「information defect」に関連した英語例文の一覧と使い方(2ページ目) - Weblio英語例文検索

METHOD OF INSPECTING COIL AND DEVICE FOR PREPARING POSITIONAL INFORMATION OF DEFECT例文帳に追加

コイルの検査方法及び欠陥位置情報作成装置 - 特許庁

DEFECT MANAGEMENT INFORMATION SETTING METHOD, RECORDING METHOD, DEFECT MANAGEMENT METHOD, PROGRAM, RECORDING MEDIUM, AND INFORMATION RECORDING DEVICE例文帳に追加

欠陥管理情報設定方法、記録方法、欠陥管理方法、プログラム及び記録媒体、並びに情報記録装置 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR INSPECTING DEFECT OF OPTICAL INFORMATION RECORDING MEDIUM, AND DEFECT SIZE DETERMINING METHOD例文帳に追加

光情報記録媒体の欠陥検査装置及びその方法並びに欠陥サイズ決定方法 - 特許庁

The first database 31 stores the image information and the product defect information.例文帳に追加

第１データベース３１は、画像情報と製品不具合情報を格納している。 - 特許庁

When a defect is developed in the cathode ray tube, information on a position of the defect or the like is inputted from a defect information input device 25, and an operation device 27 compares information on the defect and information on each of the members.例文帳に追加

陰極線管に欠陥Ｐが生じた場合、この欠陥Ｐに関する発生位置の情報等を欠陥情報入力装置25から入力して、この欠陥Ｐに関する情報と各部材に関する情報とを演算装置27で比較する。 - 特許庁

Then, based on at least positional information of the defect included in the reference image, a defect candidate overlaying the defect included in the reference image is removed from the defect candidates by a defect detecting section 45.例文帳に追加

そして、欠陥検出部４５にて基準画像が有する欠陥の少なくとも位置情報に基づいて欠陥候補から基準画像が有する欠陥と重複するものが除外される。 - 特許庁

When a defect is observed during the defect inspection, defect information such as a position, a size and a shape of the defect is recorded, and a data such as the number of the defects is displayed.例文帳に追加

欠陥検査中に欠陥を発見した場合、その欠陥の位置や大きさ、形状などの欠陥情報を記録し欠陥数などのデータを表示する。 - 特許庁

From the stage position of a defect detected by a review device, a defect candidate close to that stage position is listed along with the defect information (defect type, defect image, defect size) provided by an inspection device, so that a defect for use in the fine alignment correction can be selected.例文帳に追加

レビュー装置が検出した欠陥のステージ位置から、そのステージ位置に近い欠陥候補を検査装置が提供する欠陥情報（欠陥種別，欠陥画像，欠陥サイズ）とともに一覧表示し、ファインアライメント補正に使用する欠陥を選択できるようにする。 - 特許庁

To prevent a defect of information in performing recording of the information by utilizing holography.例文帳に追加

ホログラフィを利用して情報の記録を行う際の情報の欠落を防止する。 - 特許庁

The defect information management method is used which includes steps (a) to (f).例文帳に追加

（ａ）〜（ｆ）ステップを備える不具合情報管理方法を用いる。 - 特許庁

INFORMATION RECORDING MEDIUM, DEFECT CONTROL METHOD AND ITS DEVICE例文帳に追加

情報記録媒体、欠陥管理方法および欠陥管理装置 - 特許庁

INFORMATION RECORDING MEDIUM, DEFECT MANAGEMENT METHOD DEVICE例文帳に追加

情報記録媒体、欠陥管理方法および欠陥管理装置 - 特許庁

PRODUCTION FOR SOFT PACKAGE MATERIAL AND DEFECT INFORMATION TRANSMITTING DEVICE例文帳に追加

軟包装材料の生産方法及び不良情報伝達装置 - 特許庁

To provide a semiconductor device furnished with a defect information storage section where the defect information can be accumulated, with a small capacity.例文帳に追加

小容量で不良情報の蓄積をすることが可能な不良情報格納部を備えた半導体装置を提供する。 - 特許庁

Position information of the detected defect pixels Px is stored in the database DB as the defect pixel information R(k, m).例文帳に追加

そして、検出した欠陥画素Ｐｘの位置情報が欠陥画素情報Ｒ（ｋ，ｍ）としてデータベースＤＢに記憶される。 - 特許庁

DEFECT MANAGEMENT METHOD FOR INFORMATION RECORDING MEDIUM, INFORMATION RECORDING MEDIUM DRIVE, AND INFORMATION RECORDING MEDIUM例文帳に追加

情報記録媒体の欠陥管理方法、情報記録媒体ドライブ装置及びその情報記録媒体 - 特許庁

DEFECT CONTROL METHOD FOR INFORMATION STORAGE MEDIUM, DISK DRIVE DEVICE, INFORMATION STORAGE MEDIUM AND INFORMATION PROCESSING SYSTEM例文帳に追加

情報記憶媒体の欠陥管理方法、ディスクドライブ装置、情報記憶媒体および情報処理システム - 特許庁

Then, in a step (f), the analysis result information, the image information and the product defect information are stored.例文帳に追加

そして、（ｆ）ステップは、解析結果情報、画像情報及び製品不具合情報の保存を行う。 - 特許庁

After an inspection is performed, the controlling part 14 compares defect information generated during inspection with defect information generated during inspection of un underlying layer of the substrate so that the underlying layer generates target defect information which identifies a defect occurred on the uppermost layer except an overlapping defect which overlaps the defect.例文帳に追加

検査が行われた後、制御部１４は、その検査時に生成された欠陥情報と、基板の下層レイヤーの検査時に生成された欠陥情報とを比較し、前記下層レイヤーが欠陥と重複する重複欠陥を除いて前記最上層レイヤー上に発生した欠陥を識別する注目欠陥情報を生成する。 - 特許庁

A defect detection part 25 extracts a defect on an inspection object by using the reduced image information.例文帳に追加

欠陥検出部25は、縮小画像情報を用いて検査対象物上の欠陥を抽出する。 - 特許庁

In a step (c), product defect information as character information on the product is acquired.例文帳に追加

（ｃ）ステップは、製品に関する文字情報としての製品不具合情報を取得する。 - 特許庁

METHOD OF MANAGING DEFECT IN INFORMATION RECORDING MEDIUM, APPARATUS THEREFOR AND INFORMATION RECORDING MEDIUM例文帳に追加

情報記録媒体の欠陥を管理する方法、その装置及び情報記録媒体 - 特許庁

An information recording device 110 comprises: a defect list updating unit 122 which updates a defect list registering a defect address showing a position of a defect area exists in an user area; a recording unit 113 which records information in an information recording medium 130 based on the updated defect list.例文帳に追加

情報記録装置１１０は、ユーザ領域内に存在する欠陥領域の位置を示す欠陥アドレスが登録された欠陥リストを更新する欠陥リスト更新部１２２と、更新された欠陥リストに基づいて、情報記録媒体１３０に情報を記録する記録部１１３とを備えている。 - 特許庁

To provide a processing system for defect information and a processing method for defect information which are capable of analyzing defect information of products on a production line and quickly notifying an operator of the analyzed result.例文帳に追加

製造ラインにおける製品の不具合情報を解析し、解析結果を作業者に速やかに伝達することができる不具合情報の処理システム及び不具合情報の処理方法を提供する。 - 特許庁

An image processing section 12 creates defect feature information showing the feature of the feature of a defect from the image information and decides an irradiation condition when emitting a laser beam according to the defect feature information.例文帳に追加

画像処理部１２は、画像情報から、欠陥の特徴を示す欠陥特徴情報を生成し、欠陥特徴情報に基づいて、レーザ光を照射する際の照射条件を決定する。 - 特許庁

To provide a crystal defect analyzer providing only information related to a defect calculating accurate defect size and depth and facilitating the crystal evaluation.例文帳に追加

正確な欠陥サイズと深さが算出された欠陥に対する情報のみを得て、結晶評価が容易な結晶欠陥解析装置を得る。 - 特許庁

To provide a defect list of a 2ECC size or more, and an information recording medium capable of dealing with the delete of a defect entry in the defect list.例文帳に追加

２ＥＣＣサイズ以上である欠陥リスト、および、欠陥リスト内の欠陥エントリの削除に対応した情報記録媒体を提供すること。 - 特許庁

A storage part 41 stores an image of a substrate in which a defect is detected by an automatic defect inspection device 2 and defect information showing the information related to the defect in association with a substrate ID identifying the substrate.例文帳に追加

記憶部４１は、自動欠陥検査装置２により欠陥の検出された基板の画像と、欠陥に係わる情報を示す欠陥情報とを、基板を識別する基板ＩＤと対応付けて記憶する。 - 特許庁

While reading out the image data from the image memory 20 and detecting image defects by a defect detector 24, a defect information that displays the position of the detected defect is generated, and is memorized by a defect information memory 26.例文帳に追加

画像メモリ部２０から画像データを読み出して欠陥検出部２４で画像欠陥を検出するとともに、検出された画像欠陥の位置を示す欠陥情報を生成して欠陥情報メモリ部２６に記憶する。 - 特許庁

The header includes a defect list identifier 131 for identifying a defect list, a first update-times information representing the number of times that the defect list has been updated, and a defect entry number 132 representing the number of defect entries.例文帳に追加

ヘッダは、欠陥リストを識別する欠陥リスト識別子１３１と、欠陥リストの更新回数を示す第１の更新回数情報１３３と、欠陥エントリの個数を示す欠陥エントリ数１３２とを含む。 - 特許庁

METHOD FOR INSPECTING SURFACE DEFECT IN INFORMATION-RECORDING DISK, AND DEVICE THEREFOR例文帳に追加

情報記録ディスクの表面欠陥検査方法及びその装置 - 特許庁

A defect information storage unit 310 stores defect information on a defective pixel having a large offset of a pixel signal generated by an imaging device.例文帳に追加

欠陥情報記憶部３１０は、撮像素子で生成される画素信号のオフセットが大きい欠陥画素の欠陥情報を記憶する。 - 特許庁

The positional information and the defect grade of the defective pixel are stored.例文帳に追加

この欠陥画素の位置情報と欠陥グレードとを記憶しておく。 - 特許庁

The past defect information is displayed in the application form.例文帳に追加

これにより申請フォーム中に過去の不具合情報を表示する。 - 特許庁

RADIOLOGICAL IMAGE PHOTOGRAPHIC APPARATUS AND METHOD FOR OBTAINING PIXEL DEFECT INFORMATION例文帳に追加

放射線画像撮影装置及び画素欠陥情報取得方法 - 特許庁

A defect analyzing apparatus 10 comprises an inspection information acquirer 11 for acquiring a defect observation image P2 in a semiconductor device, a layout information acquirer 12 for acquiring layout information, and a defect analyzer 13 for analyzing a defect.例文帳に追加

半導体デバイスの不良観察画像Ｐ２を取得する検査情報取得部１１と、レイアウト情報を取得するレイアウト情報取得部１２と、不良解析を行う不良解析部１３とによって不良解析装置１０を構成する。 - 特許庁

The defect correction method consists of template information 73, representing the characteristics of the defect and object information 74 representing actual correction method and defect location, and information on the detected defect, matching with the specified conditions of the template information 73 and the object information 74, is output as the defect correction method.例文帳に追加

上記欠陥修正手法は欠陥の特徴を示すテンプレート情報７３と、実際の修正方法及び欠陥の位置を示すオブジェクト情報７４から構成されており、検出された欠陥の情報がテンプレート情報７３及びオブジェクト情報７４の特定の条件に一致しているものを欠陥修正手法として出力する。 - 特許庁

Since the pixel defect information is corrected starting from one having the highest defect level or a latest detection time, defect pixels can be corrected efficiently even when a defect pixel is generated anew.例文帳に追加

従って、新たに画素欠陥が発生しても欠陥レベルの大きいものから、或いは検出時期の新しいものから補正されるため、効率的に欠陥画素を補正することができる。 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR MANAGING DEFECT OF DISK WITH TEMPORARY DEFECT MANAGEMENT INFORMATION AREA AND DEFECTIVE MANAGEMENT AREA例文帳に追加

臨時欠陥管理情報領域と欠陥管理領域とが設けられたディスクの欠陥管理方法及び装置 - 特許庁

The method is provided with a defect information storage means 35 for storing a defect point correlating with a portion of an education material.例文帳に追加

教材箇所と関連付けて不具合点数を格納した不具合情報記憶手段３５を具備する。 - 特許庁

A controlling part 14 generates defect information which identifies a defect on a substrate during inspection of a substrate installed.例文帳に追加

制御部１４は、搬入された基板の検査時に、基板上の欠陥を識別する欠陥情報を生成する。 - 特許庁

Before the recording medium is finalized, updated defect management information is recorded in any of the plurality of temporary defect management area for each update of defect management information.例文帳に追加

記録媒体１０をファイナライズする前は、ディフェクト管理情報が更新される度に、更新されたディフェクト管理情報を複数の一時的ディフェクト管理エリアのいずれかに記録する。 - 特許庁

When a new pixel defect is detected after shipping, pixel defect information detected anew is added without erasing pixel defect information added in the past.例文帳に追加

出荷後に新たに画素欠陥を検出した場合には、追記する時点より過去に追記された画素欠陥情報を消去することなく、新たに検出された画素欠陥情報を追記する。 - 特許庁

If the recording medium 10 is not yet finalized, every time the defect management information is updated, the updated defect management information is recorded into any one of the plurality of temporary defect management areas.例文帳に追加

記録媒体１０をファイナライズする前は、ディフェクト管理情報が更新される度に、更新されたディフェクト管理情報を複数の一時的ディフェクト管理エリアのいずれかに記録する。 - 特許庁

An image processing section 24 determines whether a defect exists, whose size allows to make a defect decision by visual inspection, based on information representing the size of the defect.例文帳に追加

画像処理部２４は、欠陥の大きさを示す情報に基づいて、目視によって欠陥の判断が可能な大きさの欠陥があるかどうかを判断する。 - 特許庁