意味 | 例文 (999件) |
source-regionの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 4512件
Alternatively, the eye fundus observation apparatus has a light source which emits light in the visible region and in the near infrared region, a wavelength-selective filter which takes light in the visible region or light in the near infrared region from the light of the light source, a first polarization filter device which polarizes light, and a photographing device which photographs the light.例文帳に追加
または、本発明の眼底観察装置は、可視領域及び近赤外領域の光を発する光源と、光源の光から、可視領域の光又は近赤外領域の光を取り出す波長選択フィルターと、光を偏光にする第一の偏光フィルター装置と、光を撮影する撮影装置と、を有する。 - 特許庁
A semiconductor device comprises a p-type semiconductor layer 12, an n-type source region 13, an insulator 23, an n-type semiconductor region 20, an n-type drain region 14, a p-type channel region 12a, a gate insulating film 15, a gate electrode 16, a source electrode 18, a drain electrode 19, and an electrode 21.例文帳に追加
半導体装置は、p形半導体層12と、n形のソース領域13と、絶縁体23と、n形半導体領域20と、n形のドレイン領域14と、p形のチャネル領域12aと、ゲート絶縁膜15と、ゲート電極16と、ソース電極18と、ドレイン電極19と、電極21とを備える。 - 特許庁
A drain/source of an insulated gate field-effect transistor T is connected across p-type gate region 2 and n-type cathode region 3 of a first thyristor 25, and a drain/source of an insulated gate field-effect transistor T'is connected across p-type gate region 2' and n-type cathod region 3'.例文帳に追加
第1のサイリスタ25のp形ゲート領域2とn形カソード領域3との間には絶縁ゲート電界効果トランジスタTのドレイン・ソース間が接続され、第2のサイリスタ25’のp形ゲート領域2’とn形カソード領域3’との間には絶縁ゲート電界効果トランジスタT’のドレイン・ソース間が接続されている。 - 特許庁
The semiconductor device includes a source region 10 and a drain region 11 that adjoin a silicon substrate 1 to form a Schottky junction, and an insulating layer provided to cover both of a portion where an interface of the silicon substrate 1 and the source region 10 is exposed and a portion where an interface of the silicon substrate 1 and the drain region 11 is exposed.例文帳に追加
シリコン基板1と接してショットキー接合を形成するソース領域10,ドレイン領域11と、上記シリコン基板1とソース領域10との境界が露出する部分およびシリコン基板1とドレイン領域11との境界が露出する部分を被覆するように設けられた絶縁層を備える。 - 特許庁
Further, the substrate has, in the substrate, a first conductivity type source region 121 formed below the first upper surface, a second conductivity type drain region 121 formed below the second upper surface, and a second conductivity type lateral diffusion region 123 formed between the step lateral face S3 and the source region 121.例文帳に追加
さらに、基板内において、第1上面の下方に形成された第1導電型のソース領域121と、第2上面の下方に形成された第2導電型のドレイン領域122と、段差側面S3とソース領域122との間に形成された第2導電型の側方拡散領域123とを備える。 - 特許庁
On a principal surface s1 of a silicon substrate 1, a gate electrode GEn for nMIS is formed in an nMIS region R, a gate electrode GEp for pMIS is formed in a pMIS region Rp, and an n-type source-drain region sdn and a p-type source-drain region sdp are formed by and below them, respectively.例文帳に追加
シリコン基板1の主面s1上のうち、nMIS領域RnにnMIS用ゲート電極GEnを形成し、pMIS領域RpにpMIS用ゲート電極GEpを形成し、それらの側方下部に、それぞれ、n型ソース・ドレイン領域sdnおよびp型ソース・ドレイン領域sdpを形成する。 - 特許庁
The transistor comprises: a semiconductive metal oxide channel layer (51); a source region (64) and a drain region (65) provided in the semiconductive metal oxide channel layer (51); and a gate structure which is positioned between the source region (64) and the drain region (65) and on the semiconductive metal oxide channel layer (51).例文帳に追加
本発明によるトランジスタは、半導電性金属酸化物チャネル層(51)と、半導電性金属酸化物チャネル層(51)に提供されたソース領域(64)およびドレイン領域(65)と、ソース領域(64)とドレイン領域(65)との間、かつ半導電性金属酸化物層(51)の上のゲート構造とを備える。 - 特許庁
After a process, in which a cobalt silicide film 8 which covers a source/drain diffusion layer region 7 as well as a gate electrode 4 of a polycrystal silicon is formed, there are provided process where an impurity ion is implanted in the region between the source/drain diffusion layer region and a channel region, which is thermally processed to form an SD extension 61.例文帳に追加
多結晶シリコンのゲート電極4及びソース・ドレイン拡散層領域を7覆うコバルトシリサイド膜8を形成する工程の後に、ソース・ドレイン拡散層領域とチャネル領域との間の領域に不純物イオンを注入してこれを熱処理してSDエクステンション61を形成する工程を備える。 - 特許庁
The semiconductor device includes a source region 10 in contact with a silicon substrate 1 for forming a Schottky junction, a drain region 11, and an insulation layer provided to coat an area where a border between the silicon substrate 1 and the source region 10 is exposed and an area where a border between the silicon substrate 1 and the drain region 11 is exposed.例文帳に追加
シリコン基板1と接してショットキー接合を形成するソース領域10,ドレイン領域11と、上記シリコン基板1とソース領域10との境界が露出する部分およびシリコン基板1とドレイン領域11との境界が露出する部分を被覆するように設けられた絶縁層を備える。 - 特許庁
This semiconductor device 100 includes: a first transistor 120 formed in the DRAM region 200, and including a first source/drain region 126 containing arsenic and phosphorus as impurities; and a second transistor 140 formed in the logic region 210, and including a second source/drain region 146 containing at least arsenic as an impurity.例文帳に追加
半導体装置100は、DRAM領域200に形成され、不純物としてヒ素とリンとを含む第1のソースドレイン領域126を含む第1のトランジスタ120と、ロジック領域210に形成され、不純物として少なくともヒ素を含む第2のソースドレイン領域146を含む第2のトランジスタ140とを含む。 - 特許庁
The rounded sections have a second width narrower than the first width, a source region of a first conductivity type is disposed at or near a top surface of the pillar, and a body region of a second conductivity type is disposed in the pillar below the source region.例文帳に追加
丸みのある領域は、第1の幅よりも狭い第2の幅を有し、ピラーの最上面にまたは最上面の近くに第1の導電型のソース領域が配置されており、ピラーの中、ソース領域の下に第2の導電型のボディ領域が配置されている。 - 特許庁
In this way, a structure for preventing overetching up to a p-type base region 3 in rounding process of corner portions of a trench 5 is formed while allowing the density of the upper layer of the n-type source region 4 to be high density to enable ohmic contact with the source region 10.例文帳に追加
これにより、ソース電極10とオーミック接触させられるようにn型ソース領域4の上層部の濃度を高濃度にしつつ、トレンチ5のコーナー部の丸め処理時にp型ベース領域3までオーバエッチングされることを抑制できる構造にできる。 - 特許庁
The light source unit is provided with a semiconductor laser light source 300 consisted of a light emitting section (active layer region) 301, a phase variable section (phase adjusting region) 302 and a wavelength variable section (DBR region) 303 and a waveguide-type QPM-SHG device 304.例文帳に追加
発光部(活性層領域)301と位相可変部(位相調整領域)302と波長可変部(DBR領域)303とにより構成される半導体レーザ光源300と、導波路型QPM−SHGデバイス304とを備えた光源装置である。 - 特許庁
The light source unit is provided with the semiconductor laser light source 300 which is composed of a light emitting part (active layer region) 301, a phase variable part (phase adjusting region) 302 and a wavelength variable part (DBR region) 303 and a QPM-SHG device 304 of wave guide type.例文帳に追加
発光部(活性層領域)301と位相可変部(位相調整領域)302と波長可変部(DBR領域)303とにより構成される半導体レーザ光源300と、導波路型QPM−SHGデバイス304とを備えた光源装置である。 - 特許庁
The source region and the drain region 15 are formed on the surface of the well so as to sandwich a channel region beneath the gate electrode while having a second conductivity type opposite to the first conductivity type wherein one of them is connected electrically with the ground potential thus constituting the source and the drain.例文帳に追加
ソース領域およびドレイン領域15は、ゲート電極下のチャネル領域を挟むようにウェルの表面に形成され、第1導電型と反対の第2導電型を有し、一方が接地電位と電気的に接続され、ソースおよびドレインを構成する。 - 特許庁
The hydrogen concentration in an undercoat contacted to a source-drain region is set to be higher than that in an undercoat contacted to a channel region, to thereby improve the hydrogen terminating effect of the source-drain region and suppress the hydrogen supply to a gate insulation film to a minimum.例文帳に追加
ソース・ドレイン領域に接するアンダーコート中の水素濃度をチャネル領域に接するアンダーコート中の水素濃度よりも高くすることで、ソース・ドレイン領域の水素終端効果を向上するとともに、ゲート絶縁膜への水素供給を最小限に抑える。 - 特許庁
A first dielectric region is formed between the first source/drain region and the second source/drain region in the MOS device, and defines the boundary of a trench which extends downward into the semiconductor layer from the upper surface of the semiconductor layer to a first distance.例文帳に追加
第1の誘電領域が、MOSデバイス内に形成され、半導体層の上面から下方に第1の距離まで半導体層の中へ延在するトレンチの境界を画定し、第1のソース/ドレイン領域と第2のソース/ドレイン領域との間に形成されている。 - 特許庁
According to a normal manufacturing process for double diffused MOSFET, p-base region 2, a p+ contact region 3, an n+ source region 4, a gate electrode layer 5, and a source electrode 15 are provided on the surface layer of an n-type semiconductor base body to form a surface MOSFET.例文帳に追加
通常の2重拡散MOSFETの製造工程に従い、n型半導体基体の表面層に、pベース領域2とp^+コンタクト領域3とn^+ソース領域4とゲート電極層5とソース電極15を設けて表面MOSFETを形成する。 - 特許庁
A reverse bias voltage Vb which has a voltage value (0.8 to 1.0 V) between the source voltage Vs and the drain voltage Vd and turns on a diode formed by the n-type source region 8s, and a p-type body region 2 is applied to the body region 2.例文帳に追加
このときボディ領域2に対しては、ソース電圧Vsとドレイン電圧Vdの間の電圧値(0.8〜1.0V)を有し、N型のソース領域8sとP型のボディ領域2とにより形成されるダイオードをオンさせるバックバイアス電圧Vbを印加する。 - 特許庁
The semiconductor comprises a source part and a drain part formed by using a selective epitaxial growth technique in a source region and a drain region, respectively, formed on a semiconductor substrate and a MOS transistor equipped with a channel region provided therebetween, wherein the height of the source part formed by the selective epitaxial growth from the channel region is different from that of the drain part.例文帳に追加
本発明は、半導体基板に形成されたソース領域とドレイン領域をそれぞれ選択エピタキシャル成長技術を用い成長させて形成したソース部とドレイン部とそれらの間に設けられたチャネル領域を備えたMOSトランジスタを備え、前記選択エピタキシャル成長によって形成されたソース部とドレイン部の前記チャネル領域からの高さが異なることを特徴とする。 - 特許庁
The semiconductor device comprises an underlying insulation film on a glass substrate, a crystalline silicon film having a source region, a channel forming region and a drain region formed on the underlying insulation film, a gate insulation film on the crystalline silicon film, and a gate electrode on the gate insulation film wherein the gate insulation film is formed thicker on the channel forming region than on the source region and the drain region.例文帳に追加
ガラス基板上の下地絶縁膜と、前記下地絶縁膜上の、ソース領域、チャネル形成領域及びドレイン領域が形成された結晶性珪素膜と、前記結晶性珪素膜上のゲート絶縁膜と、前記ゲート絶縁膜上のゲート電極と、を有し、前記チャネル形成領域上のゲート絶縁膜は前記ソース領域及びドレイン領域上のゲート絶縁膜よりも厚いことを特徴とする。 - 特許庁
In such case, according to the change of the video image display size, a light source for backlight for illuminating a display region of the image turns on while a light source for illuminating a non-display region of the image turns off.例文帳に追加
その際,映像表示サイズの切り替えに応じて,映像の表示領域を照明するバックライト用の光源を点灯させるとともに映像の非表示領域を照明する前記光源を消灯させる。 - 特許庁
A gate oxide film 9 and a gate polysilicon film 10 are formed successively, and a sidewall 11 is used for simultaneously forming an n-source/drain region 12 and an n-well region 13, and p-source/drain regions 14 and 15.例文帳に追加
次に、ゲート酸化膜9、ゲートポリシリコン膜10を順次形成後、サイドウォール11を用いてnソース/ドレイン領域12とnウェル領域13、pソース/ドレイン領域14と15をそれぞれ同時に形成する。 - 特許庁
A patch 32B radiates fluorescence to the light of the light source LA that has a first spectral radiance characteristic outside the visible region and the light of the light source LB that has a second spectral radiance characteristic outside the visible region.例文帳に追加
パッチ32Bは、可視域外において第一の分光放射輝度特性を有する光源LAの光、および、可視域外において第二の分光放射輝度特性を有する光源LBの光に対して蛍光を放射する。 - 特許庁
At this time, the region exclusive of the execute effective scanning region is subjected to the exposure, i.e., print-skipping by an LED light source 2 arranged in a position offset from the optical axis of the laser beam source 1 by an arbitrary quantity in the sub-scanning direction.例文帳に追加
このとき、レーザ光源1の光軸から副走査方向に任意の量だけずらした位置に配置してあるLED光源2によって、露光有効走査領域外が露光すなわち焼き飛ばされる。 - 特許庁
To provide a display device capable of clearly discriminating a region reacting to a light source from a region reacted to external environmental light in a display screen, and of specifying the precise position coordinate of the light source.例文帳に追加
表示画面において、外部の環境光に反応した領域と、光源に反応した領域とを明確に区別し、光源の正確な位置座標を特定することが可能な表示装置を提供する。 - 特許庁
The second transistor 5 has: a second gate electrode 22 formed on the semiconductor substrate 100 via a second gate insulating film 51; a second source-drain region 31; and the first common source-drain region 30.例文帳に追加
第2トランジスタ5は、半導体基板100上に第2ゲート絶縁膜51を介して形成された第2ゲート電極22と第2ソース・ドレイン領域31と第1共通ソース・ドレイン領域30とを備える。 - 特許庁
The minimum value of film thickness of the part formed on a second source-drain region 22B in the liner insulating film 25 is larger than the minimum value of film thickness of the part formed on a first source-drain region 22A.例文帳に追加
ライナ絶縁膜25における第2のソースドレイン領域22B上に形成された部分の膜厚の最小値は、第1のソースドレイン領域22A上に形成された部分の膜厚の最小値よりも大きい。 - 特許庁
The first transistor 2 has: a first gate electrode 21 formed on a semiconductor substrate 100 via a first gate insulating film 51; a first source-drain region 31; and a first common source-drain region 30.例文帳に追加
第1トランジスタ2は、半導体基板100上に第1ゲート絶縁膜51を介して形成された第1ゲート電極21と第1ソース・ドレイン領域31と第1共通ソース・ドレイン領域30とを備える。 - 特許庁
The conductive type impurity region, which faces a contact 16 communicated to a source line 17a, and in contact with a source side n- impurity region 6, is programmed to a p-type or n-type according to the contents of stored data.例文帳に追加
ソース側のn−不純物領域6と接し、ソース線17aにつながるコンタクト16と面した不純物領域の導電型が、記憶データの内容に応じてp型またはn型にプログラムされる。 - 特許庁
An n^+-type source/drain region 112, a p^+-type source/drain region 113, a p-type well 114, an n-type well 117, a p^+-diffusion layer 115, and an n^+-diffusion layer 116 are formed on the embedded oxide film 102.例文帳に追加
埋め込み酸化膜102上にn^+ 型ソース/ドレイン領域112,p^+ 型ソース/ドレイン領域113,p型ウェル114,n型ウェル117,p^+ 拡散層115,及びn^+ 拡散層116が形成されている。 - 特許庁
A measured value of the spectral radiance in a visible region of the light source, and measured values of the spectral radiances of a plurality of samples including fluorescent materials, in a visible region of reflected light to the light of the light source are input.例文帳に追加
光源の可視域における分光放射輝度の測定値、および、蛍光物質を含む複数の試料の、光源の光に対する反射光の可視域における分光放射輝度の測定値を入力する。 - 特許庁
To solve the problem that, when a silicide film is formed on a source-drain region, the silicide film penetrates through the source-drain region or an SOI layer disappears, because Si is consumed by a silicification reaction.例文帳に追加
従来のサリサイド法により、ソース・ドレイン領域上にシリサイド膜を形成すると、Siがシリサイド化反応によって消費されるため、シリサイド膜がソース・ドレイン領域を突き抜けたり、SOI層が消失したりする。 - 特許庁
The plane pattern of each trench 3 is made to be a closed curve, a first n source region 12 surrounded by the trench 3 is made to be a straight-shaped island, a plurality of straight-shaped islands are formed, and a second n source region 14 is formed on the outside of these islands.例文帳に追加
トレンチ3の平面パターンを閉曲線とし、トレンチ3で囲まれる第1nソース領域12を直線状の島にして、この島を複数個形成し、その外側に第2nソース領域14を形成する。 - 特許庁
A source electrode 12 and a drain electrode 13 are formed via a silicide film 10 on the source region 7 and the drain region 8, and an insulating film 6 formed by anode oxidization is formed so that the gate electrode 5 can be covered.例文帳に追加
ソース領域7、ドレイン領域8上にシリサイド膜10を介してソース電極12、ドレイン電極13が設けられ、陽極酸化による絶縁膜6がゲート電極5を覆うように設けられている。 - 特許庁
The second threshold voltage defined between the gate electrode and N-type source/drain region 5 is larger than the first threshold voltage defined between the gate electrode and the N-type source/drain region 4 in the MISFET.例文帳に追加
MISFETにおけるゲート電極とN型ソース・ドレイン領域5との間で規定される第2の閾値電圧は、ゲート電極とN型ソース・ドレイン領域4との間で規定される第1の閾値電圧よりも大きい。 - 特許庁
The lighting device includes the light source 12, and a light-transmitting and reflecting layer 16 having a light-transmitting region 17 for transmitting light and a light-reflecting region 18 for reflecting light and arranged by being opposite to the light source.例文帳に追加
照明装置は、光源12と、光を透過する光透過領域17と光を反射する光反射領域18とを有し、光源に対向して設けられた透過反射層16と、を備えている。 - 特許庁
Since each center of a lens 52b is provided so as to be deviated outward more than each light source 51b with respect to a central point 11 of an unit region 15, light distribution of each light source 51 is deviated to the outside of the unit region 15.例文帳に追加
レンズ52bの各中心が、単位領域15の中心点11に対して、各光源51bより外側にずれるように設けられるので、各光源51の配光は単位領域15の外側にずれる。 - 特許庁
The semiconductor device 100 is provided with: an n+ type buffer region 17; an n type drift region 16; a p type base region; a gate electrode 8; a source electrode 4; guard rings 12a and 12b; a channel stopper region 14; and a drain electrode 18.例文帳に追加
半導体装置100は、n^+型のバッファ領域17と、n型のドリフト領域16と、p型のベース領域2と、ゲート電極8と、ソース電極4と、ガードリング12a、12bと、チャネルストッパ領域14と、ドレイン電極18を備えている。 - 特許庁
This SOIMOSFET is equipped with a channel region 18 consisting of the section corresponding to the section right below the gate electrode 15 out of a top silicon layer 13, and the source region 16 and the drain region 17 consisting of the sections adjacent to this channel region 18 out of the top silicon layer 13.例文帳に追加
トップシリコン層13のうちゲート電極15直下に相当する部分からなるチャネル領域18と、トップシリコン層13のうちこのチャネル領域18に隣接する部分からなるソース領域16およびドレイン領域17を備える。 - 特許庁
By performing silicidation, cobalt silicide layers 50a1, 50a2, 50b1 and 50b2 are formed on the impurity diffusion regions 7a1 and 7a2 of the DRAM formation region, on the source/drain region 9 of the logic formation region and on the doped polysilicon film 4b of the logic formation region.例文帳に追加
次に、シリサイド化を行うことにより、DRAM形成領域の不純物拡散領域7a1,7a2上、ロジック形成領域のソース・ドレイン領域9上、及びロジック形成領域のドープトポリシリコン膜4b上に、コバルトシリサイド層50a1,50a2,50b1,50b2を形成する。 - 特許庁
This device has a floating gate electrode 11, a drain region 4, which is used for potential control over the floating gate electrode 11 and has a diode structure, and a source region 3 which is formed sandwiching the channel region 5 with the drain region 4.例文帳に追加
浮遊ゲート電極11と、その浮遊ゲート電極11の電位制御に用いられ、ダイオード構造を有するドレイン領域4と、ドレイン領域4との間でチャネル領域5を挟むように形成されたソース領域3とを備えている。 - 特許庁
In the high voltage resistant p-channel MOS transistor formed on an SOI substrate, p^+-source regions 8, an n-type body region 4, and an n^+-body/contact diffusion region 10 are surrounded by a p^+-drain region 9 and a p-type drift region 5.例文帳に追加
SOI基板上に形成される高耐圧PchMOSトランジスタであって、P^+ソース領域8、N型ボディ領域4およびN^+ボディ・コンタクト拡散領域10を、P^+ドレイン領域9およびP型ドリフト領域5で包囲している。 - 特許庁
On both end sides of gate in the lengthwise direction of a gate region 1 of a MOS (metal oxide semiconductor) transistor, i.e., on a source region 2 side and a drain region 3 side, a control gate 5 is installed which forms a control gate channel region 6 along with gate width direction and over full width.例文帳に追加
MOSトランジスタのゲート領域1のゲート長方向両端側、つまりソース領域2側とドレイン領域3側とに、ゲート幅方向に沿ってその全幅に渡る制御ゲートチャネル領域6を形成する制御ゲート5が設けられる。 - 特許庁
A high-density N-type diffusion region 104 is formed in the high-density P-type diffusion region 106, and the N-type diffusion region 104 is connected to a source or a drain region 113 or 114 above a contact 107 with the contact 107 interposed.例文帳に追加
前記高濃度P型拡散領域106の内方には、高濃度N型拡散領域104が形成され、このN型拡散領域104は、コンタクト107を介してその上層のソース又はドレイン領域113、114に接続される。 - 特許庁
Then, in a plane view from the side of an irradiation region Ar, the light sources 2a to 2d arranged adjacently to the strongly inclined region are arranged closer to an outer edge of the irradiation region than the light source 2e arranged adjacently to the slightly inclined region.例文帳に追加
そして、照射領域Ar側から平面視すると、大傾斜領域に隣接して配置されている光源2a〜2dは、小傾斜領域に隣接して配置される光源2eよりも、照射領域の外縁近くに配置されている。 - 特許庁
A source region 8a and a drain region 8b of relatively high impurity concentration are formed in the semiconductor substrate 3 on an element isolation region 2 side of the silicide block film 9 and in the semiconductor substrate 3 on the LDD region 7a side, respectively.例文帳に追加
そして、そのシリサイドブロック膜9の素子分離領域2側の半導体基板3内、およびLDD領域7a側の半導体基板3内に、比較的高不純物濃度のソース領域8aおよびドレイン領域8bをそれぞれ形成する。 - 特許庁
This aperture is formed longer in the direction parallel to the propagating direction of carrier moving within the channel region of the nMOS transistor Tr for an electric connecting region (contact plug forming region) to the source/drain region 5.例文帳に追加
この開口部は、ソース/ドレイン領域5に対する電気的な接続領域(コンタクトプラグの形成領域)に対してnMOSトランジスタTrのチャネル領域内を移動するキャリアの伝播方向に平行な方向に対して長く形成されている。 - 特許庁
A trench reaching a first n^+-drain region 15 from the surface of a p-base region 12 is formed to a position of the p-base region close to a gate electrode 19 at a side opposite to an n^+-source region 14 across the gate electrode 19.例文帳に追加
pベース領域12の、ゲート電極19を挟んでn^+ソース領域14の反対側でゲート電極19に近接する位置に、pベース領域12の表面から第1のn^+ドレイン領域15まで達するトレンチを形成する。 - 特許庁
A source region is formed by an n^+-type substrate, a trench 2 is formed on a principal surface of the n^+-type substrate, and then a p-type base region 3, an n^--type drift region 4, and an n^+-type drain region 5 are sequentially epitaxially grown in the trench 2.例文帳に追加
n^+型基板1によってソース領域を構成し、n^+型基板1の主表面にトレンチ2を形成したのち、トレンチ2内にp型ベース領域3、n^-型ドリフト領域4およびn^+型ドレイン領域5を順にエピタキシャル成長させる。 - 特許庁
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