「inspection object」に関連した英語例文の一覧と使い方(31ページ目) - Weblio英語例文検索

Inspection object parts Fa, Fb of each propagation route are positioned at each different depth in the aligned state on an inspection part center line FL relative to the depth direction, and set on a surface layer part and a middle part or a deep part of the test body.例文帳に追加

各伝播経路の検査対象部Ｆａ，Ｆｂが深さ方向に対する検査部中心線ＦＬ上に並んで異なる深さに位置すると共に試験体の表層部と中間部又は深部に設定されている。 - 特許庁

In step S2, a border of a random inspection shape is traced by sequentially determining a next searching direction, determining a next searching range, and selecting a template for a next borderline detection on the basis of geometric characteristics of an inspection object.例文帳に追加

次にステップＳ２において、検査対象の幾何学的特徴をもとに次探索方向の決定、次探索範囲の決定、次輪郭線検出のためのテンプレート選定を逐次行い任意検査形状の輪郭を追跡する。 - 特許庁

To provide an inspection device capable of accurately inspecting an inspection object provided with a transparent or translucent first member and an opacity second member positioning on an outer surface side of the first member.例文帳に追加

透明又は半透明の第１部材と、少なくとも一部が前記第１部材の外表面側に位置する不透明な第２部材とを備えた検査対象物を精度よく検査を行うことの可能な検査装置を提供する。 - 特許庁

The reflected scanning inspection light ray L2 is reflected by the beam splitter 7 and is cast to an object 10 to be inspected by regulating a mirror 8 so as to have an angle with the scanning inspection light ray L1 transmitted at the time of making the light incident on the objective lens 9.例文帳に追加

反射した走査検査光Ｌ2は、対物レンズ９に入射させる際に、透過した走査検査光Ｌ1に対して、角度をもつようにミラー８を調整し、ビームスプリッター７で反射して検査対象物１０に照射する。 - 特許庁

To provide a pinhole inspection device capable of precisely inspecting the presence or absence of a pinhole with uniform detection sensitivity irrespective of a place of the pinhole even when the inspection is performed by irradiating a comparatively wide area of an object to be inspected with light.例文帳に追加

被検査物の比較的広い面積に光を照射して検査する場合であっても、ピンホールの場所によらず均一な検査感度で精度よくピンホールの有無を検査することができるピンホール検査装置を提供する。 - 特許庁

In the case that a repetitive pattern is added to a signature panel area SP of an inspection object (credit card C), color components of the repetitive pattern are preliminarily extracted and removed from an inspection image of the signature panel area SP (A).例文帳に追加

被検査物（クレジットカードＣ）のサインパネル領域ＳＰに繰り返し絵柄が付されている場合、事前にサインパネル領域ＳＰの検査画像から繰り返し絵柄の色成分を抽出し、その色成分を除去しておく（Ａ）。 - 特許庁

To allow stable inspection with a simple configuration which is not affected by degradation of a luminaire and disturbance, by searching for a part with a plurality of part image data of different light-quantity setting in the inspection data for an inspected object.例文帳に追加

非検査物の検査データ中より光量設定の異なる複数の部品画像データで部品をサーチすることにより簡単な構成で照明装置の劣化や外乱の影響を受けない安定した検査を可能にする。 - 特許庁

To provide a crane allowing non-destructive inspection of containers at a plurality of sections on a normal conveyance passage, quick and accurate finding of a dubious object and drastically increasing reliability for inspection.例文帳に追加

通常の搬送経路上の複数箇所でコンテナを非破壊にて検査することができ、不審物等を迅速且つ的確に発見することができるとともに、検査に対する信頼性を著しく高めることができる、クレーンを提供する。 - 特許庁

To provide an X-ray inspection device capable of certainly removing luminance nonuniformity due to geometric distortion of an image intensifier and/or a CCD camera, and thus capable of improving the quality of an X-ray image of an inspection object.例文帳に追加

イメージインテンシファイアおよび／またはＣＣＤカメラの幾何学的歪に起因する輝度ムラを確実に取り除くことができ、ひいては被検査物のＸ線画像の画質を向上させることのできるＸ線検査装置を提供する。 - 特許庁

For example, when the periodic inspection is conducted every six months, an apparatus with the cumulative operating hours detected in real time exceeding the overhaul period within a periodic width of one month from a periodic inspection is specified as an overhaul object apparatus.例文帳に追加

例えば，定期点検が６ヶ月毎に実施される場合は，定期点検時から１ヶ月の期間幅の範囲で，リアルタイムに検出した累計運転時間がオーバーホール時間を超える機器がオーバーホール対象機器として特定される。 - 特許庁

To provide an objective lens for an electron microscope system requiring a relatively small space, and for minimizing a magnetic field outside the objective lens, and to provide an improved inspection system used for simultaneously executing image formation and operation of an inspection object.例文帳に追加

必要とされる空間がより少なく、対物レンズ外部の磁界が最小限である電子顕微鏡システムのための対物レンズ、被検物体の像形成および操作を同時に行うための改良検査システムを提供する。 - 特許庁

A temporary wiring device for inspection is mounted on the wiring board 10 of an inspecting object instead of a semiconductor integrated circuit for display control, each inspection probe is brought into contact with each signal line of the wiring board 10, and it is arranged in a test furnace 45.例文帳に追加

表示制御用の半導体集積回路に替え、検査用仮配線装置を検査対象の配線基板１０に搭載し、配線基板１０の信号線に検査プローブを当接し、試験炉４５内に配置する。 - 特許庁

The image irregularity inspection apparatus applies white balance correction to image data of an inspection object image whose image irregularity is to be inspected, converts the image data after the white balance correction to the L*a*b* color system, and discriminates image irregularity on the basis of saturation data after the conversion.例文帳に追加

画像ムラを検査する検査対象画像の画像データに対しホワイトバランス補正を施し、該ホワイトバランス補正後の前記画像データをＬ＊ａ＊ｂ＊表色系に変換し、該変換後の彩度データによって画像ムラを判定する。 - 特許庁

When the flaw inspection probe 11 is positioned on the detection portion of the flaw or the reduced thickness area of the object to be inspected, a stopping device 13 stops the sliding and scanning operation of the flaw inspection probe 11 in accordance with a stop command issued from the measuring device 12.例文帳に追加

そして、探傷プローブ１１が検査対象物のきずや減肉の検出部位に位置したとき、測定器１２からの停止指令により、停止装置１３は探傷プローブ１１の摺動走査の動作を停止させる。 - 特許庁

To provide an inspection device that determines reflection in a short time in detecting unevenness defects of an inspected object having a periodic pattern, and reduces the time for inspecting a large-area inspected body, and to provide an inspection method.例文帳に追加

周期性のあるパターンを持つ被検査体のムラ欠陥を検出する場合に、映り込みの判別を短時間に行うことが出来、さらに大面積の被検査体の検査時間を短縮する検査装置及び検査方法を提供する。 - 特許庁

To resolve the problem that an inspection image is largely distorted by not only assembling precision of an inspecting jig but also an influence of error amount of image sticking parts in the case that an inspection object is made larger than a scan length by making a device high-speed, small-scale, or the like.例文帳に追加

装置の高速化、小型化等により検査対象が走査長さより大きくなる場合、検査冶具の組み立て精度とともに、画像貼り合わせ部分の誤差量の影響が検査画像に大きな歪を発生させる。 - 特許庁

This device 1 for inspecting defect is a device equipped with an image processing means 12 for inspecting a defect by imaging an inspection signal acquired from an inspected object S and applying a spatial filter to such an inspection image.例文帳に追加

本発明に係る欠陥検査装置１は、被検査物Ｓから得られた検査信号を画像化し、当該検査画像に空間フィルタを適用することによって欠陥を検査する画像処理手段１２を備えた装置である。 - 特許庁

To provide a mask inspection device and a mask inspection method which can accurately specify irregularity of a measurement region on a measured object with a shape of a pattern having multiple steps from a SEM image, and determine its structure exactly.例文帳に追加

多段のパターンで形成されている測定対象に対して、ＳＥＭ像から測定対象領域の凹凸を的確に特定し、その構造を正確に判定することのできるマスク検査装置及びマスク検査方法を提供すること。 - 特許庁

The contactor 10 provided at an IC socket 15 used for inspection of a packaged semiconductor device 20 comes in electric contact with an electrode 21 of the semiconductor device 20 as an object for inspection.例文帳に追加

パッケージングされた半導体デバイス２０の検査に使用するＩＣソケット１５に設けられた接触子１０であり，この接触子１０は，検査対象である前記半導体デバイス２０の電極２１と電気的に接触するものである。 - 特許庁

To provide a mounting state inspection device for an electronic component, which can properly determine the quality of a distribution state of a resin part when an inspection object includes the resin part where a thermosetting adhesive is cured.例文帳に追加

熱硬化型接着剤が硬化した樹脂部を検査対象に含む場合において、樹脂部の分布状態の良否を適正に判定することができる電子部品の実装状態検査装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

This inspection tool is used for positioning a finished product as an inspecting object, the photographing device is erected on it, the correspondence relation between the positions of the both is kept not to change, and the inspection module performs the processing of a digital signal.例文帳に追加

前記検査機具は検査対象としての完成品を位置決めするためであり、撮影装置をその上に架設し、両者の位置の対応関係を恒に変わらぬよう保持し、検査モジュールはデジタル信号の処理を行う。 - 特許庁

In this device for resproducing a slice image when treating an inspection subject, the device includes a measuring means for deciding a position of a medical instrument 12 partially inserted into the inspection object at treating time to a reference system.例文帳に追加

検査される対象の処置中にスライス画像を再生する装置に関し、装置は、処置中に検査される対象に部分的に挿入される医用器具１２の位置を参照システムに対して決定する測定手段を含む。 - 特許庁

To provide a method and device of defect inspection for accurately detecting various defects such as various flaws present on an inspection object formed of a sheet-like or plate-like material; and a linear light source device used for it.例文帳に追加

シート状もしくは板状の材料等からなる検査対象物に存在する様々な傷等の欠陥を精度良く検出できる欠陥検査の方法及び装置並びにそれに用いるライン状光源装置を提供する。 - 特許庁

A digital plate inspection device 1 specifies a pattern area in the rasterized data, after RIP expansion which is to be an object of plate inspection, and extracts identification information embedded in the specified pattern area.例文帳に追加

デジタル検版装置１は、検版の対象となるＲＩＰ展開後のラスタライズデータに関して、そのラスタライズデータ内における絵柄領域を特定し、特定された絵柄領域の中に埋め込まれた識別情報を抽出する。 - 特許庁

To provide a reference plate, an optical axis adjustment method of a surface inspection apparatus and the surface inspection apparatus for determining whether a linear array camera receives a regular reflection light, and implementing a visual field adjustment in the longitudinal direction of a to-be-inspected object.例文帳に追加

リニアアレイカメラが正反射光を受光しているか否かを判断して、被検査体の長手方向の視野調整を行うことができる基準板、表面検査装置の光軸調整方法、及び表面検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide an inspection method applicable to an early diagnosis, determination of a therapeutic effect and a prognosis for a disease for which a disease-specific biomarker has not been found or a specific disease for which an image inspection is not an object of evaluation.例文帳に追加

疾患特異的なバイオマーカーが発見されていない疾患や、画像検査が評価の対象とならないような特定の疾患に対して、早期診断や治療効果の判定、予後診断に適用可能な検査方法を提供する。 - 特許庁

In an actual inspection, the ultrasonic beam B is emitted from a probe 12 by the driving electric signal S3, whereby the point of inspection object 300 is surely exposed to the ultrasonic beam B to perform its ultrasonic flaw detection.例文帳に追加

そして、実際に検査を行う際にはその駆動用電気信号Ｓ３でプローブ１２から超音波ビームＢを発することで、検査対象箇所３００に超音波ビームＢを確実に当てて超音波探傷を行うようにした。 - 特許庁

The contact 10 is provided on a probe card for use in the inspection of an IC circuit formed on a silicon wafer, and is caused to electrically contact the electrode pad 20 of the IC circuit which is an inspection object.例文帳に追加

シリコンウエハー上に作製したＩＣ回路の検査に使用するプローブカードに設けられた接触子１０であり，この接触子１０は，検査対象である前記ＩＣ回路の電極パッド２０と電気的に接触するものである。 - 特許庁

To provide a circuit pattern inspection device capable of easily inspecting a disconnection in the middle of a pattern, a partial notch, or a short-circuit to an adjacent pattern, regardless of the shape of a conductive pattern which is an inspection object, for example, even in the case of a branch pattern.例文帳に追加

検査対象の導電パターンの形状にかかわらず、例えば分岐パターンであっても、パターン途中の断線、一部切欠、隣接パターンとの短絡を容易に検査することが可能な回路パターン検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a leak inspection method and a leak inspection device that can, when inspecting for leaks using pressure methods, precisely and reliably subtract the temperature-caused portion of change in the pressure of a fluid inside an object being tested.例文帳に追加

圧力式の漏洩検査において、被検査対象内の流体の圧力変化における温度起因の変動分を高精度で確実に除去することの可能な漏洩検査方法および漏洩検査装置を提供する。 - 特許庁

In this system, when electric power is supplied from a work supply power source circuit 4 in an inspection apparatus 2 to a voltage detection circuit of a printed circuit board which is an object of inspection, the voltage detection circuit outputs A/D voltage C to a CPU 1.例文帳に追加

検査装置２内のワーク供給電源回路４から検査対象となるプリント基板の電圧検出回路へ電源が供給されると、電圧検出回路はＡ／Ｄ電圧ＣをＣＰＵ１に出力する。 - 特許庁

The inspection jig 1 has a substrate 2, a contact 3 provided on the substrate 2 and a wiring pattern 4 electrically connected to the contact 3, and is so constituted that the contact 3 is joined to the terminal of the inspection object.例文帳に追加

基板２と、基板２上に設けられた接触子３と、接触子３に電気的に接続された配線パターン４とを有し、接触子３が被検査体の端子に接合されるように構成されてなる検査用治具１である。 - 特許庁

To provide a nucleic acid analyzer capable of concurrently inspecting a plurality of inspection items and obtaining high specimen processing efficiency even if the inspection item or a measurement object is changed.例文帳に追加

本発明の目的は、複数の検査項目を並列的に検査することが可能であり、検査項目や測定対象の変更があっても高い検体処理効率を得ることができる核酸分析装置を提供することに関する。 - 特許庁

To reduce influences of a lift-off, the flaw shape and the coil shape of an eddy current flaw detection probe, in an eddy current flaw detector which compares a phase angle of a flaw signal of an inspection object with that of the flaw signal of a reference flaw, and estimates whether the flaw of the inspection object is shallow or deep, in comparison with the reference flaw.例文帳に追加

基準キズのキズ信号の位相角と被検査体のキズ信号の位相角を比較して、被検査体のキズが基準キズより浅いか深いかを推定する渦電流探傷装置において、リフトオフ、キズの形状や渦電流探傷プローブのコイルの形状の影響を低減することを目的とする。 - 特許庁

The apparatus 15 is installed on a run-out table behind a cooling zone 12 between the final stand of a finish rolling machine 11 of a hot rolling line and a pinch roll 13 before a down coiler 14 and its floodlight projection part emits light to the surface to be inspected by an object under inspection obliquely in the width direction of the object under inspection.例文帳に追加

熱延ラインの仕上げ圧延機１１の最終スタンドとダウンコイラ１４前のピンチロール１３との間の、冷却帯１２の後のランナウトテーブル上に、圧延性ロール疵検出装置１５を設置し、その投光部は、被検査体の幅方向斜めより被検査体の検査対象面上に光を照射する - 特許庁

An SV wave propagating just under the surface of the inspection object 11 is transmitted from either of two ultrasonic probes 12a, 12b arranged at a prescribed interval on the surface of the inspection object 11 and received by the other, to thereby measure the ultrasonic beam path length by an ultrasonic beam path length measuring means 14.例文帳に追加

被検査体１１の表面上に所定の間隔を保って配置された２個の超音波探触子１２ａ、１２ｂの一方から被検査体１１の表面直下を伝搬するＳＶ波を送信し、他方で受信して超音波ビーム路程測定手段１４で超音波ビーム路程を測定する。 - 特許庁

By moving the inspection object 10 in a perpendicular direction to the optical scan direction, the laser beams L1r, L2r and L3r, reflected from the inspection object surface 11, are detected with photodetectors 16a and 16b, the electrical signals output by the photodetectors 16a and 16b are converted into height signals by arithmetic units 17 and 18.例文帳に追加

被検査物１０を光走査方向に対して直角方向に移動させながら、被検査物表面１１から反射するレーザ光Ｌ１ｒ、Ｌ２ｒ、Ｌ３ｒを光検出器１６ａ、１６ｂにより検出し、光検出器１６ａ、１６ｂが出力する電気信号を演算装置１７、１８で高さ信号に変換する。 - 特許庁

To provide a stick bar defect inspection device, capable of stably executing inspection over long times, even if object stick bars are inputted continuously at a high speed, and inspecting accurately defective parts comprising fine split, chip, irregularities, crack, breakage, dirt, non-standard width size, or the like of the object stick bar.例文帳に追加

対象スティックバーが連続して高速に送り込まれた場合でも、長時間安定して検査が行うことができ、しかも対象スティックバーにおけるささくれ、欠け、凹凸、ひび、割れ、汚れ、幅寸法規格外等からなる不良部分を正確に検査することができるスティックバー不良検査装置を提供する。 - 特許庁

An analog input terminal has: an AD converter 104 connected to an analog output terminal of a DA converter 101 that is an inspection object; and a digital signal comparator 108 for comparing a digital input of the DA converter 101 that is the inspection object, with a digital output of the AD converter 104, and for outputting a determination signal based on a comparison result.例文帳に追加

アナログ入力端子が、検査対象であるＤＡコンバータ101のアナログ出力端子に接続されるＡＤコンバータ104と、検査対象であるＤＡコンバータ104のデジタル入力と、ＡＤコンバータ104のデジタル出力とを比較し、比較結果に基づく判定信号を出力するデジタル信号比較器108とを有する。 - 特許庁

In the state where the inspection object acceptor 1 is rotated by a predetermined angle to make the liquid measured by the measurement portion 14 outflow from the measurement portion 14, and where centrifugal force is applied to the inspection object acceptor 1 by its revolution, the surplus portion 10 is positioned below an upper end of the measurement portion 14 in the gravity direction.例文帳に追加

計量部１４で量り取った液体を計量部１４から流出させるように検査対象受体１を所定角度自転させて公転により遠心力を付加する状態で、重力方向において、余剰部１０は、計量部１４の上端部より下側に位置するように構成されている。 - 特許庁

The first measurement signal s_i represents a part of the analysis object captured by a first measurement area after the liquid sample has been set in the inspection system, and the second measurement signal s_j represents a part of the analysis object captured by a second measurement area disposed downstream of the first measurement area in the inspection system.例文帳に追加

第１の測定信号s_iは、検査システムに液体試料が設定された後に第１の測定エリアに捕捉された分析対象部分を表し、第２の測定信号s_jは、検査システム上において第１の測定エリアの下流に配置されている第２の測定エリアに捕捉された分析対象部分を表す。 - 特許庁

A transmitter 2 generates transverse wave propagating along a front surface 100a of an inspection object 100 (hereinafter called "surface propagation transverse wave TW1") as well as the transverse wave propagating with repeated reflection between the surface 100a and a rear surface 100b of the inspection object 100 (hereinafter called "reflection propagation transverse wave TW2").例文帳に追加

送信子２は、被検査体１００の表面１００ａに沿うように伝搬する横波（以下、「表面伝搬横波ＴＷ１」とする）及び被検査体１００の表面１００ａ及び裏面１００ｂの間で反射を繰り返して伝搬する横波（以下、「反射伝搬横波ＴＷ２」とする）を発生させる。 - 特許庁

Since each temperature of the measuring object 25 and the corrosive chemical 7 can be kept at prescribed temperatures by performing heat exchange between the coolant 15 and the measuring object 25 and the corrosive chemical 7, inspection data under a prescribed constant temperature condition can be acquired, and the inspection data having high accuracy and high reliability can be acquired.例文帳に追加

冷媒１５と測定対象物２５及び腐食薬品７との間で熱交換することにより、測定対象物２５及び腐食薬品７の温度を所定の温度に保つことができるので、所定の一定温度条件下での検査データが得られ、精度が高く、信頼性の高い検査データが得られる。 - 特許庁

An imaging means 40 images the inspection object region irradiated with the laser slit beam, an image analytical means 60 finds change points generated in a bright line formed in the inspection object region by the laser slit beam from among an imaged image, a distance between the change points is recognized as the flap interval, and whether the flap interval is satisfactory or not is decided.例文帳に追加

撮像手段４０は、レーザースリット光の照射された検査対象領域を撮像し、画像解析手段６０は、撮像された画像のうちレーザースリット光によって検査対象領域に形成された輝線に生じた変化点を求め、変化点間の距離をフラップ間隔と認識してその良否を判定する。 - 特許庁

A first light irradiation structure relating to this invention irradiates an inspection object (1) with light required for imaging the vein pattern in the authentication device utilizing the vein pattern and is characterized by that the light (6) emitted from a directional luminous body (2) is concentrated in a specified region (3) on the inspection object.例文帳に追加

本発明にかかる第一の光照射構造は、静脈パターンを利用した認証装置において該静脈パターンの撮像に必要な光を検査対象(1)に照射するもので、指向性を有する発光体(2)から発した光(6)が該検査対象上の特定領域(3)に集中することを特徴とする。 - 特許庁