「inspection object」に関連した英語例文の一覧と使い方(34ページ目) - Weblio英語例文検索

Defect candidate data, which is image data of an object to be inspected, development data, which is image data of master data, and inspection area data are inputted to a mismatch counting circuit 132.例文帳に追加

不一致計数回路１３２には，検査対象の画像データである欠陥候補データと，マスターデータの画像データである展開データと，検査領域データとが入力される。 - 特許庁

To provide a photographic device capable of easily photographing an inspection object located at such a place that a person cannot easily enter without the person entering the place.例文帳に追加

人が容易に立ち入ることができない場所にある点検対象物の撮影を、その場所へ人が立ち入らずに容易に実施することができる撮影装置を提供する。 - 特許庁

The computer 21 receives a detection signal from the sensor chip 1, generates image data, and displays an image of the circuit wiring which is an inspection object on a display 21a.例文帳に追加

コンピュータ２１は、センサチップ１からの検出信号を受信して、画像データを生成し、検査対象である回路配線の画像をディスプレイ２１ａに表示する。 - 特許庁

Meanwhile, if the difference exceeds the threshold, the operator determines the inspection object 11 to be defective and analyses the cause of defects and feeds back the analysis result to a preceding step (the electrode formation step).例文帳に追加

一方、差分が閾値を超える場合、検査対象物１１は、不良品であると判定し、不良の原因を分析し、前工程（電極工程）にフィードバックする。 - 特許庁

This constitution can thus secure a substantial overdrive amount and an appropriate scrubbing amount to suppress the contact part 10 from being deviated from the electrode pad of the inspection object.例文帳に追加

従って、十分なオーバードライブ量と、適度なスクラブ量とを確保し、コンタクト部１０が検査対象物の電極パッドから外れるのを抑制することができる。 - 特許庁

The two multiple gradation image data MD2 and MD3 are mutually compared, whereby the difference between the two printed matter image data as the object of plate inspection is detected.例文帳に追加

そして、これらの２つの多階調画像データＭＤ２，ＭＤ３を比較することによって、検版対象とした２つの印刷物画像データの差異を検出する。 - 特許庁

A guide wave with a burst waveform is allowed to be incident on the object 25 to be inspected by a transmission part 22 and a reception part 23 receives the guide wave to perform inspection according to a transmission method.例文帳に追加

検査対象物２５に対して送信部２２がバースト波形のガイド波を入射し、受信部２３がガイド波を受信して透過法により検査を行う。 - 特許庁

To provide an inspection device capable of inspecting precisely the presence of a defect in a wiring pattern, as to an inspected object with the wiring pattern formed on a polycrystal substrate.例文帳に追加

多結晶基板上に配線パターンが形成されてなる被検査物について、その配線パターンの欠陥の有無を精度良く検出できる検査装置を提供する。 - 特許庁

Thus, an objective optical system for ordinary observation and an optical system for magnifying observation can be selectively or simultaneously used according to an observation object and a purpose in an endoscope inspection.例文帳に追加

これにより、内視鏡検査中に観察対象や目的に応じて、通常観察用対物光学系と拡大観察用光学系とを選択又は同時使用できる。 - 特許庁

In accordance with the method for inspecting airtightness, the volume of the space in the inspection object is increased in a pseudo manner, and thereby determination precision of the airtightness is improved.例文帳に追加

この気密性検査方法によれば、検査対象物の内部の空間の容量を擬似的に増大させ、気密性の判定精度を向上させることができる。 - 特許庁

To provide an apparatus for inspecting a belt of a belt conveyer, which can perform inspection work comparatively simply and determine the quality of the belt even in the belt conveyer conveying an object.例文帳に追加

比較的簡便に検査作業が行え、しかも、対象物を運んでいるベルトコンベアであっても、ベルトの良否を判定できるベルトコンベアのベルトの検査装置を提供する。 - 特許庁

An X-ray leakage, from openings for carrying the object 900 to be inspected to and out of the X-ray inspection chamber 300, is prevented by X-ray leakage prevention curtains 500.例文帳に追加

Ｘ線漏洩防止カーテン５００によりＸ線検査室３００へ被検査物９００を搬入出する開口部からＸ線の漏洩が防止される。 - 特許庁

The distal end of the covered part 22 is formed to have a curved face, and a contact area can be always reduced by bringing the curved face into contact with the inspection object 102.例文帳に追加

被覆部２２の先端部には曲面が形成され、この曲面を検査対象物１０２に接触させることにより、常に接触面積を小さくできる。 - 特許庁

The inspection image 32 is displayed with high luminance, in the nonexistent region 30 of the foreign body 20 inside the object 2 to be inspected, and it is displayed with low luminance in the existent region 31 of the foreign body.例文帳に追加

検査画像３２の検査物体２内の異物２０の非存在領域３０では、高輝度に表示され、異物の存在領域３１では、低輝度に表示される。 - 特許庁

The illumination member, provided with a pair of supporting rollers, is including transmitted light illumination for irradiating the inspection object through the gap between the pair of support rollers.例文帳に追加

一対の支持ローラを有し、前記照明部材は思い出した番の支持ローラの間の隙間を通じて前記検査対象物に光を照射する透過照明を含む。 - 特許庁

An X-ray leakage, from an opening for carrying the object 900 to be inspected to and out of the X-ray inspection chamber 300, is prevented by X-ray leakage prevention curtains 500.例文帳に追加

Ｘ線漏洩防止カーテン５００によりＸ線検査室３００へ被検査物９００を搬入出する開口部からＸ線の漏洩が防止される。 - 特許庁

To provide an IC handler having a function capable of sucking and removing an object to be removed, rubbed out from an inspection socket, without complicating a device.例文帳に追加

装置を複雑化させることなく、検査ソケットから擦り落とした除去物を吸引除去可能な機能を備えたＩＣハンドラを提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a defect extraction method and a printed wiring board final appearance inspection device, supressing generation of false information due to fluctuation in manufacturing process for an object board to be inspected.例文帳に追加

被検査対象基板の製造工程のバラツキによる虚報の発生をおさえた欠陥抽出手法及びプリント配線板最終外観検査装置を提供すること。 - 特許庁

To provide the inspection equipment that inspects a defect at the edge part of a semiconductor wafer or the like, wherein the scattered light from an edge part of an object being inspected can be detected with surety.例文帳に追加

半導体ウエハ等の縁部における欠陥を検査する検査装置に関し、被検査物の縁部からの散乱光を確実に検出する装置の提供。 - 特許庁

To obtain a method and device for inspecting a pattern for operating accurate inspection of a pattern, regardless of the materials of a pattern or the kind of a process for an object to be inspected.例文帳に追加

検査対象物についてパターンの材料、プロセスの種類に関わらず、パターンの正確な検査が行えるパターン検査方法およびパターン検査装置を提供する。 - 特許庁

To narrow down an inspection object area at high speed while utilizing a thermal image and to exactly detect a human being without being affected by use conditions or his/her looks.例文帳に追加

熱画像を利用して高速で検査対象領域を絞り込むと共に、使用状況や人の容姿などに惑わされることなく正確に人間の検出をおこなう。 - 特許庁

To provide a technology capable of altering the position of a measuring section for measuring the weight of an inspection object easily in correspondence with alteration or addition of specification.例文帳に追加

被検査物の重量を測定する計量部の位置を、仕様の変更や仕様の追加に対応して簡単に変更することが可能な技術を提供する。 - 特許庁

To provide an optical inspection apparatus which can surely carry out a filtering process to a scattering light from a measuring object,, and has its efficiency of utilizing light improved.例文帳に追加

測定対象からの散乱光に対して確実にフィルタ処理を行うことができるとともに、その光利用効率が向上される光学検査装置を提供する。 - 特許庁

The whole periphery of the edge of outer and inner peripheries of the inspection object 7 is arranged in the abutting state on the first truncated cone surface 17 and a second truncated cone surface 21.例文帳に追加

そして、検査対象物７における外内周の端縁の全周が、第１の円錐台面１７及び第２の円錐台面２１に当接されて配置されている。 - 特許庁

On the other hand, a fluorescence in a visible range having the wavelength of 400-500 nm is emitted as the result of excitation action by the ultraviolet ray at the fatty part of the edible meat which is the inspection object 4.例文帳に追加

一方、検査対象４の食肉の脂肪部分では紫外線による励起作用の結果、波長４００−５００ｎｍの可視域の蛍光が放出される。 - 特許庁

To provide an X-ray inspection device including X-ray leakage prevention members capable of optimally preventing an X-ray leakage according to a size of an object to be inspected.例文帳に追加

被検査物の大きさに応じてＸ線の漏洩を最適に防止することができるＸ線漏洩防止部材を備えたＸ線検査装置を提供することである。 - 特許庁

To provide an illuminance stabilizing mechanism capable of fully securing the distance of an inspection object to a projector, and suppressing unevenness in the quantity of light, while acquiring a strong light source.例文帳に追加

強力な光源を得つつも、投光器に対する検査対象の距離を十分確保し且つ光量のムラを抑制し得る照度安定機構を提供する。 - 特許庁

An imaging part irradiates a plurality of spots of the inspection object including a substrate and an electronic component with a radiation from a plurality of directions, and images a plurality of radiation transmission images.例文帳に追加

撮像部は、基板および電子部品を含む被検査体の複数の箇所に複数方向から放射線を照射し、複数の放射線透過画像を撮像する。 - 特許庁

To securely detect luminance unevenness characteristic of an object of inspection to be detected in automatic detection of a picture defect without erroneously detecting illumination unevenness.例文帳に追加

画面欠陥の自動検出において、照度ムラを誤検出することなく、検出しようとする検査対象に固有の輝度ムラを確実に検出可能にする。 - 特許庁

To provide a surface inspecting device capable of obtaining the surface shape of an inspection object by quickly adjusting the deviation of an optical axis with a simple configuration.例文帳に追加

簡単な構成で光軸ずれを迅速に調整して検査対象の表面形状を求めることができる表面検査装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

The defect candidate detection part 20 images the optically transparent film A which is an inspection object, and detects a defect candidate of the optically transparent film A from the acquired image.例文帳に追加

欠陥候補検出部２０は、検査対象である光透過性フィルムＡを撮像し、得られた画像から光透過性フィルムＡの欠陥候補を検出する。 - 特許庁

When voltages, having mutually reverse polarities, are applied to a pair of electrodes 7, 8 of a base member 5, Coulomb force is induced between the electrodes 7, 8 and the inspection object 1.例文帳に追加

ベース部材５の一対の電極７、８に、互いに逆極性の電圧が印加されると、電極７、８と被検査物１との間にクーロン力が誘起される。 - 特許庁

In a substrate inspecting system, a line sensor 38 of a first scanning unit 30 scans an image of the inspection object plane of a substrate 2 viewed perpendicularly through a telecentric lens 40.例文帳に追加

基板検査システムにおいて、第１走査ユニット３０のラインセンサ３８は、テレセントリックレンズ４０を介して基板２の被検査面を垂直に見た映像を走査する。 - 特許庁

In a marking process, an ink 2 for visualizing by receiving irradiation of light having a specific wavelength is applied onto an inspection object 1 discriminated to have a failure in the primary discrimination process.例文帳に追加

マーキング工程では、一次判別工程で不良と判別された検査対象物１に、特定波長の光の照射を受けて可視化するインク２を塗布する。 - 特許庁

A gray scale image is rendered for a color component in the RGB color space or another color space and through the process of pattern recognition, the inspection object is detected.例文帳に追加

ＲＧＢ色空間の色成分または他の色空間の色成分のグレースケール画像を作成し、パターン認識の手法によって検査対象物を検出する。 - 特許庁

First of all, the inspection object is imaged by the imaging part 1, and then the position of the positioning mark is detected from the imaged image acquired by imaging by using the correct image.例文帳に追加

まず、撮像部１により検査対象物の撮像を行い、続いて、その撮像で得られた撮像画像から正解画像を用いて位置決めマークの位置を検出する。 - 特許庁

For example, the energization finish timing is determined following clocking after collision detection of the hammer 13 to the inspection object W, and an energization time to the solenoid 12 is regulated.例文帳に追加

例えば、被検査体Ｗに対するハンマ１３の衝突検出後の計時に従って通電終了タイミングを決定して、ソレノイド１２に対する通電時間を規制する。 - 特許庁

To further improve measurement accuracy of tailing, as compared with hitherto by visual observation of display of an inspection object, by applying a test signal generation device, especially in the evaluation of tailing.例文帳に追加

本発明は、テスト信号発生装置に関し、特に尾引きの評価に適用して、検査対象の表示の目視により従来に比して尾引きの測定精度を向上する。 - 特許庁

The parameter control part 5 sets the illuminance adjustment parameter toward the direction of lowering the illuminance in the illumination part 3, when the inspection object is detected in the image sensing part 2.例文帳に追加

パラメータ制御部５は、画像センシング部２において検出対象物が検出されると、照明部３での照度が低下する方向に照度調整パラメータを設定する。 - 特許庁

To provide a surface defect inspecting apparatus dispensing with the coordinates convertion in a detection system with respect to a rotationally symmetric object and capable of easily performing inspection.例文帳に追加

回転対称な対称物に対して検出系での座標変換を不要とし、検査を容易に行うことを可能とした表面欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

An inspection is performed on a leak between spaces S1 and S2 of an object to be inspected 1 equipped with the spaces S1 and S2 demarcated/partitioned by a partitioning part including a membrane 2.例文帳に追加

膜２を含む仕切り部により仕切られて画成された空間Ｓ１，Ｓ２を備えた被検査物１の、空間Ｓ１と空間Ｓ２との間のリークを検査する。 - 特許庁

A chamber 13 to be inspected is formed between the inside of the internal space 11 of an inspection object 10 and the outside of the temperature-sensitive member 60 composed of a material of favorable heat conduction.例文帳に追加

検査対象１０の内部空間１１の内面と良熱伝導材料からなる感温部材６０の外面との間に被検室１３を形成する。 - 特許庁

To provide a data processor which can easily and also efficiently detect a defect of a defect inspection object and brings about a reduction in the costs of the entire device.例文帳に追加

欠陥検査対象物の欠陥を容易に且つ効率的に検出することが可能であり、装置全体のコストダウンを図ったデータ処理装置を提供する。 - 特許庁

A pressing means 7 presses the belt from the inner circumferential side of the belt 6 toward the outer circumferential side thereof, and presses simultaneously the curved surface and the plane of the inspection object 2 by the flexible substrate 3.例文帳に追加

押圧手段７は、ベルト６の内周側から外周側に向かってベルトを押圧して、可撓性基板３を被検査体２の曲面と平面を同時に押圧する。 - 特許庁

To provide an electric inspection apparatus capable of surely achieving a contact of an object to be inspected with excellent reproducibility regardless of temperature of the moment, and to provide a method for inspecting the same.例文帳に追加

現在の温度に関係なく、確実にしかも優れた再現性で被験体の有接点式接触が実現されるようにする、電気検査装置を提供する。 - 特許庁