「defect detection」に関連した英語例文の一覧と使い方(17ページ目) - Weblio英語例文検索

The defect detection sensor 5 detects a secondary displacement amount amplified by an amplifying lever 12 as the elevating and lowering position of the push-up punch 10.例文帳に追加

また、不良検出センサ５は、突き上げパンチ１０の昇降位置として、増幅テコ１２によって増幅された二次変位量を検出する。 - 特許庁

To obtain an insulation defect detection device for a semiconductor device, capable of detecting with high accuracy in a short time without applying a voltage for a long time.例文帳に追加

長期的な電圧印加を必要とせずに、短時間で高精度の検出が可能な半導体装置の絶縁欠陥検出装置を得る。 - 特許庁

To provide an active matrix test substrate and a testing method which facilitate defect detection even when a scan line driving circuit of CC driving is included.例文帳に追加

ＣＣ駆動を行う走査線駆動回路を含んでいても欠陥検出が容易なアクティブマトリクス型検査基板と検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide an automatic hot water filling device equipped with an automatic bung defect detection capable of performing a hot water filling in a short time from the first time in conformation to a bathtub size.例文帳に追加

浴槽サイズに対応し、初回から短時間で湯張りの行なえる自動栓抜け検出を備えた自動湯張り装置を提供する。 - 特許庁

To rapidly evaluate a defect based on measurement data even in cases where a measurement place of eddy-current flaw detection is apart from an evaluation place therefor.例文帳に追加

渦電電流探傷の測定場所と評価場所が離れている場合においても、測定データから迅速に欠陥評価を可能とする。 - 特許庁

To provide a defect detection device having a light-receiving optical system to which high NA can be imparted, which is a light-receiving optical system having a simple constitution.例文帳に追加

簡単な構成の受光光学系であって、光ＮＡ化が可能な受光光学系を有する欠陥検出装置を提供する。 - 特許庁

The hole 51 of the test piece is flaw-detected as a pseudo-defect, and a gain is regulated to bring detection intensities among elements into the fixed level.例文帳に追加

そして、当該試験片の横孔５１を疑似欠陥として探傷し、各素子間の検出強度が一定となるようにゲインを調整する。 - 特許庁

To provide an inspection substrate for an active matrix type liquid crystal display that facilitates defect detection of various modes by inspection using an array tester.例文帳に追加

アレイテスタでの検査により各種モードの欠陥検出を容易にするアクティブマトリックス型液晶表示装置用検査基板を提供する。 - 特許庁

To provide an image analysis means, an image analysis device and an inspection device enabling to detect a defect of a display panel at high detection sensitivity.例文帳に追加

表示パネルの欠陥を高い検出感度で検出することができる画像解析方法および画像解析装置、検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a new noise standard capable of covering the overall operation ranges of a particle contamination measuring device, and to provide a defect detection device.例文帳に追加

粒子汚染測定装置と欠陥検出装置の全体の動作範囲をカバーすることを可能にする新しいノイズ標準を提供する。 - 特許庁

To provide a test method and a test circuit, which can improve a failure detection rate for a delayed failure or a defect caused by a short circuit across signal lines.例文帳に追加

試験方法及び試験回路に関し、信号線間のショートによる不良又は遅延故障に対する故障検出率を向上させる。 - 特許庁

Then, a signal showing the signal intensity of the acquired image which is equal to or more than the detection threshold is determined as the defect in the desired inspection area.例文帳に追加

そして、取得された所望検査領域の像の信号強度が前記検出しきい値以上を示す信号を欠陥として判定する。 - 特許庁

To provide a lamp wick breakage detection device capable of identifying a component defect caused by water intrusion or high humidity.例文帳に追加

水浸入あるいは高湿度が原因で発生する部品不良を特定できる灯火断芯検出処理装置を提供することである。 - 特許庁

DEFECT DETECTION METHOD AND APPARATUS FOR PROTRUDED PART OF OBJECT HAVING THE PROTRUDED PARTS OF THE SAME SHAPE AT SPECIFIED PITCH ALONG CIRCULAR ARC例文帳に追加

円弧に沿って所定ピッチで同一形状の突出部を形成された物品の突出部の欠陥検出方法および欠陥検出装置 - 特許庁

Therefore, composite processing device 4 compositely processes the binarization data, and can detect a defect on the surface of the inspecting object by light-dark detection.例文帳に追加

このため、複合処理装置４は、前記２値化データを複合処理し、明暗検出により、前記被検査物の表面の欠陥を検出できる。 - 特許庁

The controller generates secondary defect information indicating a range of a peripheral area of the protrusive defective part detected by the detection module.例文帳に追加

コントローラは、前記検出モジュールにより検出された凸状欠陥部の周辺エリアの範囲を示す補助的ディフェクト情報を作成する。 - 特許庁

To reliably detect a defect detection signal changing in short times in a high speed line via a low-cost device by reducing a load on data processing.例文帳に追加

データ処理の負荷を軽減して、安価な装置により、高速ラインで短時間に変化する欠陥検出信号を確実に検出可能とする。 - 特許庁

To provide a laser ultrasonic inspection device and laser ultrasonic inspection method in which defect detection can be conducted using one laser device.例文帳に追加

一台のレーザ装置を用いて欠陥検出を行うことができるレーザ超音波検査装置及びレーザ超音波検査方法を提供する。 - 特許庁

To eliminate influences of disturbance light noise intruding into a detection optical system from a peripheral environment of a transparent substrate with a large thickness upon inspecting a defect in the substrate, and improve detection accuracy of defects.例文帳に追加

板厚の大きい透明な基板の欠陥の検査において、基板の周辺環境から検出光学系に入り込む外乱光ノイズの影響を無くし、欠陥の検出精度を向上させる。 - 特許庁

When a defect state in the RF signals is detected to produce an on state of the detection signal DFCT, a hold circuit 230 holds the preceding data from the jitter detection circuit 210.例文帳に追加

一方、ＲＦ信号のディフェクト状態が検出され、検出信号ＤＦＣＴがオンした場合には、ホールド回路２３０は、ジッタ検出回路２１０からの直前のデータをホールドした状態となる。 - 特許庁

Then, the system controller of the device performs the retry of a recording operation when the defect detection signal (e) is, for example, a low level and performs a control increasing a laser beam when the dust detection signal (g) is a low level.例文帳に追加

システムコントローラはこれらのディフェクト検出信号（ｅ）が、例えばローレベルである場合に記録動作の再試行を行い、ゴミ検出信号（ｇ）がである場合にレーザ光を増加させる制御を行う。 - 特許庁

Inspection systems, circuits and methods are provided to enhance defect detection by addressing anode saturation as a limiting factor of the measurement detection range of a photomultiplier tube (PMT) detector.例文帳に追加

光電子増倍管（ＰＭＴ）検出器の測定検出範囲の制限要因として陽極飽和に対処することによって欠陥検出を強化するための検査システム、回路、方法が提供される。 - 特許庁

To provide a displacement detection device capable of performing stably accurate position detection without causing a signal defect even when an external force works on a flexible printed wiring board after position adjustment.例文帳に追加

位置調整後にフレキシブルプリント配線板に外力が働いた場合であっても、信号不良を生じず、安定して正確な位置検出を行うことができる変位検出装置を提供する。 - 特許庁

To provide a developing device by which stable toner supply is allowed by suppressing the occurrence of an image defect by interfusion of a fiber-like foreign matter and preventing erroneous detection by a toner amount detection sensor.例文帳に追加

繊維状の異物の混入による画像不良の発生を抑制するとともに、トナー量検知センサの誤検知を防止することにより、安定したトナーの供給が可能な現像装置を提供する。 - 特許庁

This defect detection device for the optically transparent film A is equipped with a detection means 3 for detecting defects of the optically transparent film A, from an image acquired by imaging by the imaging means 1.例文帳に追加

撮像手段１による撮像で得られた画像から光透過性フィルムＡの欠陥を検出する検出手段３とを備える光透過性フィルムＡの欠陥検出装置に関する。 - 特許庁

To provide an inspection device having high detection precision, capable of preventing the influence of a formation spot of a test body, and detecting a defect even if the defect having very little difference in reflectance between itself and the test body exists.例文帳に追加

被検査体の地合い斑の影響を防止するとともに、被検査体と反射率の差がほとんどない欠陥が存在するような場合にも、このような欠陥を検出可能な検出精度の高い検査装置を提供する。 - 特許庁

The detection rack part calculates the incidence of defect and operates in a restriction mode which suppresses (does not pass to the data processing part 23) an output of the defect information consisting of the image information, if the calculated incidence is higher than a determination value.例文帳に追加

検出ラック部は、欠陥の発生頻度を求め、その求めた発生頻度が、判定値より大きい場合には、画像情報からなる欠陥情報の出力を抑制する（データ処理部２３に渡さない）制限モードで動作する。 - 特許庁

The system 100 may includes also processor 124 for converting coordinates on an X-ray detection panel 110 of the X-ray detector 108 for detecting an optional defect into a digital expression 128 in a position on the component 102 of the optional defect.例文帳に追加

任意の欠陥を検出したＸ線検出器（１０８）のＸ線検出パネル（１１０）上の座標を、該任意の欠陥の構成部品（１０２）上の位置のデジタル表現（１２８）に変換するプロセッサ（１２４）を含むことができる。 - 特許庁

The leak defect detection circuit 5 detects a fluctuations in voltage at specified places in the path from the main wire through the MOS capacitor 1 down to the ground wire, thus detecting the defect that a current leaks into an insulating membrane of the MOS capacitor.例文帳に追加

リーク不良検出回路５は、電源線からＭＯＳキャパシタ１を経由してグランド線に至る経路の所定部位における電圧変動の検出によって、該ＭＯＳキャパシタの絶縁膜に電流がリークする不良を検出する。 - 特許庁

Based on the amount of detected movement and the pixel value of one of the phase difference detection pixels in the first pixel data, the defect correction unit 330 corrects the pixel value of the defect pixel in the second image data.例文帳に追加

そして、欠陥補正部３３０は、前記検出された移動量および前記第１の画像データにおける一方の位相差検出画素の画素値に基づいて、前記第２の画像データにおける前記欠陥画素の画素値を補正する。 - 特許庁

Detection time is shortened and the cost is reduced by scanning the surface of a substrate, while irradiating with a focused zone laser beam 11, thereby detecting a defect on the surface of the substrate regardless of the directivity of the defect 6.例文帳に追加

集光輪帯レーザビーム１１を基板表面上に照射して走査させることにより、欠陥６の方向性に依存しない基板表面の欠陥検出を実現し、検出時間の短縮とコストの低減を図る。 - 特許庁

Namely, when a predetermined number of defects are not removed from the substrate through the cleaning processing on the substrate, the possibility that a defect is present in the mask substrate is high, so detection processing for the defect in the substrate is carried out.例文帳に追加

すなわち、基板の洗浄加工処理によって基板から所定数の欠陥が除去されなかった場合には、マスク基板の内部に欠陥が存在する可能性が高いので、基板内部の欠陥の検出処理行い。 - 特許庁

To provide an imaging apparatus which can avoid an increase in starting time up to the start of imaging after a power supply is turned on by the detection of a white spot defect while a newly generating white spot is corrected, and to provide a method for correcting the defect.例文帳に追加

新たに発生する白点欠陥を補正しつつ、白点欠陥の検出による電源投入後撮像開始までの起動時間の増大を回避することができる撮像装置および欠陥補正方法を提供する。 - 特許庁

Hereby, since defect detection processing of the circumferential flaw or the island defect can be performed stepwise separately from other defects, even if the number of defects to be detected is increased, a processing load of a data processing device can be reduced.例文帳に追加

これにより円周疵あるいは島状欠陥を他の欠陥と分離して欠陥検出処理を段階的に行うことができるので、検出される欠陥数が増加してもデータ処理装置の処理ロードを低減することができる。 - 特許庁

The display and detection control circuit 6 corrects the data signal to peripheral pixels based on the black spot defect position, and when a data line drive circuit 11 is driven by the corrected data signal, the black spot defect is corrected visually.例文帳に追加

この表示及び検出制御回路６は、黒点欠陥位置に基づいて、その周辺画素へのデータ信号を補正し、補正したデータ信号にてデータ線駆動回路１１を駆動することで、視覚的に黒点欠陥を補正する。 - 特許庁

To make precisely detectable a surface lug defect on a resin pipe with a simple device at a low detection cost and maintenance cost.例文帳に追加

樹脂管等の表面突起欠陥の検出を、簡単な装置により、精度よく、かつ安価な検出コストおよびメンテナンスコストで行うことを可能にする。 - 特許庁

To provide an inspection device of a can lid joint (seaming part), having superior detection accuracy, capable of detecting whatever joint defect accurately and surely.例文帳に追加

検出精度に優れ、どのような接合不良でも正確かつ確実に検出することができる缶蓋接合部（巻締め部分）の検査装置を提供すること。 - 特許庁

To detect a defect inside an electronic device having multi-film structure without destructing the electronic device, and to shorten the time required for detection.例文帳に追加

多重膜構造の電子デバイス内での欠陥検出を、該電子デバイスを破壊することなく、可能とするとともに、検出に要する時間を短縮する。 - 特許庁

The unit 107 and the defect detection means 108 can be freely moved in the generatrix direction of the photoreceptor 101 by moving means 109 and 110 respectively.例文帳に追加

ユニット１０７及び欠陥検出手段１０８は、それぞれ移動手段１０９，１１０により、感光体１０１の母線方向に自由に移動可能である。 - 特許庁

To provide a method and a device for detecting defects in a periodic pattern realizing supersensitive defect detection without causing reduction in detectivity due to moire.例文帳に追加

モアレによって検出感度の低下をおこすことなく、高感度な欠陥検出を実現する周期性パターンの欠陥検査方法及び装置を提供する。 - 特許庁

To provide a leakage flux flaw detecting device for performing defect detection with a satisfactory signal-to-noise ratio even when a ferromagnetic metal body to be inspected is traveling.例文帳に追加

強磁性体金属被検体が走行している場合でも、良好なＳ／Ｎ比で欠陥を検出することのできる漏洩磁束探傷装置を提供する。 - 特許庁

To provide an inkjet printer which enhances the precision of detection of a defect in a nozzle, using an impact force at the arrival of ink ejected from the nozzle.例文帳に追加

ノズルから吐出されたインクの着弾時の衝撃力を利用したノズル欠検知の精度が向上されたインクジェットプリンタを提供することである。 - 特許庁

To provide a defect detecting method having high detection capability with respect to a malfunction of memory cells caused by variation in manufacturing magnetic random access memory.例文帳に追加

磁気ランダムアクセスメモリ素子の製造時のバラツキによって発生するメモリセルの動作不良に対し、高い検出能力を持つ不良検出技術を提供する。 - 特許庁

To provide a coloring device of a color filter, capable of executing smoothly detection of a defect of the color filter and feedback of the detected information to a coloring process.例文帳に追加

カラーフィルタの欠陥の検出と、その検出情報の着色工程へのフィードバックをスムーズに行うことができるカラーフィルタの着色装置を提供する。 - 特許庁

To provide a speedy circuit pattern inspection method and a device thereof which have short inspection preparation time and can perform defect determination by image detection for one die.例文帳に追加

検査準備時間が短く、１ダイの画像検出のみで欠陥判定のできる高速な回路パターン検査方式とその装置を提供する。 - 特許庁