「inspection object」に関連した英語例文の一覧と使い方(35ページ目) - Weblio英語例文検索

A temperature measuring instrument 19 measures the temperature on a surface of the inspected object in time sequence and outputs measurement data to a data recording means 13 of a defect inspection controlling apparatus 10.例文帳に追加

温度計測器１９は、被検査体の表面温度を時系列で計測し、計測データを欠陥検査制御装置１０のデータ記録手段１３に出力する。 - 特許庁

An endoscope device 3 includes a feature detection part for detecting a first feature part of an inspection object from an image based on a first condition, a defect detection part for detecting a first defect part of the inspection object based on the first feature part, and a display part for displaying information indicating the first defect part with an image thereof.例文帳に追加

内視鏡装置３は、第１の条件に基づいて、画像から検査対象物の第１の特徴部を検出する特徴検出部と、第１の特徴部に基づいて、検査対象物の第１の欠陥部を検出する欠陥検出部と、第１の欠陥部を示す情報を、画像と共に表示する表示部とを有する。 - 特許庁

After a retention container 3 in which inspection object fuel is injected, is disposed in an electric furnace 1, an air pump 4 is actuated, and a first electric heater 11 is energized, so that the inspection object fuel is evaporated by a temperature rise, and the vaporized fuel is carried on the carrier gas to reach a catalyst body 2 and burn on the catalyst.例文帳に追加

検査対象燃料を注入した保持容器３を電気炉１内に配置した後、エアポンプ４を作動させるとともに、第１電気ヒータ１１に通電することにより、検査対象燃料は温度上昇により蒸発が起こり、気化した燃料はキャリアガスにのって触媒体２に到達し触媒上で燃焼する。 - 特許庁

The lighting system 1 includes a bendable sheet-like light source 2, having a light emitting surface 25 bent toward the inside, which is used for visual inspection or the like of the inspection object W including a three-dimensional object having a three-dimensional shape; and a bending angle adjusting machine 3 for holding the sheet-like light source 2 in the bendable state, and adjusting its bending angle.例文帳に追加

照明装置１は、３次元形状の立体物からなる被検査物Ｗの外観検査等に使用され、発光面２５を内側に向けて屈曲された屈曲自在なシート状光源２と、シート状光源２を屈曲状態に保持すると共にその屈曲角度を調整する屈曲角度調整機３とを備える。 - 特許庁

Spot illumination for illuminating a part of the inspection object domain, by restricting the lighting range of the light source 2 to only domain A which is a part of an emission surface, and entire illumination for illuminating the entire inspection object domain, without restricting the lighting range are executed in due order, each time alignment is performed, and imaging is executed in each illumination by the camera 1.例文帳に追加

この位置合わせが行われる都度、光源２の点灯範囲をその出射面の一部にあたるＡ領域のみに限定して、検査対象領域の一部分を照明するスポット照明と、点灯範囲を限定せずに検査対象領域全体を照明する全体照明とを順に実行し、照明毎にカメラ１に撮像を実行させる。 - 特許庁

An elastic deformation part 18 enabling relative movement in an approaching/separating direction to/from the inspection object is provided between a support member 14 for supporting the cantilever 12 and a driving member 16 for driving the support member 14 in the approaching/separating direction to/from the inspection object, and relative movement of the support member 14 is allowed by the elastic deformation part 18.例文帳に追加

カンチレバー１２を支持する支持部材１４と、検査対象物に対して接近離間する方向に支持部材１４を駆動する駆動部材１６との間に、検査対象物に接近離間する方向への相対移動を可能とする弾性変形部１８を設け、この弾性変形部１８によって、支持部材１４の相対移動を許容させる。 - 特許庁

This chemical substance detecting device 100 for detecting gas of a volatile chemical substance that diffused from an inspection object is equipped with a detection sheet 2, reacting chemically with the volatile chemical substance and changing the color, and an installation means (a spacer 1, a pressing plate 3) for installing the detection sheet 2 at a prescribed aperture from the inspection object.例文帳に追加

検査対象から放散される揮発性化学物質の気体を検出する化学物質検出装置１００において、前記揮発性化学物質に化学反応し、色彩を変化させる検出シート２と、前記検出シート２を、前記検査対象から所定の空隙を介して設置する設置手段（スペーサ１、押さえ板３）とを備える。 - 特許庁

This device is equipped with a surface light source 10 for performing light irradiation flatly onto an inspection object painted surface, an avalanche multiplication type imaging camera 21 as the image sensor entered by the regularly reflected light from the inspection object painted surface, and an image processing device 20 for inspecting existence of a defect on the painted surface by image processing for detecting a level change of the image signal.例文帳に追加

検査対象塗面を面状に光照射する面光源１０と、検査対象塗面での正反射光を入射させるイメージセンサとしてのアバランシェ増倍型撮像カメラ２１と、その画像信号のレベル変化を検出する画像処理により、塗面の欠陥の有無を検査する画像処理装置２０とを備える。 - 特許庁

This belt is used for the inspection device for inspecting the inspecting object by irradiating the inspecting object with the light by placing it on a belt conveyor, and a luminous layer made of a rubber-like elastic material containing a light accumulating material exists on the side where the inspecting object of a belt body is placed.例文帳に追加

被検査物をベルトコンベアー上に載置して、前記被検査物に光を照射することにより検査を行う検査装置に用いるベルトにおいて、蓄光材を含有するゴム状弾性材製の発光層が、ベルト本体の前記被検査物が載置される側に存在する様になしたことを特徴とする。 - 特許庁

To realize highly reliable electric inspection for a semiconductor substrate by uniformly adjusting the temperature of an object to be inspected, and preventing the object from being deformed owing to a local temperature difference of the object when applying low temperature and high temperature to the semiconductor substrate taking ordinary temperature as a reference.例文帳に追加

半導体基板に常温を基準として低温及び高温を印加するに際して、容易・迅速且つ確実に検査体の温度を均一に調節し、検査体の局所的の温度差に起因する検査体の変形の発生を防止し、半導体基板の信頼性の高い電気的検査を実現する。 - 特許庁

To provide a defect inspection device for highly precisely detecting a defect of a rotor-shaped measuring object having a surface with high reflectivity on the basis of a two dimensional image by photographing light reflected from the measuring object by irradiating a slit laser beam or the like to the rotor-shaped measuring object.例文帳に追加

本発明は、スリットレーザ光等を、回転体状の測定対象に照射し、測定対象からの反射光を撮影した二次元画像に基づいて、回転体状かつ表面が高い反射率を有する測定対象の欠陥を高精度に検出する欠陥検査装置を実現することを目的とする。 - 特許庁

To provide a catching body which is adequately usable in various fields, including a medical field and industrial field, is excellent in biodegradability and safety and is capable of selectively catching only the catching object by specifically acting on the catching object and an inspection apparatus using the same and adequately detects the catching object.例文帳に追加

医療分野、工業的分野などをはじめ、各種の分野において好適に使用することができ、生分解性・安全性に優れ、かつ、捕捉対象に特異的に働き該捕捉対象のみを選択的に捕捉可能な捕捉体、及び、これを用い、捕捉対象を好適に検知可能な検査装置の提供。 - 特許庁

To detect an required molten part such as a hole or dent generated on the laser-welding-side surface of an object to be inspected as well as a through hole generated at the object, and to automatically judge degradation in welding strength due to molten part, for precision inspection of the defect of an object to be inspected.例文帳に追加

検査対象物に生じた貫通孔だけでなく、検査対象物のレーザー溶接側の表面に生じた穴アキや窪みなどの不要な溶解部分を検出することができ、さらに溶解部分による溶接強度の低下を自動的に判定することができ、高精度に検査対象物の欠陥検査を行える。 - 特許庁

The inspection device 1 for vibration characteristics excites the object 10 by an excitation means 4; analyzes each of detected signals from one or a plurality of vibration sensors 6 mounted on objective portions, which configure the object 10, by a vibration analyzing means 7; and inspects the vibration characteristics of the object 10.例文帳に追加

加振手段４によって被測定物１０を加振し、被測定物１０を構成する１又は複数の測定対象部に取り付けられた振動センサ６からの各検出信号を振動解析手段７で解析して被測定物１０の振動特性を検査する振動特性検査装置１である。 - 特許庁

To provide a novel surface inspection means, capable of efficiently inspecting the surface of an object to be inspected, even when the area of the object to be inspected is wide and capable of determining a long surface flaw as a single flaw, even without having to apply a special signal processing.例文帳に追加

被検査物の面積が広い場合にも能率的な表面検査が可能であり、また、特別な信号処理を施さなくとも長い表面欠陥を一つの欠陥と判断することができる新規の表面検査手段を提供する。 - 特許庁

Consequently, the effect of vibration characteristics of the rod to the vibration characteristics (i.e., natural frequencies) of the object 10 is easily discriminated, and then the inspection results of the vibration characteristics of the object 10 can be precisely obtained as soon as possible.例文帳に追加

これにより、検査される被測定物１０の振動特性（例えば固有振動数）に対する棒状態の振動特性の影響が判別し易く、被測定物１０の振動特性の検査結果を可及的に正確に得ることが可能となる。 - 特許庁

This inspection device 1 includes the imaging part 10 moving relatively to an inspecting object to image the inspecting object, and a controller 20 for controlling the drive of the imaging part to acquire an image taken by the imaging part.例文帳に追加

検査装置１は、被検査対象物に対して、相対的に移動し、前記被検査対象物を撮像する撮像部１０と、前記撮像部の駆動を制御し、前記撮像部の撮像した画像を取得する制御部２０と、を具備している。 - 特許庁

To provide an inspection device for lateral-flow immunoassay and capable of detecting the presence of an object to be detected or determining the object to be detected more speedily and more highly sensitively than a conventional measuring method and to provide a method for forming its labelling body part.例文帳に追加

従来の測定方法よりも更に迅速且つ高感度に被検出物の存在を検出又は定量することを可能にするラテラルフロー免疫測定用検査デバイス並びにその標識体部の形成方法を提供すること。 - 特許庁

The measuring part 15 can transmit (vibrate), for example a laser beam, ultrasonic waves, electromagnetic waves and the like on a surface of a structure 3 to be a test object; accept (receive) the reflected laser beam, ultrasonic waves, electromagnetic waves and the like; and detect the defects of an inspection object portion.例文帳に追加

測定部１５では、例えばレーザー、超音波、電磁波等を検査対象の構造体３表面に発信（発振）するとともに、反射したレーザー、超音波、電磁波等を受信（受振）し、検査対象部の欠陥を検出することが可能である。 - 特許庁

In this digital X-ray inspection device 19, a retrieval code capable of discriminating uniquely a digital image at every photographing time of an object 20 is generated, and the retrieval code is memorized by a marker medium and attached to the object 20 by a marker medium assembling device 23.例文帳に追加

デジタルＸ線検査装置１９は、披写体２０を撮像する毎にデジタル画像を一意に識別できる検索コードを生成し、この検索コードをマーカ媒体に記憶させマーカ媒体組付装置２３により被写体２０に取付ける。 - 特許庁

To provide a stirring device in which a stirring mechanism is attached and removed or positioned, whose maintainability can be enhanced, whose production efficiency is superior and which deals with the miniaturization of an object to be stirred or an inspection apparatus in the stirring device by which the object to be stirred inside a container is stirred by ultrasonic waves.例文帳に追加

容器内の被攪拌物を超音波により攪拌する攪拌装置において、攪拌機構の着脱や位置決め、またメンテナンス性の向上を図ると共に、製造効率にすぐれ、かつ被攪拌物や検査機器の小型化に対応する攪拌装置を提供する。 - 特許庁

To provide a lighting device for inspection which is capable of irradiating a long-sized object to be inspected like a cable with uniform illuminance so that a defect of appearance can be stably detected by an image processing system, when inspecting the appearance of the object to be inspected.例文帳に追加

ケーブルのような長尺物の被検査物の外観検査を行うに当たって、画像処理システムで安定して外観の欠陥を検出できるよう、一様な照度で被検査物を照射することができる検査用照明装置を提供する。 - 特許庁

The inspection apparatus 1 is provided with the imaging section 10 that moves relative with respect to an object to be inspected and images the object to be inspected; and a control section 20 for acquiring the captured image of the imaging section by controlling the drive of the imaging section.例文帳に追加

検査装置１は、被検査対象物に対して、相対的に移動し、前記被検査対象物を撮像する撮像部１０と、前記撮像部の駆動を制御し、前記撮像部の撮像した画像を取得する制御部２０と、を具備している。 - 特許庁

To provide an inspection device 1 for inspecting the performance of an inspected object 2 with fluid filled in the inspected object 2 while reducing the possibility of inclination of a fluid receiving body 6 due to the driving force required for connecting a nozzle body 5 to the fluid receiving body 6.例文帳に追加

被検査物２に流体を注入して被検査物２の性能を検査する検査装置１において、ノズル体５と流体受入体６とを接続するための駆動力により流体受入体６が傾く虞を低減することにある。 - 特許庁

In the molded object manufacturing apparatus 10 equipped with an injection device for injecting a resin material and molds 51 and 52 for molding a molded object, a manufacturing process line 50 for manufacturing the molded object by the molds 51 and 52 using the injection device and an inspection process line 60 for inspecting the manufactured molded object are arranged so as to be distributed to upper and lower stages respectively.例文帳に追加

樹脂材料を射出するための射出装置と、成形体を成形するための金型５１，５２とが備えられた成形体製造装置１０において、射出装置を用いて金型５１，５２にて成形体を製造する製造工程ライン５０と、製造された成形体を検査する検査工程ライン６０とが、上段と下段とにそれぞれ振り分けて配置されている。 - 特許庁

This surface inspection device is equipped with a lighting means 3 for lighting the inspecting object 1, an image reflection means 5 comprising at least one reflective surface for reflecting an image of the inspecting object, and an image taking means 2 for simultaneously taking a reflected image of the inspecting object reflected by the at-least-one reflective surface and a direct image of the inspecting object.例文帳に追加

検査対象１を照明する照明手段３と、前記検査対象の画像を反射する少なくとも１つの反射面を有する画像反射手段５と、該少なくとも１つの反射面により反射された前記検査対象の反射画像、および、前記検査対象の直接画像を同時に撮影する画像撮影手段２と、を備えるように構成する。 - 特許庁

To provide a Barkhausen noise inspection device capable of exactly detecting an abnormal part of an inspection object even when temperature of a detection sensor head including an excitation coil and a magnetism detection sensor changes by fluctuation of ambient temperature and heat generation of energization, or the like.例文帳に追加

外気温の変動や通電時の発熱等によって励磁コイルと磁気検出センサとを含む検出センサヘッドの温度が変化する場合においても、検査対象物の異常箇所を正確に検出することができるバルクハウゼンノイズ検査装置を提供する。 - 特許庁

The method for inspecting a casting article, includes cooling steps S8, S10 of cooling a casting article and also detecting the amount of decrease in temperature of an inspection region defined as an inspection object in a surface of the casting article.例文帳に追加

鋳造品の検査方法であって、鋳造品を冷却するとともに、鋳造品表面において検査対象として定められた検査領域の温度低下量を検出する冷却ステップＳ８、Ｓ１０を有していることを特徴とする検査方法。 - 特許庁

The appearance inspection device comprises the table 1 for supporting a bottle G of the inspection object, the surface light source 7 for irradiating the bottle G supported on the table 1 with diffusion light, and the imaging device 60 arranged opposite to the surface light source 7 while holding the bottle G in between.例文帳に追加

外形検査装置は、検査対象のびんＧを支持するテーブル１と、テーブル１上に支持されたびんＧへ拡散光を照射する面光源７と、びんＧを中間に挟んで面光源７と対向位置させる撮像装置６０とから成る。 - 特許庁

To provide a substrate for a probe card capable of reducing a deformation and a warpage generated by contact pressure resulting from pressing with a probe when inspected, to enhance inspection reliability, and capable of coping with formation of a narrow pitch for electrodes in a semiconductor integrated circuit of an inspection object.例文帳に追加

検査時に、プローブが押し付けられ接触圧により生じる変形や反りを低減して検査信頼性を向上させるとともに、検査対象の半導体集積回路の電極の狭ピッチ化に対応したプローブカード用基板を提供すること。 - 特許庁

To provide an inspection device for mask patterns which are used for an exposure device for manufacturing a semiconductor device by performing patternwise exposure of a mask to a substrate, the inspection device for the mask patterns being capable of inspecting inclusion of mutually different mask patterns in inclusion relation on the object substrate.例文帳に追加

基板上にパターン露光し半導体装置を製造するための露光装置に用いるマスクパターンの検査装置において、包含関係にある相異なるマスクパターンの対象基板上での包含の検査が出来るマスクパターンの検査装置を提供する。 - 特許庁

The present invention provides a color tone inspection method for inspecting a color tone of a surface by an image processor 4 using a spectroscopic camera 1 for detecting a spectroscopic spectral value in each point in the surface of the inspection object having the pattern of plural colors, and a system therefor.例文帳に追加

複数色の図柄を有する検査対象物の表面各点における分光スペクトル値を検出する分光カメラ１を用いて、画像処理装置４が、上記表面の色調検査をするための色調検査方法およびそのシステムを提供する。 - 特許庁

To provide a contact probe which allows a first plunger and a second plunger to be in sure contact and allows an object under inspection, such as, a semiconductor integrated circuit and an inspection board to be connected with each other, with electrical stability and low resistance, and to provide a socket which includes the probe.例文帳に追加

第１プランジャーと第２プランジャーとを確実に接触可能とし、半導体集積回路等の検査対象物と検査用基板とを電気的に安定させて低抵抗で接続することができる、コンタクトプローブ及びこれを備えたソケットを提供する。 - 特許庁

To provide a coating-state inspection method capable of acquiring accurate inspection results of a coating state of a coated object even if a viscous material includes a material with high wettability and spreadability or a material likely to cause irregular light reflection.例文帳に追加

粘性材料が濡れ広がり易い材質からなる場合や、光の反射が不順になり易い材質からなる場合であっても、塗布対象上への塗布状態の正確な検査結果を得ることができる塗布状態検査方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

Since the tag device is the steam trap 1 to which the fixture 12 to which the electronic tag 2 is attached and the metal visual inspection tag 8 are fixed with the small screw 13, the identification number of the managed object can be identified with the metal visual inspection tag 8 even if the electronic tag 2 is damaged.例文帳に追加

電子タグ２が取付けられた取付具１２と金属製目視タグ８とを蒸気トラップ１に小ネジ１３により固定したものであるので、電子タグ２が損傷しても金属製目視タグ８により管理対象物の識別番号を識別できる。 - 特許庁

To provide a surface inspection device, capable of simply, speedily and automatically setting the device status to the most suitable status and enhancing reliability of an inspection result, even if an inspector does not know the pitch of a repetitive pattern formed on a substrate (object to be inspected).例文帳に追加

基板（被検物体）に形成された繰り返しパターンのピッチを検査員が知らなくても、簡易かつ迅速に装置条件を最適条件に自動設定することができ、検査結果の信頼性向上が図られる表面検査装置を提供すること。 - 特許庁

This particle concentration detector is provided with a detection mechanism 3 with a light emitting part and a photoreception part, and detects particles contaminated into the liquid of an inspection object, based on transmission luminous energy transmitted through the diluted inspection-objective liquid interposed between the light emitting part and the photoreception part.例文帳に追加

粒子濃度検出装置は発光部及び受光部が設けられた検出機構３を備え、発光部と受光部との間に介在する希釈された検査対象液の透過光量に基づいて検査対象液に混入した粒子の濃度を検出する。 - 特許庁

This device has a configuration wherein, when detecting a foreign matter or a defect on the surface of the inspection object, a parameter for digital filtering is changed dynamically during inspection, and the foreign matter or the defect is discriminated by using a result acquired by removing a low-frequency changing component which is a noise component.例文帳に追加

そして、被検査体表面上の異物や欠陥を検出する際、デジタルフィルタリングのパラメータを検査中に動的に変化させ、ノイズ成分である低周波変動成分を除去した結果を用いて、異物や欠陥を弁別する構成とする。 - 特許庁

An inspection membrane 51, on which a multitude of rows of fine perforations 53 are arrayed, is formed on the mask 10 which becomes the object of inspection while a Faraday cup 55 for measuring the amount of current of electronic beams which have penetrated the fine perforations 53 of the membrane 51 is provided on a wafer stage 24.例文帳に追加

検査対象となるマスク１０に、微小開口５３が多数配列された検査用メンブレン５１を形成し、ウェハステージ２４に、このメンブレン５１の微小開口５３を透過した電子ビームの電流量を測定するファラディカップ５５を設ける。 - 特許庁

To provide a defect inspection method and apparatus therefore capable of detecting defects or contaminations on various circuit patterns to be repeatedly formed on inspection object substrates, discriminating from normal circuit patterns, without depending on optical conditions.例文帳に追加

被検査対象基板上に繰り返して形成される様々な回路パターン上に生じる欠陥または異物を、光学条件に依存せず、正常な回路パターンと弁別して欠陥を検出する欠陥検査方法及びその装置を提供することにある。 - 特許庁

To provide an inspection method capable of performing a highly-reliable inspection by repeatedly contacting an electrode pad which is an object to be inspected with a probe utilizing a needle trace formed in the electrode pad even when the electrode pad is miniaturized.例文帳に追加

電極パッドが微細化した場合であっても電極パッドに形成された針跡を利用することにより被検査体の電極パッドとプローブとを高精度に繰り返し接触させて信頼性の高い検査を行うことができる検査方法を提供する。 - 特許庁

The Barkhausen noise inspection device further has: a plurality of magnetic field sensors 5, 5 which detect signals including Barkhausen noise to be generated by the magnetized inspection object W, respectively; and signal processing means 9 for calculating the Barkhausen noise from the signals detected, respectively by the magnetic field sensors 5, 5.例文帳に追加

さらに、磁化された検査対象物Ｗが発するバルクハウゼンノイズを含む信号をそれぞれ検出する複数の磁界センサ５，５と、これら磁界センサ５，５によりそれぞれ検出した信号からバルクハウゼンノイズを求める信号処理手段９とを有する。 - 特許庁

To suppress strain generated in a board, when a semiconductor device which is an object to be inspected, is brought into contact with a circuit board for inspection, concerning the circuit board for inspection whereupon many electronic components are mounted.例文帳に追加

多数の電子部品が実装された検査用回路基板において、検査対象の半導体デバイスを検査用回路基板にコンタクトさせる際に発生する基板の歪みを抑制することができる半導体デバイス検査治具および半導体デバイス検査方法を提供する。 - 特許庁

The linear laser light 3 is received on a facing position across the surface 1b of the inspection part and a portion directly above it; and the light quantity is measured, and it is determined whether there is a foreign matter 4 on the surface of the inspection object 1, based on the measurement result.例文帳に追加

そしてこの線状レーザ光３を、被検査部表面１ｂ及びその直上部分を挟んだ対向位置で受光してその光量を測定し、この測定結果に基づいて被検査物１の表面に異物４があるか否かを判定する。 - 特許庁

The inspection device 50 is constituted by incorporating a communication mechanism for performing bidirectional communication with a device to be an inspection object, a game machine 10 or monitoring and controlling devices 20 and 30 for monitoring the operation for instance, and a processing means in a portable case body.例文帳に追加

携行性の筐体に、検査対象となる装置、例えば遊技機１０又はその動作監視を行う監視制御装置２０、３０との間で双方向の通信を行うための通信機構と処理手段とを内蔵して検査装置５０を構成する。 - 特許庁