrasonic wave generated inside the object is leaked.例文帳に追加

本発明のハイブリッド式超音波リーケージインスペクションは、被検査品の内部に超音波を発生させ、密封状態にした被検査品の内部に気体を加圧し、被検査品の内部に発生した超音波が漏れたときその漏れた超音波を超音波受信センサ２１により検出するようにした。 - 特許庁

A surface inspection method for a semiconductor wafer is provided, including: irradiating the surface of a semiconductor wafer as an inspection object with inspection light from a light source unit; detecting scattered light from an irradiation region irradiated with the inspection light of the wafer surface; and evaluating the presence or absence of a defect and/or a degree of the defect on the wafer surface based on the detected scattered light.例文帳に追加

検査対象である半導体ウェーハの表面に向かって光源部から検査光を照射すること、ウェーハ表面の検査光が照射された照射領域からの散乱光を検出すること、ならびに、検出された散乱光に基づきウェーハ表面の欠陥の有無および／またはその程度を評価すること、を含む半導体ウェーハの表面検査方法。 - 特許庁

When a flaw inspection is continuously conducted to the plurality of inspection objects, the flaw detector can flexibly cope with a change in waveform due to a change in peripheral conditions or manufacturing lots by using the Lissajous waveform of the latest inspection object determined to be free of flaw as the reference waveform, or by using an average waveform of the Lissajous waveforms of the plurality of latest inspection objects determined to be free of flaw.例文帳に追加

複数の被検査物に対して連続的に探傷検査を行う場合には、無傷と判定された直近の被検査物のリサージュ波形を基準波形としたり、無傷と判定された直近の複数個の被検査物のリサージュ波形の平均波形を基準波形とすることにより、周囲環境や製造ロットの変化等による波形の変化にも柔軟に対応可能となる。 - 特許庁

The respective client systems CS1 and CS2, etc., can inspect the game control boards CB of different kinds, the inspection is performed using the inspection program corresponding to the game control board to be an inspection object among the inspection programs sent from the master system through the communication line in the respective client systems, and the inspected result is reported through the communication line to the master system.例文帳に追加

各クライアントシステムＣＳ１，ＣＳ２・・・は種類の異なる遊技制御基板ＣＢの検査が可能であり、各クライアントシステムにおいて、マスターシステムから通信ラインを介して送られた検査プログラムのうちの検査対象となる遊技制御基板に対応した検査プログラムを用いて、その検査を行うとともに、その検査結果を通信ラインを介してマスターシステムに報告するように構成される。 - 特許庁

The ultrasonic inspection system 10 is constituted of a laser drive device 12 for irradiating the object 50 with a laser beam to excite ultrasonic vibration in the object 50, a galvano scanner 14 for causing the laser beam to scan the surface of the object 50, ultrasonic probes 16 and 18 being a plurality of the receiving means arranged to the object 50, a control unit 30 or the like.例文帳に追加

超音波検査システム１０は、レーザ光を物体に照射して超音波振動を物体に励起させるためのレーザ駆動装置１２、物体５０の表面にレーザ光を走査させるためのガルバノスキャナ１４、物体５０に配置される複数の受信手段である超音波探触子１６，１８、制御装置３０等を含んで構成される。 - 特許庁

To provide a particle foreign object inspecting method and a particle foreign object inspecting apparatus that do not detect a lacked part as a foreign object, even if each particle in a particle is dispersed and the lacked part is generated in a particle layer, can accurately detect the foreign object, and has a color quality inspection.例文帳に追加

粉粒体の各粒子が分散した状態となって当該粉粒体層中に欠けた部分が生じても、その欠けた部分を異物として検出することがなく、且つ、異物を高い精度で検出することができるとともに色調検査も兼ね備えた粉粒体異物検査方法及び粉粒体異物検査装置を提供すること。 - 特許庁

To provide an object body alignment inspection device of an ion implantation system for aligning and disposing an object body, by inspecting whether inclination and a rotation angle of an object body are in the range of a set value for preventing channeling phenomenon, wherein impurity ion to be implanted to an object body is implanted to a set depth or more, and its method.例文帳に追加

対象体に注入される不純物イオンが設定された深さ以上に注入されるチャネリング現象を防止するため、対象体の傾きと回転角が設定値の範囲にあるかどうかを検証し、これを通じて対象体が整列配置されるようにするイオン注入設備の対象体整列検証装置及びその方法を提供する。 - 特許庁

A component shape or a land shape is extracted by using an inspection parameter of each component inspection data in a part library from measured images of components acquired by imaging each component on the substrate shown by component coordinates of the components included in substrate design data of the component mounting substrate which is an inspection object.例文帳に追加

検査対象となる部品実装基板の基板設計データに含まれる部品の部品座標で示される基板上の各部品を撮像することによって得られる部品の計測画像から、パーツライブラリの各部品検査データの検査パラメータを使って部品の形状またはランドの形状を抽出する。 - 特許庁

To provide an ultrasonic inspection method and an ultrasonic inspection device allowing three-dimensional inspection data and three-dimensional shape data to be positioned on a display screen and allowing a defect echo and a shape echo to be quickly identified even when no information on the relative positions of a sensor and an object to be inspected is provided.例文帳に追加

センサと検査対象の相対位置に関する情報が無い場合においても、３次元探傷データと３次元形状データの表示位置合わせを可能にし、欠陥エコーと形状エコーの識別を迅速にできるようにした超音波探傷方法および超音波探傷装置を提供することにある。 - 特許庁

To provide base paper for inspection which can be uniformly and adhesively attached to the rear surface of a film to be inspected without generation of tunnels or voids due to air inclusion, capable of forming a preferable inspection object and clearly determining the presence of a coated layer and its uniformity, and an inspection method using it.例文帳に追加

検査の対象とするフィルムの裏面に空気巻き込みによるトンネルおよび気泡を生じることなく均質に密着して貼り合わせることができ、好ましい検査体が形成され、塗布層の有無および均質性の判別性を明瞭に判別できる検査用基紙およびそれを用いた検査方法を提供する。 - 特許庁

The arm member 142 and the arm member 152 are turned around the inspection reference axis P as the center, in response to a surface condition of the substrate 90 of the inspection object, an incident angle of an inspection light is regulated to bring an angle suitable for the surface condition, and an imaging position and imaging attitude of the camera 18 are also regulated.例文帳に追加

検査対象の基板９０の表面状態に応じて、アーム部材１４２およびアーム部材１５２を検査基準軸Ｐを中心に回動させ、表面状態に適した角度となるように検査光の入射角を調整するとともに、カメラ１８の撮像位置および撮像姿勢を調整する。 - 特許庁

According to an imaging order information generation program stored in a medium, a general purpose PC terminal reads incidental information of the PET image data stored in the medium to display an inspection list (step S13), and specifies the PET image data of a diagnostic object included in an inspection selected from the inspection list (step S15).例文帳に追加

汎用ＰＣ端末は、メディアに記憶されている撮影オーダ情報生成プログラムに従って、メディアに記憶されているＰＥＴ画像データの付帯情報を読み出して検査リストを表示し（ステップＳ１３）、検査リストの中から選択された検査に含まれる、診断対象のＰＥＴ画像データを特定する（ステップＳ１５）。 - 特許庁

To provide a Barkhausen noise inspection device which is capable of performing accurate inspection without being affected by the variance of a gap between a sensor head including an excitation coil and a noise detection sensor and an inspection object and allows miniaturization of the sensor head and is free from the problem of interference between AC magnetic field in noise detection and gap detection.例文帳に追加

励磁コイルおよびノイズ検出センサを含むセンサヘッドと、検査対象物との間のギャップの変動に影響されず、高精度の検査を行えると共に、センサヘッドの小形化を図れ、ノイズの検出とギャップの検出とに交流磁界間の干渉の問題が生じないバルクハウゼンノイズ検査装置を提供する。 - 特許庁

A vibration inspection device is provided with an excitation part generating the vibration in the solid of an object to be inspected, the receiver detecting the vibration in this solid to convert into an electric signal, an inspection part analyzing the characteristics of the vibration received by this receiver to output them as inspection results, and a control unit controlling the operation of each of these parts.例文帳に追加

検査対象の固体中に振動を発生させる励振部と、この固体中の振動を検出して電気信号に変換する受信部と、この受信部が受信した振動の特性を分析し、検査結果として出力する検査部と、上記各部の動作を制御する制御部とを備えている。 - 特許庁

When the flaws of a pattern is inspected by comparing the pattern formed on an object to be inspected with the designed data of this pattern by inspection algorithms 3a, 3b,..., 3n, 33a, 33b,..., 33n, the inspection algorithms are selected from a memory means in which a plurality of the inspection algorithms are stored to be transmitted to target substrates 2, 32.例文帳に追加

被検査体に形成されたパターンとそのパターンの設計データとを検査アルゴリズム３ａ、３ｂ…３ｎ、３３ａ、３３ｂ…３３ｎにより比較して、パターンの欠陥検査をおこなうに際し、検査アルゴリズムは、記憶手段に複数個格納されているものから選択されてターゲット基板２、３２に伝送して用いる。 - 特許庁

To provide a method for forming an inspection report capable of forming a user-friendly inspection report by using three dimensional design values of an object to be inspected and three dimensional measured values in a plurality of measuring points, and to provide a device and a program for forming an inspection report.例文帳に追加

被検査物の３次元の設計値および複数の測定点における３次元の測定値を利用した検査成績書の作成において、使い勝手の良い検査成績書を作成することができる検査成績書作成方法、検査成績書作成装置および検査成績書作成プログラムを実現すること。 - 特許庁

An illuminance sensor check device 3 comprises an inspecting ultraviolet lamp 29, an inspecting reference illuminometer 31, a sensor installation part 30 for setting the illuminance sensor to be an inspection target and a comparison device for checking the reliability of the illuminance sensor to be the inspection object by comparing the output of the reference illuminometer and the output of the illuminance sensor to be the inspection object set on the sensor installation part.例文帳に追加

照度センサ点検設備３は、検査用の紫外線ランプ２９と、検査用の基準照度計３１と、検査対象たる照度センサをセットするためのセンサ設置部３０と、前記基準照度計の出力と前記センサ設置部にセットされた前記検査対象たる照度センサの出力とを比較することで、前記検査対象たる照度センサの信頼度を点検する比較装置と、を備える。 - 特許庁

This surface defect inspection device is equipped with an imaging part 2 for imaging a surface 1a of an inspected object 1 and a processing part 4 for detecting a defect in the surface 1a of the inspected object 1, based on an image acquired by the imaging part 2.例文帳に追加

表面欠陥検査装置は、被検査物１の表面１ａを撮像する撮像部２と、撮像部２により得られた画像に基づいて被検査物１の表面１ａの欠陥を検出する処理部４と、を備える。 - 特許庁

To provide an image diagnostic support apparatus capable of generating a shared object ex-post facto even concerning an inspection or series performed before introducing a system using the shared object, and to provide an image diagnostic support method.例文帳に追加

共有オブジェクトを利用するシステムが導入される前に実施された検査又はシリーズについても、事後的に共有オブジェクトを生成することができる画像診断支援装置、及び画像診断支援方法を提供すること。 - 特許庁

In the image acquisition device 1, the flash light having a pulse width of 10 μ-second or less is emitted from the LED 31 to the object 9 moved by the conveyor 2, and the image of an inspection domain on the object 9 is acquired.例文帳に追加

画像取得装置１では、コンベア２により移動する対象物９に対してパルス幅が１０μ秒以下のフラッシュ光がＬＥＤ３１から出射され、対象物９上の検査領域の画像が取得される。 - 特許庁

To provide an inspection device for an object to be inspected which correctly determines the boundary between a planar region of a surface of the object to be inspected which is irradiated with a laser beam and a predetermined region which corresponds to an wafer edge.例文帳に追加

本発明の目的は、レーザービームを照射する被検査物の表面の平面領域とエッジ部に該当する所定領域との境界位置を正確に判別して検査する被検査物の検査装置を提供する。 - 特許庁

In this X-ray inspection system 1, an inspected object W stored with a content Wa in a storage body is exposed with an X-ray to inspect the inspected object W, based on an X-ray transmission amount accompanied to the exposure of the X-ray.例文帳に追加

Ｘ線検査装置１は、収容体に内容物Ｗａが収容された被検査物ＷにＸ線を曝射し、このＸ線の曝射に伴うＸ線透過量に基づいて被検査物Ｗの検査を行うものである。 - 特許庁

To provide a lens performance inspection device capable of widely dealing with various measuring conditions by exchanging object points, that is, the kinds of chart correspondingly to measuring conditions, such as a lens to be inspected, object point distance and a position outside an optical axis.例文帳に追加

本発明は、被検レンズ、物点距離、光軸外位置等の測定条件に対応して物点であるチャートの種類を替えることにより、さまざまな測定条件に幅広く対応できるレンズ性能検査装置を提供する。 - 特許庁

The inspection device has a lighting means 12 for lighting it so as to focus an image 10a of a predetermined shape on the inspected object 10, and an imaging means 14 for imaging the inspected object 10 on which the image 10a of the predetermined shape is focused.例文帳に追加

被検査物１０に所定形状の像１０ａが結像するように照明する照明手段１２と、所定形状の像１０ａが結像された被検査物１０を撮像する撮像手段１４とが設けられている。 - 特許庁

Second, by comparing the measured coordinates of the feature points Pn, obtained by actually measuring the object O supported by an inspection jig 30, with the analyzed coordinates, the quality of the manufacturing shape of the object O is decided.例文帳に追加

つぎに、検査用治具３０により支持された対象物Ｏを実測することにより得られる特徴点Ｐnの測定座標を解析座標とを比較することによって、対象物Ｏに関する製造形状の良否が判定される。 - 特許庁

To provide an X-ray inspection device, which photographs fluorescent X-ray images of an object to be measured being on various positions, by moving an X-ray detector or a stage, while preventing the object to be measured and an X-ray measurement optics from being damaged.例文帳に追加

Ｘ線測定光学系と被測定物との破損を防止しつつ、Ｘ線検出器又はステージを移動させることにより、様々な位置の被測定物の透視Ｘ線像を撮影できるＸ線検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a surface inspection device capable of easily inspecting the internal surface if the object to be inspected is a cylindrical shape, and capable of inspecting a wide region with once movement, if the surface of the object is a flat surface.例文帳に追加

被検査物が円筒状をなす場合、その内周面も容易に検査でき、被検査物の表面が平面である場合には、一回の移動で検査できる領域を広くとることができる表面検査装置を提供する。 - 特許庁

An ultrasonic inspection device 10 is used to transmit ultrasonic burst signals from a transmission section 11 to an inspected object 1 and reflection signals from the inside of the inspected object 1 to which the ultrasonic burst signals has been transmitted are received by a cantilever 12.例文帳に追加

超音波検査装置１０を用い、発信部１１から被検査体１に超音波バースト信号を発信し、超音波バースト信号が発信された被検査体１内からの反射信号をカンチレバー１２によって受信する。 - 特許庁

To detect a contact state between contact terminals of a probe card and an inspected object with the probe card closely positioned to the inspection object, even when the contact terminal is made fine and even when an array thereof is formed with a narrow pitch.例文帳に追加

接触端子の微細化及びその配列の狭ピッチ化がなされていても，プローブカードと被検査物とを近接させて位置決めしている状態で，プローブカードの接触端子と被検査物との接触状況を検出できること。 - 特許庁

To provide a probe polishing method that reliably performs electric property inspection of a sample to be inspected after polishing, by reliably removing a contamination from a polishing object, after detecting the contamination on the upper surface of a polishing wafer (the polishing object), when polishing of the probe is performed.例文帳に追加

プローブの研磨時に研磨ウエハ（研磨体）の上面の異物を検出し、研磨体から異物を確実に除去し、研磨後に被検査体の電気的特性検査を支障なく行うことができるプローブの研磨方法を提供する。 - 特許庁

To provide a foreign substance inspection device that eliminates the dead angle of a lighting region and imaging region of an inspected object, and inspects existence of a suspension foreign substance in a vessel of the inspected object accurately without stopping the product line.例文帳に追加

被検査体の照明領域と撮像領域の死角を無くすと共に、被検査体の容器内の浮遊異物の有無を高精度で且つ生産ラインを止めることなく検査することが可能な異物検査装置を提供する。 - 特許庁

Inspection is performed by juxtaposing the image on the edge part on the front surface of the object panel and the image on the rear surface of the edge part obtained by the reflection means positioned on the edge part of the object panel to simultaneously photograph them by the line sensor.例文帳に追加

前記ラインセンサーで、前記検査対象パネルの表面のエッジ部の画像と、前記検査対象パネルのエッジ部に位置する前記反射手段による当該エッジ部の裏面の画像とを並べて同時に撮影して検査を行う。 - 特許庁

Then, a rotation speed of a cylindrical inspection object, and a scanning period, an imaging magnification and the distance between pixel rows of the light receiving elements are adjusted so as to acquire a desired step quantity, and the surface shape of the measuring object is calculated (step S1306).例文帳に追加

この後、所望のステップ量が与えられるように、円筒状被検物の回転スピードと、受光素子の走査周期，撮像倍率，画素列間距離を調節し、被測定物の表面形状を算出する（ステップＳ１３０６）。 - 特許庁

According to the visual inspection method, the object to be inspected is moved along a circular track and laser light is applied to both end faces of the object on the move by projecting the laser light onto a fixed position on the circular track to detect reflected light from the respective end faces.例文帳に追加

外観検査方法は、被検査物を円軌道に沿って移動させ、円軌道上の定位置にレーザ光を照射することで移動中の被検査物の両端面にレーザ光を当て、各端面からの反射光を検出する。 - 特許庁

The invention provides the inspection method for a cylindrical object for inspecting defects in a hollow cylindrical object 1 which has a cylindrical shape, whose one end in the center axis direction is open and formed as an open end 1a and whose other end is closed.例文帳に追加

本発明は、筒状の形状を有し且つその中心軸方向の一端が開放されて開口端１ａとされ且つ他端が閉じている中空の筒状物１の欠陥を検査する筒状物の検査方法である。 - 特許庁

By holding the object to be inspected between plate members arranged in parallel to each other to support the same, the flatness of the object to be inspected can simply be ensured and the accurate inspection of the flaw can be performed.例文帳に追加

本発明は，互いに平行に配置された板部材の間に前記検査対象物を挟んだ状態で支持することにより，前記検査対象物の平坦度を簡単に確保し，精緻な欠陥検査を行うことを図ったものである。 - 特許庁

An image of a tested object S is photographed by means of an imaging device 6 in the inspection unit 2 so as to be processed by means of an image processor 7, and if a colored part is detected in the tested object S, it is determined as being a defective item.例文帳に追加

被検査物Ｓの映像は検査部２において撮像装置６により撮像されて画像処理装置７によって処理され、被検査物Ｓに着色部分が検出されると欠陥品であると判断される。 - 特許庁

To provide a surface contamination inspection apparatus and inspection method capable of correctly specifying the boundary of contamination (beginning point and end point of the contamination) of the measurement object in a short time without repeating reciprocation motion or standing stile at the vicinity of the boundary.例文帳に追加

境界付近での往復移動や静止を繰り返すことなく、被測定物の汚染の境界（汚染開始位置と汚染終了位置）を短時間に正確に特定することができる表面汚染検査装置及び検査方法を提供する。 - 特許庁