「information defect」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

METHOD FOR MANAGING DEFECT USING TEMPORARY DEFECT INFORMATION AND TEMPORARY DEFECT MANAGEMENT INFORMATION例文帳に追加

臨時欠陥情報及び臨時欠陥管理情報を利用した欠陥管理方法 - 特許庁

DEFECT INFORMATION FEEDBACK METHOD例文帳に追加

欠陥情報のフィードバック方法 - 特許庁

DEFECT INSPECTION DEVICE, DEFECT INFORMATION ACQUISITION DEVICE AND DEFECT INSPECTION METHOD例文帳に追加

欠陥検査装置、欠陥情報取得装置及び欠陥検査方法 - 特許庁

DEFECT POSITION INFORMATION GENERATION DEVICE, DEFECT CONFIRMATION SYSTEM, AND DEFECT POSITION INFORMATION GENERATION METHOD例文帳に追加

欠陥位置情報生成装置、欠陥確認システム及び欠陥位置情報生成方法 - 特許庁

PROCESSING SYSTEM FOR DEFECT INFORMATION AND PROCESSING METHOD FOR DEFECT INFORMATION例文帳に追加

不具合情報の処理システム及び不具合情報の処理方法 - 特許庁

DEFECT MANAGEMENT INFORMATION REPRODUCING METHOD例文帳に追加

欠陥管理情報再生方法 - 特許庁

A defect correction function section 184 corrects the defect by using defect information read from the defect address memory 38b.例文帳に追加

欠陥アドレスメモリ38b から読み出した欠陥情報を用いて欠陥補正機能部184 で欠陥補正を行う。 - 特許庁

DEFECT INFORMATION MANAGEMENT METHOD FOR STEEL MATERIAL例文帳に追加

鋼材の欠陥情報管理方法 - 特許庁

DEFECT INFORMATION DISPLAY DEVICE AND METHOD例文帳に追加

欠陥情報表示装置及び方法 - 特許庁

DEFECT INFORMATION GENERATING METHOD AND INFORMATION STORAGE APPARATUS例文帳に追加

欠陥情報作成方法及び情報記憶装置 - 特許庁

DEFECT INFORMATION CONTROL METHOD AND INFORMATION STORAGE DEVICE例文帳に追加

欠陥情報管理方法及び情報記憶装置 - 特許庁

INFORMATION STORAGE DEVICE AND DEFECT INFORMATION CONTROL METHOD例文帳に追加

情報記憶装置及び欠陥情報管理方法 - 特許庁

The defect generation date and time, and the defect item are displayed as the defect generation information.例文帳に追加

そして、不良項目及び不良発生時刻を不良発生情報として表示する。 - 特許庁

ARTICLE DEFECT INFORMATION DETECTOR AND ARTICLE DEFECT INFORMATION DETECTING/PROCESSING PROGRAM例文帳に追加

物品欠陥情報検出装置及び物品欠陥情報検出処理プログラム - 特許庁

ARTICLE DEFECT INFORMATION DETECTOR AND ARTICLE DEFECT INFORMATION DETECTION PROCESSING PROGRAM例文帳に追加

物品欠陥情報検出装置及び物品欠陥情報検出処理プログラム - 特許庁

Based on the defect phenomenon information, the defect phenomenon information creates first relation information for relating similar defect phenomenon information.例文帳に追加

この欠陥現象情報に基づいて、欠陥現象情報が類似する欠陥現象情報を関連付ける第１関係情報を作成する。 - 特許庁

An image defect is detected by a defect detecting part 50 based on the image data to store defect information indicating the position of the image defect into a defect information memory area 44a.例文帳に追加

この画像データに基づき欠陥検出部５０で画像欠陥を検出し、画像欠陥の位置を示す欠陥情報を欠陥情報記憶領域４４ａに記憶する。 - 特許庁

A defect-full-length measuring means 10 measures the entire length of the defect based on the defect position information and the area of the defect.例文帳に追加

欠陥全長測定手段１０は欠陥位置情報及び欠陥の面積から欠陥の全長を測定する。 - 特許庁

DEFECT REPAIR SYSTEM, SERVER, DEFECT REPAIR DEVICE FOR USE IN THE DEFECT REPAIR SYSTEM, DEFECT REPAIR PROGRAM, INFORMATION RECORDING MEDIUM, AND DEFECT REPAIR DEVICE例文帳に追加

欠陥修復システム、サーバ、欠陥修復システムに用いる欠陥修復装置、欠陥修復プログラム、情報記録媒体及び欠陥修復装置 - 特許庁

INFORMATION STORAGE MEDIUM STORING DEFECT MANAGEMENT INFORMATION, ALTERNATION PROCESSING METHOD OF DEFECT MANAGEMENT INFORMATION, AND APPARATUS PERFORMING ALTERNATION PROCESSING OF DEFECT MANAGEMENT INFORMATION例文帳に追加

欠陥管理情報を格納する情報記憶媒体、欠陥管理情報の交替処理方法、および欠陥管理情報の交替処理を行なう装置 - 特許庁

Defect information to indicate a position of the detected defect in the image is generated and memorized in a defect information memory part 26.例文帳に追加

検出された画像欠陥の位置を示す欠陥情報を生成して欠陥情報メモリ部２６に記憶する。 - 特許庁

METHOD FOR ANALYZING DEFECT INFORMATION AND ITS APPARATUS例文帳に追加

欠陥情報解析方法およびその装置 - 特許庁

The defect management information includes the defect location information indicating the location of defective areas and the defect status information indicating the state of the defective areas.例文帳に追加

欠陥管理情報は、欠陥領域の位置を示す欠陥位置情報と、欠陥領域の状態を示す欠陥状態情報とを含む。 - 特許庁

DEFECT MANAGEMENT METHOD AND INFORMATION RECORDING MEDIUM例文帳に追加

欠陥管理方法および情報記録媒体 - 特許庁

DEFECT INFORMATION MANAGEMENT METHOD, INFORMATION RECORDING AND REPRODUCING APPARATUS, AND INFORMATION REPRODUCING APPARATUS例文帳に追加

欠陥情報管理方法、情報記録再生装置、及び情報再生装置 - 特許庁

DEFECT MANAGEMENT METHOD FOR INFORMATION RECORDING DEVICE例文帳に追加

情報記録媒体における欠陥管理方法 - 特許庁

RECORDING MEDIUM HAVING SPARE AREA FOR DEFECT MANAGEMENT AND INFORMATION ON DEFECT MANAGEMENT例文帳に追加

欠陥管理のための余裕空間とその管理情報を有する記録媒体 - 特許庁

However, the product defect information includes information on the component 7.例文帳に追加

ただし、製品不具合情報は、部品７に関する情報を含む。 - 特許庁

In a step (e), the expert analyzes the defect on the basis of the image information and the product defect information.例文帳に追加

（ｅ）ステップは、画像情報と製品不具合情報とに基づいて、専門家が不具合の解析を行う。 - 特許庁

A processing unit detects a defect on a wafer surface, on the basis of image data, and stores the defect information in the defect information storage area.例文帳に追加

処理装置が、画像データに基づいて、ウエハ表面上の欠陥を検出し、欠陥の情報を、欠陥情報記憶部に記憶させる。 - 特許庁

To know defect information or the like inside an organic material.例文帳に追加

有機材料の内部の欠陥情報などを知る。 - 特許庁

DEFECT MANAGEMENT INFORMATION PROCESSING METHOD FOR INFORMATION RECORDING MEDIUM AND INFORMATION RECORDING AND REPRODUCING APPARATUS例文帳に追加

情報記録媒体の欠陥管理情報処理方法及び情報記録再生装置 - 特許庁

INFORMATION RECORDING MEDIUM, DEFECT MANAGING METHOD, INFORMATION RECORDING/REPRODUCING APPARATUS, AND INFORMATION REPRODUCING APPARATUS例文帳に追加

情報記録媒体、欠陥管理方法、情報記録再生装置及び情報再生装置 - 特許庁

The pseudo-defect information used for retrieval of the pseudo-defect includes position data of the pseudo-defect and intensity data of the pseudo-defects.例文帳に追加

疑欠陥の検索に用いる疑欠陥情報は、疑欠陥の位置データと疑欠陥の強度データを含む。 - 特許庁

The device is also characterized by determining the defect generation cause by performing defect discrimination from frequency component information of the defect signals.例文帳に追加

この欠陥信号の周波数成分情報から、欠陥弁別をおこない欠陥の発生原因を判定する。 - 特許庁

DEFECT INFORMATION MANAGEMENT METHOD AND RECORDING MEDIUM PROCESSING DEVICE例文帳に追加

欠陥情報管理方法及び記録媒体処理装置 - 特許庁

Defect position information including sign information for showing signs combined with the reference home position M and defect coordinate information showing the calculated defect coordinates are generated.例文帳に追加

基準となった原点Ｍと組合せをなす記号を示す記号情報と、算出した欠陥座標を示す欠陥座標情報とを含む欠陥位置情報を生成する。 - 特許庁

DETECTOR METHOD FOR MEDIUM DEFECT AND INFORMATION STORAGE DEVICE例文帳に追加

媒体欠陥検出方法及び情報記憶装置 - 特許庁

In a step (a), information on a defect of a product is accepted.例文帳に追加

（ａ）ステップは、製品に関する不具合を受け付ける。 - 特許庁

DEFECT AREA PROCESSING METHOD USING LINKING-TYPE INFORMATION例文帳に追加

リンキングタイプ情報を用いた欠陥領域処理方法 - 特許庁

AUTOMATIC DEFECT INFORMATION COLLECTION CONTROL METHOD AND RECORDING MEDIUM RECORDING AUTOMATIC DEFECT INFORMATION COLLECTION CONTROL PROGRAM例文帳に追加

自動欠陥情報収集制御方法及び自動欠陥情報収集制御プログラムを記録した記録媒体 - 特許庁

By using the primary defect list or the secondary defect list, the defect management information is simultaneously reproduced from a plurality of the adjacent defect management areas (step 3).例文帳に追加

この一次欠陥リストまたは二次欠陥リストを用いて、近接する複数の欠陥管理領域から一度に欠陥管理情報を再生する（ステップ３）。 - 特許庁

INFORMATION RECORDING AND REPRODUCING APPARATUS AND DISPLAY METHOD OF DEFECT MANAGEMENT INFORMATION QUANTITY例文帳に追加

情報記録再生装置及び欠陥管理情報量の表示方法 - 特許庁

The memory respectively stores primary defect information indicating a defect area on the disk including the protrusive defective part and the secondary defect information.例文帳に追加

メモリは、前記凸状欠陥部を含む前記ディスク上の欠陥エリアを示す主要ディフェクト情報及び前記補助的ディフェクト情報をそれぞれ記憶する。 - 特許庁

Defect information including at least information on each defect position is acquired by detecting each defect on the substrate with the use of an inspection device (S302).例文帳に追加

検査装置によって基板上の欠陥をそれぞれ検出して、各欠陥の位置を表す情報を少なくとも含む欠陥情報を取得する（Ｓ３０２）。 - 特許庁