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「information defect」に関連した英語例文の一覧と使い方(10ページ目) - Weblio英語例文検索
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information defectの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 913



例文

To provide a method for detecting a defect capable of simply processing an image with less information and detecting a defect easily and quickly, and a device therefor, and a device and a device for manufacturing a film using the same.例文帳に追加

少ない情報量で単純に画像処理することができ、簡易かつ迅速に欠陥を検出する欠陥検出方法、欠陥検出装置、これらを用いたフィルムの製造方法及び装置を提供する。 - 特許庁

To ensure accurate fine alignment correction while reducing the man hour of a user required for review, in an observation device having a function to perform fine alignment by using the location information on a defect registered in a defect file.例文帳に追加

欠陥ファイルに登録された欠陥の位置情報を用いてファインアライメントを実行する機能を備えた観察装置において、ファインアライメント補正を正確なものとし、レビューのために要するユーザの工数を低減する。 - 特許庁

The device is also characterized by heightening defect discrimination accuracy by combining the frequency component information with the intensity/ratio/differential value of leakage flux signals having different magnetization conditions and the length/width/area or the like of the defect signals.例文帳に追加

また、周波数成分情報と、磁化条件の異なる漏洩磁束信号の強度・比・差分値、欠陥信号の長さ・幅・面積等とを組み合わせることで、欠陥の弁別精度を上げることができる。 - 特許庁

The defect correction method for correcting a defect on a substrate 6 wherein two or more circuit patterns are formed detects a defective part on the substrate 6 and acquires position information on the substrate 6 of the defective part.例文帳に追加

複数の配線パターンが形成された基板6上の欠陥を修正する欠陥修正方法であって、基板6上の欠陥部位を検出し、その欠陥部位の基板6上における位置情報を取得する。 - 特許庁

例文

Thus, the image signal processor performs processing of making an address of the defect information in matching with the image signal without changing the data sequence of the image signal read from the CMOS image sensor 200 so as to smoothly correct the defect.例文帳に追加

これにより、CMOSイメージセンサ200から読み出された画像信号のデータ順を変えることなく、画像信号と欠陥情報とのアドレスを一致させるような処理を行い、円滑な欠陥補正を行う。 - 特許庁


例文

Similarly, an automatic test pattern generation tool may use the defect location information to generate test data custom-tailored to check for faults corresponding to the identified defect in the specified portions of the microcircuit.例文帳に追加

同様に、自動試験パターン生成ツールは、欠陥位置情報を用い、微小回路の指定部分内の同定された欠陥に対応する故障を検査するために特別に作成された試験データを生成し得る。 - 特許庁

The work station (WS) 4 executes defect examination and defect analysis by segments, with respect to failure information on semiconductor memories measured by a memory tester 1, segment-classified prior to testing, and stored in the data storage part 3.例文帳に追加

ワークステーション(WS)4は、テスト前にセグメント分類され、データ格納部3に格納されているメモリテスタ1で測定した半導体メモリのフェイル情報をセグメントごとに不良調査及び不良解析を実行する。 - 特許庁

In the determining section 34 determines the existence of defects in panel images P1-P3 obtained by imaging are detected, its position is detected and the defect position information is stored, being associated with the panel images P1-P3 which have detected the defect.例文帳に追加

判定部34では、撮像により得られたパネル画像P1〜P3における欠陥の有無及びその位置を検出し、その欠陥位置情報を検出したパネル画像P1〜P3に対応付けて記憶する。 - 特許庁

On the basis of a detection position information signal (e) from the pixel defect detecting means 17, a defect correcting means 18 replaces the signal level of a defective pixel with a signal picked up with the other normal light receiving pixel.例文帳に追加

欠陥補正手段18は、画素欠陥検出手段17からの検出位置情報信号eに基づいて欠陥画素についてはその信号レベルを他の正常な受光画素で撮像した信号と置き換える。 - 特許庁

例文

In this recording medium, an information showing whether a linear substitution defect control substituting data on the excess area for a defect on the recording medium is used or not, is stored for recording the real time data in the recording area.例文帳に追加

本発明の記録媒体は記録領域にリアルタイムデータを記録するために、記録媒体上の欠陥を余裕領域のデータに置換する線形置換欠陥管理を使用するかどうかを示す情報を貯蔵する。 - 特許庁

例文

To provide an imaging device in which effective pixel defect information can be prevented from being missed depending on conditions or the like when a pixel defect of an imaging element is detected and stored after a product is shipped.例文帳に追加

製品出荷後に撮像素子の画素欠陥を検出し記憶させる際に、その時の条件等によって有効な画素欠陥情報が消失することを防ぐことが可能な撮像装置を提供する。 - 特許庁

At an unpacking-side base, the stock transition from the defect information acquisition to the defect countermeasure completion is predicted to select a transporting means so that the physical distribution cost becomes minimum at the time of replenishment with articles.例文帳に追加

さらに、開梱側拠点では、不具合情報取得から不具合対策完了までの在庫推移を予測することによって、物品を補充する際に物流コストが極小となるように輸送手段を選択する。 - 特許庁

A defect information file from another testing apparatus is retrieved, and based on the content of the file, a new recipe for the circuit pattern testing apparatus 1 is created.例文帳に追加

また、他の検査装置で検査された欠陥情報ファイルを読み込み、その内容から当該検査装置用のレシピを生成する。 - 特許庁

To provide a storage medium management device, program, and method for decreasing write size of defect management information.例文帳に追加

欠陥管理情報の書き込みサイズを削減する記憶媒体管理装置、記憶媒体管理プログラム、記憶媒体管理方法を提供する。 - 特許庁

To provide an information processing system that can prevent a defect when a bus tying a target and an initiator is reset while the target processes a command received from the initiator.例文帳に追加

ターゲットがイニシエータから受けたコマンドの処理をしている際に両者を結ぶバスがリセットされた場合の不具合を防止する。 - 特許庁

When information is written or read with respect to the position of the detected defect, tracking servo or focus servo is held.例文帳に追加

検出された欠陥の位置に対し情報の書き込み又は読み出しが行われる際には、トラッキングサーボ及びフォーカスサーボがホールドされる。 - 特許庁

To guarantee high reliability for control information provided for relieving defect or the like of a plurality of on-chip circuit modules.例文帳に追加

複数のオンチップ回路モジュールに対する欠陥救済等のために配信される制御情報に対して高い信頼性を保証する。 - 特許庁

This system is related to determination whether a physical defect is included in one sector by using the information obtained from many servobits.例文帳に追加

多数のサーボビットから得た情報を用いて1セクタに物理的欠陥が含まれているかどうかを決定することと関係がある。 - 特許庁

A second redundant memory cell is used when second defective position information indicating a position of defect is programmed in a second redundant program part.例文帳に追加

第2冗長メモリセルは、不良の位置を示す第2不良位置情報が第2冗長プログラム部にプログラムされたときに使用される。 - 特許庁

A defect compensation circuit 19 compensates for defective pixels according to the position information about defective pixels described on the selected defective pixel map.例文帳に追加

欠陥補正回路19は、選択した欠陥画素マップに記載の欠陥画素の位置情報に基づいて欠陥画素を補正する。 - 特許庁

When defect information is not contained in the data which is read out from the compact memory 120, data in the corresponding partial address space is not transferred.例文帳に追加

コンパクトメモリ120から読み出されたデータに不良情報がなければ、対応する部分アドレス空間のデータは転送されない。 - 特許庁

An operation reception part 102 receives the input identification code and error checking code as defect information and passes it to a correction part 104.例文帳に追加

操作受付部102は、入力された識別符号及び誤り判定符号を不良情報として受け付け、補正部104に渡す。 - 特許庁

In the semiconductor memory device and the driving method, the repair information is preserved while the memory cell and the bit line where a defect occurs are avoided.例文帳に追加

この半導体メモリ装置及び駆動方法によれば、欠陥が発生したメモリセル及びビットラインを避けてリペアー情報が保存される。 - 特許庁

To improve a read-out speed of information and also to read the information without lack and loss against a main cause of external disturbance (defect) such as dust, scratch, etc., corresponding to openings.例文帳に追加

情報の読み出し速度を向上させることができ、さらに開口に対応するごみや傷などの外乱要因(欠陥)に対して、情報を欠損なく、読み出すことを可能とする。 - 特許庁

The second sector scanning image information 201 in the orthogonal direction including image information of the defect is generated, based on a reflecting echo signal acquired by the second sector scanning.例文帳に追加

その欠陥の画像情報を含む、交差する方向における第2セクタ走査画像情報201を、第2セクタ走査にて得られる反射エコーの信号に基づいて作成する。 - 特許庁

The optical information recording/reproducing device records information, by using a predetermined area in a second layer corresponding to the position of a first layer of which a defect is detected, as a defective area.例文帳に追加

光情報記録再生装置は、第1の層の欠陥が検出された位置と対応する第2の層における所定の領域を、欠陥領域として情報を記録する。 - 特許庁

To provide a radiation image information reader that can eliminate an operation defect by properly evading entry of dust and read radiographic image information with high precision.例文帳に追加

塵の浸入を好適に回避して装置の動作不良の発生をなくすとともに、放射線画像情報を高精度に読み取ることのできる放射線画像情報読取装置を提供する。 - 特許庁

To stably and securely read 2nd digital information as copyright protection information without being influenced by a defect or pit absence on a disk-like recording medium.例文帳に追加

ディスク状記録媒体上に存在するディフェクトやピット欠落の影響を受けることなく、安定かつ確実に著作権保護情報としての第2のデジタル情報の読み取りを可能とする。 - 特許庁

To provide a digital broadcast receiver capable of reducing a defect imposed on display of a plurality of kinds of information items even when a processing load is increased in the case that the display of the information items is effective.例文帳に追加

ディジタル放送受信装置における複数種類の情報の表示を有効としている場合で処理負荷が増大しても当該表示にかかる不都合を軽減する。 - 特許庁

Next, a board recognition means 4 is assigned to a part of the board as a means for recording bar codes or tags so that defect recognition location information and board recognition information can be recorded in pairs.例文帳に追加

次に、バーコードあるいはタグなどの記録手段としての基板認識手段4を基板一部に割り付けして、不良認識位置情報と基板認識情報を対応させて記録する。 - 特許庁

A defect evaluation part 20 performs arithmetic processing of periodic magnetic field information extracted by the periodic information extraction means 15 and evaluates defects of the specimen such as scars and cracks.例文帳に追加

欠陥評価部20は、周期情報抽出手段15によって抽出された周期的な磁場情報を演算処理し、被検体のきず及びや割れなどの欠陥を評価する。 - 特許庁

To provide an information management method that monitors a system by remote management where an operator uses a mobile terminal to surely and quickly receive the system information and can efficiently cope with a defect or the like.例文帳に追加

遠隔管理でシステムの監視を行うとき、作業員は、携帯端末を用いて、システムの情報を確実にかつ迅速に受信し、障害などの対処を効率よく行う。 - 特許庁

The amount of information of the image is cut down and recorded at the down and recorded at the same time recording density of an information block is lowered and recorded in a region where the defect detection frequency of the optical disk is high.例文帳に追加

光ディスクのディフェクト検出頻度が高い領域において情報ブロックの記録密度を低下させて記録すると同時に画像の情報量も落として記録する。 - 特許庁

A defective pixel address storage unit 320 stores the position information of a defective pixel and pixel defect information indicating whether the defective pixel is included in a defective pixel group or not, while making them associate with each other.例文帳に追加

欠陥画素アドレス記憶部320には欠陥画素の位置情報とこの欠陥画素が欠陥画素群に含まれるか否かの画素欠陥情報とを関連付けて記憶する。 - 特許庁

A coordinate difference information for each of defect inspection devices 41 and 42 is stored beforehand in an image observation SEM storage device 45, and the difference information is used to calibrate a defect position coordinate outputted from the devices 41 and 42 for a coordinate value as a coordinate value for the image observation SEM.例文帳に追加

像観察SEMの記憶装置45に、予め欠陥検査装置41,42毎の座標誤差情報を記憶しておき、その誤差情報を用いて欠陥検出装置41,42から出力された欠陥位置座標を像観察SEM用の座標値に校正する。 - 特許庁

The memory test circuit constitutes a part of a test pattern, executes the test to a memory 2 according to a pattern mode signal for specifying the partial pattern consisting of a plurality of operation and stores the pattern mode signal in a defect information storing register 17 as the part of the defect information.例文帳に追加

本発明にかかるメモリテスト回路は、テストパタンの一部を構成し、複数の動作からなる部分パタンを指定するパタンモード信号に応じてメモリ2に対するテストを実行するとともに、パタンモード信号を不良情報の一部として不良情報格納レジスタ17に格納するものである。 - 特許庁

The defect information of a half-product is previously transmitted to a customer through the Internet, the customer judges whether the completion of a product is available or not on the basis of the defect information and a manufacturer receives a production command from the customer through the Internet and manufactures a product on the basis of the production command.例文帳に追加

あらかじめ半製品における欠陥情報を、インターネットを経由して顧客に送信し、該欠陥情報に基づいて顧客が製品化の可否を判断し、製品化指令をインターネットを経由して顧客から受信し、該製品化指令に基づいて製品にする。 - 特許庁

Radioactive rays penetrating the object irradiates against the picture pick-up panel 11, a produced second image data is wrote in the image memory 20, and the image data of the position represented by the defect information memorized in the defect information memory 26 is amended by the image data of normal image elements of this position.例文帳に追加

被写体を透過した放射線を撮像パネル11に照射して作成した第2の画像データを画像メモリ部20に書き込み、欠陥情報メモリ部26に記憶されている欠陥情報で示された位置の画像データを、この位置の周囲の正常画素の画像データを用いて補正する。 - 特許庁

To classify defects very effectively, simply and exactly by using the minimum defect information, by obtaining only defect information required to classify the defects, when identifying and classifying the defects of objects to be inspected by using an optical microscope and an electron microscope.例文帳に追加

光学顕微鏡及び電子顕微鏡を用いて被検査体の欠陥を識別して分類するに際して、欠陥の分類を行うのに必要な欠陥情報のみを取得し、最小限の欠陥情報により極めて効率良く、極めて簡易且つ正確に欠陥の分類を行う。 - 特許庁

Radiation transmitted through a subject is radiated on the imaging panel 11, which is developed as a second image data and written in the image memory part 20, and the image data of the position indicated in the defect information memorized in the defect information memory part 26 is corrected to acquire the preferable radiation image.例文帳に追加

被写体を透過した放射線を撮像パネル11に照射して作成した第2の画像データを画像メモリ部20に書き込み、欠陥情報メモリ部26に記憶されている欠陥情報で示された位置の画像データを補正して良好な放射線画像を得る。 - 特許庁

To provide a detection method for medium defect of information storage device by which a minute medium defect is surely detected, and an information storage device having error-correcting ability.例文帳に追加

エラー訂正能力をもつ情報記憶装置の媒体の欠陥を検出するための媒体欠陥検出方法及び情報記憶装置に関し、微小な媒体欠陥を確実に検出できる媒体欠陥検出方法及び情報記憶装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

Troubles for presetting detailed conditions before review are saved, and proper conditions are automatically decided in a short time based on defect information delivered from a defect inspection device and information obtained in actual review.例文帳に追加

欠陥検査装置から送られてくる欠陥情報及び実際のレビュー中に得られる情報に基づき、種々の条件を自動的に決定することによって、レビュー前に予め詳細条件を設定する手間を省き自動的かつ短時間で適正な条件を決定する。 - 特許庁

This contiguous data area performs setting across either a different file recording region that is already recorded on the information storage medium or the defect region on the information storage medium, and sets an extent, as an information recording place, for a region which is divided by the different file recording region or the defect region on the information storage medium.例文帳に追加

このコンティギュアスデータエリアは、情報記憶媒体上に既に記録されている別のファイル記録領域または情報記憶媒体上の欠陥領域のいずれか一方をまたがって設定し、別のファイル記録領域または情報記憶媒体上の欠陥領域により分割される領域に対して情報記録場所としてのエクステント(extent)を設定している。 - 特許庁

In the case of detecting a pixel defect, a pixel defect information acquisition section 112a provided to a system controller 112 uses an exposure control device 103 and a CCD driver 106 to control an exposure and charge storage time of a CCD imaging element 105 thereby acquiring the information with respect to the pixel defect in a prescribed operating state of the CCD imaging element 105.例文帳に追加

画素欠陥の検出時には、システムコントローラ112に設けられた画素欠陥情報取得部112aが露出制御機構103およびCCDドライバ106を用いてCCD撮像素子105の露光および電荷蓄積時間を制御することにより、CCD撮像素子105の所定の動作状況における画素欠陥に関する情報が取得される。 - 特許庁

An evaluation value computing section computes the defect rate during assembly and the defect rate after shipment based on supply record information and information on defects found during assembly and that found after shipment acquired by an acquisition means 2, and computes the faulty evaluation value of the components based on those defect rate.例文帳に追加

評価値算出部によって、取得手段2によって取得される納入実績情報、組立時発見不良情報および出荷後発見不良情報に基づいて、組立時における部品の不良発生率および出荷後における部品の不良発生率が算出され、またこれらの各不良発生率に基づいて、部品の不良評価値を算出される。 - 特許庁

To record high-speed history information by an interleave system using a low-speed memory, and to analyze a cause of a defect in a measured semiconductor.例文帳に追加

低速のメモリでインターリーブ方式により高速の履歴情報を記録し、被測定半導体の不良原因を解析できるようにする。 - 特許庁

To accurately detect defect information about dust and a flaw on the image forming face and the base side face of a photographic film F which is set on a film carrier FC.例文帳に追加

フィルムキャリアFCにセットした写真フィルムFの画像形成面とベース側面とのゴミや傷の欠陥情報を精度高く検出する。 - 特許庁

To provide a manufacturing information management system in which a relationship between a defect of a product and trouble of manufacturing equipment can be found out even after shipping of the product.例文帳に追加

製品出荷後でも製品の不良と製造装置の不具合の関係を究明可能な製造情報管理システムを提供する。 - 特許庁

Then the command value of the laser apparatus is adjusted on the basis of the operating information items so as to prevent a pattern defect on the integrated circuit chip.例文帳に追加

そしてこれらの動作情報に基づいて集積回路チップにパターン不良が生じないようにレーザ装置の指令値を調整する。 - 特許庁

例文

A memory 15 stores defective pixel information (defective pixel addresses, correction gain values, offset correction values, defect types) of the imaging device 10 in advance.例文帳に追加

メモリ15は、あらかじめ撮像素子10の欠陥画素情報(欠陥画素アドレス、補正ゲイン値、オフセット補正値、欠陥の種類)を格納している。 - 特許庁




  
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