「defect detection」に関連した英語例文の一覧と使い方(14ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a defect detection method of a plate-like body capable of detecting a defect of the transparent or translucent plate-like body highly accurately without reflecting a rear surface state of the plate-like body.例文帳に追加

透明又は半透明の板状体の欠陥を、板状体の裏面の状況を反映することなく高精度で検出できる板状体の欠陥検出方法を提供する。 - 特許庁

The defect detecting system 10 detects the existence of a defect by detecting light emission of a light emitting film 1 formed on the surface of the structure 2, i.e., a detection target.例文帳に追加

本発明に係る欠陥検知システム１０は、検知対象である構造体２の表面に形成した発光膜１の発光を検出することによって、欠陥の有無を検知する。 - 特許庁

A digital camera 10 temporarily stores image data 36a to a memory 36, a defect detection function section 180 detects a defective pixel included in read image data 180a and stores the result to a defect address memory 38a.例文帳に追加

ディジタルカメラ10は、メモリ36に画像データ36a を一時格納し、読み出した画像データ180aが含む欠陥画素の検出を欠陥検出機能部180 で行い、欠陥アドレスメモリ38a に格納する。 - 特許庁

To provide a defect detector not affecting the output timing of a defect detection signal even when a stray light exists in an optical signal incident to an optical pickup.例文帳に追加

光ピックアップに入射される光信号に迷光がある場合でも、デフェクト検出信号の出力タイミングに影響を及ぼさないデフェクト検出装置を提供する事を目的とする。 - 特許庁

To provide a mask inspection method for performing rapid pattern inspection by suppressing detection of a pseudo defect included in a mask pattern and reliably detecting a real defect.例文帳に追加

マスクパターンに含まれる擬似欠陥の検出を抑制し、実欠陥を確実に検出しすることによって、迅速なパターン検査を行うことが出来るマスク検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide an inspection system which can, even when there is a luminance point defect at an alignment mark part, detect the bright point defect and a position detection system included in the inspection system.例文帳に追加

アライメントマーク部分に輝点欠陥があった場合でも、当該輝点欠陥を検出することができる検査装置および検査装置が備える位置検出装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method for detecting pattern defect in which the processing quantity in the detection of defect by the comparison of a pattern to be inspected with a non-defective pattern is reduced to improve the inspection speed.例文帳に追加

検査対象パターンを良品パターンと比較して欠陥を検出するときの処理量を削減して検査速度の向上を図ったパターン欠陥検出方法を提供する。 - 特許庁

To provide a defect inspection device reducing error detection of noise and surely detecting a defect part, even if there is fluctuation in an image level by the fluctuation of an external environment.例文帳に追加

外部環境変動による画像レベルの上下が存在しても、ノイズの誤検出を減少させて、しかも、不良部分を確実に検出できる欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

Then, the defect inspection device is enabled to recalculate an inspection result in response to change in a threshold coefficient from the inspection result data, display it on an assist tool picture (GUI), and observe a detection defect.例文帳に追加

次に、検査結果データから、しきい値係数の変更による検査結果の再計算を可能とし、アシストツール画面(ＧＵＩ)上に表示させ、検出欠陥の観察も可能とする。 - 特許庁

The electric inspection process S12 includes a coordinate detection process S13 for detecting a position coordinate of the unit region including the defect, when the defect of the unit region is detected.例文帳に追加

電気検査工程Ｓ１２には、単位領域の欠陥が検出された場合に、欠陥を含む単位領域の位置座標を検出する座標検出工程Ｓ１３が含まれる。 - 特許庁

To heighten potential difference between a pixel electrode having an adjacent defect and a normal pixel electrode and to heighten detection sensitivity of an adjacent defect of pixel electrodes across a source line, in TFT array inspection.例文帳に追加

ＴＦＴアレイ検査において、隣接欠陥を有する画素電極と正常な画素電極との電位差を高め、ソースラインを挟む画素電極の隣接欠陥の検出感度を高める。 - 特許庁

To provide a defect detection apparatus for precisely detecting a defect not larger than a size desired by a user without depending on a change and a fluctuation in a generation state of shading.例文帳に追加

シェーディングの発生状態の変化及び変動に依存せず、ユーザが所望するサイズ以下の欠陥を高精度で検出することができる欠陥検出装置を提供する。 - 特許庁

Consequently, the amount z of irradiation light which is optimal for inspection can be set and neither a detection omission of a pattern defect nor a dummy defect is caused to precisely perform the pattern inspection.例文帳に追加

これにより、最適な検査用照射光量ｚが設定できることになり、パターン欠陥の検出漏れや擬似欠陥も起きなくなって、精度よくパターン検査を行うことができる。 - 特許庁

To provide a defect inspection method and a method for manufacturing a semiconductor device for suppressing false detection due to color irregularity even when a wafer subjected to defect inspection has color irregularity on a surface thereof.例文帳に追加

欠陥検査を行うウエハ表面に色むらがある場合でも色むらによる虚報の検出を抑制できる欠陥検査方法及び半導体装置の製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide an omnidirectional flaw detection probe capable of executing flaw detection inspection of a defect in a wide area of a specimen, in a short time, by the single probe.例文帳に追加

本発明の目的は、単一のプローブで、被検体の広い領域における欠陥の探傷検査を短時間で実施することができる探傷プローブを提供することである。 - 特許庁

In the case that this defect detection percentage fulfills the detection percentage condition being set optionally, the provisional inspection parameter (a) used at this time is decided as an inspection parameter A (ST108).例文帳に追加

この欠陥検出率が、任意に設定した検出率条件を満たす場合、この際用いた暫定検査パラメータａが検査パラメータＡとして決定される（ＳＴ１０８）。 - 特許庁

To provide an electronic camera provided with an 'exposure defect detection system' function easily understandable and usable for a photographer without the need of a dedicated detection mechanism and without useless power consumption.例文帳に追加

専用の検知機構を要せず無駄な電力消費もなく、撮影者に解り易くて使い易い「露光不良検出システム」機能を有する電子カメラを提供すること。 - 特許庁

When there is an omission in the detection of the SYNC codes in the detection means 8 by a disk defect, etc., the generation means 13 interpolates addresses in this omission period.例文帳に追加

ディスク欠陥等により検出手段８でＳＹＮＣコードの検出に欠落があると、生成手段１３は、この欠落期間、書込み用アドレスを補間する。 - 特許庁

A detection means detects the defect such as foreign matter or the like having mixed in the object 10 to be detected from a change in the detection quantities of light of the first and second photodetectors.例文帳に追加

検出手段は、第１の受光器と第２の受光器の受光量の変化から、検出対象１０に混入している異物等の欠点を検出する。 - 特許庁

A detect detection level setting part 53 of this image pickup device 1 sets a defect detection level in accordance with photographing conditions, such as a photographing mode, a shutter speed, sensitivity and object brightness.例文帳に追加

撮像装置１の欠陥検出レベル設定部５３は、撮影モード、シャッタスピード、感度、被写体輝度などの撮影条件に応じて欠陥検出レベルを設定する。 - 特許庁

In step S1, a defect detection processing for extracting the ordinates of a new defect and a detection size by a prescribed process is performed, after a prescribed process by using an area reducing function of an inspection device, and in step S3, existence of a new defect is determined in chip unit by a discrimination condition validating all detected new defects.例文帳に追加

ステップＳ１で、検査装置の面積縮小機能を用いて所定の工程後に所定の工程による新規欠陥の座標及び検出サイズを抽出する欠陥検出処理を行い、ステップＳ３で、検出されたすべての新規欠陥を有効とする識別条件で新規欠陥の有無をチップ単位に判定する。 - 特許庁

A logical circuit 11 inputs a defect detection signal DD outputted from a comparator 8 and the output signal MM1 of the mono multivibrator circuit 10, performs operation invalidating the signal MM1 while the defect detection signal DD indicates existence of a defect and outputs a signal CP to the switch 6.例文帳に追加

論理回路１１は、コンパレータ８から出力されるディフェクト検出信号ＤＤとモノマルチ回路１０の出力信号ＭＭ１を入力し、ディフェクト検出信号ＤＤがディフェクトの存在を示す間は信号ＭＭ１を無効にする演算を実行して積分回路３内のスイッチ６へ信号ＣＰを出力する。 - 特許庁

Using a defect detection sensitivity correction standard substrate including a pattern 8 and pseudo-defective sections 7 that are cone defects differing in size and are randomly formed on a silicon substrate 1, defect detection sensitivity is used in product management as an indicator for judging sensitivity adjustment after a lamp 21a in a lighting section 21 of a defect detecting device is replaced.例文帳に追加

パターン８と、サイズの異なるコーン欠陥であり、シリコン基板１上にランダムに形成された擬似欠陥部７とを備えた欠陥検出感度校正標準基板を用いて、欠陥検査装置の照明部２１におけるランプ２１ａの交換後の感度調整を判断する指標として製造管理に利用する。 - 特許庁

In the defect detection device 1, a reference image acquired relative to the one swath on a reference die is stored in an image memory 51, and compared with an image to be inspected acquired relative to a swath corresponding to the reference image of a die to be inspected by a defect detection part 52, to thereby detect a defect of the image to be inspected.例文帳に追加

欠陥検出装置１では、基準ダイの１つのスワスについて取得された基準画像が画像メモリ５１に記憶され、被検査ダイの基準画像に対応するスワスについて取得された被検査画像と欠陥検出部５２において比較されて被検査画像の欠陥が検出される。 - 特許庁

The solid-state image sensor 3 is activated at a low temperature, a linear defect detection correction circuit 6 detects the linear defect of the solid-state image sensor 3 on the basis of the pixel signal of the solid-state image sensor 3, and an address of the detected linear defect is stored.例文帳に追加

固体撮像素子３を低温で動作させ、固体撮像素子３の画素信号に基づいて固体撮像素子３の線状欠陥を線状欠陥検出補正回路６により検出し、検出された線状欠陥のアドレスを記憶しておく。 - 特許庁

To prevent defect determination by an influence of erroneous defect data by reducing the influence of the erroneous defect data from an intensity value, when calculating the intensity value of one pixel portion by using beam data acquired from a plurality of data detection domains of the pixel.例文帳に追加

画素の複数のデータ検出領域から取得したビームデータを用いて一画素分の強度値を算出する場合において、強度値から誤欠陥データの影響を低減し、誤欠陥データの影響による欠陥判定を防ぐ。 - 特許庁

To provide a device for detecting a surface defect and a defect under the surface skin, and a method for detecting the same wherein an ultrasonic surface wave can carry out flaw detection of a whole surface by going around a width direction of an inspection object, and reflected waves from other than a defect are reduced.例文帳に追加

超音波の表面波が被検査体の幅方向を一周して全面探傷することができ、欠陥以外からの反射波を低減する表面欠陥及び表面皮下欠陥の検出装置及びその方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method of detecting a defect of a concrete structure which is applied to the detection of a defect of a concrete structure which is laid underground, and is excellent in the transmission efficiency of SH wave which is transmitted and received, and can detect the defect with high precision easily.例文帳に追加

埋設状態にあるコンクリート構造物の欠陥の検出に適用され、送受信されるＳＨ波の伝達効率に優れ、その欠陥を精度よく容易に検出できるコンクリート構造物の欠陥検出方法を提供する。 - 特許庁

To provide a substrate defect checkup method permitting detection of 6H type lamination defects contained in nitrogen-doped 4H type SiC bulk monocrystalline substrates, a substrate defect checkup system using this method, and an SiC bulk monocrystalline substrate with defect information.例文帳に追加

窒素ドープされた４Ｈ型SiCバルク単結晶基板に含まれる６Ｈ型積層欠陥を検出できる基板の欠陥検査方法、及びこれを用いた基板の欠陥検査システム、並びに欠陥情報付きのSiCバルク単結晶基板を提供する。 - 特許庁

To provide a device and a method for detecting a hole defect detecting accurately existence of a hole defect and the position if a hole defect exists, by preventing surely excessive detection of hole defects of an inspection object by a light receiving part.例文帳に追加

受光部による被検査物の穴欠陥の過剰検出を確実に防止して、穴欠陥の有無、及び穴欠陥があった場合のその位置の検出を精度良く行うことができる穴欠陥検出装置及び穴欠陥検出方法を得る。 - 特許庁

To provide a marking controller which marks a label with a pattern for identifying an inspecting device which has detected a defect in response to a plurality of defect detection signals in defect inspection of printed matter and attaches it onto the printed matter, or puts a mark on the printed matter.例文帳に追加

印刷物の欠陥検査において、複数の欠陥検出信号に対し、欠陥を検出した検査装置の判別が可能なパターンを、ラベルにマーキングし印刷物に貼付、あるいは印刷物にマーキングするマーキング制御装置を提供する。 - 特許庁

At the time of medium defect detection, the correcting ability by maximum likelihood detection is reduced by switching the connection of a Vitervi detector 28 and making it a mere threshold judging circuit, and encoding is performed to detect easily a minute medium defect as an error.例文帳に追加

媒体欠陥検出時に、ビタビディテクタ２８の接続を切換え、単なる閾値判定回路とすることにより最尤検出による訂正能力を低減させて符号化を行ない、微小な媒体欠陥を容易にエラーとして検出できるようにする。 - 特許庁

This device is provided independently with a detection signal processing circuit for forming a large current high-speed image for detecting the existence of the defect, and a detection signal processing circuit for forming an image of a specified narrow portion detected by the defect detecting inspection hereinbefore.例文帳に追加

欠陥の存在を検出する為の大電流高速画像形成用の検出信号処理回路と、この欠陥検出検査により検出された特定の狭い部位の画像形成用の検出信号処理回路とを独立に設ける。 - 特許庁

To provide an ultrasonic flaw detection method, an ultrasonic flaw detection device, and a pipe material manufacturing method capable of detecting even a recessed defect generated on the inner surface of a pipe material of metal such as a steel pipe, and a wrap-shaped shallow defect.例文帳に追加

鋼管などの金属の管材の内側表面上に生じた凹み欠陥や、ラップ状の浅い欠陥であっても検出することができる超音波探傷方法、超音波探傷装置、および管材製造方法を提供すること。 - 特許庁

The circuit pattern inspection device independently has a detection signal processing circuit for forming a large current high-speed image for detecting the presence of the defect, and a detection signal processing circuit for forming an image in a specific narrow part detected by this defect detecting inspection.例文帳に追加

欠陥の存在を検出する為の大電流高速画像形成用の検出信号処理回路と、この欠陥検出検査により検出された特定の狭い部位の画像形成用の検出信号処理回路とを独立に設ける。 - 特許庁

An insulation inspection part 7 determines an insulation defect between the coil and the stator in the case that the current detection sensor 62 detects a discharge current, an insulation defect between the coil and the rotor in the case that the current detection sensor 63 detects a discharge current, and an insulation defect between the coil and the case in the case that the current detection sensor 64 detects a discharge current.例文帳に追加

そして，絶縁検査部７では，電流検出センサ６２にて放電電流が検出された場合には，コイル−ステータ間の絶縁不良とし，電流検出センサ６３にて放電電流が検出された場合には，コイル−ロータ間の絶縁不良とし，電流検出センサ６４にて放電電流が検出された場合には，コイル−ケース間の絶縁不良とする。 - 特許庁

To provide a surface flaw detection method capable of detecting adverse defect on a metal strip by discriminating it from an over-detection, and a surface flaw detection device used for the method.例文帳に追加

本発明は、金属帯上の有害疵と、過検出とを弁別して検出することができる表面欠陥検出方法、および、該方法に使用される表面欠陥検出装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a defect marker for forming indentations easy to check by visual inspection independently of the existence or non-existence of rustproof oil or of defect detection performance on the fabricator side as to a processing line for winding up an aluminum sheet into a coil, a method of defect marking, and a defect-marked coil.例文帳に追加

アルミニウム板をコイルに巻き取る処理ラインにおいて、防錆油の有無及び加工メーカー側の欠陥検出性能に関らず、目視によって容易に確認可能な圧痕を形成することができる欠陥マーキング装置、欠陥マーキング方法及び欠陥マーキングされたコイルを提供することを目的とする。 - 特許庁

Erroneous defect data are removed and selected from inside the beam data acquired from the plurality of data detection domains of the pixel, and the intensity value of one pixel portion is calculated by using the selected beam data, and thereby the influence of the erroneous defect data is reduced from an intensity value, and defect determination by the influence of the erroneous defect data is prevented.例文帳に追加

画素の複数のデータ検出領域から取得したビームデータの中から誤欠陥データを排除して選択し、選択したビームデータを用いて一画素分の強度値を算出することによって、強度値から誤欠陥データの影響を低減し、誤欠陥データの影響による欠陥判定を防ぐ。 - 特許庁

The defect inspection apparatus scans a local region of a defect detected on the surface of the inspected structure, measures the quantity of a characteristic property corresponding to a type of the defect such as the coincidence with a crystal grain boundary of the crack, compares a measured detection signal with a database data and determines a type of the defect.例文帳に追加

検査対象構造物の表面に検出された欠陥の局部的範囲を走査し、欠陥の種別に応じた例えば亀裂の結晶粒界との一致度のような特徴的な特性量を計測し、この計測された検出信号をデータベースのデータと比較し欠陥種別を判定する。 - 特許庁

A system controller 112 is provided with a defect data detecting part 112a to detect pixel defect data based on detection results of every main photography and a defect compensation control part 112b to perform pixel defect compensation processing to a signal to be obtained from a CCD 105 in the case of the main photographing.例文帳に追加

システムコントローラ１１２には、毎回の本撮像時における検出結果に基づいて画素欠陥データの検出を行うための欠陥データ検出部１１２ａと、本撮像時にＣＣＤ１０５から得られる信号に対して画素欠陥補償処理を施すための欠陥補正制御部１１２ｂとが設けられている。 - 特許庁

To provide a semiconductor device capable of easily discriminating the operation defect of a built-in power ON detection circuit at the time of a die sort test.例文帳に追加

内蔵したパワーオン検知回路の動作不良をダイソートテストに際して容易に判別し得る半導体装置を提供する。 - 特許庁

To provide an equipment and method for a base support which do not cause an error in defect detection or loss of inspection sensitivity.例文帳に追加

誤った欠陥検知または、検査感度の損失を引き起こすことのない基材支持の装置及び方法を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device such that a defect detection test can be conducted even in a product state after a packaging process.例文帳に追加

パッケージング工程後の製品状態においても欠陥検出試験を行うことができる半導体装置を提供する。 - 特許庁

To provide a solid-state imaging device capable of achieving focus detection, avoiding a pixel defect and enhancing the efficiency of utilizing incident light for an imaging signal.例文帳に追加

焦点検出を可能にし、画素欠陥を回避し、撮像用信号に対する入射光の利用効率を高める。 - 特許庁