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information defectの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 913



例文

A position in the material roll before the optical films F11, F21 bonded to the optical display unit W are cut is specified based on the panel information corresponding to the optical display unit W of the optical display device determined by the inspection of an inspecting apparatus 30 that a defect exists, and the roll information coordinated to the panel information.例文帳に追加

検査装置30の検査により欠点があると判断された光学表示装置の光学表示ユニットWに対応するパネル情報と、当該パネル情報に対応付けられたロール情報とに基づいて、当該光学表示ユニットWに貼り合せられている光学フィルムF11,F21が切断される前のロール原反における位置を特定する。 - 特許庁

By adding linear replacement control (LRC) bits to an SDL (secondary defect list) entry in order to distinguish defective block information listed in the SDL entry according to a linear replacement algorithm from defective block information listed in the SDL according to a skipping algorithm, the optical recording medium recording/reproducing device transmits correct information to a host.例文帳に追加

リニア交替アルゴリズムに従ってSDLエントリにリストされた欠陥ブロック情報と、スキッピング・アルゴリズムに従ってSDLエントリにリストされた欠陥ブロック情報とを区別するために、リニア交替制御(LRC)ビットを2次欠陥リスト(SDL)エントリに追加し、これによって光記録媒体記録/再生装置が、ホストに正しい情報を送信できるようにする。 - 特許庁

This inspection method has a process S3 for extracting reference pattern information of an inspection object, a process S4 for forming a two-dimensional Fourier transform filter for canceling the reference pattern information based on the reference pattern information, and a process S5 for inspecting a defect pattern other than a reference pattern of the inspection object by using the two-dimensional Fourier transform filter.例文帳に追加

また、検査方法において、検査対象物の基準パターン情報を抽出する工程(S3)と、基準パターン情報に基づき、この基準パターン情報をキャンセリングする二次元フーリエ変換フィルタを形成する工程(S4)と、二次元フーリエ変換フィルタを使用し、検査対象物の基準パターン以外の欠陥パターンを検査する工程(S5)とを備える。 - 特許庁

At retry time, prescribed improvement processing is executed in periods GS to GE in such a manner that the periods HS to HE (or a period (y)) of defect signals included in an RF signal are included based on the position information of the data having an error in retrying and that the defect processing signal G is generated only in the periods GS to GE prior to the start of the period.例文帳に追加

本発明では、リトライ時に、誤りのあるデータの位置情報に基づき、RF信号に含まれる欠陥信号の期間HS〜HE(あるいは期間y)を含むように、かつ、その期間が開始される前に欠陥処理信号Gが期間GS〜GEだけ生成され、そのGS〜GEの期間所定の改善処理が実行される。 - 特許庁

例文

A write once type recording medium (100) has a data area (108) for recording recording data, and shared areas (104, 105) for temporarily recording defect management information (120) including save data as recording data that are to be recorded or have been recorded in a place where a defect exists in the data area, and a saved address and a saving address of the save data.例文帳に追加

追記型記録媒体(100)は、記録データを記録するデータエリア(108)と、データエリアにおけるディフェクトが存在する場所に記録すべき又は記録された記録データである退避データと、退避データの退避元アドレス及び退避先アドレスを含んでなるディフェクト管理情報(120)と、を一時的に記録する共用エリア(104、105)とを備える。 - 特許庁


例文

To provide a method of manufacturing semiconductor device which is suitable for improvement in the information storing characteristic of a semiconductor device such as DRAM and SRAM or the like through reduction of a junction leak current resulting from a defect, by processing vacant hole defect remaining in the source-drain diffusing layer.例文帳に追加

ソース・ドレイン拡散層に残留する空孔欠陥に対する処理を行うことにより、欠陥起因の接合リーク電流を低減する半導体装置の製造方法を提供し、これによってDRAMやSRAM等の半導体記憶装置の情報保持特性を向上させるために好適な半導体装置の製造方法を提供する。 - 特許庁

When the detecting unit 19 detects the defect of the display unit 20, the control unit 13 controls a sound generating unit 15 to broadcast the operation information indicating the operation contents of the operating unit 18 of the user by sound.例文帳に追加

制御部13は、検出部19によって表示部20の不良が検出された場合に、音声発生部15を制御してユーザによる操作部18の操作内容を示す操作情報を音声によって報知する。 - 特許庁

Based on the information G1 and G2, areas S1 and S2 of a shaded portions are calculated, and the three-dimensional shape defect level is roughly determined based on a ratio S3 of a difference calculated by S3=(S2-S1)/S1.例文帳に追加

情報G1、G2に基づいて陰影部の面積S1、S2を算出し、S3=(S2−S1)/S1により算出した差分の割合S3に基づいて三次元形状欠陥レベルの概略の判定を行う。 - 特許庁

This recording medium stores information, showing whether linear replacement defect management for replacing defects on the recording medium with data in a margin area so as to record real-time data in a recording area.例文帳に追加

本発明の記録媒体は記録領域にリアルタイムデータを記録するために、記録媒体上の欠陥を余裕領域のデータに置換する線形置換欠陥管理を使用するかどうかを示す情報を貯蔵する。 - 特許庁

例文

When entering is not permitted, as an operation history inside the system, collation NG factor analysis information ('out of validity of card', 'no coincidence of password number' and 'read defect of personal ID') is written on the IC card 1.例文帳に追加

入室の許可を与えない場合、システム内での動作履歴として、照合NG原因分析情報(「カード有効期限切れ」、「暗証番号の不一致」、「個人IDの読み取り不良」など)をICカード1へ書き込む。 - 特許庁

例文

In the image forming wherein an inputted image is subjected to image treatment, and outputted, analyzing information to analyze a defect of an image in association with the outputted image is recorded.例文帳に追加

入力された画像に画像処理を施して出力する画像形成において、前記出力する画像に対応付けして、画像の不具合を解析できる解析情報を記録することにより、前記課題を解決する。 - 特許庁

Defect inspection based upon whether data synchronism can be detected is carried out by using a data synchronizing signal 52 which is longer by fluctuation in rotation before and after a data synchronizing signal 52 in normal reproduction of recording information including its retrial.例文帳に追加

リトライを含む通常の記録情報の再生時のデータ同期信号52よりも前後に回転変動分だけ長いデータ同期信号57を使用してデータ同期検出の可否に基づく欠陥検査を実施する。 - 特許庁

To continuously manufacture an image display apparatus employing a roll sheet, which is a roll of an optical film where defect information is printed as markings, and which hardly causes defects due to transfer of irregular deformation in the marking regions.例文帳に追加

欠点情報がマーキングとして印字された光学フィルムが巻回されており、該マーキング部位の凹凸変形の転写による欠陥が生じにくいロール原反を用いて画像表示装置を連続的に製造する。 - 特許庁

The host processor (30) preferably performs a software program that processes the time correlated growth defect information to measure any changes in the number of growth defects that are occurring as a function of time.例文帳に追加

ホスト処理装置(30)は、時間に応じて発生している成長欠陥の数の変更を測定するために、時間と関連付けられた成長欠陥の情報を処理するソフトウェア・プログラムを実行することが好ましい。 - 特許庁

In correcting a defect in a local object in an image, the object is detected and the detection information of the detected object and the image of the object before the correction are homologized and stored.例文帳に追加

画像中の局所的な対象における不具合を修正するにあたってその対象を検出し、検出された対象の検出情報と、その対象が修正される前の画像とを対応付けて保存する。 - 特許庁

To provide a system and display method for recording information display which can investigate the cause of an accident occurring to a plant and lighten the burden on an operator who investigates the cause of a quality defect of a product.例文帳に追加

プラントに発生した事故原因の究明や、生産品の品質不良原因の究明等に要する操作者の負担を減らすことができる記録情報表示システム及び記録情報表示方法を提供する。 - 特許庁

Therefore, erroneous discrimination in the relative moving direction between an information reading beam and a recording medium caused by defect is previously prevented, and braking operation can be surely performed at the time of pulling in a tracing loop.例文帳に追加

したがって、欠陥に起因する情報読取ビームと記録媒体との相対的な移動方向の誤判別を未然に防止することとなり、トラッキングループへ引き込む際の制動動作を確実に行うことができる。 - 特許庁

To prevent defect in performance for handling of AV data by detecting performance required for using a magnetic disk to use AV data with arbitrary accuracy by using only information through a general purpose interface.例文帳に追加

AVデータを扱う用途で磁気ディスクを使用するために必要な性能を、任意の精度で、かつ汎用インターフェースを介した情報のみを用いて検出可能とし、AVデータを扱う上での性能欠陥をなくす。 - 特許庁

Information related to a solid geometric shape of the defect D can be obtained even be the single electron beam detector by calculations with the use of a plurality of detection signals of the obtained secondary electron beams.例文帳に追加

そして、得られた二次電子線の複数の検出信号を用いて演算することにより、単一の電子線検出器を用いても、欠陥Dの立体的な幾何学的形状に関する情報を取得できる。 - 特許庁

To provide an image processing device capable of suppressing an image quality defect caused by a droop phenomenon relating to a semiconductor laser based on pulse width information indicating the pulse width of laser light emitted by the semiconductor laser.例文帳に追加

半導体レーザから発光されたレーザ光のパルスの幅を示すパルス幅情報に基づき、当該半導体レーザにかかわるドループ現象による画質欠陥を抑制することのできる画像処理装置を提供する。 - 特許庁

In order to properly extract defect information from an inspection apparatus, a filtering function and a sampling function are prepared as a unit, and the defects as objects to be observed are narrowed down and extracted automatically by combining them.例文帳に追加

検査装置からの欠陥情報を適正に抽出するために、フィルタおよびサンプリング機能をユニット化して用意しておき、これらの組合せによって観察対象欠陥の絞込み抽出を自動的に行う。 - 特許庁

A latch circuit 11 outputs defect address information, which represents the address of a memory of malfunction, to an address line 15 in a period in which a signal ϕ1 is in an H level, and keeps output in high impedance in a period other than the above-period.例文帳に追加

ラッチ回路11は、機能不良となったメモリセルのアドレスを表す不良アドレス情報を信号φ1がHレベルの期間でアドレス線15に出力し、それ以外では出力を高インピーダンスに保つ。 - 特許庁

To provide a printing quality inspection device which performs an inspection of the printing quality state of a sheet on which printing has been applied, eliminates defective sheets, and at the same time, can print the defect information in a margin region of the defective sheet.例文帳に追加

印刷が成されたシートの印刷品質状態の検査を行い、不良シートを排除するとともに、不良シートの余白領域に欠点情報を印字することができる印刷品質検査装置を得る。 - 特許庁

To provide a defect analysis support system for a game machine, capable of easily and accurately analyzing the defects of the game machine by making various kinds of information relating to the game machine referrable.例文帳に追加

遊技機に関する各種の情報を参照可能とすることで、この遊技機の不良解析を容易かつ正確に行うことを可能にする、遊技機の不良解析支援システムを提供すること等を課題とする。 - 特許庁

To provide a fault monitoring circuit, a semiconductor integrated circuit and a faulty part locating method for surely transmitting defect information to a circuit for holding a system in a safe state, and for securing safety as the system.例文帳に追加

故障情報がシステムを安全な状態に保つ回路まで確実に伝達され、システムとしての安全性を確保できる障害監視回路、半導体集積回路及び故障個所特定方法を提供すること - 特許庁

On the other hand, defect places are detected by the inspecting device and the inspecting technique, such that the circuit are driven belonging to the element substrate by the electromotive force concerned and information is monitored belonging to electromagnetic wave or electrical field generated in the circuit concerned.例文帳に追加

そして、該起電力を用いて素子基板が有する回路を駆動し、該回路で生じた電磁波または電界の有する情報をモニターすることで欠陥箇所を検出する検査装置または検査方法。 - 特許庁

To provide an analysis method for dynamic computed tomography to detect a latent defect in the heart of a patient, which can show an illustration for easier correlation of actually obtained values with anatomical information.例文帳に追加

患者の心臓の潜在的欠陥を検出する多時相計算機式断層写真法解析手法において、解剖学的情報に対して実測値を相関付けることを容易にする表現を形成する。 - 特許庁

The decoder is provided with an inner decoder (234), an outer decoder (256), and a defect detector (230) which calculates the moving average of a soft input signal, obtains a scaling coefficient therefrom, and operates the reliability information of the inner decoder (234).例文帳に追加

内復号器(234)と、外復号器(236)と、軟入力信号の移動平均値を計算し、これからスケーリング係数を得て、内復号器(234)の信頼度情報を操作する欠陥検出器(230)を設ける。 - 特許庁

In the write once medium, defect alternative and data rewriting are realized without preparing a fixed alternative area, by using a selected area such as an additional writing point in the main data area as an alternative destination area, allowing judgment of recorded/unrecorded of an address of writing request object by means of continuously recorded range information, and integrally mixing the alternative management information for the defect alternative and data rewriting.例文帳に追加

ライトワンスメディアにおいて、主データ領域内で追記ポイント等、選択した領域を交替先領域として用いること、また書込要求等の対象のアドレスについて連続記録範囲情報によって記録済/未記録を判断できるようにすること、さらに欠陥交替およびデータ書換のための交替管理情報を統合して混在させるようにすることで、固定の交替領域を設けなくとも、欠陥交替およびデータ書換を可能とする。 - 特許庁

To provide a development processor where, even in the case the operations to be required are unclear owing to the deficiency of information, troubles caused by the defect of maintenance do not occur by allowing a man in charge of maintenance to rapidly and securely perform suitable operations.例文帳に追加

情報不足などにより必要な作業がわかりにくい場合でも、メンテナンスマンには適切な作業を迅速かつ確実に行わせることにより、メンテナンス不良によるトラブル発生の起きない現像処理装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit which is provided with a defect relieving circuit which makes it possible to perform relief of timing failure in every specific circuit to be specified by address information and in which relieving efficiency is enhanced while maintaining a high speed operation and a relieving method.例文帳に追加

アドレス情報により指定される特定回路毎のタイミング不良を可能とし、高速化を維持しつつ救済効率を高めた欠陥救済回路を備えた半導体集積回路装置と救済方法を提供する。 - 特許庁

Using the positioning mark as reference, an image by the image quality evaluation device and an image by the correction device are overlapped, and thereby the positional information of the defect required to be corrected by the correction device can be accurately obtained.例文帳に追加

位置合わせ用マークを基準として像質評価装置による画像と修正装置による画像とを重ね合わせることによって、修正装置において修正すべき欠陥の位置情報を正確に把握することができる。 - 特許庁

To easily recognize a chapter mark in a summary copy where a unit page is generated from a plurality of sets of original image information and to eliminate a defect attended with increase in transfer paper expectably produced at the chapter mark of the summary mode.例文帳に追加

複数の原画像情報から単位ページを作る集約コピーにおいて章区切りの認識が容易に行なえ、集約モードの章区切り時に発生することが予想される転写紙の増大にまつわる不具合を解消する。 - 特許庁

Addresses or the like of finally obtained defective pixels are stored in a non-volatile memory 300, and defect correction processing is executed based on information of defective pixels stored in the non-volatile memory when an image is actually outputted.例文帳に追加

そして、最終的に得た欠陥画素のアドレス等を不揮発性メモリ300に記憶させ、実際の画像出力時に、この不揮発性メモリ300に記憶した欠陥画素の情報に基づいて欠陥補正処理を実行する。 - 特許庁

To provide the control method for transmission strength by which interference caused among adjacent waves can be suppressed on the occurrence of a defect of a device or a fault in a transmission channel due to fading or the like and to provide an information transmitter.例文帳に追加

機器の故障やフェージング等によって伝送回線に障害が発生した際に、隣接波相互間に生じる干渉を抑制することができる送信強度の制御方法および情報伝送装置を提供する。 - 特許庁

The control part specifies an LED 63a existing in a rear surface direction of the pixel 21a having the bright spot defect based on input information in the input I/F part and reduces the luminance of the LED 63a from the set value to the lower limit value.例文帳に追加

制御部は、入力I/F部への入力情報に基づき、輝点不良の画素21aの背面方向に在るLED63aを特定し、そのLED63aの輝度を設定値から下限値にまで低減する。 - 特許庁

To provide an information display device prevented from having an operation defect or getting out of order by securely discharging water from the device even when the device is installed outdoors to be weather beaten, and a large amount of water enters the device.例文帳に追加

屋外に設置されるために雨曝しとなり、大量の水が浸入することになっても、確実に装置外へ排出することで、動作不良を防止すると共に故障を防止することが可能な情報表示装置を提供する。 - 特許庁

To provide an information recording booklet for sending in which false adhesion requirements as a final product and the maintenance of adhesion during working are consistent, and a large product loss caused by the defect of adhesion is not generated, and to provide a method for producing the same.例文帳に追加

最終的な製品としての擬似接着要件と、加工中の接着維持とを両立し、接着不良に伴う大きな製品ロスが発生しない送付用情報記録冊子及びその製造方法を提供する。 - 特許庁

To eliminate the defect of eligibility of the nom of a target caused by the overlapped display of the names of targets in an area with concentrated targets in a conventional display method for a digital map, without decreasing the quantity of information.例文帳に追加

従来のディジタル地図の表示方法では、目標物が密集したエリアにおいて目標物の名称が重なって表示され判読できないという課題があり、情報量の減少無しにこの欠点の解消を図る。 - 特許庁

Then erroneous recording or erroneous erasing is prevented when focus control is out of order owing to a disturbance vibration or the physical defect of a disk, etc., or when the signal is recorded over the plurality of layers of the information surfaces.例文帳に追加

これらにより、外乱振動やディスクの物理的欠陥等によってフォーカス制御が乱れた場合や、複数層の情報面にわたって信号を記録する場合に、誤記録あるいは誤消去を防止することができる。 - 特許庁

When the designed circuit pattern is exposed and transferred on a wafer via an exposing device, a defect occurring systematically dependently on the characteristic or the like of the exposing device is predicted previously by simulation and is stored as hot spot information 7.例文帳に追加

また、露光装置を介して、設計された回路パターンをウエハ上に露光転写する際に、露光装置の特性等によってシステマティックに発生する欠陥を、あらかじめシミュレーションによって予測し、ホットスポット情報7として記憶する。 - 特許庁

Information of the minimum delay margin Tmgn of a path passing through a trouble assumption portion, a machine cycle MC and a delay defect generation frequency DFG is supplied to find an index linked to quality of the circuit, and the quality of the circuit is determined based thereon.例文帳に追加

故障仮定個所を通るパスの最小遅延マージンTmgn、マシンサイクルMCおよびディレイ欠陥発生頻度DFGの情報を与えて回路の品質にリンクした指標を求め、該回路の品質判定を行うように構成する。 - 特許庁

When the color vision defect of the user is confirmed, an image processor 52 reads conversion data of suitable image information from a color conversion data storing portion 55, and performs color conversion processing for switching images according to a confirmed determination.例文帳に追加

使用者の色覚障害が確認されると、画像処理部52は、適応する画像情報の変換データを色変換データ格納部55から読み出し、確定した判別に応じた画像に切り替える色変換処理を行う。 - 特許庁

Defect information for each cluster consisting of continuous 4ECC blocks is stored in an area from BPO to BP9209 in the first half out of area from first byte position BPO to 18420th byte position BP18419.例文帳に追加

1番目のバイト位置BP0から18420番目のバイト位置BP18419までのうち、前半分のBP0からBP9209までのエリアには、連続する4ECCブロックからなるクラスタ毎の欠陥情報が格納される。 - 特許庁

To provide a method for manufacturing a glass substrate for an information recording medium by which the occurrence of a defect after chemical strengthening is suppressed and improvement in the yield is achieved, and to provide a holder for holding chemical reinforcing treatment liquid used for the same.例文帳に追加

化学強化処理後の欠陥の発生を抑制することができ、歩留まりの向上を図ることができる情報記録媒体用ガラス基板の製造方法及びそれに使用する化学強化用ホルダーを提供する。 - 特許庁

By adding linear replacement control (LRVC) bits to an SDL (secondary defect list) entry in order to distinguish defective block information listed in the SDL entry according to a linear replacement algorithm from defective block information listed in the SDL entry according to a skipping algorithm, the optical recording/reproducing device transmits correct information to a host.例文帳に追加

リニア交替アルゴリズムに従ってSDLエントリにリストされた欠陥ブロック情報と、スキッピング・アルゴリズムに従ってSDLエントリにリストされた欠陥ブロック情報とを区別するために、リニア交替制御(LRC)ビットを2次欠陥リスト(SDL)エントリに追加し、これによって光記録媒体記録/再生装置が、ホストに正しい情報を送信できるようにするものである。 - 特許庁

Then the arithmetic processing unit compares mask pattern inspection data to the mask pattern image data so as to specify a defective portion of the mask pattern, generates positional information of the defective portion, and identifies a tendency of occurrence of the defect on the photomask, based on the positional information and the density information for the respective plurality of small regions.例文帳に追加

そして、前記演算処理部(25)は、前記マスク検査用データ(13)と前記マスクパターン画像データとを比較して前記マスクパターンの欠陥部分(E1〜E4)とし、前記欠陥部分(E1〜E4)の位置情報を生成し、前記位置情報と前記複数の小領域ごとの密度情報([A]〜[C])とに基づいて、前記フォトマスクに発生する欠陥の発生傾向を特定する。 - 特許庁

When magnetic information is magnetically transferred, by pre-recording a particular magnetic pattern 1 (here, obliquely fringed) in a part having no magnetic information containing track information recorded therein, and scanning a magnetic head in the radial direction or in a direction orthogonal to the radial direction, a scratch defect long in a circumferential or radial direction can be detected by rough scanning.例文帳に追加

磁気的情報が磁気転写されるとき、トラック情報を含む磁気的情報が記録されない部分に特定の磁気パターン1(ここでは、斜め縞状)を予め記録しておくことにより、磁気ヘッドを半径方向またはそれと直交する方向に走査することにより、円周または半径方向に長いスクラッチ欠陥の検出を粗い走査で検出可能とする。 - 特許庁

The control means transmits the failure information through the base station to the server in particular when the mobile station is reactivated or position registration processing is performed, and when the server is not accessed due to a connection defect with the base station, stores the failure information until another base station is connected and transmits the failure information through another base station to the server after the communication with another base station is restored.例文帳に追加

制御手段は特に、移動局の再起動時、あるいは位置登録処理に際し、不具合情報を基地局経由でサーバに送信し、基地局との接続不良により前記サーバにアクセスできない場合には他の基地局と接続できるまで不具合情報を記憶し他の基地局との通信復旧後に不具合情報を他の基地局経由でサーバに送信する。 - 特許庁

例文

The semiconductor device designing/manufacturing system is provided with a functional block database 1, a functional block selecting part 2, a critical area database 3, a chip information calculating part 4, a defect occurrence rate information database 5, a non-detective chip number calculating part 6, a manufacture management information database 7, a cost payment deadline calculating part 8, a calculated result database 9, and optimal combination selecting part 10.例文帳に追加

本発明に係る半導体設計・製造システムは、機能ブロックデータベース1と、機能ブロック選択部2と、クリティカルエリア・データベース3と、チップ情報計算部4と、欠陥発生率情報データベース5と、良品チップ数計算部6と、製造管理情報データベース7と、コスト納期計算部8と、計算結果データベース9と、最適組合せ選択部10とを備えている。 - 特許庁




  
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