「defect detection」に関連した英語例文の一覧と使い方(19ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a method and a system for detecting a medium defect by which detection is made for a minute medium defect that does not generate a data error in a partial response signal processing system and an information recording and reproducing device which utilizes the method and the system.例文帳に追加

パーシャルレスポンス信号処理方式でデータエラーが発生しない微小な媒体欠陥を検出する媒体欠陥検出方法、媒体欠陥検出システムおよびこれを用いた情報記録再生装置を提供するものである。 - 特許庁

The defect detection light is converged in a position where the its writing/reading order is after the RF signal during information recording/reproducing, and a defect is detected before actual information writing or reading.例文帳に追加

この欠陥検出光は、情報の記録又は再生時において、ＲＦ信号光よりも書き込み又は読み出しの順序が後である位置に集光しており、実際に情報の書き込み又は読み出しが行われる以前に欠陥が検出される。 - 特許庁

In this method, when a defect signal is detected from an RF signal of an optical disk such an RF switch 2 is arranged so that the defect signal is applied to a high-pass filter during only the specified period when the detection signal is outputted.例文帳に追加

本発明では、光ディスクのＲＦ信号からディフェクト信号が検出されているとき、その検出信号が出力されている所定の期間だけそのディフェクト信号をハイパスフィルタにかけるようなＲＦスイッチ２が設けられている。 - 特許庁

This image pickup apparatus is provided with a setting means (microcomputer 7 and key switch 8) for arbitrarily selecting and setting by user's operation a timing of activating defect detection by a defect detecting means (microcomputer 7) in association with the operation of the apparatus.例文帳に追加

本発明の撮像装置は、ユーザー操作により欠陥検出手段（マイコン７）による欠陥検出を起動するタイミングを装置の動作に関連して任意に選択して設定する設定手段（マイコン７及びキースイッチ８）を備えたものである。 - 特許庁

Furthermore, using the acquired pixel defect information and information with respect to defects caused at all times stored in advance in an EEPROM 118 allows a defect pixel detection section 112b to discriminate pixels that are finally decided to be defective pixels.例文帳に追加

そして、その取得された画素欠陥情報、さらにはＥＥＰＲＯＭ１１８に予め格納されている常欠陥に関する情報とを用いることにより、最終的に欠陥画素とすべき画素が欠陥画素検出部１１２ｂにて判定される。 - 特許庁

To provide a new method for surface defect detection and its device which can quantitatively measure a defect in atom size generated on the surface and interface of a sample in a manufacturing process for semiconductor devices or the like in real time with high precision.例文帳に追加

半導体デバイスの製造プロセス等において試料の表面および界面に発生する原子サイズの欠陥を実時間で、且つ高精度で定量測定することのできる、新しい表面欠陥検出方法およびその装置を提供する。 - 特許庁

To provide a polarizer plate lamination protection film facilitating detection of bright point defect caused by a polarizer plate and having no bright point defect even when flaws or the like adhere on a surface, and to provide a protection film lamination polarizer plate laminated with the protection film.例文帳に追加

偏光板起因の輝点欠陥検出を容易とし、また、表面に疵等が付着しても輝点欠陥となることがない偏光板積層用保護フィルム、およびその保護フィルムを積層してなる保護フィルム積層偏光板を提供する。 - 特許庁

To provide an image recorder which can accurately carry out detection of recording defect by correcting offset even when the offset by recording processing on both faces of a recording medium takes place, and to provide a method for detecting recording defect by the recorder.例文帳に追加

記録媒体両面への記録処理により裏写りが生じた場合でも、この裏写りを補正して記録不良の検出を精度良く行うことが可能な画像記録装置、その装置による記録不良検出方法及びプログラムを提供する。 - 特許庁

To provide a photographic printer interfaced with a defect detection or scanning system, which inspects a photo paper sheet during consumption of the photo paper sheet by a printer to find a defect, and to provide a printing method.例文帳に追加

写真用プリンタおよび印刷方法であって、プリンタによって写真用紙を消費している間に写真用紙を検査して欠陥を発見する欠陥検出または走査システムにインターフェイスされた写真用プリンタおよび方法を提供する。 - 特許庁

Thereafter, absolute values of each value of each variation image are integrated, and an integrated variation image is generated (integrated variation image generation process S6), and a stain defect is detected based on the integrated variation image (stain defect detection process S7-S11).例文帳に追加

そして、各変化量画像の値の絶対値を積算して積算変化量画像を作成し（積算変化量画像作成工程Ｓ６）、この積算変化量画像に基づいてシミ欠陥を検出する（シミ欠陥検出工程Ｓ７〜Ｓ１１）。 - 特許庁

To provide a photomask, manufacturing method of photomask and manufacturing method of semiconductor device which can improve a resist shape on a wafer after a photomask pattern exposure, and obtain sufficient defect detection sensitivity in the defect inspection of the photomask.例文帳に追加

フォトマスクパターン露光後のウェーハ上のレジスト形状を良好にし、かつフォトマスクの欠陥検査時における欠陥検出感度を十分に得ることができるフォトマスク、フォトマスクの製造方法および半導体装置の製造方法を提供する。 - 特許庁

To simplify an apparatus constitution, deal with a request for inspecting a defect as a glass substrate is moved, correct a flexure of the glass substrate, and improve the detection accuracy of the defect without generating excess stress concentration on a side of the glass substrate.例文帳に追加

ガラス基板を移動させながら欠陥の検査を行う要請にも簡易な装置構成で応じつつ、ガラス基板の辺に過度な応力集中を生じさせることなく、ガラス基板の撓みを矯正して欠陥の検出精度を向上させる。 - 特許庁

To preclude a subtle edge part difference from being detected as a defect candidate or a defect, when forming a pattern unavoidable on a process in an edge part, and to maintain high detection capability with respect to non-edge part defects.例文帳に追加

エッジ部においてはプロセス上不可避なパターン形成時の微妙なエッジ部差異を欠陥候補、または欠陥として検出しないようにする一方で、非エッジ部欠陥に対しては高い検出力を維持するパターン検査ができるようにする。 - 特許庁

To enhance defect detection sensitivity at a pattern edge portion by improving the method of determining a correction amount, as to correction of gray level difference at the pattern edge portion performed in an image defect inspection method used for a visual inspection device for a semiconductor circuit.例文帳に追加

半導体回路の外観検査装置に使用される画像欠陥検査方法で行う、パターンエッジ部分におけるグレイレベル差の補正において、補正量の決定方法を改善して、パターンエッジ部分における欠陥検出感度を向上する。 - 特許庁

In a defect inspection according to the magnetic powder flaw detection method for applying ultraviolet rays to a test piece 1 and emitting fluorescence by a crack defect 2a, the image of the surface of the test piece 1 is picked up by a color television camera 3 via an ultraviolet ray cut filter 5.例文帳に追加

ここでは、試験体１に紫外線を照明し、割れ欠陥２ａで蛍光を発光させる磁粉探傷法による欠陥検査であるが、かかる試験体１の表面を、紫外線カットフィルタ５を介して、カラーテレビカメラ３で撮像する。 - 特許庁

An error detection section 25A detects the word delimiter data included in the data S21 for detection of occurrence of a synchronization defect between the received serial data and the reproduce clock sign in the case that position data denoting the detection position are dissident as to two word delimiter data with the same data stream inbetween.例文帳に追加

エラー検出部２５Ａにおいて、データＳ２１に含まれるワード区切りデータが検出され、この検出位置を示す位置データが同一のデータ列を挟む２つのワード区切りデータについて一致しない場合に、受信シリアルデータと再生クロック信号とが同期不良を起こしていることを検出する。 - 特許庁

To carry out detection efficiently in terms of time and power, while securing a reliability in the detection of dirt and defect of an optical recording/reproducing device, by changing a resolution of detection in relation to a structure or condition of an optical disk recording medium, or the using state of the device.例文帳に追加

光ディスク記録再生装置の汚れ及び欠陥の検出において、光ディスクの記録媒体の構造や状態、または装置の使用状況に関連して検出の分解能を変化することで、信頼性を確保しつつ時間的電力的に効率のよい検出を行う。 - 特許庁

The coding circuit 1 is provided with an abnormality detection circuit 2 and a defect detection circuit 3, and when the abnormality detection circuit 2 detects a transient abnormality such as noise, its output 10 initializes again the coding circuit 1 to prepare for succeeding transmission.例文帳に追加

符号化回路１に異常検出回路２と故障検出回路３とを設け、ノイズ等の一過性の異常に対しては、異常検出回路２がこれを検出したら符号化回路１をその出力１０で再初期化することで、次の送信に備えられるようにする。 - 特許庁

When the number of times of detection reaches the predetermined number of times, a detected pixel position and the level in each of detection are compared (S110) and when they match each other, a pixel defect is determined and written into the memory (S111), and white flaw correction is performed (S112).例文帳に追加

検出回数が所定回数に達した場合に、検出毎の検出画素位置・レベルを比較し（Ｓ１１０）、一致していれば画素欠陥と判定し、メモリへの書き込みを行い（Ｓ１１１）、白キズ補正を行う（Ｓ１１２）。 - 特許庁

The accumulator battery 15 applies a voltage having a prescribed potential difference with respect to the potential of the steel tower member 200 to the copper plate 300B from voltage application points 300a to c via a rainfall detection part 40, a switch 18, and a device defect detection part 50.例文帳に追加

蓄電池１５は、降雨検出部４０、スイッチ１８、装置不良検出部５０を介して、電圧印加点３００ａ〜ｃから銅板３００Ｂに、鉄塔部材２００の電位に対して所定電位差の電圧を印加する。 - 特許庁

To provide a fixing device capable of attaining improvement in image reliability, fixation and machine reliability by preventing the responsiveness defect and detection dispersion of temperature detection caused by the flaw of heating and pressing rollers and the dirt of a temperature detecting means.例文帳に追加

加熱、加圧ローラの傷付き、温度検知手段の汚れによる温度検知の応答性不良、検知ばらつきの防止ができ、画像信頼性、定着性の向上、マシン信頼性の向上を図れる定着装置を提供する。 - 特許庁

To provide a pattern inspection technology capable of grasping quantitatively the inspection performance of a defect to be detected when setting properly both a detection condition and a determination condition, and setting accurately the detection condition and the determination condition.例文帳に追加

検出条件と判定条件の双方を適切に設定した場合の検出すべき欠陥の検出性能を定量的に把握でき、正確に検出条件と判定条件を設定できるパターン検査技術を提供する。 - 特許庁

A flaw detection result diagnostic device 14 performs arithmetic processing for identifying a defect signal and a virtual image signal by taking a correlation between a plurality of guide wave inspection images to a different frequency, imaged by the flaw detection result imaging device 13.例文帳に追加

探傷結果診断装置１４は、探傷結果映像化装置１３により映像化された、異なる周波数に対する複数のガイド波検査映像の相関を取り、欠陥信号と虚像信号とを識別する演算処理を行う。 - 特許庁

In the reflection light detection type defect detection process, the surface of the electrophotographic photoreceptor is irradiated with light, reflection light reflected by the electrophotographic photoreceptor is received by a light receiving means and the defective part of the electrophotographic photoreceptor is detected.例文帳に追加

反射光検出式欠陥検出工程は、電子写真感光体の表面に光を照射し、電子写真感光体で反射される反射光を受光手段で受光して電子写真感光体の欠陥部を検出する。 - 特許庁

In order to make defect detection easier by reducing the influence of scattered light generated by the normal pattern of the mask 6, the image is formed through an angle distribution control board 10.例文帳に追加

マスクの正常パターンから発生する散乱光の影響を小さくして欠陥の検出を容易にするため、角度分布制御板１０を通して結像する。 - 特許庁

To improve detection accuracy of defect in which attenuation quantity of signal amplitude due to an attached finger print or the like is comparatively small and an amplitude level in a defective area is varied.例文帳に追加

指紋付着等の信号振幅の減衰量が比較的小さく、欠陥領域内で振幅レベルが変動する特性を有する欠陥の検出精度を高める。 - 特許庁

To prevent a wrong detection of an end part position in a display area even in a flat display panel on which a line defect is generated in the vicinity of the end part in the display area.例文帳に追加

表示領域の端部近傍に線欠陥が生じている平面表示パネルであっても、表示領域の端部の位置を誤って検出してしまうことを防止する。 - 特許庁

To adjust automatically a threshold of defect determination corresponding to characteristic fluctuation of a pattern image detection part 110 or individual dispersion of a surface characteristic of a wafer 6 to be inspected.例文帳に追加

パターン画像検出部１１０の特性変動や被検査ウェーハ６の表面特性の個体ばらつきに応じて、欠陥判定のしきい値を自動的に調整する。 - 特許庁

This defect detection device for the optically transparent film A includes: a conveyance means 5; an imaging means 1; an auxiliary member 2 for observation; a liquid filling means 7; and a liquid removal means 8.例文帳に追加

光透過性フィルムＡの欠陥検出装置は、搬送手段５、撮像部１、観察用補助部材２、液体充填手段７、及び液体除去手段８を備える。 - 特許庁

When detecting a painting defect based on the intensity of the light reflected from the paint film of the base material, with each detection result of the light reflected having an intensity below the exception intensity is excluded.例文帳に追加

基材の塗膜からの反射光の強度に基づいて塗装不良を検出する際に、前記除外強度以下の強度の反射光の検出結果を除外する。 - 特許庁

To provide an image forming apparatus that prevents image defects such as "erase memory", while suppressing an adverse effect as much as possible, and to provide an image defect detection method.例文帳に追加

極力弊害を抑えながら、イレースメモリなどの画像不良を防止することができる画像形成装置及び画像不良検出方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a wire surface defect detector for detecting a micro flaw occurring in a wire surface without missing without requiring application of a penetrant and flaw detection agent.例文帳に追加

浸透液や探傷剤を塗布することなく、線材表面に付いた微小な傷を抜け無く検出することのできる線材表面探傷装置を提供する。 - 特許庁

To provide a visual inspection device equipped with an image processing device capable of performing defect detection processing highly accurately, even when the image width of an input image is changed.例文帳に追加

入力画像の画像幅が変化しても、高い精度にて欠陥検出処理を行うことができる画像処理装置を備えた外観検査装置を提供する。 - 特許庁

The size of an image or the number of pixels in re-detection is changed in accordance with the accuracy distribution of defect position information in an external inspection device without changing resolution.例文帳に追加

解像度を変更することなく、外部の記検査装置における前記欠陥位置情報の精度分布に応じて再検出の際の画像サイズまたは画素数を変更する。 - 特許庁

A control section 11 makes a defect detection section 9 detect defects of images recorded on a continuous sheet 14b on the basis of a sheet cutting position control section 12.例文帳に追加

制御部１１は、シート切断位置制御部１２に基づいて、連続シート１４ｂ上に画像記録された画像の欠陥を欠陥検出部９に検出させる。 - 特許庁

In defect detection of conductor patterns 20, 21, there is a case that defects cannot be detected by a comparative inspection, using a periodic pitch, in each outermost pattern 22, 23, 26, and 27.例文帳に追加

導体パターン２０，２１の欠陥検出において、最外部パターン２２，２３，２６，２７での周期ピッチを用いた比較検査では、欠陥を検出できない場合がある。 - 特許庁

To lower the loop gain of a tracking loop by detecting disturbance of a tracking error signal caused by a medium defect which is not detected by conventional detection of degrading of total light quantity.例文帳に追加

従来の総和光量低下検出では検知されない媒体欠陥によるトラッキングエラー信号の乱れを検出して、トラッキング制御ループのループゲインを低下させる。 - 特許庁

To accurately carry out correction so that the concentration of a pixel corresponding to the defect position of a detection element being provided at a radiation solid-detecting device does not become specific concentration being different from the periphery.例文帳に追加

放射線固体検出装置が備える検出素子の欠陥位置に対応する画素の濃度が周辺と異なる特異な濃度とならないように正確に補正する。 - 特許庁

To provide a method for controlling label feeding which prevents a malfunction such as piling-up sticking caused by defect of detection of a sensor to a tooth falling-out label which has no label on a label roll.例文帳に追加

ラベルロール上にラベルのない、歯抜けラベルに対するセンサーの検知不良による重ね貼り等の誤動作を防ぐラベルの送り制御方法を提供する。 - 特許庁

To simply execute the cleaning and the detection in a cavity in a short time, to reduce the development of defect caused by the residue of foreign matter and to improve the manufacturing efficiency.例文帳に追加

キャビティ内の清掃や検査を簡単かつ短時間で行なうことができ、異物の残留による欠陥発生を低減し得ると共に製造能率を向上する。 - 特許庁

The defect detection part 30 comprises first to third lighting devices 31-33, first to third line sensor cameras 35-37, and first to third arithmetic processing parts 41-43.例文帳に追加

欠陥検出部３０を、第１〜第３の光照射器３１〜３３と第１〜第３のラインセンサカメラ３５〜３７と第１〜第３の演算処理部４１〜４３とから構成する。 - 特許庁

To provide a flaw detection method and a device capable of specifying the position of a defect of a measuring object without dependence on the material of the measuring object.例文帳に追加

測定対象物の材質に依存することなく、前記測定対象物における欠陥の位置を特定することのできる探傷方法および装置を提供する。 - 特許庁

The primary defect position correction expression includes three terms of an offset component, an extension component and a rotation component of the observation coordinate system to the detection coordinate system.例文帳に追加

この１次の欠陥位置補正式は、検出座標系に対する観察座標系のオフセット成分、拡大成分、回転成分といった３つの項を有している。 - 特許庁

To provide a technology for detecting defects with high accuracy, or a technology for supporting defect detection, regardless of a surface shape of an inspection object to be subjected to visual inspection.例文帳に追加

外観検査を行う検査対象の表面形状によらず、高い精度で欠陥を検出する技術または欠陥の検出を支援する技術を提供する。 - 特許庁

A signal detection circuit 211 and a controller 212 receive a signal from an imaging element and determine a pixel with a signal level in excess of a prescribed defect discrimination level to be a defective pixel.例文帳に追加

信号検出回路２１１とコントローラ２１２は、撮像素子からの信号を受信し、所定の欠陥判定レベルを越える信号レベルの画素を欠陥画素と判定する。 - 特許庁