「inspection object」に関連した英語例文の一覧と使い方(36ページ目) - Weblio英語例文検索

An inspection circuit for a semiconductor device, in which a plurality of IC chips are arranged on a wafer through a scribing lane, has inspection pads that execute probe test in an IC chip, and electrically connects on the scribing lane internal signal lines of an IC chip 1 as a test object to inspection pads 2c and 2d of IC chips 2 and 3 adjacent to each other on the wafer.例文帳に追加

複数のＩＣチップがスクライブレーンを介してウェハ上に配置された半導体装置の検査回路であって、ＩＣチップ内にプロービング検査を実施する検査用のパッドを備え、検査対象となるＩＣチップ１の内部信号線をウェハ上で隣接するＩＣチップ２，３の検査用のパッド２ｃ，２ｄに、スクライブレーン上で電気的に接続した。 - 特許庁

As two inspection terminals 16 correspond to each of the external terminals 14 formed on the rear face of the circuit board 20 of the semiconductor device of the object to be inspected, the electric contact point can be achieved at the end section of at least one inspection terminal 16, thereby achieving stable inspection of the semiconductor device.例文帳に追加

被検査対象物である半導体装置の配線基板２０の裏面に形成されたそれぞれの外部電極１４に対して、２本の検査用端子１６が対応しているので、少なくとも１本以上の検査用端子１６の端部で電気的な接点を確保することができ、安定した半導体装置の検査を達成することが可能となる。 - 特許庁

To provide a defect inspection apparatus and a defect inspection method, which enable potential failures and signs of abnormality to be discovered in order to prevent any defect from occurring in its market, by referring to history information in the inspection process, even in the case of an object to be inspected whose apparent operation is normal or whose characteristic meets a specification.例文帳に追加

検査時に履歴情報も参照することにより、見かけ上正常動作しているまたは規格値に入っている検査対象であっても、潜在的な故障や異常の兆候を発見できるようにして市場での不良発生を未然に防止することができる不良検査装置および不良検査方法を提供する。 - 特許庁

When the number of pixels each brightness value of which is over a specified separation threshold is smaller than a specified determination number, relative to pixels in an inspection domain by using the striped bright domain Db in a density image acquired by the imaging apparatus 3 as the inspection domain, an image processing device 4 determines to be a void defect wherein a void amount occupied in the inspection object is excessive.例文帳に追加

画像処理装置４は、撮像装置３により得られた濃淡画像のうち縞状明領域Ｄｂを検査領域とし検査領域内の画素について、輝度値が規定の分離閾値以上である画素の個数が規定した判定個数以下のときに、検査対象に占めるボイドの量が過剰であるボイド不良と判定する。 - 特許庁

When the X-ray permeated through the inspection object is detected, the intensity of the permeated X-ray is detected while the intensity of the X-ray and the variation with age in the emitting direction are compensated.例文帳に追加

検査対象を透過したＸ線を検出する際には、上記Ｘ線強度および照射方向の経時的変動を補償しながら透過Ｘ線の強度を検出する。 - 特許庁

A slit light 5L is used as illumination light, and the slit light 5L is set so as to be in parallel with the rotation axis of an inspection object 1 or to intersect with the rotation axis in the horizontal direction.例文帳に追加

照明光にスリット光５Ｌを用い、このスリット光５Ｌは、被検査体１の回転軸と平行か、この回転軸に対して水平方向で交差するように設定する。 - 特許庁

To provide a chip using method and an inspection chip capable of easily and collectively carrying out separation and weighing, for the chip introduced with a sample containing an object component.例文帳に追加

本発明は、対象成分を含む試料が導入されたチップにおいて、分離・秤量を一括かつ簡便に行うことができるチップの使用方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a field inspection device which can properly monitor thermal abnormality of an object to be monitored by photographing a visible image whose position relation with a thermal image is already known simultaneously with the thermal image.例文帳に追加

熱画像と同時に熱画像との位置関係が既知である可視画像を撮影し適正に監視対象物の熱的異常が監視できる現場点検装置を提供することである。 - 特許庁

A temperature measuring instrument 19 measures the surface temperatures of the object before and after heating in a time series manner to output the measured data to the data recording means 13 of a flaw inspection control device 10.例文帳に追加

温度計測器１９は、加熱前後における被検査体の表面温度を時系列で計測し、計測データを欠陥検査制御装置１０のデータ記録手段１３に出力する。 - 特許庁

To discover properly an irregular defect or the like formed on the surface of an inspection object having roughness in the degree of visible light, and to apply the result properly onto a manufacture line of a steel plate.例文帳に追加

可視光程度の粗度を有する被検査体の表面に生じた凹凸欠陥等を適切に発見することができ、鋼板の製造ライン上において好適に適用すること。 - 特許庁

To realize an inspection circuit capable of inspecting an inspected object while preventing the influence of a voltage drop in a power source voltage caused by an impedance generated by the connection of a circuit.例文帳に追加

回路の接続によって発生するインピーダンスに起因する電源電圧の電圧降下の影響を防止しつつ被検査体を検査することが可能な検査回路を実現する。 - 特許庁

To precisely determine a deterioration condition of a buried pipe, even under the condition that a deposit layer such as lard and a brittle layer exist on a pipe inner face of the buried pipe of an inspection object.例文帳に追加

検査対象である埋設管の管内面に、ラード等の付着物層や脆弱層などが存在する状況であっても、埋設管の劣化状態を精度良く判定する - 特許庁

To provide an illumination optical device which can amend the variation of the spectral characteristic of an illumination light irradiated to an imaging element of an object to be inspected, and to provide an inspection device and an optical source apparatus.例文帳に追加

検査対象の撮像素子に照射される照明光の分光特性の変化を補正することができる照明光学装置、検査装置、および光源装置を提供する。 - 特許庁

To provide a lighting system for detecting a minute defect of several micrometer order in surface inspection of detecting a defect in the surface of an inspecting object by imaging processing.例文帳に追加

画像処理により検査対象物の表面の欠陥を検出する表面検査において、数μｍオーダの微小欠陥の検出を可能にする照明装置を提供する。 - 特許庁

Ultrasonic washing is performed by supplying a recovery solution in the state where an inspection object part on the floor surface 5 is enclosed by a liquid supply/discharge case 23 in a radioactive material using facility.例文帳に追加

放射性物質使用施設において、床面５の検査対象部を給排液ケース２３によって囲繞させた状態で、回収溶液を供給し超音波洗浄を行う。 - 特許庁

The wavelength of the inspection light L1 is set to correspond to an absorption coefficient of a predetermined value or more of the object film 93, i.e., set preferably to 550 nm or lower and more preferably 450 nm or lower.例文帳に追加

検査光Ｌ１の波長は、対象膜９３の所定以上の吸収係数に対応するように設定し、好ましくは５５０ｎｍ以下とし、より好ましくは４５０ｎｍ以下とする。 - 特許庁

An image acquisition part 13 of the pattern inspection device includes a light irradiation part 131, a line sensor 132, an angle changing mechanism, and a conveying mechanism which conveys a web 9 as an object to be inspected.例文帳に追加

パターン検査装置の画像取得部１３は、光照射部１３１、ラインセンサ１３２、角度変更機構、および、検査対象であるウエブ９を搬送する搬送機構を備える。 - 特許庁

To provide a three-dimensional ultrasonic inspection device capable of inspecting the inside of an object to be inspected precisely and rapidly in a non-destructive manner to quantitatively and automatically judge the presence of abnormality.例文帳に追加

検査対象物の内部検査を精度よく、迅速に、しかも非破壊で異常の有無を定量的にかつ自動判定が可能な３次元超音波検査装置を提供する。 - 特許庁

An attenuation ratio computing means 5 computes the attenuation ratio of the reflected waves from the internal surface of the inspection object based on the echo heights of the reflected waves subjected to the data processings with the ultrasonic flaw detector 2.例文帳に追加

減衰比演算手段５は、超音波探傷器２でデータ処理された反射波のエコー高さに基づいて被検査体内面からの反射波の減衰比を演算する。 - 特許庁

The airtight inspection apparatus comprises a cylinder 41 for allowing the air spring to advance to or retreat from the object; and fixing members 43, 43, 43, 43 for fixing the air spring at a prescribed position.例文帳に追加

また、該気密検査装置に、該空気バネを対象物に対して進退させるシリンダ４１と、該空気バネを所定の位置で固定可能な固定部材４３・４３・４３・４３と、を具備した。 - 特許庁

As each process (program part), a one suitable to an inspection object is set from a setting personal computer 25, transmission and receiving of data between the processes is performed through a system shared memory 16.例文帳に追加

各プロセス（プログラム部品）は、検査対象物に対して適したものを設定用パソコン２５から設定されており、各プロセス間のデータの送受は、システム共有メモリ１６を介して行う。 - 特許庁

Using image data acquired by the first scanning unit 30, the second scanning unit 32 and the third scanning unit 34, a determining part calculates the height of the inspection object plane of the substrate 2.例文帳に追加

判定部は、第１走査ユニット３０、第２走査ユニット３２、および第３走査ユニット３４によって取得された画像データを利用して基板２の被検査面の高さを算出する。 - 特許庁

To provide a container identification label used in a specimen container for simplifying and making efficient inspection processing work, without generating a refuse of medical waste object, while ensuring safety and reliability of a data.例文帳に追加

データの安全性・信頼性を確実としながら、医療廃棄物対象となるゴミを出さず検査処理業務を簡易化・高効率化する検体容器に用いられる識別ラベルの提供。 - 特許庁

A first elastic body 3 is arranged on the side opposite to inspection object to the flaw detection sensor 1, formed by laminating two or more planar elastic bodies, and is subjected to elastic module changes in the longitudinal direction.例文帳に追加

第１の弾性体３は、探傷センサ１の反被検査体側に配置され、２枚以上の板状の弾性体を積層したものであり、その長手方向に弾性係数変化する。 - 特許庁

To provide a burn-in test method by operating a semiconductor device of an inspection object with a real operation clock at high speed, without providing an expensive high-speed MPU and high-speed comparator to the burn-in system.例文帳に追加

バーンイン装置に高価な高速ＭＰＵや高速コンパレータを設けることなく、検査対象の半導体デバイスを実動作クロックで高速動作させながらバーンイン試験を行う。 - 特許庁

To simplify operation of a designating means of moving direction by an operator when observation inside a specimen and a search of an inspection object are carried out by moving a display image by manual operation.例文帳に追加

マニュアル操作により、表示画像を動かして、試料中の観察・検査対象物の探索を行なう際に、オペレータによる移動方向指定手段の操作を簡易化する。 - 特許庁

To provide an inspection apparatus of a through hole capable of determining whether the size (diameter, area, or the like) or the number of through holes formed at an object to be measured is appropriate by a simple configuration.例文帳に追加

簡易な構成で被測定物に開けられた貫通孔の大きさ（直径や面積等）又は個数の良否を判定することができる貫通孔の検査装置を提供する。 - 特許庁

A gage 21 for calibration is provided on the top of a stage of the shape measuring device which measures the shape of an inspection object by using a kite camera, an optical cutting probe and a contact type probe.例文帳に追加

俯瞰カメラ、光切断プローブ、および、接触式プローブを用いて被検物の形状を測定する形状測定装置のステージの上面には、校正用のゲージ２１が設けられている。 - 特許庁

To provide a radiation monitoring device capable of improving operational efficiency, working efficiency during inspection, or the like a nuclear power plant by securely preventing an incorrect detection of monitoring object.例文帳に追加

監視対象の誤検知を未然にかつ確実に防止し、原子力発電所の運転効率や点検時等の作業効率を向上させ得る放射線モニタリング装置を提供する。 - 特許庁

A projection acquiring means 403 performs a prescribed direction projection operation of image data obtained by picking up the image of the defect inspection object (photoreceptor, etc., of copying machine) of this time.例文帳に追加

射影取得手段４０３は、今回の欠陥検査対象物（複写機の感光ドラム等）を撮像して得られた画像データに対して、所定方向の射影演算を行なう。 - 特許庁

To accurately inspect an object of inspection having a transparent first member and an opaque second member regardless of existence of recessed and projecting parts.例文帳に追加

透明性を有する第１部材と不透明な第２部材とを備えた検査対象物の検査に際し、凹凸部分の存在にかかわらず精度よく検査を行うことを可能とする。 - 特許庁

To provide a device for acquiring a coordinate for inspection of a printed board that can automatically creating a coordinate required for a clip test from a predetermined object disposed in the printed board and can automate the clip test.例文帳に追加

プリント板に設けられた所定の対象物からクリップ試験に必要な座標を自動生成し、もってクリップ試験を自動化できるプリント板検査用座標取得装置を得る。 - 特許庁

To provide a defect-inspecting apparatus for speedily detecting both of foreign object defects and light-scattering defects at the light-scattering transmission sheet by one inspection with high sensitivity.例文帳に追加

光散乱透過シートにおける異物欠点と光散乱欠点の両方を一回の検査で高感度にかつ高速に検出することができる欠点検査装置を提供する。 - 特許庁

An information storage section 10 stores hot spot information 12, surface profile information 13 and CAD information 11 as input information about a semiconductor device being an inspection object.例文帳に追加

情報記憶部１０には、検査対象の半導体デバイスについてのホットスポット情報１２、表面形状情報１３、ＣＡＤ情報１１が、入力情報として記憶される。 - 特許庁

Since a plant installation equipped with a pipe which is an inspecting object can be inspected without halting it, maintenance and inspection on the pipe can be inspected periodically at relatively short intervals.例文帳に追加

すると、検査対象となる配管を備えたプラント設備を停止しなくても検査ができるので、配管の保守点検を定期的にかつ比較的短い間隔で検査することができる。 - 特許庁

During movement, the underwater moving device 30 is positioned by detecting the detection mark 3 formed on the inspection object surface 1a by the underwater moving device 30.例文帳に追加

この移動の際に、水中移動装置３０が検査対象面１ａに形成された検知マーク３を検出することにより当該水中移動装置３０の位置決めを行う。 - 特許庁

A half mirror 11 of an optical device 9 transmits a part of light from an inspection object device 1 and reflects the remaining light coming in the digital camera 13 of an imaging device 10.例文帳に追加

光学装置９の半透過性ミラー１１は、点検対象物１からの一部の光を透過して撮像装置１０のデジタルカメラ１３に入力し残りの光を反射する。 - 特許庁

To provide an ultrasonic inspection device that is reduced in size by using laser light, prevents degradation and deformation of an object to be inspected, and properly inspects in a wide range.例文帳に追加

レーザ光を用いて装置の小型化を図るとともに被検体の劣化、変形を防止し、かつ、広範囲に良好な検査を行いない得る超音波検査装置を提供する。 - 特許庁

The pair of light sources 228 are constituted so as to emit the inspection light with which the image of the inspecting object section of the plate 11 of erased appearance aspect is acquired by the image acquisition section 229.例文帳に追加

一対の光源２２８は、画像取得部２２９で外観態様が消去された平板１１の被検査部の画像が取得される検査光を出射するように構成されている。 - 特許庁

To provide an illumination device capable of illuminating uniformly the surface which is an imaging object of a long and cylindrical article such as a cylindrical product, miniaturized and suitable for an inspection line or the like.例文帳に追加

円柱状製品などの棒状物品の撮像対象となる表面を均一に照明できるとともに、小型化され検査ライン等にも適した照明装置を提供する。 - 特許庁

To provide a sound capturing device, and a hammering test device for a can capable of eliminating a reflected sound from a outer shell body to capture satisfactorily an inspection sound emitted from an inspected object by a microphone.例文帳に追加

外殻体からの反射音を排除して、マイクロフォンが、被検査体が発する検査音を良好に捕捉することができる音の捕捉装置及び缶の打検装置を提供する。 - 特許庁

To provide an ultrasonic flaw detector capable of eliminating fluctuation error of an ultrasonic signal resulting from a contact state of a flaw detection probe and an inspected object and improving the reliability of the inspection.例文帳に追加

探傷プローブと被検体の接触状態に起因する超音波信号の変動誤差を排除し、検査の信頼性を向上することができる超音波探傷装置を提供する。 - 特許庁

To provide an inspection device for inspecting an object to be inspected accurately, in a short time by imaging an optical image and a radiogram with proper image quality, while suppressing increase of an imaging time.例文帳に追加

撮像時間の増加を抑制しながら光学画像およびＸ線画像を良好な画質で撮像し、短時間で精度のよい被検査体の検査を実施する検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a non-destructive discrimination method and non-destructive discrimination device capable of discriminating material of a subject simply without destructing an inspection object as compared with a conventional method and device.例文帳に追加

検査対象を破壊することなく、従来に比べてより簡易に被検体の材料を識別することのできる非破壊識別方法及び非破壊識別装置を提供する。 - 特許庁

Hereby, the contact end 4 and a terminal 26 of an inspection object are magnified through the magnification lens 9, and the contact end 4 can be easily brought into contact with the terminal 26.例文帳に追加

これにより、拡大レンズ９を通して接触端部４と被検査対象の端子２６を拡大させ、容易に接触端部４と端子２６とを接触させることが可能となる。 - 特許庁