「information defect」に関連した英語例文の一覧と使い方(18ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a system, a program therefor, and a method thereof, which can reliably identify a manufacturing device as a defect generation cause, without having to depend on information about what kind of defects a group of such manufacturing devices forming a manufacturing line, or the like, have generated.例文帳に追加

製造ライン等を構成する製造装置群が過去にどのような欠陥を発生したかという情報に頼ることなく、欠陥の発生原因となっている製造装置を的確に特定することのできる装置、そのプログラム、及びその方法を提供することである。 - 特許庁

To provide a manufacture inspection analyzing system capable of appropriately specifying a processor or a processor group as the cause of occurrence of a defect during manufacturing of a processed body, without performing processing such as attaching information on a processor having performed processing to the processed body.例文帳に追加

被処理体に対して処理した処理装置の情報を付与するなどの処理を行うことなく、被処理体の製造途中において、的確に欠陥の発生要因となる処理装置または処理装置群を特定することを可能とする製造検査解析システムを提供する。 - 特許庁

A semiconductor integrated circuit (1) does not use a nonvolatile memory connected to a common bus (5) and utilized for general purposes, but uses a nonvolatile memory cell (6) of a fuse circuit (7) connected to a dedicated signal line (9), to store control information for relieving defect or the like of circuit modules (2, 3).例文帳に追加

半導体集積回路（１）は、回路モジュール（２，３）の欠陥救済等のための制御情報の記憶に、共通バス（５）に接続される汎用利用される不揮発性メモリを用いず、専用信号線（９）に接続されたヒューズ回路（７）の不揮発性メモリセル（６）を用いる。 - 特許庁

Defect inspection, with high sensitivity, is made possible by irradiating the optical film, while scanning it with inspection light across the transparent film 30 to sense changes in intensity of reflected inspection light, is sensed, and determining the number of defects in the optical film plane, on the basis of information about changes in the intensity of reflected light.例文帳に追加

そして、光学膜に透明膜３０を介して検査光を走査させながら照射して検査光の反射光強度の変化を検知し、反射光強度の変化情報に基づいて光学膜面内の欠陥数を求めると、高感度での欠陥検査が可能となる。 - 特許庁

To provide an image recorder where the faulty transport of sheet type recording material and the defect of the length of the recording material is prevented in advance so as to stably transport the recording material by monitoring the staining of a pair of transport rollers and appropriately providing processing information on the staining of the rollers.例文帳に追加

搬送ローラ対のローラ汚れを監視し、ローラ汚れに対する処理情報を適切に提供することでシート状の記録材料の搬送不良や記録材料長の不良の発生を未然に防ぎ、記録材料を安定して搬送できる画像記録装置を提供する。 - 特許庁

To provide a coordinate correction method between different apparatuses which enables access to a defective position simply and precisely with a defective review system, based on coordinate information of an arbitrary defect obtained by a shape defective inspection device, and to provide an inspection method using the coordinate correction method.例文帳に追加

外観欠陥検査装置で取得した任意の欠陥の座標情報に基づき欠陥レビュー装置で当該欠陥位置に容易に且つ精度良くアクセス可能にする異なる装置間の座標補正方法及びこの座標補正方法を用いた検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method for inspecting substrates, whereby an inspection time for observing or inspecting the substrate can be shortened, and the discrimination for shapes of parts including defect present on the substrate, and the resolution for images and shape information obtained by observing or inspecting the substrate can be improved fully.例文帳に追加

基体の観察叉は検査を行う際の検査時間を短縮できると共に、基体上に存在する欠陥を含む部位の形状識別性、及び、基体の観察叉は検査で取得される画像及び形状情報の分解能を十分に向上できる基体検査方法を提供する。 - 特許庁

A machine and a method for laser cutting are provided with which a log composed of such information as the program number of the cutting program corresponding to the performed retry operation, the time when the defect is generated and the sequence number or the like is stored in a storage 11 and the log is displayed on a display panel 15.例文帳に追加

リトライ動作を実行した該当の切断プログラムのプログラム番号や異常発生時刻やシーケンス番号等の情報から構成されるログを記憶部１１に記憶し、前記ログを表示パネル１５に表示するようになっているレーザ切断機及びレーザ切断方法を提供する。 - 特許庁

A defect data acquiring section 17 monitors a defective position in broadcast data and, when the defective position in the broadcast data is detected, acquires substitute data determined based on a playback position at a present point of time, the defective position of in the broadcast data and information on the substitute data.例文帳に追加

欠損データ取得部１７が、放送データの欠損した位置を監視すると共に、放送データが欠損した位置を検知した場合に、その欠損位置を再生するまでに、現時点の再生位置、放送データの欠損位置及び代替データの情報に基づいて決定された代替データを取得する。 - 特許庁

By reading the history information of the respective IC chips 2, 3 and 4 out of the nonvolatile memory chip 3, the IC chip, which is the factor of a defect, can be specified so that the remaining non-defective IC chips can be effectively utilized and diverted to the product of the other purpose or the like.例文帳に追加

不揮発性メモリチップ３から各ＩＣチップ２、３、４の履歴情報を読み出すことにより、不良品化の原因となったＩＣチップを特定できるので、不良でない残りのＩＣチップを有効利用して、別の用途の製品などに転用することができる。 - 特許庁

A defect is determined by an image processing unit 232 (image processing unit 332) in the macro inspection camera part 230 (micro inspection camera part 330), the radio communication information frame 600 is transmitted together with a substrate image data of a substrate 30 only when required, a data of the radio-transmitted radio communication information frame 600 is reduced thereby to prevent convergence of a communication band and to attain smooth communication.例文帳に追加

マクロ検査カメラ部２３０（ミクロ検査カメラ部３３０）では、画像処理ユニット２３２（画像処理ユニット３３２）で欠陥を判別し、必要な場合にのみ、無線通信情報フレーム６００に基板３０の基板画像データを乗せて送信することで、無線通信される無線通信情報フレーム６００のデータを減らして、通信帯域の輻輳を防止し、円滑な通信を実現する。 - 特許庁

A defect judging part 22 judges whether the respective through-holes are defective or not based on comparison result between hole information concerning the through-hole which exists in the object pattern division area extracted as the defective candidate area among the plurality of object pattern division areas and hole information concerning the through-hole which exists in the master pattern area corresponding to the defective candidate area.例文帳に追加

さらに、欠陥判定部２２は、複数のオブジェクトパターン区分領域のうち欠陥候補領域として抽出されたオブジェクトパターン区分領域に存在する貫通孔についての孔情報と、欠陥候補領域に対応するマスターパターンの領域内に存在する貫通孔についての孔情報との比較結果に基づいて、各貫通孔が欠陥であるか否かを判定する。 - 特許庁

The inspection device of the display device includes a pattern control part for controlling a pixel control part for controlling the state of a pixel disposed in the display device, and making the display device display an image pattern having a discrete point string, an imaging part for acquiring image information by imaging the image pattern, and an inspection part for inspecting a defect based on the image information.例文帳に追加

表示デバイスに設けられた画素の状態を制御する画素制御部を制御して前記表示デバイスに離散的な点列となるような画像パターンを表示させるパターン制御部と、前記画像パターンを撮像して画像情報を取得する撮像部と、前記画像情報に基づいて欠陥の検査を行う検査部と、を備えたことを特徴とする表示デバイスの検査装置が提供される。 - 特許庁

Defects imaged in the respective selected inspection images are correlated, and processing is carried out to compose one two-dimensional composition image 100 from the respective selected inspection images, based on defect position information input as information indicating positions of the defects imaged in the respective selected inspection images, when receiving an instruction to select at least two out of the two or more of inspection images, and the composition image 100 is displayed.例文帳に追加

また、そのうち少なくとも２枚を選択する指示が受け付けられると、選択された各検査画像に写っている欠陥の位置を示す情報として入力される欠陥位置情報に基づいて、選択された各検査画像に写っている欠陥同士を関連付けて、選択された各検査画像から１枚の２次元合成画像１００を合成する処理が行われ、合成画像１００が表示される。 - 特許庁

This visual inspection system has a recording means for recording information including at least defect coordinates provided from an inspection result in an automatic inspection means arranged at least one portion or more in a manufacturing process while combined to an identification code imparted on a device substrate, and a visual inspection terminal for reading out the information recorded in the recording means by the identification code to be informed to a visual inspector.例文帳に追加

製造工程の少なくとも１箇所以上に配置された自動検査手段の検査結果から得た、少なくとも欠陥座標を含む情報をデバイス基板上に付された識別コードと結び付けて記録する記録手段を有し、該記録手段に記録された情報を該識別コードによって読み出して目視検査員に通知する目視検査端末を有することを特徴とする目視検査支援システム。 - 特許庁

A defect correcting circuit 222 of an image processing circuit 20 collates single defective pixel address information on a memory 30 and if it is discriminated that data of an address corresponding to a defective pixel are outputted from an A/D converter 16, processing is performed for replacing these output data with a previous pixel output in the same color.例文帳に追加

画像処理回路２０の欠陥補正回路２２２は、メモリ３０上の単独欠陥画素アドレス情報を照合し、欠陥画素に該当するアドレスのデータがＡ/Ｄ変換機１６より出力されたことを判別した場合には、この出力データに替えて直前の同色画素出力に置き換える処理を行う。 - 特許庁

To provide an ultrasonic inspection method and an ultrasonic inspection device allowing three-dimensional inspection data and three-dimensional shape data to be positioned on a display screen and allowing a defect echo and a shape echo to be quickly identified even when no information on the relative positions of a sensor and an object to be inspected is provided.例文帳に追加

センサと検査対象の相対位置に関する情報が無い場合においても、３次元探傷データと３次元形状データの表示位置合わせを可能にし、欠陥エコーと形状エコーの識別を迅速にできるようにした超音波探傷方法および超音波探傷装置を提供することにある。 - 特許庁

The signal processing circuit 130 includes a formatter 134 which generates a signal based upon external supply pattern information, a driver 136 which generates an inspected body drive signal based on the signal, and a comparing circuit 138 which receives a response signal from the body to be inspected and outputs an inspected body defect signal to the delivering circuit 132.例文帳に追加

信号処理回路１３０は、外部供給パターン情報を基に、信号を発生するフォーマッタ１３４と、信号を基に被検査体駆動信号を発生するドライバー１３６と、被検査体からの応答信号を受けて、被検査体不良信号を受け渡し回路１３２に出力する比較回路１３８とを含む。 - 特許庁

A camera 1 includes a focus detecting sensor composed of a plurality of first focus detecting pixels and a plurality of second focus detecting pixels, and having a plurality of focus detecting pixel pairs composed of the first focus detecting pixels and second focus detecting pixels, and stores defect information showing the defective pixels.例文帳に追加

カメラ１は、複数の第１の焦点検出用画素と複数の第２の焦点検出用画素から構成され、第１の焦点検出用画素と第２の焦点検出用画素とが構成する焦点検出用画素対を複数有する焦点検出センサを有し、その欠陥画素を示す欠陥情報を記憶する。 - 特許庁

To provide a device in which a probe can be used both for observation and correction and which can perform desired processing without injuring a normal portion, even if a next generation photomask having a ultrafine structure is used as an object, in a step of acquiring information about the position and feature of a defect, or without damaging the probe during processing.例文帳に追加

観察用と修正用とでプローブを兼用でき、次世代の超微細構造のフォトマスクを対象としても欠陥部の位置と形状の情報を取得する過程において正常部分を損傷してしまうようなことがなく、また、加工時にもプローブを傷めることなく所望の加工ができる装置を提供する。 - 特許庁

In addition, since a processing section 23 of a home gateway 200 transmits address information of an IP terminal 100 to a support terminal 300, a connection can be immediately made from the support terminal 300 to the IP terminal 100 through the home gateway 200, and checking and handling the defect can be immediately performed from the WAN side.例文帳に追加

また、ホームゲートウェイ２００の処理部２３がＩＰ端末１００のアドレス情報をサポート端末３００に送信するので、ホームゲートウェイ２００を介してサポート端末３００からＩＰ端末１００に即時的に接続可能であり、ＷＡＮ側から即時的に検査や不具合を対処することが可能となる。 - 特許庁

A CPU 10 detects a defective area in the recording area of an optical disk 4, secures an alternative area having the same size as that of the detected defective area for the defective area from the free area of the recording area, and records defect alternating information composed of the addresses and sizes of the alternative and defective areas on the optical disk 4.例文帳に追加

ＣＰＵ１０は、光ディスク４の記録領域の欠陥領域を検出し、その検出された欠陥領域に対するその欠陥領域と同サイズの代替領域を記録領域の空き領域から確保し、代替領域と欠陥領域のアドレス及びサイズの欠陥代替情報を光ディスク４に記録する。 - 特許庁

When detecting the impossibility of using a trial recording area for obtaining optimal recording/reproducing conditions in the combination of a recording medium with a recorder, trial recording is carried out in a data recording area, and management information including an address pointer indicating the position of the trial recording is recorded in a defect management area.例文帳に追加

記録媒体と記録装置の組み合わせで最適な記録再生条件を求めるための試し記録領域が使用不能と検出された場合に、データ記録領域内に試し記録を行い、試し記録が行われた位置を示すアドレスポインタを含む管理情報を欠陥管理領域に記録するようにする。 - 特許庁

To provide a liquid crystal display device used in a display part of an information apparatus or the like, which has short-circuit defects easily repaired to improve the yield of manufacturing and to provide a substrate for the liquid crystal display device and a defect repair method for the liquid crystal display device.例文帳に追加

本発明は、情報機器等の表示部に用いられる液晶表示装置の欠陥修復方法に関し、短絡欠陥を容易に修復でき、製造歩留まりを向上できる液晶表示装置及びそれに用いられる液晶表示装置用基板及びその欠陥修復方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

The device for reproducing a disk acquires a defect list on which correspondence information on a defective block and an alternative block is registered with the classification of the defective block from a recording medium, and reads the alternative block and transfers it to the origin of a reproduction request when it is necessary to read the defective block from the recording medium.例文帳に追加

欠陥ブロックと代替ブロックとの対応情報が欠陥ブロックの種別とともに登録された欠陥リストを記録媒体から取得しておき、該記録媒体から欠陥ブロックを読み出す必要がある場合は、その代替ブロックを読み出して再生要求元に転送するディスク再生装置を前提としている。 - 特許庁

In the case where the image processing apparatus is a digital compound machine provided with a facsimile application and a printer application in addition to a copy application, or any defect exists in the network environment, image data and bibliographic information stored in a mass storage are selectively transmitted to an external device depending on each application and network environment.例文帳に追加

画像処理装置がコピーアプリケーションに加えて、ファクシミリアプリケーションやプリンタアプリケーション等を搭載したデジタル複合機である場合やネットワーク環境に不具合がある場合、各アプリケーションやネットワーク環境に応じ、大容量記憶装置に記憶されている画像データと書誌情報を外部機器に対して選択的に伝送する。 - 特許庁

A workflow server device 10 connectable to a workflow system 1 designed for application, circulation and approval of electronic documents on an electronic system extracts and accumulates flow data from examination data sent from client devices 12 (12A to 12D), and extracts and accumulates defect information about application rejection from the accumulated flow data.例文帳に追加

電子システム上で電子文書の申請・回覧・承認を行うワークフローシステム１に接続可能なワークフローサーバー装置１０により、クライアント装置１２（１２Ａ〜１２Ｄ）から送られた審査データからフローデータを抽出し蓄積し、蓄積したフローデータから申請却下に係る不具合情報を抽出し蓄積しておく。 - 特許庁

By this arrangement, the real time data are recorded and/or reproduced in such a manner that the linear substitution is not performed when the real time data are recorded while keeping the interchangeability with the defect control method decided by the present specification of DVD-RAM, i.e., information the presence of a block not subjected to linear substitution.例文帳に追加

これにより、現在のDVD−RAM規格で定まっている方法による欠陥管理方法と互換性を維持しながら即ち、線形置換されないブロックがあるということを知らせるようにしながら、リアルタイムデータを記録する場合には線形置換しないことによってリアルタイムデータが記録及び／または再生できる。 - 特許庁

To provide an image reading recording device that records image information of a recorded sheet so as to detect a recording defect without soiling the original sheet even when a recording process section gets dirt, and prevents an original sheet from being damaged even when the recording process section includes a thermal fixing device that applies a strong pressure onto the original sheet or the like.例文帳に追加

記録済のシートの画像情報を読み取って記録不良を検出可能とし、記録プロセス部に汚れなどが付着している場合でも、原稿シートが汚れることなく、記録プロセス部にシートに強い圧力をかける熱定着器等などが含まれている場合であっても原稿シートがダメージを受けないようにする。 - 特許庁

It has implemented preventative measures which can detect a small defect, such as over 80 operating data points collected from inside its own boilers and sent online to its information center 24 hours a day/365 days a year. This company is putting effort into maintenance work on its boilers with more and better service engineers.例文帳に追加

同社は、自社のボイラー内部より得られる80 以上の運転情報をオンラインで365日24 時間同社の情報センターに収集するなど、細かな異常も察知する予防的対処を実施しており、メンテナンスのためのサービス・エンジニアを拡充するなど、自社製品のメンテナンス業務に力を入れている。 - 経済産業省

The temporary defect management area includes a portion where a defective area list 1 constituted of clusters succeeded in first writing, a defective area list 2 constituted of clusters succeeded in writing retrial, and a defective area list 3 included in a last cluster including the structure information area are arrayed in order.例文帳に追加

この一時的欠陥管理領域には、最初の書き込みで、書き込みに成功したクラスタからなる欠陥領域リスト(1)、書き込みのリトライで、書き込みに成功したクラスタからなる欠陥領域リスト(2)、前記構造情報を含む最後のクラスタに含まれる欠陥領域リスト(3)の順に並べられている部分がある。 - 特許庁

To simultaneously obtain images at a number of locations only by imaging from one direction even in each curved surface such as inner/outer sides by application to the acquisition of image information in a surface defect automatic inspection such as the outer surface, inner surface, inner bottom surface, end face, or the like of each kind of cylindrical component or the like.例文帳に追加

各種筒状部品等の外側面、内側面、内底面および端面等の表面欠陥自動検査における画像情報取得に適用することにより、内外側面等の各曲面においても、一方向からの撮像のみにより、多数ヶ所の画像を同時に得ることができるようにする。 - 特許庁

In order to detect a defect of the image formed on the recording medium efficiently, an image setting mode and post processing mode are decided from received information together with the image data, an inspection area needing inspection is decided in accordance with the decided mode, and a time for inspection is reduced by inspecting the inspection area only.例文帳に追加

記録媒体上に形成された画像の欠陥を効率的に検出するために、画像データとともに受信した情報から画像設定モードおよび後処理モードを判別し、判別したモードに応じて検査を必要とする検査領域を決定し、その検査領域だけを検査することで検査時間を短縮する。 - 特許庁

If the deal does not concern specific goods, and if the goods can be replaced with other goods available in the market, the seller is responsible to deliver the product free of defect in accordance with the description thereof and the buyer may demand to exchange a defective product with a non-defective product as described in the exhibit information (description). 例文帳に追加

出品物の個性に着目した取引ではなく、代替品を市場で調達することができる不特定物の場合には、売主は表示に従った欠陥のない商品の引渡義務があり、買主は売主に対し、商品表示に従った欠陥のない商品を引き渡すよう請求できる。 - 経済産業省

When specifying the position to be observed on a sample and applying electron beams for forming an image, based on the position information of a defect inspected and detected by other inspection device, observation of electrical defects that can be conducted with a potential contract by designating electron beam irradiation conditions, detectors, detection conditions, and the like, according to the types of defects to be observed.例文帳に追加

他の検査装置で検査され、検出された欠陥の位置情報をもとに、試料上の被観察位置を特定し、電子線を照射し画像を形成する際に、観察すべき欠陥の種類に応じて電子ビーム照射条件および検出器、検出条件等を指定することにより、電位コントラストで観察可能な電気的欠陥が可能になる。 - 特許庁

The processing device 3 provides a first inspection domain in the direct irradiation area on the picked-up image picked up by the imaging device 2, and sets a second inspection domain in the diffused light irradiation area, and detects a defect related to irregularities on the inspection surface B by using brightness information of at least either of the first inspection domain and the second inspection domain.例文帳に追加

処理装置３は、撮像装置２で撮像された撮像画像において直接照射エリアに第１の検査領域を設けるとともに拡散光照射エリアに第２の検査領域を設定し、第１の検査領域および第２の検査領域の少なくとも一方の輝度情報を用いて、被検査面Ｂの凹凸に関する欠陥を検出する。 - 特許庁

The liquid crystal display device includes: a liquid crystal panel 2; a backlight 6 irradiating the liquid crystal display panel 2 with light from the rear surface side thereof and constituted of an LED panel; a control part controlling luminance of each of LEDs 63 of the LED panel in a predetermined set value; and an input I/F part in which position information of a pixel 21a in which the bright spot defect is generated is input.例文帳に追加

液晶表示装置は、液晶パネル２と、液晶パネル２にその背面側から光を照射するＬＥＤパネルで構成されたバックライト６と、ＬＥＤパネルの各ＬＥＤ６３の輝度を予め定められた設定値とする制御部と、輝点不良が生じた画素２１ａの位置情報が入力される入力Ｉ／Ｆ部とを備える。 - 特許庁

This magnetic tape segmenting device has memory means which stores the position of the defective segment of a raw sheet of the magnetic tape, a take-up device 14 which delivers the magnetic tape from the raw sheet and winds the tape as a product and discharge means 17 which removes the tape contained with the defective segment from the products in accordance with the defect position information of the memory means.例文帳に追加

磁気テープ原反の欠陥部分の位置を記憶した記憶手段と、磁気テープを前記原反から繰り出して製品として巻回する巻取り装置１４と、前記記憶手段の欠陥位置情報に基づいて前記製品のうち前記欠陥部分が含まれるものを取り除く排出手段１７とを備えた磁気テープ切出し装置１０。 - 特許庁

Thus, an actual CAD model which is more faithful to the shape of the prototype can be created by positioning the actually measured CAD model with the reference CAD model 32 by using a positioning processing part 22 and compensating a defect part of the actually measured CAD model by the shape information of a corresponding part of the reference CAD model 32 by using a model correction processing part 24.例文帳に追加

そこで、位置合わせ処理部２２で実測ＣＡＤモデルと基準ＣＡＤモデル３２とを位置合わせし、モデル修正処理部２４にて実測ＣＡＤモデルの欠落部分を基準ＣＡＤモデル３２の対応部分の形状情報で補完することにより、試作品の形状により忠実な実物ＣＡＤモデルを作成することができる。 - 特許庁

To provide a method for manufacturing an apparatus of a panel for information display, which can prevent a display defect like dot loss by applying ultrasonic vibrations from an ultrasonic transducer to a substrate filled with particle groups within cells via an ultrasonic cooling stage, thereby rapidly removing the unnecessary particle groups in a short time and performing filling of the required particle groups, and a manufacturing method.例文帳に追加

セル内に粒子群を充填した基板に超音波クリーニングステージを介して超音波振動子から超音波振動を加えることにより、短時間で不要粒子群を除去して所要粒子群の充填を行い、ドット欠けの表示不良を防止し得る情報表示用パネルの製造装置および製造方法を提供する。 - 特許庁

To record and reproduce data by previously protecting data from being lost owing to an after-defect on a magnetic disk and the deterioration of performance in a recording and reproducing head, dividing data information into lengths correctable by an error correction code(ECC) in order to improve the data error rate in reproduction and using a plurality of magnetic disks and magnetic heads.例文帳に追加

本発明では、磁気ディスク上の後発欠陥、及び記録再生用ヘッドの性能劣化に伴うデータの喪失を未然に保護し、再生の際のデータ誤り率を向上する為に、データ情報をエラー訂正コード（ＥＣＣ）の訂正可能な長さに分割し、更に複数の磁気ディスク、及び磁気ヘッドを使用して記録再生を行う。 - 特許庁

To provide a method of manufacturing a semiconductor device with little bonding leakage current of a defective reason by reducing a crystal defect without heat treating at a high temperature for a long time and to provide the method of manufacturing the semiconductor device suitable to improve information maintenance property of a DRAM by this or to reduce the current at the standby time of an SRAM.例文帳に追加

高温で長時間の熱処理を行うことなく、結晶欠陥を低減することによって、欠陥起因の接合リーク電流の少ない半導体装置の製造方法を提供し、これによってＤＲＡＭの情報保持特性を改善し、或いはＳＲＡＭの待機時電流を低減するために好適な半導体装置の製造方法を提供する。 - 特許庁

The optical disk comprises: a recording area which has the data recorded in one or more physical clusters; a defective area in which a defect occurs before or during recording the data in the optical disk capable of recording and/or reproducing the data; and a recording end area having information indicating the end of recording recorded before the defective area.例文帳に追加

光ディスクは、少なくとも１つの物理的クラスタにデータが記録される記録領域と、データを記録及び／または再生できる光ディスクにおいて、データ記録前または使用中に欠陥が生じた欠陥領域と、前記欠陥領域前に記録の終了を示す情報が記録された記録終了領域と、を含むことを特徴とする。 - 特許庁

In a semiconductor test device provided with a fail memory storing defect information of a semiconductor memory to be tested having a spare column memory and a spare row memory, the fail memory has such constitution that the memory is divided into a fail memory 110 for semiconductor memory, a fail memory 120 for spare column, a fail memory 130 for spare row, and a fail memory 140 for spare intersection.例文帳に追加

スペアコラムメモリ及びスペアロウメモリを有する被試験半導体メモリの不良情報を記憶するフェイルメモリを備えた半導体試験装置において、上記フェイルメモリを、半導体メモリ用フェイルメモリ１１０、スペアコラム用フェイルメモリ１２０、スペアロウ用フェイルメモリ１３０及びスペア交差用フェイルメモリ１４０に分割した構成とする。 - 特許庁

To provide a control device for a power distribution switchgear preventing a supply defect caused by incorrectly opening a main circuit of the power distribution switchgear and preventing a failure such as an occurrence of an unnecessary system loop due to an incorrect power supply, by preparing a self-repair function in advance in consideration of a case in which a memory loses stored information of an excitation output to the main circuit.例文帳に追加

記憶部が主回路への励磁出力の保存情報を喪失した場合を考慮して、あらかじめ自己修復機能を設けることにより、配電用開閉器の主回路を誤開放する供給支障の防止、誤投入による不必要な系統ループ発生等の障害を防止することができる配電用開閉器制御装置を提供する。 - 特許庁