「inspection direction」に関連した英語例文の一覧と使い方(14ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a surface inspection device which can inspect foreign substances, defects or the like with uniform sensitivity without relying on the rotation angle of the primary scanning direction even if the intensity of scattered light which is generated from the foreign substances, defects or the like which are present on or near the surface of a semiconductor wafer has an anisotropic property of being dependent on an illumination direction.例文帳に追加

半導体ウェハ表面や表面近傍に存在する異物や欠陥等に由来して発生する散乱光の強度が照明方向に依存する異方性を有する場合であっても主走査方向の回転角に依存せずに均一な感度で異物や欠陥等の検査が可能な表面検査装置を実現する。 - 特許庁

When inspection units 12a-12d displace a detection block 102 in the direction of an arrow Z via an adaptor 104 in a state where reference units 16a-16d of the products are in contact with positioning bolts 38a-38d, the displacement is amplified by a link member 78 and is converted to displacement in the direction of an arrow X in the displacement block 68.例文帳に追加

製品の基準部１６ａ〜１６ｄが位置決めボルト３８ａ〜３８ｄに当接した状態において、検査部１２ａ〜１２ｄがアダプタ１０４を介して検知ブロック１０２を矢印Ｚ方向に変位させると、その変位がリンク部材７８によって増幅され、変位ブロック６８の矢印Ｘ方向に対する変位に変換される。 - 特許庁

A plurality of lens array substrates 20 are integrally formed into a large-size substrate 20' so that a substrate supply device 2000 carries the large-size substrate 20' to an inspection position 2020 in the X-axial direction to detect one lens array substrate 20 and then moves the large substrate 20' in the X-axial or Y-axial direction to inspect another lens array substrate 20.例文帳に追加

レンズアレイ基板２０は大型基板２０′に複数枚、一括して形成されているので、基板供給装置２０００は、大型基板２０′を検査位置２０２０までＸ軸方向に搬送して１つのレンズアレイ基板２０に検査した後、大型基板２０′をＸ軸方向やＹ軸方向にずらして別のレンズアレイ基板２０について検査する。 - 特許庁

The electrode pattern inspection device 500 makes a current flow to the plurality of electrode parts 26a, acquires a change form along the one direction (a circumferential direction of the toner carrying roller 17) of the strength of a magnetic field on the plurality of electrode parts 26a, and determines whether each of the plurality of electrode parts 26a is normal or abnormal on the basis of the change form.例文帳に追加

電極パターン検査装置５００は、複数の電極部２６ａに電流を流して、当該複数の電極部２６ａ上における磁界の強さの上記一方向（トナー担持ローラ１７の周方向）に沿う変化態様を取得して、当該変化態様に基づいて複数の電極部２６ａのそれぞれが正常又は異常であるか判定する。 - 特許庁

This pattern inspection/measurement device is structured such that a secondary signal converging lens 69 is installed at a position of the crossover in the traveling direction of the primary electron beam, or on a path of a separated secondary signal by causing the secondary signal to spatially separate the primary electron beam by a Wien filter 18.例文帳に追加

二次信号収束用レンズ６９を、前記一次電子線の進行方向上クロスオーバの位置に、若しくはウィーンフィルタ１８により二次信号が前記一次電子線を空間的に分離させ、分離された二次信号の進路上に設置する構成とする。 - 特許庁

Thus, without being affected by the change of fringe contrast due to the change of illumination intensity and the change of light reflectance at the surface of an inspection object, a fringe characteristic quantity including the fringe direction can be calculated and so the fringe can be exactly detected.例文帳に追加

したがって、照明強度の変化や検査対象物の表面における光反射率の変化による縞コントラストの変化の影響がなく、縞の向きを含めた縞特徴量を算出することができ、縞を正確に検出することが可能となる。 - 特許庁

For enabling such a device to easily and interactively change the direction of the slice image at treating time, an adjusting means 13 is arranged in a part projecting from the subject inspected after being inserted into the inspection subject among the medical instrument 12.例文帳に追加

かかる装置が、処置中にスライス画像の向きを簡単且つ相互作用的に変更させることを可能とするために、医用器具１２のうちの検査される対象に挿入した後に検査される対象から突出する部分に調整手段１３が設けられる。 - 特許庁

Prior to inspection, the normal line direction histogram of the whole of the surface to be inspected is formed using CAD data which shows the surface shape of the work W as the aggregate of triangular planes and a plurality of imaging directions are determined on the basis of the distribution state of the histogram.例文帳に追加

検査に先立ち、ワークＷの表面形状を三角平面の集合体として表したＣＡＤデータを用いて、被検査面全体の法線方向ヒストグラムを作成し、そのヒストグラムの分布状態に基づき複数の撮像方向を定める。 - 特許庁

The transfer apparatus 11 holds the CCFL37 in the diametral direction with holding parts 30, 31 being a holding means, and inspects whether the CCFL37 is electrically conductive or not via the CCFL37 while holding the CCFL37, by the holding parts 30, 31 being an inspection means.例文帳に追加

移載装置１１は、把持手段である把持部３０，３１によって、ＣＣＦＬ３７を直径方向に挟んで把持し、検査手段である把持部３０，３１によって、ＣＣＦＬ３７を把持した状態で、ＣＣＦＬ３７を介して電気的に導通するか否かを検査する。 - 特許庁

In the inspection method, a correction component cancelling a double refraction characteristic of the optical compensation layer in the component to be tested is used and a line sensor is arranged such that a light-receiving element row is inclined to a conveyance direction of the component to be tested.例文帳に追加

前記被検査部材の光学補償層の複屈折特性を相殺する補正部材を用い、かつ、ラインセンサを用い、このラインセンサを、前記被検査部材の搬送方向に対して受光素子列を傾斜して配置することにより、前記課題を解決する。 - 特許庁

The sensor is equipped with a plurality of bar-shaped ferromagnetic material cores mutually separately at fixed intervals in the running direction of the inspection material, and the search coil is wound on each pair of adjacent bar-shaped ferromagnetic material cores by differential connection.例文帳に追加

そのセンサは、前記強磁性体コアを、棒状で、前記被検査材の走行方向に一定間隔で互いに離隔して複数個備えるようにし、且つ該棒状の強磁性体コアの隣り合うもの同士に、前記サーチコイルを差動接続で巻回させるものである。 - 特許庁

To provide an X-ray CT apparatus capable of radiographing a scanogram image of only one direction prior to the main scanning of a testee body, using it and easily executing an X-ray CT inspection under an appropriate radiographing condition from the viewpoints of image quality and an exposure dose.例文帳に追加

被検体の本スキャンに先立って１方向のみのスキャノグラム画像を撮影しそれを用いて、画質と被曝線量の観点から適正な撮影条件でのＸ線ＣＴ検査を容易に行うことのできるＸ線ＣＴ装置を実現する。 - 特許庁

To enhance the determination precision of quality by preventing the recognition of a recessed part as a flaw when the recessed part is present in the region not related to the capacity as a direction changeover valve of a land part in automating the inspection of the spool hole of a cylinder block.例文帳に追加

シリンダブロックのスプール孔検査を自動化するに当って、ランド部のうち、方向切換弁としての性能に関係のない部位に凹部が存在している場合に、それを欠陥として認識するのを防止することにより、良否の判定精度が向上する。 - 特許庁

The workpiece inspection device includes a support stand 17 for supporting a carrier tape unit U having the carrier tape 10, and an oscillating mechanism 18 for correcting the posture of the workpieces W stored in the pocket 11 of the carrier tape 10 to the normal posture by imparting the oscillation in the horizontal direction to the support stand 17.例文帳に追加

キャリアテープ１０を有するキャリアテープユニットＵを支持する支持台１７と、この支持台１７に水平方向の振動を付与してキャリアテープ１０のポケット１１に収容されるワークＷを正規姿勢に修正する振動機構１８とを備える。 - 特許庁

When changing a direction of a centrifugal force applied to the inspection chip 1 is changed, a stepping motor 51 is rotated as much as prescribed rotation, and a projection 70 of a cam plate 59 is slid along a groove part 80 of a T-shaped plate 48, to thereby move vertically the T-shaped plate 48.例文帳に追加

検査チップ１に対してかかる遠心力の方向を変更する場合には、ステッピングモータ５１が所定回転だけ回転して、カム板５９の突起７０がＴ型プレート４８の溝部８０を摺動してＴ型プレート４８が上下動する。 - 特許庁

In an electric dust collecting unit, the direction of needle electrodes 11, 11,... is set laterally with respect to an opening part to prevent danger such that the finger of a worker is injured by the needle electrodes at a time of the replacing work or maintenance and inspection work of the dust collecting unit to ensure safety.例文帳に追加

開示される電気集塵ユニットでは、 ニードル電極１１，１１，…の向きが開口部に対して、横向きにされているので、集塵ユニットの交換作業時や保守点検作業時に、作業者の指等が針で刺される危険を防止でき、安全である。 - 特許庁

Then the control device 6 rotates the sample 3 on the basis of a set angle α for inspection between the scanning directions X, Y (coincident with reference coordinates) of the electron beam inputted by an input device 10 and the align direction of the contact hole group to be inspected.例文帳に追加

その後、制御装置６は、入力装置１０によって入力された電子ビームの走査方向Ｘ，Ｙ（基準座標に一致）と、検査すべきコンタクトホールが整列された方向との間の検査時の設定角度αに基づいて、試料３を回転させる。 - 特許庁

To provide an inspection method of an optical film capable of accurately inspecting the defects of an optical film including a liquid crystal film, satisfying Re≤20 nm and |Rth|≥20 nm, when an in-plane phase difference is set to Re and a phase difference in the thickness direction is set to Rth.例文帳に追加

面内位相差をＲｅ、厚さ方向の位相差をＲｔｈとしたとき、Ｒｅ≦２０ｎｍかつ｜Ｒｔｈ｜≧２０ｎｍを満たす液晶フィルムを含む光学フィルムの欠陥の検査を的確に行うことができる光学フィルムの検査方法を提供する。 - 特許庁

In a sizing process, deformation processing is applied to a steel pipe electro-resistance-welded having a circular section in a direction wherein a fine defect in the weld is enlarged by sizing rolls for the deformation processing, and ultrasonic flaw inspection of the weld is performed in this state.例文帳に追加

サイジング工程の中で、電縫溶接された断面が円形の鋼管を、変形加工用のサイジングロールにより溶接部の微少な欠陥が拡大する方向に変形加工を施し、この状態で溶接部の超音波探傷検査を行うようにした。 - 特許庁

To prevent a fault of chipping off a side wall member as an end surface head end of a vane is caught on a terminal end wall of a discharge port, even if a rotor inversely rotates against the original rotating direction of a pump by air pressure at the time of removing oil by compressed air after performance inspection.例文帳に追加

性能検査後の圧縮エアによる油抜き時に、エア圧によってロータがポンプ本来の回転方向と逆方向に回転しても、ベーンの端面先端が吐出ポートの終端壁に引っかかって、側壁部材を削り取る不具合を防止する。 - 特許庁

An optical inspection device 13 is set respectively at the traveler 2 and the controller 3 and when it detects obstacles on the forward direction of each supporting arm, the controller 3 will control a driving motor 9, 10 so as to invert and elect the hook 7 and the supporting arms 4.例文帳に追加

走行部２と制御部３には、光学的検知装置１３を夫々設け、各支持アーム４の進行方向側の障害物を検知したら、制御部３は各フック部７及び支持アーム４を転倒、起立動作させるように駆動モータ９，１０を制御する。 - 特許庁

To provide a pipe inspecting apparatus capable of sufficiently inspecting a reduction degree of wall thickness up to a lower stage pipe without performing inspection incidental work such as the laying of a rail or the like even if heat exchanger pipes are zigzag arranged in an up and down direction or curved.例文帳に追加

上下方向に千鳥配列された熱交換器管であっても、また、たとえ、その熱交換器管が湾曲していても、レールの敷設などの検査付帯作業を行うことなしに下段管まで減肉程度が十分検査できる管検査装置を提供すること。 - 特許庁

To provide an ultrasonic sensor which is usable in industrial fields and improves the inspection performance in a bevel direction by expanding the directivity per element without deteriorating the sensitivity of the entire sensor, and to provide a manufacturing method of the ultrasonic sensor.例文帳に追加

本発明の目的は、工業分野で使用可能であり、センサ全体として感度を低下させることなく、一素子あたりの指向性を広げることにより斜角方向の検査性能を向上させた超音波センサ及びその製造方法を提供することにある。 - 特許庁

By a laser irradiation means 30, a laser slit beam having a beltlike light cross section extended to a direction of an interval between adjacent flaps is irradiated obliquely with respect to a flap face at an inspection object region including the interval between the flaps and flaps on both sides of it.例文帳に追加

レーザー照射手段３０は、フラップ同士の隙間とその両側のフラップとを含む検査対象領域に、隣接するフラップ同士の間隔方向に延びる帯状の光断面を有するレーザースリット光を、フラップ面に対して斜めから照射する。 - 特許庁

The bodies of a photovoltaic simulator having a detector and a solar cell inspection device are sealed spaces having an irradiation port, and a luminous body is provided to emit a first light flux by an angle facing the direction of the irradiation port in the sealed spaces.例文帳に追加

本発明の検出装置を有する太陽光シミュレータ及び太陽電池検査装置の前記本体は照射口を有する密閉空間であり、前記密閉内には照射口の方向に向けた角度で第１光束を放出するための発光体を設置する。 - 特許庁

The inspection apparatus 10 includes: a camera 11 for photographing an oral part 2 of a bottle 1 which is the object to be inspected, through the fisheye lens 15 in the axial direction; and a cylindrical mirror 12 which is disposed between the fisheye lens 15 and the bottle 1 so as to be coaxial with the oral part 2.例文帳に追加

検査対象物としてのボトル１の口部２を軸線方向から魚眼レンズ１５を介して撮像するカメラ１１と、魚眼レンズ１５とボトル１との間にて口部２と同軸的に配置される円筒ミラー１２とを検査装置１０に設ける。 - 特許庁

An inspection device 10 is constituted so that a solid elastomer 22 is pressed from above by a pressing jig 23 to be deformed outward in its diametric direction and static water pressure is allowed to act on a magnet 100 falsely to inspect the occurrence of a crack in the magnet 100.例文帳に追加

検査装置１０では、押し冶具２３で中実の弾性体２２を上方から押し、径方向外側に変形させることによって、磁石１００に静水圧を擬似的に作用させ、これによって磁石１００のクラックの発生の有無を検査できるようにした。 - 特許庁

The blocking member 3 is formed so that the inner surface thereof has substantially the same curved surface as the inner surface of the longitudinal pipe body 2, and two guide rails 4, 4 disposed in the same direction along the outer peripheral surface of the longitudinal pipe body 2 are attached to the peripheral edge of the inspection hole 21.例文帳に追加

閉塞部材３はその内面が縦管本体２の内周面と略同一曲面をなすように形成され、点検孔２１の周縁部には縦管本体２の外周面に沿って同一方向に配置された２本のガイドレール４，４が添設されている。 - 特許庁

In the covering-material color inspection method in which the color of the covering material is inspected, the covering material is divided into a plurality of regions in its width direction, a wavelength of a color in one pixel in each region is measured, and a frequency distribution of wavelength measured values in each region is found.例文帳に追加

外装材の色調を検査する外装材色調検査方法であって、外装材を幅方向に複数領域に分割し、各領域における１画素毎の色の波長を計測し、各領域毎に波長計測値の度数分布を求める。 - 特許庁

To enable inspection with reduced influence of vibration that supports size increase of an object, in an image capturing device in which a deflection part for deflecting the light from an object, in a substantially horizontal direction and an imaging part for receiving the deflected light are supported horizontally.例文帳に追加

被検体からの光を略水平方向に偏向する偏向部と偏向された光を受光する撮像部とが水平支持された画像取込装置において、被検体の大型化に対応し、振動の影響を低減した検査を行うことができるようにする。 - 特許庁

When the inspection of one track is finished, a 2nd jump signal JUMP2 is outputted by a 2nd jump signal generating circuit 46 to the actuator 28 in accordance with the instruction for jump from the measuring device 50, then the irradiating position with the laser beam is jumped by the amount of one track to the outside in the radial direction.例文帳に追加

１トラックの検査終了時に、第２ジャンプ信号発生回路４６が、計測装置５０からのジャンプ指令により、第２ジャンプ信号JUMP2をトラックアクチュエータ２８に出力して、レーザ光の照射位置を径方向外側に１トラック分だけジャンプさせる。 - 特許庁

Since a shutter 41 area can be increased by increasing the number of the divided plates 43 without changing an area of each divided plate 43, even when an area of the inspection window is enlarged, the operation space of the shutter in a vertical direction does not increase.例文帳に追加

また、覗き窓の面積を大きくした場合であっても、一枚一枚の分割板４３の面積は変化させずに分割板４３の数を増加させてシャッター４１面積を増加させることができるため、シャッターの上下方向の作動スペースは増加しない。 - 特許庁

Then, a return light receiving part 22 receives the return light of the inspection light caused at each longitudinal position of the optical fibers 11 to 14 via the optical coupler 24, and evaluates the distribution of the return light characteristic information in the longitudinal direction of the optical fibers 11 to 14.例文帳に追加

そして、光ファイバ１１〜１４の長手方向の各位置において生じる検査光の戻り光を、光カプラ２４を経て戻り光受信部２２により受光し、光ファイバ１１〜１４の長手方向における戻り光の特性情報の分布を評価する。 - 特許庁

The surface inspection device is constituted so that two polarizing elements different in a polarizing direction are respectively provided to an illumination light path and a light detection path in a polarizing observation state and the pattern of a substrate to be inspected is obliquely set with respect to the vibration surface of illumination light.例文帳に追加

本発明の表面検査装置は、偏光観察状態では、偏光方向の異なる２つの偏光素子を照明光路と受光光路にそれぞれ設け、照明光の振動面に対して被検基板のパターンを斜め向きに設定する。 - 特許庁

The omnidirectional flaw detection probe related to the present invention allows thereby at once the execution of the flaw detection inspection in the area of 360° along a circumferential direction of a normal, and of 0-90° as an angle formed with respect to the normal, as to the normal on an opposed face of the specimen.例文帳に追加

これにより、本発明に係わる全方位探傷プローブでは、被検体の対向面の法線に対して、法線の周方向に３６０°、法線とのなす角度にして０°から９０°の領域における探傷検査を１回で実施することができる。 - 特許庁

For flaw detection of a hub bearing (inspection object) 1, the handle 6a is manually operated to move the brush 6b in the one direction, the brush 6b is brought into contact with a shaft end 1a to remove foreign matter such an air bubble and dust, and then ultrasonic flaw detection is performed from the side of the shaft end 1a.例文帳に追加

ハブ軸受（被検査体）１の探傷時には、取っ手６ａを手動操作することで刷毛６ｂを一方向に移動し、刷毛６ｂを軸端１ａに接触させて気泡やゴミなどの異物を除去し、その後、軸端１ａ側から超音波探傷を行う。 - 特許庁

In this defect inspection apparatus 10, the surface S of a workpiece W is scanned repeatedly in different parts of the workpiece by using a beam of light which forms a scanning region having a cross-scan dimension 26 perpendicular to an in-scan dimension 24 parallel to its scanning direction.例文帳に追加

本発明の欠陥検査装置１０は、ワークピースＷの表面Ｓに、走査方向に平行なインスキャン次元２４と垂直なクロススキャン次元２６を有する走査領域を形成する光線を使って、該ワークピースの異なった部分を繰り返し走査する。 - 特許庁

Part of the solder connections 23M and 23S (inspection target portions 25M and 25S) extending from the terminal connections 21M and 21S which are on a side closer to the circuit board P is arranged at positions deviated, in a width direction, from the terminal connection 21L which is on a side further from the circuit board P.例文帳に追加

回路基板Ｐに近い側の端子接続部２１Ｍ，２１Ｓから延出する半田接続部２３Ｍ，２３Ｓの一部（検査対象部２５Ｍ，２５Ｓ）は、回路基板Ｐから遠い側の端子接続部２１Ｌに対し幅方向へ外れた位置に配置されている。 - 特許庁

In the wavefront aberration inspection apparatus, a position in the horizontal direction of the optical pickup is adjusted to minimize the tilt component of a phase wavefront of light emitted from the optical pickup detected by the wavefront aberration detection means, to measure the wavefront aberration of the light emitted from the optical pickup.例文帳に追加

波面収差検出手段により検出された、光ピックアップ出射光の位相波面のチルト成分を最小とするように、光ピックアップの水平方向の位置調整を行い、光ピックアップ出射光の波面収差を測定する、波面収差検査装置。 - 特許庁

Where the period referred to in subsection (1) is extended under section 100, the relevant document shall not be, or, if the period is extended after it has expired, shall cease to be, open to public inspection until the expiry of the extended period, and if a request for a direction is made the relevant document shall not be open to public inspection while the matter is being determined by the Registrar. 例文帳に追加

(1)にいう期間が第100条に基づいて延長される場合は，当該延長期間の満了まで，関連書類は公衆の閲覧に供さず，又は当該期間が満了した後に延長される場合は，延長期間の満了まで，公衆の閲覧に供することを停止し，また指示の請求がなされる場合は，関連書類は，当該事項が登録官により決定されつつある間は公衆の閲覧に供さない。 - 特許庁

The inspection device 1 includes illuminators 10, having plural light sources arranged in parallel with a long side 2a of PTP sheet 2, and irradiating the PTP sheet 2 with illumination light from the light sources in the direction inclined to the long side 2a when viewed from the direction perpendicular to the PTP sheet 2 and a camera 11 for imaging the illuminated PTP sheet 2.例文帳に追加

ＰＴＰシート２の長辺２ａと平行な方向に配列された複数の光源を有し、ＰＴＰシート２と直交する方向から見たときに、各光源から長辺２ａに対して斜めに傾いた方向の照明光をＰＴＰシート２に照射する照明器１０と、照明されたＰＴＰシート２を撮像するカメラ１１とを検査装置１に設ける。 - 特許庁

The inspection device 15 comprises a CCD camera for imaging a lamp 1 of which an outer dent of a lead wire projected out of a tip end of a valve is folded to the lamp 1, a first irradiation means 20 irradiating parallel light parallel to an imaging direction, and a second irradiation means 21 crossing in the imaging direction and irradiating stronger light than the first irradiation means 20.例文帳に追加

検査装置１５は、バルブの先端から突出したリード線の外出部が、シール部へと折り返されたランプ１に対して、該ランプ１を撮像するためのＣＣＤカメラと、撮像方向と平行な平行光を照射する第１照射手段２０と、撮像方向に交差し第１照射手段２０より強い光を照射する第２照射手段２１とを備えている。 - 特許庁

To provide a medium verification device for presenting not only comparative verification by visual inspection but objective auxiliary information for verification in short period of time to raise verification accuracy in verification of a verification medium having images comprised of optical members with characteristics that texture and/or colors change according to the observation direction and/or the illumination direction.例文帳に追加

観察方向および／または照明方向により図柄および／または色彩が変化する特性を有する光学部材で構成される画像を有する検証媒体の検証において、目視による比較検証だけではなく、検証のための客観的な補助情報を短時間で提示し、検証精度を上げることが可能な媒体検証装置を提供する。 - 特許庁

To provide a defective marking apparatus capable of detecting defects of long, sheet-like products being transferred in a length direction by an inspection device, marking detected defective parts without damaging the sheet-like products, and easily removing or repairing the defective parts in after processes.例文帳に追加

長さ方向に搬送される長尺のシート状製品の欠陥を検査装置により検出し、検出された欠陥部分にシート状製品に損傷を与えることなくマーキングを施し、後工程において容易に欠陥部分の除去又は補修をすることができる欠陥マーキング装置を提供する。 - 特許庁

Specifically, the image inspection apparatus includes: a work table 2 having a panel mounting unit on which the display panel is mounted; a camera module 1 which is disposed in a direction normal to the panel mounting unit and which has the plurality of cameras arranged in a matrix; and a processor 3 for processing panel images photographed by the camera.例文帳に追加

より詳細には、表示パネルが装着されるパネル装着部を有する作業台２と、前記パネル装着部の法線方向に位置し、行列状に配置された複数のカメラを含むカメラモジュール１と、前記カメラが撮影したパネル画像を処理する処理装置３とを備える。 - 特許庁