「defect detection」に関連した英語例文の一覧と使い方(16ページ目) - Weblio英語例文検索

When no defect is in existence in the connection with the optical multiplexer section 22, the optical signal detection section 531 receives no optical signal S22a1.例文帳に追加

また、光合波部２２との間の接続に不具合がない場合には、光信号Ｓ２２ａ_1 は光信号検出部５３_1 で受光されない。 - 特許庁

To provide a substrate inspection method for improving detection precision of a defect, and to provide a selection method of the substrate inspection method.例文帳に追加

欠陥の検出精度の向上を図ることが可能な基板検査方法及び基板検査方法の選択方法を提供する。 - 特許庁

By this procedure, a pseudo read-out signal is produced, and the detection of the defect is carried out by this pseudo read-out signal of low frequency.例文帳に追加

このことで擬似的な読出信号を生成してこの擬似的な低い周波数の読出信号により欠陥検出を行うものである。 - 特許庁

To provide an inspection apparatus in which sensitivity of defect detection can be improved by canceling trouble caused by optical distortion formed on a mask substrate.例文帳に追加

マスク基板に形成された光学歪みによる不具合が解消され、欠陥検出の感度を高くできる検査装置を提供する。 - 特許庁

In the normal operation with an off state of the detection signals DFCT of a defect detecting circuit 220, a switch 240 is connected to a jitter detection circuit 210, and the jitter detection signals of the jitter detection circuit 210 are transmitted through the switch 240 to a microcomputer 300 as they are.例文帳に追加

ディフェクト検出回路２２０の検出信号ＤＦＣＴがオフの通常動作では、スイッチ２４０がジッタ検出回路２１０側に接続されており、ジッタ検出回路２１０のジッタ量検出信号がそのままスイッチ２４０を介してマイコン３００側に伝送される。 - 特許庁

A known standard defect 9 is provided in a sample 2, the defect appearing on a surface of the sample 2 is detected, and prescribed processing recipe evaluation information that varies in response to difference in a processing recipe used in the prescribed production process is acquired, based on a detection result of the standard defect 9.例文帳に追加

試料２に既知の標準欠陥９を設けて、試料２の表面に現れる欠陥を検出し、所定の製造プロセスで使用された処理レシピの相違に応じて変化する所定の処理レシピ評価情報を、標準欠陥９の検出結果に基づいて取得する。 - 特許庁

A spindle servo correcting circuit 40 calculates a period for detecting the defect in a defect detection period calculating section 41 when the defect is detected on the optical disk with a DFCT signal, and calculates an oscillation period of a TE signal in an oscillation period calculating section 43.例文帳に追加

スピンドルサーボ補正回路４０は、ＤＦＣＴ信号により光ディスク上の欠陥を検知したときにディフェクト検出周期算出部４１において当該欠陥が検出される周期を算出するとともに、振動周期算出部４３においてＴＥ信号の振動の周期を算出する。 - 特許庁

To provide a defect detector capable of supplying a power source to a defect detector control circuit by the power generated by using a solar cell at a defect inspection time, simultaneously with detection of deterioration of a light source, and performing efficient and accurate light source inspection.例文帳に追加

本発明は、光源の劣化を検出すると同時に、欠点検査時に太陽電池を用いて発電する電力で欠点検出器制御回路に電源を供給可能な、効率的かつ正確な光源検査が可能な欠陥検出器を提供せんとするものである。 - 特許庁

To provide a detection method of a crystal defect having high sensitivity, capable of detecting even a fine defect such as a small BMD (Bulk Micro Defect) formed on a silicon monocrystal wafer having a low resistivity, with progression of temperature lowering in heat treatment following high integration of devices.例文帳に追加

デバイスの高集積化に伴い、熱処理の低温化が進んだことにより、抵抗率の低いシリコン単結晶ウエーハに形成されるようになった小さなＢＭＤなどの微小な欠陥であっても検出することができる高感度の結晶欠陥の検出方法を提供する。 - 特許庁

A defect inspection method for inspecting the defect of the surface of a sample, includes the step of detecting the defect by addition processing of a detecting signal in which the amount of the misalignment of a pixel of detection signals calculated by comparing the distribution of Haze signal and predetermined light quantity distribution is corrected.例文帳に追加

試料の表面の欠陥を検査する欠陥検査方法であって、Ｈａｚｅ信号の分布と予め定めた光量分布とを比較して算出した検出信号の画素ずれ量を補正した検出信号を加算処理して欠陥を検出する工程を有する欠陥検査方法。 - 特許庁

To provide an ultrasonic flaw detector and an ultrasonic flaw detection method, capable of discriminating a signal detected based on a defect such as a crack, from a reflection signal based on a welding part texture, capable of detecting the defect, and capable of measuring precisely a depth of the defect.例文帳に追加

き裂などの欠陥から検出された信号と溶接部組織からの反射信号とを識別することができ、さらに、欠陥検出、欠陥深さを高精度に測定することができる超音波探傷装置および超音波探傷方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To reduce the generation of a pseudo-defect when a lightness difference exists between two compared images, in an image defect inspection device and a method for detecting a difference between fellow picture elements corresponding to the two images to detect a picture element portion as a defect when the difference exceeds a detection threshold.例文帳に追加

２画像の対応する各画素同士の画素値の差分を検出して、この差分が検出閾値を超えるとき画素部分を欠陥として検出する画像欠陥検査装置及び方法において、比較する２画像に明度差がある場合の疑似欠陥の発生を低減する。 - 特許庁

To provide a method for detecting a defect and a defect detection device in a continuously cast slab for a thin steel sheet which can estimate and detect a cracking defect generated on the surface of a slab to be formed into the stock of a continuously cast thin steel sheet with high accuracy in a stage directly after casting.例文帳に追加

連続鋳造した薄鋼板の素材となる鋳片（スラブ）表面に発生した割れ性の欠陥を、鋳造特後の段階で、精度よく予測し、検出することが可能な薄鋼板用の連続鋳造鋳片の欠陥検出方法と欠陥検出装置を提供する。 - 特許庁

According to the apparatus, since the timing of activating defect detection by the defect detecting means can be arbitrarily selected and set by the user's operation by the setting means in association with the operation of the apparatus, a high-quality image having no defect can be always maintained, and the photographing chance can be prevented from being missed.例文帳に追加

これによれば、設定手段によりユーザー操作により欠陥検出手段による欠陥検出を起動するタイミングを装置の動作に関連して任意に選択して設定するので、常に欠陥のない高品質な画像を維持でき、また撮影機会を損ねることがない。 - 特許庁

This defect detection apparatus is provided with an image processor 8 that detects a defect by processing an image photographed by the surveillance camera 7, and a marking device 10 that marks the width end of the base paper sheet 2 on the downstream side of a position where the coating liquid is applied, according to a marking command signal from a controller 11 based on a defect detecting signal.例文帳に追加

監視カメラ７で撮影した画像を処理して欠陥を検出する画像処理装置８と、欠陥検出信号に基づく制御器１１からのマーキング指令信号により塗工液塗布位置の下流で原紙２の幅端部にマーキングを行うマーキング装置１０を備える。 - 特許庁

To provide a marking signal control method for printed matter defect inspection, which allows setting of a printed matter defect inspection device and a marking device without limitation in the distance between both, and further allows suppression of use of resources in a memory or register by performing output control of marking signal relative to defect detection signal in defect inspection of printed matter.例文帳に追加

印刷物の欠陥検査において、欠陥検出信号に対するマーキング信号の出力制御を行い、印刷物欠陥装置とマーキング装置の距離を制限なく設置することを可能とし、更にメモリやレジスタのリソースの使用を抑制可能とする印刷物欠陥検査におけるマーキング信号制御方法を提供する。 - 特許庁

In each arithmetic processing part 41-43, the photographic data are image-processed for 100 lines to perform specifying a detection range, elicitation by binarization of the image data with a defect threshold, bleb processing for taking, the elicited defect images, when they are vertically and laterally continued, as a mass of bleb, and defect determination and defect kind determination based on the area of bleb.例文帳に追加

各演算処理部４１〜４３で１００ライン毎に画像処理して、検出範囲の特定、欠陥しきい値による画像データの２値化による顕在化、顕在化された欠陥画像が上下左右で連続しているときにこれを１かたまりのブレブとするブレブ処理、ブレブの面積に基づく欠陥判別及び欠陥種別判別を行う。 - 特許庁

To facilitate defect detection when a defect is present in a peripheral portion having a large luminance difference in an electronic display image quality inspection device detecting the display defect by picking up an image of the display defect in a display device such as a plasma display by a camera or the like, and binarizing an image obtained by differentiating the picked-up image by spatial differentiation processing or the like.例文帳に追加

プラズマディスプレイ等の表示装置における表示欠陥をカメラ等により撮像し、撮像画像を空間微分処理等により微分した画像を２値化することにより、表示欠陥を検出する電子ディスプレイ画質検査装置において、輝度差の大きい周辺部分に欠陥が有る場合の欠陥検出を容易にすることに有る。 - 特許庁

This is an optical disk reproducing method (S11-S14) to reproduce the optical disk recorded in a format having an optical disk defect control function, and changes (S17-S21) the defect detection levels to operate the defect control function based on the defect control information (S15-S16) made by the defect control function of an optical disk.例文帳に追加

本発明は、上記の課題を解決するためになされたものであって、光ディスクの欠陥管理機能を有するフォーマットで記録された光ディスクを再生する光ディスク再生方法であって（Ｓ１１〜Ｓ１４）、光ディスクの欠陥管理機能により作成された欠陥管理情報（Ｓ１５〜Ｓ１６）に基づき、欠陥管理機能を動作させる欠陥検知レベルが変更されること（Ｓ１７〜Ｓ２１）を特徴とするものである。 - 特許庁

To observe a defect efficiently in a short time without lowering a detection rate by improving a processing procedure of detect detection or the like so that a reutilization rate of a recorded reference image is raised, when inspecting in detail by enlarging a defect portion or the like.例文帳に追加

欠陥部分を拡大するなどして詳細に検査するときに、記録した参照画像の再利用率があがるように欠陥検出の処理手順などを改良することで、検出率を下げずに短時間に効率よく欠陥を観察することができるようにする。 - 特許庁

Then a very small defect detection circuit 23 detects a defective pixel, calculates a ratio of a pixel signal of the defective pixel to the pixel signal of its surrounding pixels, an address of the defective pixel and the ratio are stored in a very small defect ROM 26.例文帳に追加

次に、微小欠陥検出回路２３により欠陥画素を検出し、欠陥画素とその周辺画素との画素信号の比率を演算し、欠陥画素のアドレスおよび比率を微小欠陥ＲＯＭ２６に記憶する。 - 特許庁

To provide a feature defect detection device detecting a feature defect existing in only one of folded business form sheets, and not requiring readjustment of arrangement of a detector even when the sheets have different widths.例文帳に追加

折られた帳票の１枚だけに存在する形体欠陥を検出することが可能で、帳票の幅が異なるときでも検出器の配置を調整し直す必要性がない形体欠陥検出装置の提供。 - 特許庁

To provide an image forming apparatus that prevents a detection member which judges a paper feed state by coming into direct contact with a transfer material from electrostatically being charged and also prevents an image defect due to a transfer material conveyance defect.例文帳に追加

転写材と直接接触することによって通紙状態を判断する検出部材の帯電を防止し、転写材搬送不良による画像不良の発生を防止する画像形成装置を提供する。 - 特許庁

A flat panel inspection system 100 as the defect detection apparatus is provided with an image processing section 104 for identifying a defect region in the flat panel 200, based on image data obtained by imaging the flat panel 200.例文帳に追加

欠陥検出装置としてのフラットパネル検査システム１００は、フラットパネル２００を撮像して得られた画像データに基づいてフラットパネル２００の欠陥領域を特定する画像処理部１０４を備えている。 - 特許庁

A pseudo defect is relieved by dividing a pattern into a stitching part and the other pattern portion on comparing the mask image to mask data and by decreasing the defect detection sensitivity in the stitching part than that in the pattern portion.例文帳に追加

マスク画像とマスクデータとの比較検査を行う際に、ステッチング部とそれ以外のパターン部とに分割して、ステッチング部の欠陥検出感度をパターン部よりも低くすることで、上記擬似欠陥を救済する。 - 特許庁

Then, a threshold is calculated for each pixel row from an image wherein a crack defect detection domain is masked, and a fluff defect is detected by performing binarization by using the threshold.例文帳に追加

欠点候補領域の矩形率、最大径角度、凹凸度を求め、ワレ欠点を検出後、ワレ欠点検出領域をマスクした画像から、1画素列毎に閾値を算出し、その閾値により2値化して毛羽欠点を検出する。 - 特許庁

In this invention, a circumferential flaw is detected in a totalized track domain exceeding a standard deviation value on a defect detection amount (the number of detected defects) classified by radius in defect number histogram data classified by radius.例文帳に追加

この発明は、半径別の欠陥数ヒストグラムデータにおける半径別の欠陥検出量（欠陥検出個数）についての標準偏差値を越える集計トラック領域において、円周疵の検出をする。 - 特許庁

On the basis of a detection position information signal (e) from the pixel defect detecting means 17, a defect correcting means 18 replaces the signal level of a defective pixel with a signal picked up with the other normal light receiving pixel.例文帳に追加

欠陥補正手段１８は、画素欠陥検出手段１７からの検出位置情報信号ｅに基づいて欠陥画素についてはその信号レベルを他の正常な受光画素で撮像した信号と置き換える。 - 特許庁

Since the refractive index of the transparent film 30 is larger than 1, the degree of optical ruggedness (optical distance d_opt) is larger than the degree of geometric ruggedness (d) of a defect 20, and this results in higher defect detection sensitivity.例文帳に追加

透明膜３０の屈折率は１よりも大きいから、光学的凹凸の程度（光学距離：ｄ_opt）は欠陥２０の幾何学的な凹凸の程度（ｄ）よりも大きくなり、その分だけ欠陥検出感度が高くなる。 - 特許庁

In this method, a means of synchronization with detection of defects to calculates amount of image features of the defect, and a means for classifying defects into clusters, depending on the calculated amount of image features are added to the high-speed pattern defect inspection system.例文帳に追加

高速のパターン欠陥検査装置に、欠陥の検出に同期して欠陥の画像的特徴量を計算する手段と、計算された特徴量によって欠陥をクラスタに分類する手段とを付加する。 - 特許庁

Thereby, potential difference between the potential of the pixel electrode having the adjacent defect and the potential of the normal pixel electrode is made high and the detection of the short circuit defect between the pixel electrodes adjacent across the source line is made easy.例文帳に追加

これによって、隣接欠陥を有する画素電極の電位と正常な画素電極の電位との電位差を大きくし、ソースラインを挟んで隣接する画素電極間の短絡欠陥の検出を容易とする。 - 特許庁

To provide a defect detection method and a defect detector for plate-shaped glass to detect cracks without being affected by an edge in a ground glass state even when cracks exist in any face of the plate-shaped glass.例文帳に追加

板状ガラスのいずれの面にカケが存在する場合にも、摺りガラス状態になったエッジに影響されずにカケを検出できる板状ガラスの欠陥検出方法及び欠陥検出装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a print pattern inspection method and an inspection device capable of suppressing pseudo defect detection by reducing an influence of meandering or expansion/contraction of a base material to be printed, and detecting a defect growing little by little.例文帳に追加

被印刷基材の蛇行や伸縮の影響を小さくして擬似不良検出を抑え、少しずつ成長するような不良の検出も可能な印刷絵柄検査方法及び検査装置を提供する。 - 特許庁

The inspection light is adjusted by dissipation of unnecessary light, and when the inspection light propagating in the core is reflected by a defect spot, the inspection light can be detected accurately, to thereby improve detection accuracy of the internal defect.例文帳に追加

不要な光の散逸により検査光は調整され、コア内を伝播する検査光が欠陥箇所で反射する際に、これを精度よく検出することができ、内部欠陥の検出精度が向上する。 - 特許庁

The defect detection portion 32 determines detection of defect of these sensors 24, 26 in case, when the fuel gas flow channels 14 each on the upstream side and the downstream side of the pressure reducing valve 20 for high pressure are communicated with each other through the bypass passage 28 by opening the bypass valve 30, a difference of pressure detection values detected by the first and second pressure sensors 24, 26 exceeds a predetermined value.例文帳に追加

異常検出部３２は、バイパス弁３０の開弁によりバイパス路２８を通じて高圧用減圧弁２０の上流側と下流側の燃料ガス流路１４を連通させたときに、第１及び第２圧力センサ２４，２６により検出される圧力の検出値の差が所定値以上の場合、これらのセンサ２４，２６の異常を検出する。 - 特許庁

A pixel detection circuit 113 has a function of discriminating pixel signals configuring the image signal and performs the detection processing of the defective pixel and detection processing of the optional pixel replaced by the defect correction circuit 114 similarly to prior arts.例文帳に追加

画素検出回路１１３は、画像信号を構成する個々の画素信号を判定する機能を有し、従来と同様の欠陥画素の検出処理と、欠陥補正回路１１４によって置換された任意の画素の検出処理とを行う。 - 特許庁

To provide a method for living cell detection which has high specificity and can be carried out at a real time by solving reduction in a detection sensitivity following the increase of background light being a defect in a conventional method for living cell detection.例文帳に追加

従来の生細胞の検出方法における欠点である背景光の増加に伴う検出感度の低下を解消することにより、特異性が高く且つリアルタイムで行うことができる生細胞の検出方法を提供すること。 - 特許庁

The size of the internal defect is set to square root length of 0.4 mm or more, whereby the detection can be facilitated and the threshold level can be easily obtained.例文帳に追加

内部欠陥の大きさは、平方根長さ０．４ｍｍ以上とすることにより、検出を容易化すると共に閾値化も容易化する。 - 特許庁

In this multiplexing method, there is a defect such that the integrating time per each individual channel during a signal detection period is reduced by the number of multiple positions.例文帳に追加

これには信号が検出される間の個別チャネル当たりの積分時間が多重位置の数だけ低減されるという欠点がある。 - 特許庁

To provide a high-speed and highly accurate apparatus for detecting defects of image without being affected by variations of good products, and its defect detection method.例文帳に追加

良品のバラツキに影響されない高速で且つ高精度な画像の欠陥検出装置及びその欠陥検出方法を提供する。 - 特許庁

To provide a leakage flux inspecting method for a ferromagnetic metal specimen capable of detecting even a micro defect, with high detection precision.例文帳に追加

微小な欠陥であっても検出可能であり、検出精度の高い強磁性体金属被検体の漏洩磁束探傷方法を提供する。 - 特許庁

To provide a defect inspection method which enables detection of defects on an edge line of a surface to be inspected, only on the basis of the binarized images of the surface to be inspected.例文帳に追加

被検査面の二値化画像のみに基づいて被検査面のエッジライン上の欠陥を検出可能な欠陥検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a radiation detection element that allows repairing of a defect portion, and that minimizes the number of pixels from which charges cannot be read out when repaired.例文帳に追加

欠陥箇所をリペアしつつ、当該リペアによって電荷が読み出せなくなる画素数を少なく抑えた放射線検出素子を提供する。 - 特許庁

AUTOMATIC DETECTION DEVICE FOR PRINT DEFECT ON METALIZED STRIP OR OTHER OPTIONAL PRINT BASE MAINLY COMPOSED OF SURFACE IN MIRROR REFLECTING COLOR例文帳に追加

金属化ストリップ又は大部分が鏡面反射色の表面からなるその他の任意の印刷支持体上の印刷欠陥の自動検出装置 - 特許庁

To provide a variable double deck elevator capable of ensuring a safe space for maintenance defect detection between an upper cage and a lower cage.例文帳に追加

上部かご室と下部かご室との間等に保守点検用の安全な空間を確保することができる可変式ダブルデッキエレベータを提供する。 - 特許庁