「information defect」に関連した英語例文の一覧と使い方(12ページ目) - Weblio英語例文検索

To efficiently use the area of a write-once type information recording medium, and to record and reproduce a temporary defect list with high reliability.例文帳に追加

追記型の情報記録媒体の領域を効率的に利用でき、高い信頼度で臨時欠陥リストを記録及び再生できるようにすること。 - 特許庁

To provide a radio communication apparatus in which information defect by receiving errors at the time of broadcast communication is suppressed and processing load at the time of two-way communication is suppressed.例文帳に追加

同報通信時の受信エラーによる情報欠落を小さく抑え、双方向通信時の処理負荷を小さく抑えた無線通信装置を提供する。 - 特許庁

To prevent repeated rejection for the same reason by feeding back defect information on an application filed, in an electronic document examination/approval work system.例文帳に追加

電子文書の審査・承認ワークシステムにおいて、既に行われた申請における不具合情報をフィードバックして、同じ理由による却下の再発を防止する。 - 特許庁

To encode and record attribute information peculiar to a disk so as not to be affected by a defect such as a foreign particle, and to improve synchronism pull-in capability.例文帳に追加

ディスク固有の属性情報をゴミなどの欠陥に影響されないように符号化して記録するとともに、同期引き込み能力を向上する。 - 特許庁

A MPU (Micro Processing Unit) 18 included in a magnetic disk 1 writes predetermined system information on an area for executing defect management on a magnetic disk 25.例文帳に追加

磁気ディスク装置１が備えるＭＰＵ１８が、磁気ディスク２５上において欠陥管理を実行する領域に所定のシステム情報を書き込む。 - 特許庁

To provide an information recording method and a device therefor by which a digital video signal can be recorded and lack of an image is not caused at reproduction even when defect by dust or damage exists in an optical disk.例文帳に追加

光ディスクにちりや傷によるディフェクトが存在する場合でもデジタルビデオ信号の記録ができ再生時に画像の欠落を生じないようにする。 - 特許庁

To provide shift information, considering a mode of action, which can generate particularly required torque, in view of a defect in the conventional technique.例文帳に追加

従来技術における欠点に鑑み、特に、要求されたトルクを生成することのできる作動モードを考慮したシフト情報の提供を達成すること。 - 特許庁

To provide a display device for IC defect analysis which can generate circuit diagram data without data input of pin input/output attribute information.例文帳に追加

第１に、ピン入出力属性情報のデータ入力が不要で回路図データを生成可能とするＩＣ不良解析用表示装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method and a system for retrieving molded product information for providing materials for estimating a cause of the defect of molded products.例文帳に追加

成型品の欠陥に関して原因を推定するための材料を提供するための成型品情報の検索方法およびシステムを提供する。 - 特許庁

The defect information management device is used which has a display unit 13, a first database 31, a second database 33, a data analysis part 24 and a data retrieval part 25.例文帳に追加

表示装置１３、第１データベース３１、第２データベース３３、データ解析部２４及びデータ検索部２５を備える不具合情報管理装置を用いる。 - 特許庁

NG surface information obtained in the defect inspection process of a magnetic disk substrate is drawn onto the magnetic disk substrate to be discriminated in a subsequent film-forming process.例文帳に追加

磁気ディスク基板の欠陥検査工程で得られたＮＧ面情報を磁気ディスク基板に描画して後の成膜工程で判別できるようにする。 - 特許庁

The position of a defect such as chipping, cracking, etc., occurring to the outer peripheral portion of the semiconductor wafer is detected, and position information thereupon is stored in a memory device etc., in a controller.例文帳に追加

半導体ウエハの外周部に発生した欠けや割れなどの欠陥の位置を検出し、その位置情報をコントローラ内のメモリなど記憶する。 - 特許庁

To provide an information storage medium in which reliable defect management is possible even when the medium is one whose durability is relative low for overwriting.例文帳に追加

オーバーライトに対する耐久性が比較的低い媒体であっても、信頼性の高い欠陥管理が可能な情報記憶媒体を提供すること。 - 特許庁

A defect region size measuring circuit 4 retrieves defect management information before re-initialization when re-initializing the optical disk 10, divides a whole user data region into a plurality of segments, measures defect region size for each segment, then, an alternative region size setting circuit 5 decides alternative region size which is allocated to each user data region after re-initialization based on the defect region size for each segment.例文帳に追加

欠陥領域サイズ計測回路４は光ディスク１０の再初期化時に、再初期化前の欠陥管理情報を検索し、ユーザデータ領域全体を複数のセグメントに分割して、各セグメント毎の欠陥領域サイズを計測し、代替領域サイズ設定回路５は各セグメント毎の欠陥領域サイズに基づき、再初期化後の前記各ユーザデータ領域に割当てる代替領域サイズを決定する。 - 特許庁

The method is provided with a step which extracts the line defect from an image for defect extraction, a step which corrects line defection of the image for defection extraction, using the line defection information extracted, and a step which extracts a defect pixel using the corrected image for defect extraction, or a step which extracts pixel defection, without using the pixel value of the extracted line defects.例文帳に追加

欠陥抽出用画像より前記ライン欠陥を抽出するステップと、抽出された前記ライン欠陥情報を用いて欠陥抽出用画像のライン欠陥の補正するステップと、補正した欠陥抽出用画像を用いて欠陥画素を抽出するステップとを有するか、抽出された前記ライン欠陥にあたる画素値を用いずに画素欠陥を抽出するステップとを有することを特徴とする。 - 特許庁

To provide a method and a system for providing information on a product which can speedily provide information regarding a defect of a molding, information regarding material properties, the knowledge of a maker side, etc., from the material side to a molding manufacturing maker.例文帳に追加

成形品の欠陥に関する情報や材料物性に関する情報や材料メーカ側の知見などを、材料メーカから成形品製造メーカに迅速に提供することが可能な製品の情報提供方法およびシステムを提供する。 - 特許庁

To make easily and quickly detectable a critical magnetic defect without destroying information after transfer processing in the case of the testing of a magnetic disk having a magnetic information containing track information recorded beforehand by a magnetic transfer system.例文帳に追加

トラック情報を含む磁気的情報が磁気転写方式により予め記録される磁気ディスクを試験するに当たり、転写処理後の情報を破壊することなく、重大な磁気的欠陥を簡単かつ迅速に検出し得るようにする。 - 特許庁

A defect display section 12 displays display information, denoting the cause discriminated by the signal discrimination analysis section 11 as the cause to the disabled reception among a plurality of kinds of the display information items stored in the display information storage section 13.例文帳に追加

不具合表示部１２は、表示情報記憶部１３に記憶された複数種の表示情報のうち、信号判定解析部１１が受信不良の原因と判別した原因を示す表示情報をテレビ受像機１９に表示する。 - 特許庁

To provide a method and a system for detecting a medium defect by which detection is made for a minute medium defect that does not generate a data error in a partial response signal processing system and an information recording and reproducing device which utilizes the method and the system.例文帳に追加

パーシャルレスポンス信号処理方式でデータエラーが発生しない微小な媒体欠陥を検出する媒体欠陥検出方法、媒体欠陥検出システムおよびこれを用いた情報記録再生装置を提供するものである。 - 特許庁

Thus imaging device 1 is provided with an optic/electric converting element 3 for converting incident light to an electric signal, an A/D converter 5 for digitizing the output of the optic/electric converting element 3, a pixel defect memory 7 for storing the pixel defect information and a selector 9.例文帳に追加

撮像素子１は、入射した光を電気信号に変える光電変換素子３と、光電変換素子３の出力をディジタル化するＡ／Ｄ変換器５と、画素欠陥情報を記憶する画素欠陥メモリ７と、セレクタ９とを具備していいる。 - 特許庁

To solve a defect due to non-efficiency when software and hardware are individually prepared and packaged in each information distribution service to be provided and a defect that necessary software and hardware functions should be newly prepared in each addition of service.例文帳に追加

提供したい情報配信サービス毎に、ソフトウェアおよびハードウェアを個別に作成して実装することの非効率さという欠点とサービス追加のたびに必要なソフトウェアおよびハードウェア機能を新規に作成しなければならない欠点の解決を図る。 - 特許庁

To efficiently correct a longitudinal line flaw of a fine level caused by a defect of a vertical transfer path which is hardly conspicuous rather than an ordinary defective pixel while avoiding the increase of a ROM capacity or the like for storing defect information on pixels of a solid-state imaging device.例文帳に追加

固体撮像素子の画素の欠陥情報を格納するＲＯＭ等の大容量化を回避しつつ、通常の欠陥画素よりも目立ち難い垂直転送路の欠陥に起因する微妙なレベルの縦線キズを効率よく補正する。 - 特許庁

To shorten transfer time of relief information for relieving defect of redundant memory, and disconnect period of an electric fuse while suppressing increase of a circuit area in a semiconductor device in which a defect cell in a chip contains a self-repairable system.例文帳に追加

チップ内の不良セルが自己修復可能なシステムを含む半導体装置において、回路面積の増加を抑制しつつ、冗長メモリの不良を救済するための救済情報の転送時間、および電気ヒューズの切断時間を短縮する。 - 特許庁

To provide a learning supporting system for finding a defect from 3D car image information of a used car including the defect beforehand and making an assessment with a learner learning the price assessment of the used car as an object.例文帳に追加

中古自動車の価格査定の学習を行う学習者を対象に、予め瑕疵を含んだ中古自動車の３Ｄ自動車画像情報より、その瑕疵を探し出して査定を行う学習支援システムを提供することを目的とする。 - 特許庁

To accurately detect a defect irrespective of writing power during recording, disk reflectance or a variance in amplifier gain, and to determine whether a defect in the surface of an optical disk causes the recording mistake of optical information in one RUB.例文帳に追加

記録時のライトパワー、ディスクの反射率やアンプゲインのばらつきに左右されることなく正確な欠陥検出を可能にし、光ディスクの表面に付けられた欠陥が１ＲＵＢ内で光情報の記録ミスを生じさせる欠陥か否かを判定する。 - 特許庁

To provide an image automatic sorting method and its device capable of outputting information required for a countermeasure to the cause of the generation of a fault and information required for predicting the yield of an examination wafer by using the image of a defective site concerning the defect generated in the manufacturing process of a semiconductor wafer detected by a defect examination device.例文帳に追加

欠陥検査装置で検出された半導体ウェハの製造工程で発生した欠陥について、その欠陥部位の画像を用いて、その欠陥の発生原因対策に必要な情報および、該検査ウェハの歩留まりの予測に必要な情報を出力できる画像自動分類方法及びその装置を提供する。 - 特許庁

When a defective sector with data defects is detected as the result of a data read failure upon read access to a logic disk 12, a data defect registering part 113 causes defect information that indicates the data defects in the defective sector to be recorded in the defective information area of an alternative sector to which the defective sector is allocated.例文帳に追加

データ欠損登録部１１３は、論理ディスク１２へのリードアクセス時のデータ読み出し失敗によりデータ欠損のある不良セクタが検出された場合、当該不良セクタに関し、当該不良セクタが割り当てられる代替セクタの欠損情報領域に“データ欠損あり”を示す欠損情報を記録する。 - 特許庁

The production pathway navigation system is configured to calculate the percentage of defect-free product for every manufacturing history and model based on manufacturing history information transmitted from a manufacturing process management device and inspection history information transmitted from the inspection process management device, and determines the optimal production pathway from the calculated percentage of defect-free product.例文帳に追加

この生産経路ナビゲートシステムは、まず、製造工程管理装置から送信された製造履歴情報と、検査工程管理装置から送信された検査履歴情報とに基づいて、製造履歴、機種毎に直行率を算出し、算出した直行率から最適な生産経路を決定しておく。 - 特許庁

This device includes a PLL processing HPF 40 having a cut-off frequency set to eliminate a defect signal component for a reproducing information signal read from an optical disk, and PLL processing is performed by using the reproducing information signal from which the defect signal component generated due to the influence of a fingerprint or the like has been eliminated.例文帳に追加

光ディスクから読み出された再生情報信号についてのディフェクト信号成分を除去するようにカットオフ周波数が設定されたＰＬＬ処理用ＨＰＦ４０を設け、指紋等の影響によるディフェクト信号成分が除去された再生情報信号を用いてＰＬＬ処理が行われるようにする。 - 特許庁

To use an existing reproduction system for detecting an error by using the reflected light of a recorded light reflected on a recording surface when optical information is recorded in the recording surface of an optical disk, and to determine whether the defect on the surface of the optical disk is a defect or not to cause the recording mistake of the optical information in one RUB.例文帳に追加

光ディスクの記録面に光情報を記録する時に記録面で反射された記録光の反射光を用いることでエラー検出に既存の再生系を利用可能にし、光ディスクの表面に付けられた欠陥が１ＲＵＢ内で光情報の記録ミスを生じさせる欠陥か否かを判定する。 - 特許庁

The respective terminals of a user, a business department 2 directly having contact with the user, an information window 3 for accepting an inquiry about the commodity defect and commodity, a general window 4 for managing the inquiry about the commodity defect and commodity, and an answer department 5 responsible for the inquiry about the commodity defect and commodity are connected to a global market customer quality information system 10 through a network.例文帳に追加

ユーザーやユーザーと直接に接する営業部門２、ユーザー等２から商品不具合や商品に関する問い合わせを受け付ける情報窓口３、商品の不具合や商品に関する問い合わせを管理する総合窓口４及び商品不具合や商品に関する問い合わせについての回答責任部門５の各端末は、グローバル市場顧客品質情報システム１０にネットワークを介して接続されている。 - 特許庁

The inspection supporting system sorts each defect detected with an inspection apparatus conforming to a plurality of inspecting conditions in accordance with combinations of the inspecting conditions for detecting respective defects, and calculates for each sorting visual distribution of the inspection objects of the defect belonging to each sorting on the basis of the location information of the defect belonging to the relevant sorting.例文帳に追加

本検査支援システムは、複数の検査条件によって検査装置が検出した各欠陥を、その欠陥が検出された検査条件の組み合わせで分類し、各分類ごとに、その分類に属する欠陥の、検査対象の外観上における分布を、当該分類に属する欠陥の位置情報に基づき算出する。 - 特許庁

An endoscope device 3 includes a feature detection part for detecting a first feature part of an inspection object from an image based on a first condition, a defect detection part for detecting a first defect part of the inspection object based on the first feature part, and a display part for displaying information indicating the first defect part with an image thereof.例文帳に追加

内視鏡装置３は、第１の条件に基づいて、画像から検査対象物の第１の特徴部を検出する特徴検出部と、第１の特徴部に基づいて、検査対象物の第１の欠陥部を検出する欠陥検出部と、第１の欠陥部を示す情報を、画像と共に表示する表示部とを有する。 - 特許庁

A defect inspection apparatus performs a defect inspection of the thin film under inspection conditions corresponding to the management number in the recording medium, transmits defect inspection information to the host computer by associating it with the management number, stores the substrate after the inspection in a third distribution cassette, and write the management number in the recording medium.例文帳に追加

欠陥検査装置は第２の流通カセットから取り出した基板に対し、その記録媒体内の管理番号に対応する検査条件で薄膜の欠陥検査をし、欠陥検査情報を管理番号と対応付けてホストコンピュータに送信し、検査後の基板を第３の流通カセットに収納してその記録媒体に管理番号を書き込む。 - 特許庁

Also, where the imaging apparatus uses live view image data successively acquired with an imaging element before main photographing to calculate AE/AWB correction value (control information), if a V line defect exists on the live view image, the imaging apparatus does not use pixel data equivalent to the V line defect from among the image data, but uses correction data by the V line defect correction.例文帳に追加

また、撮像装置では、本撮影前において撮像素子で順次に取得するライブビュー画像データを利用してＡＥ・ＡＷＢ補正値(制御情報)を算出するが、ライブビュー画像にＶライン傷が存在する場合には、画像データのうちＶライン傷に相当する画素データを用いず上記のＶライン傷補正による補正データを利用する。 - 特許庁

Thus, since the class of the defect is discriminated by clustering processing based on the feature value calculated from the information of the differential, in comparison with a case where an operator discriminates a defect class by individually and qualitatively inspecting the output image, for example, discrimination accuracy is not affected by operator's superior/inferior capability of estimating the defect class.例文帳に追加

この構成によれば、差分の情報から算出した特徴値に基づいてクラスタリング処理により欠陥種別を判定するため、例えば、オペレータが個別的かつ定性的に出力画像を検査して欠陥種別を判別する場合と比べて、判別精度がオペレータの欠陥種別を推測する能力の優劣に影響を受けることがない。 - 特許庁

This optical disk is provided with 1st and 2nd recording layers 11, 12 laminated on a substrate 10 and a defect list recording area 15 arranged at the end of the lead-in areas 13 of the recording areas 11, 12, and the defect list containing information on medium defects of both recording layers 11, 12 is recorded in each defect list recording area 15.例文帳に追加

基板１０上に書き換え可能な第１及び第２の記録層１１，１２が積層された光ディスクにおいて、記録層１１，１２のリードイン領域１３の末尾に欠陥リスト記録領域１５が配置され、それぞれの欠陥リスト記録領域１５に記録層１１，１２の両方の媒体欠陥に関する情報を有する欠陥リストが記録される。 - 特許庁

A unit for controlling color panels (R, G, and B panel modules 31, 32, and 33), connected optically in series and a luminance panel (luminance panel module 50), includes a defect correction data storing part 103 for storing information specifying defective pixels of color panels and a defect correction circuit 102 for controlling the luminance panel according to the defects of defective pixels stored in the defect correction data storage part 103.例文帳に追加

光学的に直列につながれた色パネル（R、G、Bパネルモジュール31、32、33）と輝度パネル（輝度パネルモジュール50）を制御する装置であって、色パネルの欠陥画素を特定する情報を記憶する欠陥補正用データ記憶部103と、欠陥補正用データ記憶部103に記憶されている欠陥画素の欠陥に応じて輝度パネルを制御する欠陥補正回路102とを備えている。 - 特許庁

To provide a defect inspection apparatus and a defect inspection method, which enable potential failures and signs of abnormality to be discovered in order to prevent any defect from occurring in its market, by referring to history information in the inspection process, even in the case of an object to be inspected whose apparent operation is normal or whose characteristic meets a specification.例文帳に追加

検査時に履歴情報も参照することにより、見かけ上正常動作しているまたは規格値に入っている検査対象であっても、潜在的な故障や異常の兆候を発見できるようにして市場での不良発生を未然に防止することができる不良検査装置および不良検査方法を提供する。 - 特許庁

In the disk reading device reading information from a disk having a plurality of clusters for recording dividedly information and having also substitute clusters in which the information is recorded instead of the cluster in which defect exists, the disk reading device has such constitution that first processing in which bit map data where existence of defect for each cluster on the disk is displayed with a bit map form is generated is performed.例文帳に追加

情報が分割記録されるための複数のクラスタを有する一方、ディフェクトのあるクラスタに代わって前記情報が記録される代替クラスタをも有するディスクから、前記情報を読み取るディスク読取装置において、前記ディスク上の各クラスタについてのディフェクトの有無をビットマップ形式で表す、ビットマップデータを生成する、第１処理を実行する構成のディスク読取装置とする。 - 特許庁

Here, even if defect management is performed in block units, data in an area smaller than a block can be replaced, and consequently the high-reliability information reproduction from the information recording medium becomes possible.例文帳に追加

そこで、欠陥管理がブロック単位で行なわれる場合であっても、ブロックより小さい領域でのデータの交替が可能となり、結果として情報記録媒体からの信頼性の高い情報再生が可能となる。 - 特許庁

To provide a method that can select only the necessary semiconductor packages by accumulating defects in each semiconductor package manufacturing process in the defect location recognition information, and reading the related board identification information.例文帳に追加

半導体パッケージの製造工程において工程毎に生じた不良箇所を不良位置認識情報に累積記録させ、基板識別手段の情報を読み取ることにより、必要とする半導体パッケージのみ選別する。 - 特許庁

When the filtering function and the sampling function are sequenced and registered, a filtering operation and a sampling operation are performed automatically on the basis of information on a wafer as an object to be observed, and only the defect information on the object to be observed is extracted.例文帳に追加

また、これらフィルタ、サンプリング条件をシーケンス化して登録しておくことにより、観察対象ウェハの情報により自動的にフィルタ、サンプリングを行い、観察対象欠陥情報のみを抽出する。 - 特許庁

A defect determination section 3 compares the output value of the Q filter for each pixel obtained by the filter application section 3 with a predetermined threshold, and outputs a pixel having an output value that is larger than the threshold and the Q filter output value as defect information.例文帳に追加

欠陥判定部３は、フィルタ適用部３により得られた各画素毎のＱフィルタの出力値を、予め定められたしきい値と比較し、しきい値より大きな出力値を持つ画素及びそのＱフィルタ出力値を欠陥情報として出力する。 - 特許庁

To provide a verifying method for verifying whether defect managing area(DMA) information is to be normally generated or updated after reinitialization while a defect list is removed without detection through disk recording/reproducing device and to provide a test device for performing the method.例文帳に追加

ディスク記録及び再生装置を通じ検定せずに欠陥リストを除去しつつ再初期化後に、欠陥管理領域（ＤＭＡ）情報を正常に生成または更新するかを検証するための検証方法及びこれを行うためのテスト装置を開示する。 - 特許庁